专利名称：在成象系统中间接检定高压的方法和装置的制作方法
一般来说，本发明涉及计算机层析X-射线摄影(CT)成象，更具体地说，本发明涉及在成象系统中X-射线源电压的测量。
在至少一种已知CT系统构造中，一个X-射线源投射一扇形束，该扇形束经过校准位于卡笛尔坐标系的X-Y平面内，这个平面通常被称为“成象平面”。X-射线束穿过被成象的物体，例如一个病人。射线束在被物体衰减之后，照射到一个辐射探测器阵列上。在探测器阵列接收到的经过衰减射线束辐射强度与X-射线束被物体衰减的程度有关。探测器阵列中的每一个探测器单元产生一个独立的电信号，这个信号是射线束在该探测器位置衰减程度的一个量度。从所有探测器独立地获取衰减测量结果以产生一个传输分布。
在已知的第三代CT系统中，X-射线源和探测器阵列与位于成象平面内的一个机架一起围绕着被成象物体旋转，使得X-射线束与物体之间的夹角始终在变化。在一个机架角度由探测器阵列获取的一组X-射线衰减测量结果，即投射数据，被称为一个“视图”。对于物体的一次“扫描”包括在X-射线源和探测器转动一圈过程中在不同机架角度获得的一组视图。
按照轴向扫描，对投射数据进行处理以构成对应于通过物体所取的一个两维切片的一个图象。在本领域中有一种从一组投射数据重构一幅图象的方法被称为过滤反向投影技术。这种方法将从一次扫描获得的衰减测量结果转换成被称为“CT数”或“Hounsfield单位”的整数，这些整数用于控制对应于一个阴极射线管显示器象素的亮度。
为了减少总扫描时间，可以进行“螺旋”扫描。为了实施“螺旋”扫描，在获取预定数目切片的数据的同时移动病人。这种系统在一次扇形束螺旋扫描中产生一条单螺旋线。由所说扇形束绘出的螺旋线产生投影数据，从这些数据可以重构每个预定切片的图象。
通常要求在输送之前，输送之后和在更换某些部件时进行某些安全测试。其中一种测试就是验证施加到X-射线源上的电压。这个电压通常被称为峰值千伏(KVp)，并且所说KVp一般与成象系统和所使用的X-射线源有关。一般的X-射线成象系统都会由于在X-射线源上施加不正确的电压而产生误差和图象虚影。CT系统特别容易受到射线源KVp变化的破坏，因为CT系统依赖于已知的KVp对获得的数据进行校正，以消除例如射线束硬化之类的效应。一个成象系统的KVp稳定性可能会由于诸如长期部件漂移或部件应力等事件而下降。结果，维护人员要定期地进行KVp重复标定，而这种重新标定是非常耗时的。在至少一种已知的CT系统中，使用独立的市售仪器测量所说的KVp。这些独立的仪器通常需要在成象系统中添加辅助部件。这些辅助部件难以获得可重复结果，并且增加了成本和系统的复杂性。此外，所说辅助部件可能需要进行单独的标定和校准过程。
因此，为了获得测量KVp的可重复结果，需要提供一种成象系统，该系统利用一个病人之前(pre-patient)的滤光器和探测器阵列的信号强度间接地测定所说X-射线源电压。还需要提供在不增加成本和系统复杂性的前提下提供这样一种系统。
在一个系统中可以实现这些和其它目的，所说系统，在一个实施例中，利用一个病人之前的滤光器和探测器阵列的强度信号间接地测定施加在X-射线源上的电压(KVp)。更具体地说，在一个实施例中，所说病人之前的滤光器是一个蝴蝶结形滤光器，并且包括多个衰减部分。
在操作中，通过用X-射线束通过所说滤光器的不同衰减部分进行辐照，在所说探测器阵列测得的信号强度会产生不同的衰减。在一个实施例中，完成一次扫描，并测量所说探测器阵列中每个单元的强度信号，从而对滤光器的不同衰减部分生成一个强度信号。利用对于所说滤光器的不同衰减部分的衰减标定基准和所测得的衰减信号强度的比值，可以间接地确定施加到X-射线源上的电压。本发明可以应用于单片层和多片层计算机X-射线层析摄影系统，包括两片层和四片层系统。
利用所说病人之前的滤光器的不同衰减部分和探测器阵列信号强度，间接地确定X-射线源电压。此外，在不明显地增加系统的成本或复杂性的前提下确定X-射线源电压。
图1为一个CT成象系统的示意图。
