专利名称：组合式全景和计算x射线断层照相装置的制作方法
技术领域：
本发明一般涉及成像领域，并且特别地涉及以不同的χ射线模式用于牙科应用的成像。更具体地，本发明涉及组合式全景和计算X射线断层照相装置。
背景技术：
在常规的诊断成像中，通常使用不同的成像系统来获得不同类型的图像，甚至相同类型的辐射源可用于两种或多种不同类型的图像。因此，例如单独的而计算X射线断层照相(CT)和X射线全景系统已经利用X射线曝光用于获得相同患者的不同类型的图像。已经提出了既提供CT成像又提供全景χ射线成像的组合式系统。例如，授予Arai 等人的题为“X-RAY IMAGING APPARATUS”的美国专利No. 6，118，842公开了用于CT成像和全景成像二者的X射线成像装置。所述装置包括X射线源、用于检测已穿过对象的X射线的X射线检测仪，以及用于支撑X射线源和X射线检测仪以使它们横跨对象在空间上彼此相对的支撑器件；以及模式切换器件，其用于在CT模式和全景模式之间切换。为了检测X 射线，仅使用一个大面积X射线检测仪。X射线成像装置能够通过在成像期间切换模式来获得这两种类型的图像。然而，所提出的成像装置仅使用一个检测仪来实现CT成像和全景成像这两者。这就要求能够以满意的方式实施两种成像功能的昂贵检测仪。另外，为了提供两种图像类型，Arai等人提出的方案由于使用X射线源和检测仪之间的均勻距离而有损图像质量，而不同的距离将是更加有利的。授予Sa 等人的题为 “COMBINED PANORAMIC AND COMPUTED TOMOGRAPHY PHOTOGRAPHING APPARATUS”的美国专利No. 7，236，563描述了组合式系统，该组合式系统允许使用两个单独的传感器或检测仪来进行CT成像和全景成像。通过实施例的方式，本申请的图1示出了 &等人的‘563成像系统的实施方案，组合式全景和CT成像装置400。患者或其他对象位于χ射线源部件410和χ射线传感器部件420之间。χ射线传感器部件420 旋转，从而定位CT传感器423或全景传感器421以用于获得曝光。对于CT成像，CT传感器423相对于χ射线源部件410位于对象的后方。操作员将CT传感器423旋转到该位置， 作为成像设置的部分。类似地，操作员将全景传感器421旋转到对象后方的位置，作为全景成像期间的设置的部分。另一系统通过单个装置组合了 CT成像、全景成像和头测量成像。授予Park等人的题为“COMBINED PANORAMIC, CT (COMPUTED TOMOGRAPHY)AND CEPHALOMETRIC PHOTOGRAPHING APPARATUS”的美国专利No. 7，424，091描述了由图2中以实施例的方式显示的系统。组合式全景、CT和头测量成像装置300具有与之前描述的图1系统类似的辐射源和传感器部件并且增加了安装在单独的臂315上的单独的头测量成像部件310。
尽管M等人的‘563和Park等人的‘091均组合了这些成像功能，仍有改进的余地。两种系统所共有的一个问题涉及各个特定类型的成像所需的传感器定位。为了使用可用成像类型中的任一种，用于该成像的特定传感器类型必须适当地定位在曝光辐射的路径中。与此同时，未使用的一个或多个传感器必须移出该路径，以使它们不阻碍辐射线到正确传感器的路径。例如，关于&等人的‘563公开，全景传感器421必须被移除或重新定位， 从而使得可进行CT成像；类似地，在全景成像期间必须移除或重新定位CT传感器423。对于Park等人的‘091公开中描述的三功能装置，为了使用头测量成像功能，必须将全景传感器421和CT传感器423移出X射线源部件410和头测量成像部件310之间的辐射路径的路线。另外，需要手动附接用于头测量成像的传感器，并且还需要对部件的其他手动重新定位以便进行头测量成像。因此，对于提供用于为全景成像、CT成像和头测量成像定位检测仪的改进机构的组合式成像装置存在需求。发明概述本发明的目的是推进诊断成像的技术领域，尤其用于牙科应用。