一种校验值生成方法及系统、存储芯片的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种校验值生成方法及系统、存储芯片，克服目前存储芯片计算校验值时耗时较长以及能耗较高的不足。该方法包括：获取有关成像盒的常改变数据；获取基于有关成像盒的不常改变数据预先生成的中间校验数据；采用预设算法对常改变数据及中间校验数据进行计算，获得校验值。本申请的实施例省略了对有关成像盒的不常改变数据进行计算的过程，减少了计算校验值时的计算量，提高计算效率，缩短计算时间以及打印成像设备整体的响应时间，降低存储芯片的能耗。
【专利说明】一种校验值生成方法及系统、存储芯片
【技术领域】
[0001]本发明涉及打印成像设备，尤其涉及一种校验值生成方法及系统、存储芯片。
【背景技术】
[0002]打印成像设备，例如喷墨打印机、电子照相打印机(包括例如激光打印机和LED打印机等)和复印机等，一般都将打印耗材设置为可拆卸的方式，以便于打印耗材消耗完后，消费者能够进行更换维护。相应地，打印耗材也包括了墨盒、粉盒、硒鼓等，可统称为成像盒。
[0003]为了记录成像盒的状态以利于打印成像设备中集中管理这些安装到其上的成像盒，成像盒上可安装有一存储芯片。该存储芯片存储了有关成像盒的信息，例如产品型号、记录材料(例如墨水、碳粉)的颜色/类型和生产日期等。
[0004]因此，打印成像设备就能够通过读取成像盒上存储芯片的信息来获取成像盒的情况。由于成像盒工作在振动和粉末/潮湿混杂等较为恶劣的环境中，成像盒上的芯片数据可能会被环境影响而发生跳变。显然，如果打印成像设备每次执行打印操作前都要读取存储芯片的所有信息，那么就会导致打印操作的准备时间过长而降低了工作效率。
[0005]为了避免出现上述问题，目前业内一般采取打印成像设备只读取存储芯片的部分数据和校验值等内容，然后就开始执行打印操作。该校验值是由存储芯片对自身存储的所有数据进行计算得到的，例如采用通用的MD5算法。打印成像设备能通过校验值来得知存储芯片的所有数据是否正常。
[0006]打印成像设备需要读取校验值时，存储芯片需要对其存储的所有数据进行计算，然后才能得出校验值。这个不考虑数据的特点进行计算的过程需要花费一定的时间，并不符合当前电子设备快速响应的发展趋势。而且，校验值的计算过程也会消耗一定的电能，对于存储芯片采用电池供电的情形，会缩短存储芯片的工作寿命。
【发明内容】
[0007]本发明所要解决的技术问题是克服目前存储芯片计算校验值时耗时较长以及能耗较高的不足。
[0008]为了解决上述技术问题，本申请的实施例首先提供了一种校验值生成方法，用于存储芯片根据所存储的有关成像盒的数据生成所述校验值，其中，所述有关成像盒的数据包括常改变数据和不常改变数据，该方法包括:获取所述常改变数据；获取基于所述不常改变数据预先生成的中间校验数据；采用预设算法对所述常改变数据及中间校验数据进行计算，获得所述校验值。
[0009]其中，基于所述不常改变数据预先生成的中间校验数据，包括:采用所述预设算法对所述不常改变数据预先进行计算，获得所述中间校验数据。
[0010]其中，该方法包括:在获取所述常改变数据及中间校验数据前，将会随着所述成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为所述常改变数据，将不会随着所述成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为所述不常改变数据。
[0011]其中，该方法包括:接收将所述常改变数据中的信息调整到所述不常改变数据中的第一调整操作，并根据所述第一调整操作将所述常改变数据中的信息调整到所述不常改变数据中；和/或接收将所述不常改变数据中的信息调整到所述常改变数据中的第二调整操作，并根据所述第二调整操作将所述不常改变数据中的信息调整到所述常改变数据中。
[0012]其中，该方法包括:判断所述不常改变数据是否发生了变化；在所述不常改变数据发生变化时，采用所述预设算法对变化后的所述不常改变数据进行计算，获得计算结果对所述中间校验数据进行更新；或者在所述不常改变数据发生变化时，采用所述预设算法对变化后的所述不常改变数据及所述常改变数据进行计算，获得所述校验值。
[0013]其中，判断所述不常改变数据是否发生了变化，包括:判断是否对所述存储芯片进行了测试性改写；判断所述存储芯片的连续工作时间是否达到或超过预设时长；或者判断当前的所述不常改变数据与预先生成所述中间校验数据时的所述不常改变数据是否相同；