图2为图1所示系统的方框示意3为CT系统探测器阵列的透视图。
图4为探测器模块的透视图。
图5为图1所示CT成象系统沿X-轴向的示意图。
图6为图5所示CT成象系统沿Z-轴向的示意图。
图7为表示滤光器衰减相对于扇形角度的曲线图。
图8为表示滤光器中心-边缘衰减比值相对于Kvp的曲线图。
参见图1和图2，如图所示，计算机X-射线层析摄影(CT)成象系统10包括一个机架12，该机架代表一台“第三代”CT扫描机。机架12包括一个X-射线源14，该射线源向位于机架12相反一侧的一个探测器阵列18投射X-射线束16。探测器阵列18是由探测器元件，或单元20构成的，这些探测器单元共同探测穿过一个病人22的投射X-射线。每个探测器单元20产生表示入射X-射线束强度，进而表示当所说射线束穿过病人22时的衰减程度的一个电信号。在获取X-射线投射数据的一次扫描过程中，机架12和安装在其上的各种部件围绕一个旋转中心24旋转。
机架12的旋转和X-射线源14的操作由CT系统10的一个控制机构26操纵。控制机构26包括一个X-射线控制器28，该控制器向X-射线源14和用于控制机架的旋转速度和位置的一个机架马达控制器30提供电力和时序信号。设置在控制机构26中的一个数据采集系统(DAS)32从探测器单元20中采样模拟数据，并将所说模拟数据转换成数字信号以备进行后续处理。一个图象重构装置34从DAS32接收经过采样和数字化的X-射线数据，并进行高速图象重构。重构的图象作为输入传送到计算机36中，所说计算机将所说图象存储在一个大容量存储装置38中。
计算机36还借助于一个用户接口装置，或者一个图象用户界面(GUI)接收和传输信号。具体地说，计算机从一个操作者通过一个包括键盘和鼠标(未示出)的控制台40接收命令和扫描参数。一个相连的阴极射线管显示器42使操作者可以观看重构的图象和来自计算机36的其它数据。计算机36利用操作者发出的命令和参数向X-射线控制器28、机架马达控制器30、DAS32、和工作台马达控制器44提供控制信号和信息。
如图3和图4所示，探测器阵列18包括多个探测器模块58。每个探测器模块58固定到一个探测器机体60上。每个模块58包括一个多维闪烁体阵列62和一个高密度半导体阵列(没有露出)。在闪烁体阵列62之上和附近设置有一个在病人之后的平行光管(未示出)以在这些X-射线束照射到闪烁体阵列62上之前对其进行准直。闪烁体阵列62包括排列成一个阵列的多个闪烁体单元，所说半导体阵列包括排列成一个相同阵列的多个光电二极管(没有露出)。所说光电二极管沉积，或形成在基体64上，闪烁体阵列62设置并固定在基体64之上。
探测器模块58还包括与一个探测器68电连接的一个转换装置66。转换装置66是与光电二极管阵列大小相同的一个多维半导体转换阵列。在一个实施例中，转换装置66包括一个场效应晶体管阵列(未示出)，每个场效应晶体管(FET)具有一个输入端、一个输出端和一条控制线(未示出)。转换装置66连接在所说光电二极管阵列与DAS32之间。具体地说，每个转换装置的FET输入端与一个光电二极管阵列输出端电连接，每个转换装置的FET输出端与DAS 32电连接，例如，利用柔性电缆70。
解码器68根据所需的片层数量和每个片层的片层分辨率控制转换装置66的操作以启用、禁用、或组合光电二极管阵列的输出。在一个实施例中，解码器68是如本领域所知的一个解码器芯片或一个FET控制器。解码器68包括与转换装置66和计算机36相连的多条输出和控制线。具体地说，所说的解码器输出端与所说转换装置控制线电连接以使转换装置66能够将适合的数据从所说转换装置输入端传送到所说转换装置输出端。所说解码器控制线与所说转换装置控制线电连接，并确定启用哪一个解码器输出端。利用解码器68，确定启用、禁用、或组合转换装置66中特定的FET，使得光电二极管阵列的特定输出端与CT系统DAS32电连接。在限定为16片层模式的一个实施例中，解码器68启用转换装置66，使得所说光电二极管阵列的所有行都与DAS 32电连接，从而将16个片层的数据独立地、同时传送到DAS 32。当然，许多其它片层组合方式也是可以的。
