用于定位断层的方法

文档序号:1097370阅读:416来源:国知局
专利名称:用于定位断层的方法
技术领域
本发明涉及一种对借助于成像诊断设备测量的断层进行定位的方法。
背景技术
借助于成像诊断方法可以按照图像的形式显示人体中的功能缺陷。图像帮助主治医师建立检查报告。为此有必要将已检查出的功能缺陷(例如在人的心脏区域中的缺陷)尽可能详细和优化地放置在一幅或多幅图像中来显示。
在借助于磁共振断断层造影仪进行心脏功能检查中,例如可以自动地确定,在人心脏的哪个区域中出现了心脏壁的功能缺陷。为此,根据显示时间上的变化并因此显示心脏运动的多幅磁共振图像,自动地分析心脏壁的厚度并且标记心脏壁发生微小厚度变化的位置。该功能包含在了西门子公司的syngo Argus Viewer中。值得期待的是,精确地在所确定的位置上进行例如灌注测量或者活性测量,以便尽可能详细地检查可能存在的功能缺陷。为此,必须在心脏壁最薄的位置上设置一个随后进行磁共振测量的断层,这点迄今为止都是手动进行的。该方式是繁琐的并且导致医生和患者经历过长的检查时间。

发明内容
本发明要解决的技术问题是,提供一种用来简化该过程的方法。
上述技术问题通过一种对借助于成像诊断设备测量的断层进行定位的方法解决,该方法具有如下方法步骤确定一个定位准则,在该定位准则下分析数据组,以及确定一个满足该定位准则的位置。其中,自动根据已经拍摄的断层或断层序列,按照公知的方法确定按照可以规定的准则确定的位置并传送到成像诊断设备。然后,在该位置进行测量。由此,节省了医生否则为了手动定位断层所需的时间。
在一种优选实施的方法中,根据定位准则定义功能缺陷,并且在已经拍摄的断层或断层序列中自动确定功能缺陷的出现。然后,这样确定待测量断层的位置,使得在该断层中包含了该功能缺陷。通过应用该方法为医生简化并且基本自动化了测量流程。
在一种特别优选的方法中,在对另一个断层进行测量的同时进行位置的确定。由此可以节省额外的时间。这样,紧接在结束一个断层的测量之后为主治医师提供另一个断层的位置,使得可以立刻随后开始该测量。由此缩短了检查时间。


本发明的其它特征和优点借助于附图由下面对实施方式的描述给出。图中图1是以心脏功能检查为例的本发明方法的示意性流程图,图2是在确定心脏缺陷之后对磁共振图像的示意显示。
具体实施例方式
按照图1,在第一方法步骤S2中首先定义一个准则,根据该准则确定患者待检查的心脏缺陷。如按照图2解释的那样,该准则可以是在一个断层序列中心脏壁的最小厚度增加,其中该断层序列描绘了心脏的一个运动周期。然后,在第二方法步骤S4中对已经拍摄的断层或断层序列检查是否出现功能缺陷。为此自动地分析心脏壁的厚度,并且确定一个可能存在的带有微小厚度变化的位置。在后面将结合图2对这点进行说明。
在第三方法步骤S6中,自动地确定断层或断层序列的一个位置,该位置优化地描绘了心脏壁的对应位置。为此,确定在该位置上心脏壁的位置坐标。在第四方法步骤S8中,将该坐标传送至要用来进行随后测量的磁共振设备上。在第五方法步骤S10中,询问医生可以在何处手动地改变测量的参数,如果需要显示出来的话。这样,医生可以改变断层的数量,或者修改待测量断层的时间顺序。同样也可以确定测量的类型。例如可以在心脏壁的所确定的位置上进行灌注测量或者活性测量,以便更精确地验证功能。同样也可以,高分辨率地描绘所确定的位置,以便例如测量该位置的规模。在第七方法步骤S12中测量该断层。
图2示意地示出了一幅已经对其厚度改变进行了分析的心脏壁2的磁共振图像。为此,在包含时间上依次拍摄的相同位置的断层的断层序列中,通过两条闭合的曲线4和6描述心脏壁2,并且自动地分析在断层序列内部两条曲线4和6的距离变化。为了显示结果将心脏壁2分成具有不同色彩的片段8和10,不同的色彩在此没有示出。这样,蓝色的片段8显示出在该片段8中心脏壁2的厚度变化足够大。在红色的片段10中厚度变化很小,这指示出了功能缺陷。厚度变化的局部改变通过从红向蓝的色彩变化来显示,使得可以确定具有最小厚度变化的位置。恰恰在该位置上应该进行其它的检查,因此按照在图1中描述的方法确定断层的对应位置并传送至磁共振设备。
所描述的实施方式仅仅涉及利用磁共振设备的测量。不过,该方法同样适用于其它成像诊断设备,例如计算机断断层造影仪。
利用所描述的方法,使得医生可以利用很少的花费进行复杂的、由多个步骤组成的诊断方法,这些步骤简化了详细诊断报告的建立。对于患者来说本方法同样提供了使检查更迅速结束的优点。这样,由于分析是自动进行的,因此在对已经拍摄的断层或断层序列进行分析的同时医生可以执行其它的测量。
权利要求
1.一种对借助于成像诊断设备测量的断层进行定位的方法,具有如下方法步骤-确定一个定位准则,-分析数据组是否出现了该定位准则,以及-确定一个满足该定位准则的位置。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,根据所述定位准则定义功能缺陷,并且在所述数据组中自动确定功能缺陷的出现,以及这样确定该断层的位置,使得在该断层中包含了该功能缺陷。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,对所述断层进行测量。
4.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,用户必须操纵对该断层的测量。
5.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,用户可以设置该测量的测量参数。
6.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述成像诊断设备是磁共振设备。
全文摘要
在一种对借助于成像诊断设备测量的断层进行定位的方法中,按照可以规定的准则自动确定一个位置。该准则是根据已经拍摄的断层和断层序列来确定的。
文档编号A61B6/03GK1745704SQ20051008977
公开日2006年3月15日 申请日期2005年8月9日 优先权日2004年8月9日
发明者斯蒂芬·阿斯曼 申请人:西门子公司
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