牢记该目的，本发明提供以多种模式对对象进行X射线成像的组合式成像装置，所述装置包括具有延伸旋转臂的支撑结构，其中所述旋转臂包括(i)计算X射线断层照相检测仪和全景成像检测仪， 二者均与可移动压盘相邻安装；以及(ii)检测仪定位装置，其可致动以将所述可移动压盘的位置平移到相对于X射线源的至少第一位置和第二位置中的任一处，其中，所述第一位置将计算X射线断层照相检测仪布置在X射线源的直接路径中，并且其中，所述第二位置将全景成像检测仪布置在X射线源的直接路径中。本发明的组合式计算χ射线断层照相和全景成像装置沿着单个旋转臂提供了不同类型的图像检测仪，以用于相对于患者进行定位。这样简化了操作员定位成像部件的任务并且更加有利于每种成像类型的设置过程的自动化。这些目的仅通过示例性实施例的方式给出，并且这些目的可以为本发明的一个或多个实施方案的示例。公开的发明本身所能实现的其他可期望的目标和优点可能存在或者对于本领域技术人员显而易见。本发明由随附的权利要求限定。
本发明的前面的和其他目的、特征和优点将从下面对如附图中所示的本发明的实施方案的更加特别的描述中变得显而易见。附图中的元件不一定相对于彼此成比例。图1示出了提供CT成像和全景χ射线成像二者的现有技术的成像装置。图2示出了提供CT成像和全景χ射线成像二者并且增加了头测量成像功能的现有技术的成像装置。图3示出了根据本发明的实施方案的成像装置。图4示出了适用于本发明的装置所进行的各种类型的成像的源到检测仪距离的示意图。图5A示出了本发明的三位置检测仪定位装置的实施方案。图5B示出了使用图5A的检测仪定位装置用于CT成像。图5C示出了使用图5A的检测仪定位装置用于全景成像。
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图5D示出了使用图5A的检测仪定位装置用于头测量成像。图6A示出了三位置检测仪定位装置的可选实施方案。图6B示出了使用图6A的检测仪定位装置用于CT成像。图6C示出了使用图6A的检测仪定位装置用于全景成像。图6D示出了使用图6A的检测仪定位装置用于头测量成像。图7A示出了三位置检测仪定位装置的另一可选实施方案。图7B示出了使用图7A的检测仪定位装置用于CT成像。图7C示出了使用图7A的检测仪定位装置用于全景成像。图7D示出了使用图7A的检测仪定位装置用于头测量成像。图8示出了使用本发明的装置获取一个或多个图像的步骤的序列。发明详述下面是结合附图对本发明的优选实施方案的详细描述，在多个附图中的每个图中相同的附图标记表示结构的相同元件。本发明的实施方案解决了组合式全景、CT (计算χ射线断层照相)和头测量成像装置的需求。参照图3的立体图，用于全景、计算χ射线断层照相和头测量成像的组合式成像装置100具有基部195、支撑柱190和安装在支撑柱190上的提升构件170。提升构件170 调节垂直位置的范围以适应患者的身高。旋转臂支撑构件150从提升构件170的上部延伸出。旋转臂140由旋转臂支撑构件150支撑，并且在一端处设置有χ射线源110，而在另一端处设置有χ射线检测仪装置120，为χ射线源110供给能量以便提供沿着曝光路径的曝光辐射。在一个实施方案中，χ射线源110相对于旋转臂140处于固定位置上。在可选实施方案中，χ射线源110可以单独安装，并且沿着图3所示的χ方向朝向χ射线检测仪装置 120移动或远离χ射线检测仪装置120。图3中未显示但是这种类型的成像装置所要求的是，需要用于提供电力、数据连接和其他功能的支持装置。患者或待成像对象位于χ射线源110和χ射线检测仪装置120之间，如随后更加详细所示。诊断成像技术领域的技术人员公知的是，还可以设置在图3中未具体显示或者本文未说明的多个患者支撑器件，以有助于稳定和定位患者的头，包括例如颏支撑构件。随后的描述主要涉及本发明的实施方案中提供的定位组合式全景、CT(计算χ射线断层照相)和头测量成像所需的各个检测仪的器件和机构。组合式成像装置100的结构和操作的其他方案和特征为本领域技术人员公知并且在之前引用的等人的‘563公开和 Park等人的‘091公开中进行了描述，其中的可应用部分通过引用并入本文。可应用部分包括各种电动机、致动器以及有助于支持各个系统部件定位的其他器件。图4为适用于本发明的装置所实现的各种类型的成像的从标有0的位置处的χ射线源110沿着曝光路径源到检测仪的距离的示意图。