在一个具体实施例中，探测器18包括57个探测器模块58。所说半导体阵列和闪烁体阵列62的阵列大小分别为16×16。结果，探测器18具有16行和912列(16×57个模块)，它使得机架12每转动一圈能够同时采集16个片层的数据。当然，本发明并不限于任何特定的阵列尺寸，根据具体操作者的需要，所说阵列可以较大或较小。此外，探测器18可以以多种不同的片层厚度和数量模式，例如一个、两个、和四个片层模式操作。举例来说，这些FET可以按照四片层模式构成，从而利用一行或多行光电二极管阵列采集四个片层的数据。根据由解码器控制线限定的FET的具体构造，可以启用、禁用、或组合光电二极管阵列的各种输出组合，从而片层厚度可以是例如1.25mm、2.5mm、3.75mm、或5mm。其它的示例包括单片层模式，该模式包括片层厚度为1.25mm至20mm的一个片层，和两片层模式，该模式包括片层厚度为1.25mm至10mm的两个片层。上述以外的其它模式也是可以的。
图5和图6是根据本发明构成的系统10的一个实施例的示意图。X-射线束16从X-射线源14的一个焦点90发射出来。利用滤光器组件92可以改变X-射线束16的强度和质量，经过滤光的射线束16投射到探测器阵列18。更具体地说，在一个实施例中，滤光器组件92包括一个固定滤光器部分94，一个Z-轴可移动滤光器98，其包括一个第一滤光器100和一个第二滤光器102。滤光器100和102分别用于改变X-射线束16的强度和质量。更具体地说，滤光器100和102各自的形状和材料成分使得利用滤光器组件92根据可移动滤光器98的位置可以生成唯一的、或不同的质量和强度的射线束。在一个实施例中，根据滤光器组件92在Z-轴上的位置，利用第一滤光器100或第二滤光器102对射线束16进行滤光。
特别是，如图6所示，第一滤光器100包括一种第一滤光器材料110，一种第二滤光器材料112和位于，或插入材料110和112之间的一种第三滤光器材料114。在一个实施例中，第一滤光器100构成一个蝴蝶结形滤光器，各种材料110、112和114分别为石墨、铝和铜。例如，材料110可以为2.0毫米厚，材料112可以为0.25厚，材料114大约为75微米厚，从而第一滤光器100用于生成较硬的X-射线束质量，例如用于进行身体扫描。在另一个实施例中，材料110、112和114的数量、厚度和形状可以选择以产生所需的、选定的衰减特性。
在一个实施例中，第二滤光器102包括一种第一滤光器材料120和一种第二滤光器材料122。第一和第二滤光器材料120和122的物理结构和选择可以分别选定，使得从第二滤先器102出射的X-射线束具有与从第一滤光器100出射的X-射线束相同的强度和质量。在一个实施例中，第二滤光器102用于产生较软的X-射线束质量，从与材料110和112相同的材料中选择其材料，但是第二滤光器第一和第二材料120和122的物理形状改变了。例如，第二滤光器102制成一个蝴蝶结形滤光器，用于产生较窄的X-射线束，并且第二部分第一滤光器材料120为石墨，第二滤光器材料122为铝。利用所述的第二滤光器102，可以进行头部扫描。在替换实施例中，可以从除材料110和112以外的其它形状和材料中选择各种形状和滤光器材料120和122。此外，与滤光器100类似，第二滤光器102可以包括任何数量的材料。
更具体地说，第一滤光器100包括一个第一衰减部分140和一个第二衰减部分142。由于使用蝴蝶结形滤光器100，第一衰减部分140可以设置在第一滤光器100的大约中心位置，第二衰减部分142可以设置在滤光器100的边缘处。各个部分140和142的衰减量由各种材料110、112和114的厚度和衰减特性决定。例如，在第一滤光器100的中心，部分140的衰减为例如一个最小衰减值。相反，由于材料110、112和114的物理特性，部分142的衰减量为例如一个最大衰减值。