[0014]其中，在对所述存储芯片进行了测试性改写时判断出所述不常改变数据发生了变化，在所述存储芯片的连续工作时间达到或超过预设时长时判断出所述不常改变数据发生了变化，在当前的所述不常改变数据与预先生成所述中间校验数据时的所述不常改变数据不同时判断出所述不常改变数据发生了变化。
[0015]其中，该方法包括:采用所述预设算法对当前的所述不常改变数据进行计算并获得计算结果；采用所述计算结果对所述中间校验数据进行更新，或者比较出所述计算结果与所述中间校验数据不同时采用所述计算结果对所述中间校验数据进行更新。
[0016]本申请的实施例还提供了一种校验值生成系统，用于存储芯片根据所存储的有关成像盒的数据生成所述校验值，其中，所述有关成像盒的数据包括常改变数据和不常改变数据；该系统包括:获取模块，获取所述常改变数据，以及获取基于所述不常改变数据预先生成的中间校验数据；计算模块，采用预设算法对所述常改变数据及中间校验数据进行计算，获得所述校验值。
[0017]其中，该系统包括:预处理模块，采用所述预设算法对所述不常改变数据进行计算获得所述中间校验数据。
[0018]其中，该系统包括:确定模块，在获取所述常改变数据及中间校验数据前，将会随着所述成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为所述常改变数据，将不会随着所述成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为所述不常改变数据。
[0019]其中，该系统包括:接收模块，接收将所述常改变数据中的信息调整到所述不常改变数据中的第一调整操作和/或将所述不常改变数据中的信息调整到所述常改变数据中的第二调整操作；调整模块，根据所述第一调整操作将所述常改变数据中的信息调整到所述不常改变数据中，根据所述第二调整操作将所述不常改变数据中的信息调整到所述常改变数据中。
[0020]其中，该系统包括:判断模块，判断所述不常改变数据是否发生了变化；更新模块，在所述判断模块判断出所述不常改变数据发生变化时，采用所述预设算法对变化后的所述不常改变数据进行计算，获得计算结果对所述中间校验数据进行更新；或者在所述判断模块判断出所述不常改变数据发生变化时，采用所述预设算法对变化后的所述不常改变数据及所述常改变数据进行计算，获得所述校验值。
[0021]其中:所述判断模块判断是否对所述存储芯片进行了测试性改写，并在对所述存储芯片进行了测试性改写时判断出所述不常改变数据发生了变化；判断所述存储芯片的连续工作时间是否达到或超过预设时长，并在所述存储芯片的连续工作时间达到或超过预设时长时判断出所述不常改变数据发生了变化；或者判断当前的所述不常改变数据与预先生成所述中间校验数据时的所述不常改变数据是否相同，并在当前的所述不常改变数据与预先生成所述中间校验数据时的所述不常改变数据不同时判断出所述不常改变数据发生了变化。
[0022]其中，该系统包括:中间处理模块，采用所述预设算法对当前的所述不常改变数据进行计算并获得计算结果；更新模块，采用所述计算结果对所述中间校验数据进行更新，或者比较出所述计算结果与所述中间校验数据不同时采用所述计算结果对所述中间校验数据进行更新。
[0023]本申请的实施例还提供了一种存储芯片，其中，包括如上所述的校验值生成系统，还包括:第一存储单元，存储所述常改变数据；以及第二存储单元，存储基于所述不常改变数据生成的中间校验数据。
[0024]其中，该芯片还包括:第三存储单元，存储所述不常改变数据。
[0025]与现有技术相比，本申请的实施例可以预先将有关成像盒的不常改变数据进行计算并获得中间校验数据存储在存储芯片中。在打印成像设备需要存储芯片提供校验值时，再对中间校验数据及有关成像盒的常改变数据进行计算获得校验值，省略了对有关成像盒的不常改变数据进行计算的过程，减少了计算校验值时的计算量，提高计算效率，缩短计算时间以及打印成像设备整体的响应时间，降低存储芯片的能耗。本申请的实施例还可以对有关成像盒的常改变数据以及不常改变数据进行调整，便于用户根据具体的需要进行自定义设置，拓宽了适用范围，提高了用户体验度。
[0026]本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明的技术方案而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构和/或流程来实现和获得。
