X线放射设备及其曝光系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及X线放射设备【技术领域】，提供了一种X线放射设备的曝光系统，该曝光系统包括：一厚度测量装置，用于测量待检对象的厚度；一曝光参数设置装置，用于根据待检对象的厚度设置曝光参数；一X线发生器，用于根据所述曝光参数发出X线。本实用新型还提供了一种X线放射设备。采用本实用新型的技术，不需要用另一个曝光来测量待检对象厚度，减少了待检对象所受到的剂量。另外，本实用新型的方案不需要操作者手动设置曝光参数，实现了自动设置曝光参数。
【专利说明】X线放射设备及其曝光系统
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及X线的曝光【技术领域】，特别是一种X线放射设备的曝光系统，以及一种X线放射设备。
【背景技术】
[0002]在诸如数字透视拍片(DigitalFluoroscopy & Radiography,DFR)系统等的X线放射设备中，如何降低X线剂量是个永恒的话题。
[0003]本申请将致力于进一步降低X线剂量。
实用新型内容
[0004]有鉴于此，本实用新型提出了一种X线放射设备的曝光系统，用以降低X线剂量。本实用新型还欲提出一种包括该曝光系统的X线放射设备。
[0005]根据本实用新型的一个实施例，提供了一种X线放射设备的曝光系统，该曝光系统包括:
[0006]一厚度测量装置，用于测量待检对象的厚度；
[0007]—曝光参数设置装置，用于根据待检对象的厚度设置曝光参数；
[0008]一 X线发生器，用于根据所述曝光参数发出X线。
[0009]采用该曝光系统，不需要用另一个曝光来测量待检对象厚度，减少了待检对象所受到的剂量。另外，采用该曝光系统，不需要操作者手动设置曝光参数，实现了自动设置曝光参数，所以还优化了操作流程，能提高效率。
[0010]根据一实施方式，所述厚度测量装置为一激光测厚仪。
[0011]可选地，所述激光测厚仪包括:
[0012]相对设置的第一激光测距单元和第二激光测距单元，其中，第一激光测距单元用于测量其与待检对象的距离，第二激光测距单元用于测量其与待检对象的距离；
[0013]一输出单元，用于计算第一激光测距单元和第二激光测距单元之间的距离减去第一激光测距单元与待检对象的距离以及第二激光测距单元与待检对象的距离，得到待检对象的厚度并输出。
[0014]可选地，所述激光测厚仪包括:
[0015]与一基准器相对设置的第三激光测距单元，用于测量其与待检对象的距离；
[0016]一输出单元，用于计算基准器与第三激光测距单元之间的距离减去第三激光测距装置与待检对象的距离，得到待检对象的厚度并输出。
[0017]根据另一实施例，所述厚度测量装置包括:一三维光学照相机，用于拍摄待检对象的三维图像，根据所述三维图像计算所述待检对象的厚度并输出。
[0018]根据再一实施例，所述厚度测量装置为一手动测量装置。
[0019]根据一种实施方式，所述曝光参数设置装置中存储有待检对象厚度与曝光参数之间的对应关系，该曝光参数设置装置根据测量的厚度提取对应的曝光参数并设置。[0020]可选地，所述的曝光系统还包括一连接所述曝光参数设置装置和所述X线发生器的主机桥。
[0021]根据本实用新型的另一实施例，提供了一种X线放射设备，包括如任一如上所述的曝光系统。
[0022]所述X线放射设备为X线拍片机、或者透视设备、或者数字透视拍片系统。
【专利附图】
【附图说明】
[0023]下面将通过参照附图详细描述本实用新型的优选实施例，使本领域的普通技术人员更清楚本实用新型的上述及其它特征和优点，附图中:
[0024]图1为根据一实施例的X线放射设备的曝光系统的示意图。
[0025]图2为根据另一实施例的厚度测量装置的示意图。
[0026]图3为根据再一实施例的厚度测量装置的示意。
[0027]图4为根据本实用新型又一实施例的X线放射设备的示意图。
[0028]其中，附图标记如下:
[0029]100X线放射设备的曝光系 110厚度测量装置120曝光参数设置装置
[0030]统
[0031]130X线发生器210第一激光测距单元 220第二激光测距单元