在操作过程中，滤光器组件92设置的位置使得X-射线束16朝向探测器阵列18辐射。更具体地说，可移动的滤光器98设置的位置使得能够使用可移动滤光器92的适合滤光器、例如第一滤光器100对X-射线束16进行滤光。然后使用经过例如第一滤光器100滤光的X-射线束16进行一次扫描，如身体扫描。在扫描过程中，从探测器阵列18采集、或测量信号强度。特别是，测量探测器阵列18的每个单元的信号强度，所测得的强度信号表示照射到探测器阵列的X-射线束16的强度。
在一个实施例中，在采集一个时间点的强度信号之处，探测器阵列18中每一个单元的强度信号表示射线束16的一个对应扇形角度的强度和该特定角度下滤光器92的衰减部分。更具体地说，对于位于探测器阵列18的等角点的一个探测器单元，强度信号表示一个0度的扇形角度。对于离开探测器阵列18的等角点的一个探测器单元，例如在探测器阵列18的一个端部150，强度信号表示一个第二扇形角度，例如25度。在一个实施例中，例如，表示0度扇形角度的探测器单元的强度信号是由滤光器100的第一衰减部分140衰减的。从表示25度扇形角度的探测器单元同时测量、或采集的强度信号是由滤光器100的第二衰减部分142衰减的。结果，从位于探测器阵列18的边缘150附近的一个单元获得的强度信号的衰减程度大于从位于探测器阵列18的等角点的一个单元获得的强度信号。例如，如图7所示，滤光器100的衰减是扇形角度和Kvp的函数。
然后使用从探测器阵列18的等角点获得的强度信号和从探测器阵列18的边缘150获得的强度信号产生一个中心相对于边缘的蝴蝶结形衰减比测量值。利用衰减比测量值，确定X-射线源电压。更具体地说，在一个实施例中，通过使用一个标定函数将衰减比测量值转换为KVp值确定X-射线源电压KVp。特别是，标定函数是在系统10的制造过程中通过利用滤光器98，例如滤光器100进行一次扫描而确定的。然后处理利用探测器阵列18采集的扫描数据，以确定在不同的扇形角度以及在至少一个X-射线源基准电压，例如100Kv下滤光器98，例如第一部分140和第二部分142的衰减部分的平均衰减比。在一个实施例中，标绘出这些结果，并且将所得曲线与一个三阶多项式进行拟合，例如，如图8所示，图中表示了滤光器中心与边缘的衰减比相对于KVp的特性。然后将多项式系数和衰减比保存在例如计算机36的一个存储器(未示出)中。存储器的内容表示经过标定的X-射线源(Kv)相对于衰减基准。
如果需要在系统10的操作过程中间接测量X-射线源电压，则使用由探测器阵列18获得的强度信号以产生衰减比测量值。然后利用存储的标定多项式将衰减比测量值转换成X-射线源电压。在一个实施例中，X-射线束电压为KVp＝k0+R*k1+R2*k2+R3*k3其中R＝衰减比测量值，k0、k1、k2、和k3为标定多项式的系数。
在另一个实施例中，衰减比测量值是根据一个平均等角点衰减值和一个平均边缘衰减值确定的。所说平均等角点衰减值是通过从一第一组探测器单元，例如从在阵列18等角点周围的90个信道采集强度信号而确定的。然后将从所说第一组探测器单元获得的强度信号组合、相加，确定一个等角点衰减平均值。所说平均边缘衰减值是通过从一第二组探测器阵列单元，例如单元1-90和822-912采集强度信号而确定的。然后将从所说第二组探测器单元获得的强度信号组合、或相加，确定一个边缘衰减平均值。然后，如上所述，使用所说平均等角点衰减值与所说平均边缘衰减值的比值确定KVp。
上述系统利用放置在病人之前的滤光器的不同衰减部分和所说探测器阵列信号强度间接地确定所说X-射线源电压。此外，所述系统还能够在不明显增加系统成本和复杂性的前提下产生可重复的结果。
从以上对于本发明的多个实施例的描述可知，显然能够实现本发明的目的。尽管已经详细介绍和说明的本发明，但是应当清楚地理解，以上内容只是以说明和举例的方式给出的，而不是以限定方式给出的。例如，在本申请中所述的CT系统是一个“第三代”系统，其中X-射线源和探测器都与机架一起旋转。还可以使用许多其它CT系统，包括“第四代”系统，其中探测器是一个全环形静止探测器，只有X-射线源随机架一起旋转。类似地，所述系统可以用于任何多片层系统。此外，上述电压确定方法可以用存储在计算机36中的一种算法实施。因此，本发明的构思和范围仅由所附各项权利要求限定。