【专利附图】
【附图说明】
[0027]附图用来提供对本申请的技术方案或现有技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分。其中，表达本申请实施例的附图与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，但并不构成对本申请技术方案的限制。
[0028]图1为本申请实施例的校验值生成方法的流程示意图。
[0029]图2为本申请实施例的校验值生成系统的构造示意图。
[0030]图3为本申请实施例的存储芯片的构造示意图。
【具体实施方式】
[0031]以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成相应技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。本申请实施例以及实施例中的各个特征，在不相冲突前提下可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。
[0032]另外，附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
[0033]本申请实施例的校验值生成方法，主要用于存储芯片根据所存储的有关成像盒的数据生成所述校验值。如图1所示，本申请实施例的校验值生成方法，主要包括如下步骤。
[0034]步骤S110，从存储芯片的存储区域中获取有关成像盒的常改变数据。
[0035]步骤S120，从存储芯片的存储区域中获取基于有关成像盒的不常改变数据而预先生成的中间校验数据。
[0036]本申请的实施例中，存储芯片在自身所存储的有关成像盒的数据包含有常改变数据和不常改变数据，该中间校验数据是采用预设算法预先对成像盒的该不常改变数据进行计算获得的。
[0037]步骤S130，采用与预先计算中间校验数据的算法相同的预设算法，对该常改变数据和中间校验数据进行计算，获得校验值。
[0038]存储芯片存储的有关成像盒的数据，主要包括有已打印页数、墨水使用量、墨水剩余量、成像盒识别信息、墨水容量、制造厂商以及生产日期等。
[0039]本申请的实施例将有关成像盒的数据中的已打印页数、墨水使用量和墨水剩余量等会随着成像盒的不断使用而经常发生变化(例如变化次数超过两次)的数据确定为常改变数据。将有关成像盒的数据中的成像盒识别信息、墨水容量、制造厂商和生产日期等不会随着成像盒的不断使用而经常发生变化(例如变化次数少于两次)的数据确定为不常改变数据。
[0040]本申请的实施例中，存储芯片中有关成像盒的常改变数据以及不常改变数据，对于配置存储芯片的打印成像设备不同的使用频率、不同的应用场合等情形，可能会有所不同。而且，还可以根据配置存储芯片的打印成像设备不同的使用频率、不同的应用场合等因素，进行适当的调整。比如，存储芯片生产商也可以自定义将成像盒的墨水容量确定为不常改变数据，而将成像盒的其余信息，包括成像盒识别信息、制造厂商、生产日期、已打印页数、墨水使用量以及墨水剩余量等确定为常改变数据。
[0041]需要说明的是，对于既定应用情形下的打印成像设备，所配置的存储芯片中有关成像盒的常改变数据以及不常改变数据，对于本领域普通技术人员来说是确定的。本领域的普通技术人员在面对既定应用情形下的打印成像设备，能够清楚、准确地将有关成像盒的数据确定为常改变数据以及不常改变数据。
[0042]而且，有关成像盒的常改变数据以及不常改变数据在不同的应用情形下，存在着不同的确定方式。而且，针对具体的应用情形，还可以对有关成像盒的常改变数据以及不常改变数据进行调整。
[0043]比如，有关成像盒的首次安装日期信息，在存储芯片未使用时，该数据可以确定为常改变数据。当存储芯片安装到了打印成像设备中时，打印成像设备会向该数据中写入当时的日期。当该数据被写入了具体的日期后，就不能再被改写，由此可以将此时的首次安装日期信息确定为不常改变数据。又比如，有关成像盒的预警剩余打印页数信息，在墨盒中的墨水充足时可以确定为属于不常改变数据。当打印机通过检测且发现墨水剩余量达到预警值时，则往存储芯片中写入预警信息。此时，预警剩余打印页数开始以递减的方式记录还能打印的页数。而从此时开始，这个预警剩余打印页数信息可以确定为常改变数据。