距离Oa是指距对象/患者的距离。显示了旋转臂140内的三个检测仪部件从χ射线源110沿着曝光路径位于距离Ob处的CT检测仪122，位于距离Oc处的全景检测仪124，以及位于距离Od处的任选头测量检测仪126。 对于所执行的各不同类型的成像，距离Ob、Oc和Od可以基于例如检测仪尺寸、所需放大比率、对象的相对位置、准直度的因素以及与χ射线成像有关的其他因素而改变。曝光路径中显示为患者P的对象相对于χ射线源110以及相对于各个检测仪122、1M和126的相对位置以虚线表示。曝光路径沿着旋转臂140在如图4所示的χ方向上水平地延伸。χ射线源110处的准直用于基本约束到该直线路径的曝光辐射。可以设置任选的源平移装置112，用于在沿着如图所示的水平χ轴或与水平χ轴正交的正确方向上移动χ射线源110。随后显示的是对于所执行的各种类型的成像用于将期望的检测仪122、IM或1 定位在适当位置上的部件的各种排布。如背景技术部分之前所提到的，描述了用于正确定位成像所用的χ射线检测仪的各种安装技术，包括对于各种成像模式需要手动安装或拆卸检测仪的多种排布。本发明的实施方案提供对这些常规技术的多种改进，尤其示出了允许对于各种类型的成像自动调节至检测仪位置的方法。现在参照图5A-5D以及图6A-6D，显示了在一个实施方案中用于定位、支撑和移动各种CT、全景和头测量检测仪122、IM和126的排布。图5A为显示具有可移动压盘148的三位置检测仪定位装置130的侧视图，可移动压盘148用于将CT检测仪122和全景检测仪124相邻地安装，或者如图5A-5D中所示背对背安装，或者如图6A-6D中所示并排安装。在本公开的上下文中，压盘被视为在与旋转臂 140的长度正交的方向上延伸的单个突出支撑零件。为了参考，在图5A和图6A中以虚线形式显示了旋转臂140的相对位置。压盘本身可以为板或提供一个安装表面或基本平行的两个安装表面的其他结构的形式。压盘能够作为单个零件移动以便提供其相应检测仪的旋转或其他曲线形平移并且可以具有可变的厚度。在图5A的实施方案中，CT检测仪122和全景检测仪IM背对背地安装在可移动压盘148上。由驱动器132驱动的可移动压盘148围绕垂直旋转轴Al旋转到适合于两种或三种成像类型中的每种的位置。轴Al与旋转臂140的长度基本正交，如图5A的实施方案中所示。图5B、图5C和图5D分别为沿着旋转轴Al截取的俯视图，显示了对于三种检测仪类型中的每种的检测仪定位。图5B显示了俯视图，其中检测仪定位装置130的可移动压盘 148平移到用于CT成像的第一位置。在该配置中，CT检测仪122以距离Ob正确地定位在 χ射线源110的相对于χ射线源110不受阻碍并且与χ射线源110成直线的直接路径上。 图5C显示了俯视图，其中检测仪定位装置130的可移动压盘148旋转到用于全景成像的第二位置。在该下个配置中，全景检测仪1 沿着曝光路径以距离Oc定位并且在相对于χ射线源110不受阻碍并且与χ射线源110成直线的直接路径中。图5D显示了俯视图，其中检测仪定位装置130的可移动压盘148移动到用于头测量成像的第三位置，平移以使检测仪 122和IM移位，从而使检测仪122和IM被移出χ射线源110和头测量检测仪1 之间的曝光路径。在该第三位置上，头测量检测仪1 相对于χ射线源110不受阻碍、在χ射线源110的路径中并且与χ射线源110成直线。在图5A-5D的实施方案中，可移动压盘在第一位置和第二位置之间的旋转平移是相对于垂直轴，或者更一般地相对于与旋转臂140的长度正交的轴。现在参考图6A-图6D，显示了用于定位、支撑和移动各个CT、全景和头测量检测仪 122、IM和126的可选实施方案。在该实施方案中，检测仪122和IM相邻地安装，例如在可移动压盘148的相对侧并排或上下安装。可移动压盘148相对于压盘平面平移检测仪位置，为了参考在图6A中显示为Q。图6A为示出了具有用于检测仪定位的χ-y平移驱动器 136的三位置检测仪定位装置134。检测仪定位装置134在与轴A2正交的平面中为检测仪提供了曲线形平移路径，轴A2与旋转臂140的长度基本平行。