权利要求
1.在一个成象系统中检定X-射线源电压的一种方法，所说成象系统包括一个探测器阵列、用于朝向所说探测器阵列发射X-射线束的一个X-射线源和具有至少一个第一衰减部分和一个第二衰减部分的一个放置在病人之前的滤光器，所说方法包括以下步骤在探测器阵列处确定从所说滤光器第一衰减部分出射的X-射线束的信号强度；在探测器阵列处确定从所说滤光器第二衰减部分出射的X-射线束的信号强度；根据所说第一衰减部分信号强度和所说第二衰减部分信号强度确定X-射线源电压。
2.如权利要求1所述的一种方法，其特征在于所说滤光器是一个蝴蝶结形滤光器，所说蝴蝶结形滤光器第一衰减部分位于所说滤光器的中心，而所说第二衰减部分位于所说滤光器的一个边缘，其中在探测器阵列处确定从所说滤光器第一衰减部分出射的X-射线束的信号强度的步骤包括使X-射线束透过所说滤光器的一个中心部分出射的步骤。
3.如权利要求2所述的一种方法，其特征在于使X-射线束透过所说滤光器的一个中心部分出射的步骤包括使X-射线束以大约0度的扇形角度出射的步骤。
4.如权利要求2所述的一种方法，其特征在于所说探测器阵列包括沿X-轴排列具有一个等角点的多个探测器单元，其中在探测器阵列处确定从所说滤光器第一衰减部分出射的X-射线束的信号强度的步骤包括从位于所说等角点附近的至少一个探测器单元采集强度信号的步骤。
5.如权利要求4所述的一种方法，其特征在于从位于所说等角点附近的至少一个探测器单元采集强度信号的步骤包括以下步骤从位于所说等角点附近的多个探测器单元采集强度信号；和根据多个探测器单元强度信号确定一个平均强度信号。
6.如权利要求4所述的一种方法，其特征在于在探测器阵列确定从所说滤光器第二衰减部分出射的X-射线束信号强度的步骤包括使X-射线束透过所说滤光器边缘出射的步骤。
7.如权利要求5所述的一种方法，其特征在于使X-射线束透过所说滤光器边缘出射的步骤包括使X-射线束以非零度的扇形角度出射的步骤。
8.如权利要求1所述的一种方法，其特征在于根据所说第一衰减部分信号强度和所说第二衰减部分信号强度确定X-射线源电压的步骤包括以下步骤根据所说滤光器第一衰减部分和所说滤光器第二衰减部分确定衰减比；和根据所说衰减比生成一个滤光器衰减函数。
9.用于在一个成象系统确定X-射线源电压的一种系统，该成象系统包括一个探测器阵列、用于朝向所说探测器阵列发射X-射线束的一个X-射线源和具有至少一个第一衰减部分和一个第二衰减部分的一个放置在病人之前的滤光器，所说系统的结构使之可以在探测器阵列处确定从所说滤光器第一衰减部分出射的X-射线束的信号强度；在探测器阵列处确定从所说滤光器第二衰减部分出射的X-射线束的信号强度；根据所说第一衰减部分信号强度和所说第二衰减部分信号强度确定X-射线源电压。
10.如权利要求9所述的一种系统，其特征在于所说滤光器是一个蝴蝶结形滤光器，所说蝴蝶结形滤光器第一衰减部分位于所说滤光器的中心，而所说第二衰减部分位于所说滤光器的一个边缘，其中为了在探测器阵列处确定从所说滤光器第一衰减部分出射的X-射线束的信号强度，所说系统的结构使之可以使X-射线束透过所说滤光器的一个中心部分出射。
11.如权利要求10所述的一种系统，其特征在于为了使X-射线束透过所说滤光器的一个中心部分出射，所说系统的结构使之可以使X-射线束以大约0度的扇形角度出射。
12.如权利要求10所述的一种系统，其特征在于所说探测器阵列包括沿X-轴排列具有一个等角点的多个探测器单元，其中为了在探测器阵列处确定从所说滤光器第一衰减部分出射的X-射线束的信号强度，所说系统的结构使之可以从位于所说等角点附近的至少一个探测器单元采集强度信号。