[0044]本申请的实施例，可以接收将有关成像盒的常改变数据中的信息调整到有关成像盒的不常改变数据中的第一调整操作。然后，根据该第一调整操作将有关成像盒的常改变数据中的信息调整到有关成像盒的不常改变数据中。本申请的实施例，也可以接收将有关成像盒的不常改变数据中的信息调整到有关成像盒的常改变数据中的第二调整操作。然后，根据该第二调整操作将有关成像盒的不常改变数据中的信息调整到有关成像盒的常改变数据中。有关成像盒的常改变数据以及不常改变数据中的信息可以调整，便于用户根据具体的需要进行自定义设置，拓宽适用范围，提高用户体验度。
[0045]成像盒识别信息可以是记录材料颜色信息，也可以是存储单元的器件地址，或者是其他可以区分不同成像盒类型的信息。该存储单元采用常见的非易失性存储器，例如EPROM、EEPROM、FLASH、铁电存储器或者相变存储器等，也可以采用易失性存储器加上供电电源的方案，例如SRAM配合电池或电容、DRAM配合电池或电容等方式来实现。
[0046]本申请的实施例中，预设算法是根据打印成像设备的验证需求而设置的。常见的算法包括CRC、奇偶校验、异或校验或者是和校验(checksum)等。
[0047]根据预设的算法对原装存储芯片(由打印成像设备厂商设计制造)所存储的所有数据进行计算获得校验值的准确性无疑是最高的。但是，虽然目前原装存储芯片所存储的所有数据包括上述的常改变数据和不常改变数据，但并不包括基于有关成像盒的不常改变数据生成的中间校验数据，现有技术中也没有预先对有关成像盒的不常改变数据进行计算以生成中间校验数据并存储的处理过程。而且，目前也没有根据是否会随着成像盒的不断使用而经常发生变化来对存储芯片所存储的数据进行区分。
[0048]本申请的实施例可以在生产或者设计过程中，将基于有关成像盒的不常改变数据计算获得的中间校验数据存储在存储芯片中。在打印成像设备需要存储芯片提供校验值时，存储芯片无需再对有关成像盒的不常改变数据进行计算，而是调用预先就已经生成并存储的中间校验数据与有关成像盒的常改变数据来计算，省略了对有关成像盒的不常改变数据进行计算的过程，因此能够减少计算量，提高计算效率，缩短计算时间以及打印成像设备整体的响应时间，降低存储芯片的能耗。
[0049]为了保证存储芯片发送给打印成像装置的校验值的准确性，本申请的实施例在计算校验值时还会考虑一些变化因素对计算校验值的影响。
[0050]本申请的实施例可以对不常改变数据是否发生了变化进行判断。在判断出不常改变数据发生变化时，采用相应的预设算法对变化后的不常改变数据进行计算，获得计算结果，并对先前的中间校验数据进行更新。然后采用相应的算法对常改变数据及更新后的中间校验数据进行计算，获得不常改变数据发生变化后的校验值。或者是，在判断出不常改变数据发生变化时，采用预设算法对变化后的不常改变数据及常改变数据进行计算，同样也可以获得不常改变数据发生变化后的校验值。
[0051]对不常改变数据是否发生了变化进行判断，可以通过多种方式来进行。
[0052]比如，判断是否对存储芯片进行了测试性改写。在打印成像设备对存储芯片的测试性改写时，就有可能会将不常改变数据也改写了。此时存储芯片所存储的中间校验数据就不一定是与测试性改写后的不常改变数据相对应了。在对存储芯片进行了测试性改写时，即可以做出不常改变数据发生了变化的判断结论。
[0053]又如，判断存储芯片的连续工作时间是否达到或超过预设时长。其中，该预设时长比如可以是半小时或者I小时等。不会随着成像盒的不断使用而经常发生实时变化的数据，也可能随着成像盒的不断使用而偶尔发生变化。从而，打印成像设备在一段时间的连续使用后，不常改变数据中的部分信息也可能发生一定的变化。本申请的实施例可以对存储芯片的连续工作时间进行计时，在存储芯片的连续工作时间达到或超过预设时长时，即可做出不常改变数据发生了变化的判断结论。
[0054]还如，通过直接对当前的不常改变数据与预先生成中间校验数据时的不常改变数据进行比较的方式，来判断当前的不常改变数据与预先生成中间校验数据时的不常改变数据是否相同。在比较出当前的不常改变数据与预先生成中间校验数据时的不常改变数据不相同时，即可做出不常改变数据发生了变化的判断结论。