[0032]230、330待检对象 210第三激光测距单元320基准器
[0033]S待检对象的厚度 Dl第一激光测距单元与第 D2第一激光测距单元与待检
[0034]二激光测距单元的距离对象的距离
[0035]D3第二激光测距单元与待检D4第三激光测距单元与基准D5第三激光测距单
[0036]对象的距离器的距离元与待检对象的距离
[0037]410三维光学照相机420工作站(曝光参数设置 430高压发生器
[0038]装置)
[0039]440X线管450病人(待检对象) 460主机桥(host bridge)
[0040]470胸片架480平板490检查床
【具体实施方式】
[0041]为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，以下举实施例对本实用新型进一步详细说明。
[0042]在数字透视拍片系统中，操作者在曝光之前，可以执行透视，来测量待检对象的水值(water value) 0水值可以用来表示待检对象(例如病人)的厚度。系统根据所计算出的水值，自动决定曝光参数，例如电压和电流。这种方法可以保证图像品质的情况下保证较少的剂量。
[0043]在某些应用场景下，例如拍片系统中，不可能执行透视。所以，本申请进一步提出了新的技术，可以用来降低X线剂量，也可以用来实现自动设置曝光参数。
[0044]如图1所不,根据一实施例的一种X线放射设备的曝光系统。该曝光系统100包括:一厚度测量装置110、一曝光参数设置装置120、以及一 X线发生器130。
[0045]其中，厚度测量装置，用于测量待检对象的厚度，并提供给曝光参数设置装置120.。曝光参数设置装置120，用于根据待检对象的厚度设置曝光参数。X线发生器130，用于根据所述曝光参数发出X线。
[0046]需要指出的是，本申请省略了曝光系统中与厚度测量无关的现有零部件，从而便于本领域技术人员重点理解本申请的技术方案。本领域技术人员应能知晓所省略的现有零部件。
[0047]图2和图3分别显示了厚度测量装置，并且此时的厚度测量装置110为激光测厚仪。
[0048]根据附图2所示，在一种实施方式中，激光测厚仪包括:相对设置的两套激光测距单元210和220，以及一输出单元(图中未显示)。
[0049]相对设置的两套激光测距单元210和220 (即第一激光测距单元210和第二激光测距单元220)，每套激光测距单元210和220分别用于测量其与待检对象230的距离。换言之，第一激光测距单元210用于测量第一激光测距单元210与待检对象230的距离D2，第二激光测距单元220用于测量第二激光测距单元与待检对象230的距离D3。
[0050]输出单元与第一激光测距单元210、第二激光测距单元220、以及曝光参数设置装置120相连接，该输出单元用于计算两套激光测距单元210和220之间的距离Dl减去各激光测距单元与待检对象的距离D2和D3，即D1-D2-D3，得到待检对象的厚度S，并输出给曝光参数设置装置120。
[0051]如图3所示，在另一实施方式中，激光测厚仪包括:与一基准器320相对设置的第三激光测距单元310，以及一输出单元(图中未显示)。
[0052]第三激光测距单元310用于测量其与待检对象330的距离D5。
[0053]其中，基准器320可以是墙壁，也可以是一专门设置的板子，或者是其它相对固定的物体。在测量厚度时，待检对象330靠着该基准器320。
[0054]输出单元用于计算基准器320与第三激光测距单元310之间的距离D4减去第三激光测距装置310与待检对象330的距离D5，从而得到待检对象的厚度S，并输出给曝光参数设置装置120。
[0055]根据再一实施例，所述厚度测量装置包括一三维光学照相机，该三维光学照相机用于拍摄待检对象的三维图像，并根据三维图像计算待检对象的厚度S，输出给曝光参数设置装置120。
[0056]根据又一实施例，厚度测量装置可以为一手动测量装置。该手动测量装置测量得到待检对象的厚度D后，输出给曝光参数设置装置120。
[0057]根据本申请一实施方式，曝光参数设置120装置中存储有待检对象厚度与曝光参数之间的对应关系，该曝光参数设置装置根据测量的厚度提取对应的曝光参数，并设置。这样就能实现曝光参数的自动设置，那么操作者无需手动设置曝光参数，只需要按下曝光按钮进行图像采集。