图6B、图6C和图6D分别为示出对于三种检测仪类型中的每种的检测仪定位的俯视图。图6B示出了俯视图，其中检测仪定位装置134的可移动压盘148平移至用于CT 成像的第一位置。在该配置中，CT检测仪122沿着曝光路径、相对于X射线源110不受阻碍并且在χ射线源110的直接路径中以距离Ob正确定位。图6C示出了俯视图，其中检测仪定位装置134的可移动压盘148平移至用于全景成像的第二位置。在该配置中，全景检测仪1 沿着曝光路径、相对于χ射线源110不受阻碍并且在χ射线源110的直接路径中以距离Oc定位。在该实施方案中，距离Ob和Oc可以相同。图6D示出了俯视图，其中检测仪定位装置134的可移动压盘148移动至用于头测量成像的第三位置，使可移动压盘148平移以便将检测仪122和IM移出χ射线源110和头测量检测仪1 之间的路径，从而头测量检测仪1 相对于χ射线源110不受阻碍并且在χ射线源110的直接路径中。在图6A-6D的实施方案中，可移动压盘在第一位置和第二位置之间的曲线形平移在相对于旋转臂140的长度正交的平面内进行。在平面内的曲线形平移可以由旋转致动器或者由例如一个或多个直线式致动器来提供。参照图7A-7D，显示了用于定位、支撑和移动各种CT、全景和头测量检测仪122、 IM和126的另一可选实施方案。此处，检测仪122和124中的每个在单独的可移动压盘 148上。图7A为侧视图，显示了具有用于检测仪定位的提升装置144的两位置检测仪定位装置138。此处，提升装置144可致动以使检测仪中的一个或多个沿着与旋转臂正交的方向平移进入曝光路径或移出曝光路径。图7B、图7C和图7D分别为显示用于三种检测仪类型中的每种的检测仪定位的侧视图。图7B示出了侧视图，其中检测仪定位装置138将检测仪支撑在用于CT成像的第一位置上。此处，CT检测仪122以距离Ob沿着曝光路径正确定位， 相对于χ射线源110不受阻碍并且在χ射线源110的直接路径中。图7C示出了侧视图，其中检测仪定位装置138的提升组件144被致动以将CT检测仪122提升起来离开曝光辐射路径，从而允许进行全景成像。此处，全景检测仪124以距离Oc沿着曝光路径定位、相对于 χ射线源110不受阻碍并且在χ射线源110的直接路径中。图7D示出了侧视图，其中检测仪定位装置138的提升组件144被致动以将全景检测仪IM提升起来并且离开曝光辐射路径，从而允许进行头测量成像。提升装置144使检测仪122和IM 二者均平移而脱离在χ 射线源110和头测量检测仪1 之间的曝光辐射路径，从而头测量检测仪126以距离Od在曝光路径上相对于χ射线源110不受阻碍并且在χ射线源110的直接路径中。图5A-图7D中所示的各个实施方案允许进行自动化测量，用于将恰当的检测仪设置在各位置上并且用于判定检测仪适当定位的时间从而能够继续进行成像。例如，在操作员平台(未显示)处输入的操作员命令可用于在获得第一图像之后设置第二成像类型。 任选地，旋转臂140上的操作员控件可允许成像配置从一种成像类型转换至另一种成像类型。还可以使用手动定位，或用于实现各种配置的手动和自动致动的一些组合。图8的序列图概述了当使用图5A-图7D中描述的检测仪定位装置中的任一种获得图3中的组合式成像装置100的各种类型图像时操作员交互所用的步骤。在定位步骤S40中，操作员任选地利用作为旋转臂140的部分设置的可用颏托架或其他支撑结构定位用于成像的患者。
在图像选择步骤S42中，操作员指定待获得图像的类型，是CT、全景或头测量。在一个实施方案中，图像的类型是通过利用多种类型的操作员接口工具(例如，键盘、触摸屏显示器、鼠标或其他指针)中的任一种输入的操作员指令来指定的。可选地，操作员可以简单地遵从基于该选择的设备设置的手动序列。随后是检测仪调节步骤S44，其中适当的检测仪定位在曝光辐射路径中。检测仪定位可通过操作员操纵用于检测仪定位装置的机构中的任一种手动地进行，例如，图5A、图 6A或图7A中所示的机构。作为选择，利用检测仪定位装置将各个检测仪平移到曝光辐射路径中或移出曝光辐射路径以使适当的检测仪获得曝光能量，可以使检测仪定位至少部分自动化。然后，任选的距离调节步骤S48调节χ射线源110和接收检测仪之间的恰当距离。 这可通过使用源平移装置112(图幻或者使用作为旋转臂140的部件的一些其他调节机构