[0055]本申请的实施例还可以定时或者不定时地采用与预先计算中间校验数据以及计算校验值时相同的算法，来对当前有关成像盒的不常改变数据进行计算。然后对计算所获得的计算结果与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据进行比较。在比较出该计算结果与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据相同时，说明当前有关成像盒的不常改变数据与先前的不常改变数据是相同的，并没有发生改变。在比较出该计算结果与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据不同时，说明当前有关成像盒的不常改变数据相比先前的不常改变数据已经发生改变。在当前有关成像盒的不常改变数据相比先前的不常改变数据已经发生改变时，采用根据当前有关成像盒的不常改变数据进行计算而获得的计算结果对根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据进行更新，从而使得后续在与当前有关成像盒的不常改变数据相对应的中间校验数据参与的最终校验值的计算中，保证了校验值的准确性。
[0056]当然，为了保证校验值准确性的同时又能尽量减少中间计算环节，提高计算效率，也可以定时或者不定时地采用与预先计算中间校验数据以及计算校验值时相同的算法，来对当前有关成像盒的不常改变数据进行计算后，直接采用计算所获得的计算结果对根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据进行更新，而不对这一计算结果是否与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据相同而进行比较，从而省略了这一比较过程。这种情形下，无论这一计算结果是否与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据相同，该计算结果都是与当前有关成像盒的不常改变数据相对应的中间校验数据，保证了后续计算校验值的准确性。
[0057]对有关成像盒的不常改变数据进行计算，可以选择在打印成像设备的闲时来进行，避免打印成像设备工作忙时进行这一计算而影响打印成像设备的工作效率。
[0058]为便于更好地理解本申请的实施例，下面举例进行说明。
[0059]假设原装存储芯片存储了 4个字节的数据，分别是“00110101”、“10010110”、“01010011”和“10110100”，第一个数据“00110101”是有关成像盒的常改变数据，后面的三个数据是有关成像盒的不常改变数据。打印成像设备需要读取的校验值是利用异或算法逐个字节计算后得到的值。本申请的实施例中利用预设的算法，即异或算法，对三个不常改变数据预先进行计算，(10010110)X0R(01010011)X0R(10110100)，可以获得中间校验数据(01110001)。存储芯片的存储区域中存储该中间校验数据“01110001”。[0060]当打印成像设备需要读取校验值时，或者存储芯片需要主动将校验值发送给打印成像设备时，存储芯片就只需要将第一个数据“00110101”与所存储的中间校验数据“01110001” 进行异或运算即可，可知(00110101)X0R(01110001) = (01000100)，因此校验值为“01000100”。相比现有技术中需要进行四个数据之间的三次异或运算，本申请对于上述举例只需要两个数据之间的一次异或运算，就能迅速地向打印成像设备发送校验值，从而节省了运算量，提高计算效率，缩短计算时间以及打印成像设备整体的响应时间，降低存储芯片的能耗。
[0061]本申请实施例的校验值生成系统，主要用于存储芯片根据所存储的有关成像盒的数据生成校验值。有关成像盒的数据包括常改变数据和不常改变数据。如图2所示，本申请实施例的校验值生成系统200主要包括有获取模块210以及计算模块220。
[0062]获取模块210，与存储芯片的存储区域300相连，从存储芯片的存储区域300中获取有关成像盒的常改变数据，还获取基于有关成像盒的不常改变数据预先生成的中间校验数据。
[0063]计算模块220，与获取模块210相连，采用与基于有关成像盒的不常改变数据预先生成中间校验数据的算法相同的预设算法，对常改变数据及中间校验数据进行计算，获得校验值。
[0064]本申请的实施例中，存储芯片在自身的存储区域300中存储的有关成像盒的数据，包含有常改变数据和不常改变数据。如图2所示，本申请实施例的校验值生成系统200还可以包括预处理模块230。预处理模块230与获取模块210以及存储芯片的存储区域300相连，采用预设算法对有关成像盒的不常改变数据进行计算获得该中间校验数据。
