专利名称：集聚纺纱用网格圈空隙率测试方法
技术领域：
本发明涉及一种纺织领域的检测方法，特别是涉及一种集聚纺纱用网格圈空隙率测试方法。
背景技术：
集聚纺纱用网格圈，简称网格圈，是新型纺纱方式——集聚纺纱的一种关键器材件，其在提高纱线的强力，降低毛羽，降低纺纱成本起着关键作用。网格圈空隙率是指单位面积未被经、纬丝覆盖的空隙百分数，其指标的大小对网格圈能否起到集聚的作用有直接的影响。因此网格圈的制造企业和使用企业必须准确掌握该指标。目前网格圈的空隙率均是以理论计算值代替实际值，不能如实地反映网格圈空隙率的实际情况，纺织企业在选择网格圈型号时基本上采取小批量、多规格试用的方法确定网格圈的规格型号，浪费了大量的时间，增加了不必要的成本支出。
发明内容
本发明鉴于上述情况，提供了一种集聚纺纱用网格圈空隙率测试方法。本发明的技术方案是这样实现的。本发明的测试方法，在不破坏网格圈的情况下，采用光通量比较法测量网格圈的空隙率，测量精度可达士0. 1%。该方法可适用于各种规格的网格圈空隙率的测量。本发明的测试方法的原理是用一束光强为Itl的勻强平行光，通过一垂直放置的光栅，通光面积为S，则通过光栅的光通量为Φ。，则(^ = IqXS,以Φ。为基准。当光栅后放置一个空隙率为K的网格圈，则通过光栅的光通量Φ = IXS0则光通量Φ与基准光通量Φ。的比为网格圈的空隙率K，即K = Φ/Φ。，这样可直接测得网格圈的空隙率。本发明的有益效果是该检测方法采用光通量比较法测量网格圈空隙率，影响因素小，测量快捷方便，测量精度高，不破坏网格圈，是一种切实可行的方法。该方法的提出， 为网格圈制造企业和使用企业提供了一个有效的检测方法，为产品质量的提高提供了依据。
具体实施例方式下面结合实施例对本发明作进一步说明。1、技术原理用一束光强为Itl的勻强平行光，通过一垂直放置的光栅，通光面积为S，则通过光栅的光通量为Φ。，贝IJ (i)Q=IQXS，以Φ。为基准。当光栅后放置一个空隙率为K的网格圈， 则通过光栅的光通量Φ = IXS0则光通量Φ与基准光通量(J)tl的比为网格圈的空隙率K， 即K= Φ/Φ。，这样可直接测得网格圈的空隙率。2、误差分析①光衍射损失的影响
根据惠更斯原理，光通过障碍物后发生绕射现象，边缘部分不沿直线传播，造成衍射损失。但由于网格圈网孔的最小尺寸超过光波长的100倍，接受面距衍射孔距离很近，且是多孔积分影响，因此衍射损失很小。②光波导的影响光波从光疏媒质射向光密媒质时，如果掠射角较小(约小于5° )时，会发生全反射，影响光通量的接受。但光栅的截面形状采用喇叭口形时，避免了小掠射角的产生，同时网格圈厚度约为0. 1mm，即光波导很短，因此，光波导的影响很小。综上所述，采用光通量比较法测量网格圈空隙率，影响因素小，测量快捷方便，测量精度高，不破坏网格圈，是一种切实可行的方法。
权利要求
1. 一种集聚纺纱用网格圈空隙率测试方法，其特征在于该方法的原理是用一束光强为Itl的勻强平行光，通过一垂直放置的光栅，通光面积为S，则通过光栅的光通量为Φ^，则 Φ。= IQXS，以Φ。为基准；当光栅后放置一个空隙率为K的网格圈，则通过光栅的光通量 Φ =IXS;则光通量Φ与基准光通量<Κ的比为网格圈的空隙率K，即K= Φ/Φ。，这样可直接测得网格圈的空隙率。
全文摘要
一种集聚纺纱用网格圈空隙率测试方法，该方法的原理是用一束光强为I0的匀强平行光，通过一垂直放置的光栅，通光面积为S，则通过光栅的光通量为ф0，则ф0＝I0×S，以ф0为基准；当光栅后放置一个空隙率为K的网格圈，则通过光栅的光通量ф＝I×S；则光通量ф与基准光通量ф0的比为网格圈的空隙率K，即K＝ф/ф0，这样可直接测得网格圈的空隙率。本发明的有益效果是该检测方法采用光通量比较法测量网格圈空隙率，影响因素小，测量快捷方便，测量精度高，不破坏网格圈，是一种切实可行的方法。该方法的提出，为网格圈制造企业和使用企业提供了一个有效的检测方法，为产品质量的提高提供了依据。
文档编号D01H5/72GK102560771SQ20101057915
公开日2012年7月11日 申请日期2010年12月8日 优先权日2010年12月8日
发明者周玉洁, 李伟, 胡新立, 邢欣, 郭康 申请人:天津纺织工程研究院有限公司