来完成。随后是图像获取步骤S50，在该步骤期间对象被曝光，并且获得所选的图像类型。 如虚线所示的循环操作随后允许从相同的对象选择并获取可选的图像类型。循环可以自动地执行，例如，规划用于在不需要成像和进一步的操作交互之前执行的多次图像获取。检测仪122、IM和1 可以为任何类型的射线照相接收器，包括将曝光能量直接转换成数字数据的数字式检测仪、从组合式成像装置100中移除并且被扫描以获得获取的图像的计算射线照相(CR)磷光存储材料、或敏化的X射线膜。检测仪可以为面积或线检测仪。可以设置另外的调节器件以用于改变旋转臂140的长度，从而实现适合的距离 Ob、Oc 禾口 OcL已经特别参照本优选实施方案详细地描述了本发明，但是应当理解的是，可以在本发明的精神和范围内实现改动和改进。例如，组合式成像装置可以为壁安装或顶板安装， 具有一些其他适合类型的支撑结构，而不是如图3的实施方案中所示设置在基部上。各个检测仪的相对空间排布可以从实施例中所示的进行改变，例如，使得全景检测仪124比CT 检测仪122距χ射线源的距离较短(即，使得在图5A-5D或图6A-6D的序列中，距离Oc <距离Ob)。检测仪可以为模块化的且可移除的，使得可以在全景位置、CT位置或头测量位置上使用单个检测仪模块。χ射线源可以安装在旋转臂上或者可以单独安装。检测仪定位装置 130(图5A-图5D)或134(图6A-图6D)可以可选地沿着旋转臂140的方向移动，用于提供 χ射线源110及其相应的检测仪之间所需的距离。因此，本公开的实施方案在所有方面被视为示例性的和非限制性的。本发明的范围由随附的权利要求指示，并且旨在将在其等同内容的含义和范围内的所有变型例包含在本发明的范围内。部件列表100.组合式成像装置110. χ 射线源112.源平移装置120. χ射线检测仪装置122. CT 检测仪
124.全景检测仪
126.头测量检测仪
130.检测仪定位装置
132.旋转驱动器
134.检测仪定位装置
136.平移驱动器
138.检测仪定位装置
140.旋转臂
144.提升装置
148.压盘
150.旋转臂支撑构件
170.提升构件
190.支撑柱
195.基部
300.组合式全景、CT和头测量成像装置
310.头测量成像部件
315.臂
400.组合式全景和CT成像装置
410.χ射线源部件
420.χ射线检测仪部件
421.全景检测仪
423. CT检测仪
S40.定位步骤
S42.图像选择步骤
S44.检测仪调节步骤
S48.距离调节步骤
S50.图像获取步骤
0a, Ob, Oc, Od.距离
P.患者
Q.平面
χ.方向轴
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权利要求
1.一种以多种模式对对象进行χ射线成像的组合式成像装置，所述成像装置包括具有延伸旋转臂的支撑结构，其中，所述旋转臂包括计算X射线断层照相检测仪和全景成像检测仪，二者均与可移动压盘相邻安装；以及检测仪定位装置，其可致动以将所述可移动压盘的位置平移到相对于X射线源的至少第一位置和第二位置中的任一处，其中，所述第一位置将所述计算X射线断层照相检测仪布置在X射线源的直接路径中， 并且其中，所述第二位置将所述全景成像检测仪布置在所述X射线源的所述直接路径中。
2.如权利要求1所述的组合式成像装置，其中，所述计算χ射线断层照相检测仪和所述全景成像检测仪沿着所述可移动压盘的相同侧安装，并且所述可移动压盘的曲线形平移在与所述延伸旋转臂的长度大致正交的平面内。
3.如权利要求2所述的组合式成像装置，其中，通过一个或多个直线式致动器来提供曲线形平移。
4.如权利要求1所述的组合式成像装置，其中，所述计算χ射线断层照相检测仪和所述全景成像检测仪沿着所述可移动压盘的相对侧安装，并且所述可移动压盘在所述第一位置和所述第二位置之间的平移是相对于与所述延伸旋转臂的长度大致正交的轴的旋转。