[0065]如图2所示，本申请实施例的校验值生成系统200可以包括与存储芯片的存储区域300相连的确定模块240。确定模块240在获取模块210获取常改变数据及中间校验数据前，将会随着成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为常改变数据，将不会随着成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为不常改变数据。
[0066]本申请的实施例中，存储芯片中有关成像盒的常改变数据以及不常改变数据，对于配置存储芯片的打印成像设备不同的使用频率、不同的应用场合等情形，可能会有所不同。而且，还可以根据配置存储芯片的打印成像设备不同的使用频率、不同的应用场合等因素，进行适当的调整。比如，存储芯片生产商也可以自定义将成像盒的墨水容量确定为不常改变数据，而将成像盒的其余信息，包括成像盒识别信息、制造厂商、生产日期、已打印页数、墨水使用量以及墨水剩余量等确定为常改变数据。
[0067]有关存储芯片中所存储的有关成像盒的常改变数据及不常改变数据如何确定，还请参考前述内容，此处不再赘述。
[0068]本申请实施例的校验值生成系统200，还可以在有关成像盒的常改变数据与不常改变数据之间进行调整。如图2所示，本申请实施例的校验值生成系统200可以包括接收模块250、与接收模块250及存储芯片的存储区域300相连的调整模块260。
[0069]接收模块250可以接收将有关成像盒的常改变数据中的信息调整到有关成像盒的不常改变数据中的第一调整操作。调整模块260根据该第一调整操作，将有关成像盒的常改变数据中的信息调整到有关成像盒的不常改变数据中。
[0070]接收模块250还可以接收将有关成像盒的不常改变数据中的信息调整到有关成像盒的常改变数据中的第二调整操作。调整模块260根据该第二调整操作，将有关成像盒的不常改变数据中的信息调整到有关成像盒的常改变数据中。
[0071]在有关成像盒的常改变数据与不常改变数据之间进行调整后，还需要针对有关成像盒的不常改变数据重新进行计算，并采用计算所获得的计算结果对先前生成的中间校验数据进行更新，以计算出与新的常改变数据与不常改变数据相匹配的校验值。
[0072]本申请实施例的校验值生成系统，可以在生产或者设计过程中将基于有关成像盒的不常改变数据计算获得的中间校验数据存储在存储芯片中，在打印成像设备需要存储芯片提供校验值时，存储芯片无需再对不常改变数据进行计算，而是采用预先就生成并存储的中间校验数据与常改变数据来计算，因此能够减少计算量，提高计算效率，缩短计算时间以及打印成像设备整体的响应时间，降低存储芯片的能耗。
[0073]如图2所示，本申请实施例的校验值生成系统200，还可以包括判断模块270以及第一更新模块280。
[0074]判断模块270，与存储区域300相连，判断存储区域300中有关成像盒的不常改变数据是否发生了变化。
[0075]第一更新模块280，与判断模块270、计算模块220以及存储区域300相连，在判断模块270判断出有关成像盒的不常改变数据发生了变化时，采用该预设算法对变化后的有关成像盒的不常改变数据进行计算，获得计算结果并对先前计算出的中间校验数据进行更新，用于计算模块220计算发生了变化后的有关成像盒的不常改变数据的校验值。
[0076]或者，在判断模块270判断出有关成像盒的不常改变数据发生变化时，计算模块220也可以采用该预设算法对变化后的不常改变数据及有关成像盒的常改变数据进行计算，同样也可以获得不常改变数据发生了变化后的校验值。
[0077]判断模块270对不常改变数据是否发生了变化进行判断，可以通过多种方式来进行。
[0078]比如，判断模块270可以进行是否对存储芯片进行了测试性改写的判断。在打印成像设备对存储芯片的测试性改写时，就有可能会将不常改变数据也改写了。此时存储芯片所存储的中间校验数据就不一定与测试性改写后的不常改变数据相对应了。判断模块270在判断出对存储芯片进行了测试性改写时，即可以做出不常改变数据发生了变化的判断结论。