13.如权利要求12所述的一种系统，其特征在于为了从位于所说等角点附近的至少一个探测器单元采集强度信号，所说系统的结构使之可以从位于所说等角点附近的多个探测器单元采集强度信号；和根据多个探测器单元强度信号确定一个平均强度信号。
14.如权利要求12所述的一种系统，其特征在于为了在探测器阵列确定从所说滤光器第二衰减部分出射的X-射线束信号强度，所说系统的结构使之可以使X-射线束透过所说滤光器边缘出射。
15.如权利要求13所述的一种系统，其特征在于为了使X-射线束透过所说滤光器边缘出射，所说系统的结构使之可以使X-射线束以非零度的扇形角度出射。
16.如权利要求9所述的一种系统，其特征在于为了根据所说第一衰减部分信号强度和所说第二衰减部分信号强度确定X-射线源电压，所说系统的结构使之可以根据所说滤光器第一衰减部分和所说滤光器第二衰减部分确定衰减比；和根据所说衰减比生成一个滤光器衰减函数。
17.一种成象系统，该系统包括一个多片层探测器阵列、用于朝向所说探测器阵列发射X-射线束的一个X-射线源、具有至少一个第一衰减部分和一个第二衰减部分的一个放置在病人之前的滤光器和一个计算机，所说计算机与所说探测器阵列和所说X-射线源相连，并通过编程以在所说探测器阵列处确定从所说滤光器第一衰减部分出射的所说X-射线束的信号强度；在所说探测器阵列处确定从所说滤光器第二衰减部分出射的所说X-射线束的信号强度；根据所说第一衰减部分信号强度和所说第二衰减部分信号强度确定X-射线源电压。
18.如权利要求17所述的一种系统，其特征在于所说滤光器是一个蝴蝶结形滤光器，所说蝴蝶结形滤光器第一衰减部分位于所说滤光器的中心，而所说第二衰减部分位于所说滤光器的一个边缘，其中为了在所说探测器阵列处确定从所说滤光器第一衰减部分出射的所说X-射线束的信号强度，所说计算机经过编程以使X-射线束透过所说滤光器的一个中心部分出射。
19.如权利要求18所述的一种系统，其特征在于为了使X-射线束透过所说滤光器的一个中心部分出射，所说计算机经过编程以使X-射线束以大约0度的扇形角度出射。
20.如权利要求18所述的一种系统，其特征在于所说探测器阵列包括沿X-轴排列具有一个等角点的多个探测器单元，其中为了在探测器阵列处确定从所说滤光器第一衰减部分出射的X-射线束的信号强度，所说计算机经过编程以从位于所说等角点附近的至少一个探测器单元采集强度信号。
21.如权利要求20所述的一种系统，其特征在于为了从位于所说等角点附近的至少一个探测器单元采集强度信号，所说计算机经过编程以从位于所说等角点附近的多个探测器单元采集强度信号；和根据多个探测器单元强度信号确定一个平均强度信号。
22.如权利要求20所述的一种系统，其特征在于为了在探测器阵列确定从所说滤光器第二衰减部分出射的X-射线束信号强度，所说计算机经过编程以使X-射线束透过所说滤光器边缘出射。
23.如权利要求21所述的一种系统，其特征在于为了使X-射线束透过所说滤光器边缘出射，所说计算机经过编程以使X-射线束以非零度的扇形角度出射。
24.如权利要求17所述的一种系统，其特征在于为了根据所说第一衰减部分信号强度和所说第二衰减部分信号强度确定X-射线源电压，所说计算机经过编程以根据所说滤光器第一衰减部分和所说滤光器第二衰减部分确定衰减比；和根据所说衰减比生成一个滤光器衰减函数。
全文摘要
本发明的一种形式涉及一种系统,在一个实施例中,该系统利用放置在病人之前的一个滤光器衰减探测器阵列信号以间接地确定施加在X－射线源上的电压。特别是,在一个实施例中,所说放置在病人之前的滤光器包括多个衰减部分。通过使从所说X－射线源发射的X－射线束透过所说滤光器的不同衰减部分,使在探测器阵列测得的信号强度具有不同的衰减。利用所说滤光器的衰减基准值和测得的衰减信号强度比值,可以间接地确定施加到所说X－射线源的电压。
文档编号A61B6/03GK1246030SQ9911814
公开日2000年3月1日 申请日期1999年8月25日 优先权日1998年8月25日
发明者T·L·托斯 申请人:通用电气公司