5.如权利要求1所述的组合式成像装置，进一步包括与所述可移动压盘间隔开的头测量检测仪，其中，所述检测仪定位装置进一步可致动以将所述可移动压盘的位置平移到第三位置，所述第三位置将所述计算χ射线断层照相检测仪和所述全景成像检测仪平移出所述χ射线源的所述直接路径。
6.如权利要求5所述的组合式成像装置，其中，所述计算χ射线断层照相检测仪、所述全景检测仪和所述头测量检测仪中的至少一个为计算射线照相检测仪。
7.如权利要求1所述的组合式成像装置，其中，所述计算χ射线断层照相检测仪和全景检测仪中的至少一个为数字式检测仪。
8.如权利要求1所述的组合式成像装置，其中，所述计算χ射线断层照相检测仪和全景检测仪中的至少一个使用敏化膜。
9.如权利要求1所述的组合式成像装置，其中，所述检测仪中的一个或多个为面积检测仪。
10.如权利要求1所述的组合式成像装置，其中，所述头测量检测仪也安装到所述旋转臂上。
11.一种由相同的成像装置提供对象的计算X射线断层照相、全景成像和头测量成像的方法，包括设置包括延伸旋转臂的支撑结构，所述延伸旋转臂具有检测仪定位装置和安装到所述检测仪定位装置上的χ射线源；将所述检测仪定位装置配置到三个位置中的一个，所述三个位置将或为计算χ射线断层照相或为全景的选定检测仪或者处于未受阻碍的成直线关系的头测量检测仪布置到所述χ射线源，所述χ射线源安装到所述延伸旋转臂上；以及为所述χ射线源供给能量以在所述选定检测仪中获得图像。
12.如权利要求11所述的方法，其中，配置所述检测仪定位装置包括相对于轴旋转所述检测仪中的两个。
13.如权利要求11所述的方法，其中，配置所述检测仪定位装置包括沿着与所述延伸旋转臂正交的方向平移一个或多个检测仪。
14.一种用于对对象进行χ射线断层照相、全景成像和头测量成像的组合式成像装置， 所述装置包括χ射线源和具有延伸旋转臂的支撑结构，其中，所述旋转臂包括头测量检测仪，其安装到所述旋转臂上距所述χ射线源第一距离Od ；以及检测仪定位装置，其安装到所述χ射线源和所述头测量检测仪之间的所述旋转臂并且可调节至第一配置、第二配置和第三配置；其中，所述第一配置将计算χ射线断层照相检测仪布置在沿着曝光路径以第二距离Ob 与所述χ射线源成直线的未受阻碍位置；其中，所述第二配置将全景检测仪布置在沿着所述曝光路径以第三距离Oc与所述χ射线源成直线的未受阻碍位置；并且其中，所述第三配置使所述计算χ射线断层照相检测仪和所述全景检测仪移位而远离所述曝光路径，从而将所述头测量检测仪布置在沿着所述曝光路径与所述χ射线源成直线的未受阻碍位置。
15.如权利要求14所述的装置，其中，所述计算χ射线断层照相检测仪和所述全景检测仪中的至少一个为数字式检测仪。
16.如权利要求14所述的装置，其中，所述计算χ射线断层照相检测仪和所述全景检测仪中的至少一个使用敏化膜。
17.如权利要求14所述的装置，其中，所述计算χ射线断层照相检测仪、所述全景检测仪和所述头测量检测仪中的至少一个为计算射线照相检测仪。
18.一种以多种模式对对象进行χ射线成像的组合式成像装置，所述装置包括具有延伸旋转臂的支撑结构，其中，所述旋转臂包括计算χ射线断层照相检测仪，其安装在第一可移动压盘上；全景成像检测仪，其安装在第二可移动压盘上；以及检测仪定位装置，其可致动以平移所述第一可移动压盘和所述第二可移动压盘中的任一个或两个的位置，从而将各个计算χ射线断层照相检测仪或全景成像检测仪定位在χ射线源的直接路径中或移出所述χ射线源的所述直接路径。
全文摘要
以多种模式对对象进行x射线成像的组合式成像装置具有支撑结构，所述支撑结构具有延伸旋转臂，其中，旋转臂具有计算x射线断层照相检测仪和全景成像检测仪，二者均与可移动压盘相邻安装。检测仪定位装置可致动以将可移动压盘的位置平移至相对于x射线源的至少第一位置和第二位置中的任一处。第一位置将计算x射线断层照相检测仪布置在x射线源的直接路径中，并且第二位置将全景成像检测仪布置在所述x射线源的直接路径中。
文档编号A61B6/14GK102438527SQ201080020340
公开日2012年5月2日 申请日期2010年5月3日 优先权日2009年5月4日
发明者J-M·因格勒斯, P·梅勒, S·伯索雷尔 申请人:特罗菲公司