[0058]根据本申请一实施例，本申请还提供了一种X线放射设备，该X线放射设备上述任意一种曝光系统。
[0059]可选地，该X线放射设备为X线拍片机、或者透视设备、或者数字透视拍片系统等
坐寸ο
[0060]图4示意性地给出了一个X线放射设备的简要示意图。如图4所示，曝光系统包括:作为厚度测量装置的三维光学照相机410、作为曝光参数设置装置的工作站420、作为X发生器的高压发生器430和X线管。该曝光系统还可以包括一主机桥460，用来实现工作站420和高压发生器430之间的网络连接。
[0061]X线放射设备还包括胸片架470、平板480、病床490等。这些部件用来实现不同的曝光方式。
[0062]参照图4，三维光学照相机410拍摄病人450的三维图像，并根据三维图像计算病人450的厚度，然后输出给工作站420。工作站420根据厚度提取一预先设置的对应的曝光参数并设置。曝光参数经由主机桥460传输到高压发生器430。在操作者按下曝光按钮后，高压发生器430和X线管440根据所设置的曝光参数，对病人450进行曝光。
[0063]本实用新型涉及X线放射设备【技术领域】，提供了一种X线放射设备的曝光系统，该曝光系统包括:一厚度测量装置，用于测量待检对象的厚度；一曝光参数设置装置，用于根据待检对象的厚度设置曝光参数；一X线发生器，用于根据所述曝光参数发出X线。本实用新型还提供了一种X线放射设备。采用本实用新型的技术，不需要用另一个曝光来测量待检对象厚度，减少了待检对象所受到的剂量。另外，本实用新型的方案不需要操作者手动设置曝光参数，实现了自动设置曝光参数。
[0064]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种X线放射设备的曝光系统(100)，其特征在于，该曝光系统包括: 一厚度测量装置(110)，用于测量待检对象(230，330，450)的厚度； 一曝光参数设置装置(120)，用于根据待检对象的厚度设置曝光参数； 一 X线发生器(130)，用于根据所述曝光参数发出X线。
2.根据权利要求1所述的曝光系统，其特征在于，所述厚度测量装置为一激光测厚仪。
3.根据权利要求2所述的曝光系统，其特征在于，所述激光测厚仪包括: 相对设置的第一激光测距单元(210)和第二激光测距单元(220)，其中，第一激光测距单元用于测量其与待检对象的距离(D2)，第二激光测距单元用于测量其与待检对象的距离(D3)； 一输出单元，用于计算第一激光测距单元和第二激光测距单元之间的距离(Dl)减去第一激光测距单元与待检对象的距离(D2)以及第二激光测距单元与待检对象的距离(D3)，得到待检对象的厚度(S)并输出。
4.根据权利要求2所述的曝光系统，其特征在于，所述激光测厚仪包括: 与一基准器(320)相对设置的第三激光测距单元(310)，用于测量其与待检对象的距尚(D5)； 一输出单元，用于计算基准器与第三激光测距单元之间的距离(D4)减去第三激光测距装置与待检对象的距离(D5)，得到待检对象的厚度(S)并输出。
5.根据权利要求1所述的曝光系统，其特征在于，所述厚度测量装置包括:一三维光学照相机(410)，用于拍摄待检对象的三维图像，根据所述三维图像计算所述待检对象的厚度并输出。
6.根据权利要求1所述的曝光系统，其特征在于，所述厚度测量装置为一手动测量装置。
7.根据权利要求1所述的曝光系统，其特征在于，所述曝光参数设置装置中存储有待检对象厚度与曝光参数之间的对应关系，该曝光参数设置装置根据测量的厚度提取对应的曝光参数并设置。
8.根据权利要求1所述的曝光系统，其特征在于，还包括一连接所述曝光参数设置装置和所述X线发生器的主机桥(460)。
9.一种X线放射设备，其特征在于，包括如权利要求1至7中任一项所述的曝光系统。
10.根据权利要求9所述的X线放射设备，其特征在于，该X线放射设备为X线拍片机、或者透视设备、或者数字透视拍片系统。
【文档编号】A61B6/00GK203424939SQ201320378363
【公开日】2014年2月12日 申请日期:2013年6月28日 优先权日:2013年6月28日
【发明者】栾干, 张炤 申请人:上海西门子医疗器械有限公司