[0079]又如，判断模块270可以进行存储芯片的连续工作时间是否达到或超过预设时长的判断。其中，该预设时长比如可以是半小时或者I小时等。不会随着成像盒的不断使用而经常发生实时变化的数据，也可能随着成像盒的不断使用而偶尔发生变化。从而，打印成像设备在一段时间的连续使用后，不常改变数据中的部分信息也可能发生一定的变化。本申请的实施例可以在打印成像设备经过一段时间的连续使用后另行计算校验值来确保所提供的校验值的准确性。本申请实施例的校验值生成系统200可以对存储芯片的连续工作时间进行计时。判断模块270在存储芯片的连续工作时间达到或超过预设时长时，即可做出不常改变数据发生了变化的判断结论。
[0080]还如，判断模块270还可以通过直接对当前的不常改变数据与预先生成中间校验数据时的不常改变数据进行比较的方式，来判断当前的不常改变数据与预先生成中间校验数据时的不常改变数据是否相同。判断模块270在比较出当前的不常改变数据与预先生成中间校验数据时的不常改变数据不相同时，即可做出不常改变数据发生了变化的判断结论。
[0081]如图2所示，本申请实施例的校验值生成系统200还可以包括中间处理模块291以及第二更新模块292。
[0082]中间处理模块291与存储区域300相连，定时或者不定时地采用与预先计算中间校验数据以及计算校验值时相同的算法，来对当前有关成像盒的不常改变数据进行计算。
[0083]第二更新模块292与中间处理模块291、计算模块220以及存储区域300相连，对中间处理模块291所获得的计算结果与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据进行比较。在比较出该计算结果与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据相同时，说明当前有关成像盒的不常改变数据与先前的不常改变数据是相同的，并没有发生改变。在比较出该计算结果与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据不同时，说明当前有关成像盒的不常改变数据相比先前的不常改变数据已经发生改变。在当前有关成像盒的不常改变数据相比先前的不常改变数据已经发生改变时，采用根据当前有关成像盒的不常改变数据进行计算而获得的计算结果对存储区域300中存储的根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据进行更新，从而使得后续在与当前有关成像盒的不常改变数据相对应的中间校验数据参与的最终校验值的计算中，保证了校验值的准确性。
[0084]为了保证校验值准确性的同时又能尽量减少中间计算环节，提高计算效率，也可以在定时或者不定时地采用与预先计算中间校验数据以及计算校验值时相同的算法，来对当前有关成像盒的不常改变数据进行计算后，第二更新模块292直接采用计算所获得的计算结果对根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据进行更新，而不对这一计算结果是否与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据相同而进行比较，从而省略了这一比较过程。这种情形下，无论这一计算结果是否与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据相同，该计算结果都是与当前有关成像盒的不常改变数据相对应的中间校验数据，保证了后续计算校验值的准确性。
[0085]中间处理模块291对有关成像盒的不常改变数据进行计算，可以选择在打印成像设备的闲时来进行，避免打印成像设备工作忙时进行这一计算而影响打印成像设备的工作效率。
[0086]如图3所示，本申请实施例的存储芯片，包括如前所述的校验值生成系统200，还包括用来存储成像盒数据的存储区域300，其中该存储区域300至少可以包括第一存储单元310及第二存储单元320。
[0087]第一存储单元310与校验值生成系统200中的获取模块210相连，存储有关成像盒的常改变数据。
[0088]第二存储单元320与校验值生成系统200中的获取模块210相连，存储基于有关成像盒的不常改变数据生成的中间校验数据。
[0089]如图3所示，本申请实施例的存储芯片，其存储区域300还可以包括第三存储单元330，存储有关成像盒的不常改变数据。
[0090]本申请的实施例中，存储芯片在自身的存储区域300中存储的有关成像盒的数据，包含有常改变数据和不常改变数据。如图3所示，本申请实施例的存储芯片中，校验值生成系统200还可以包括预处理模块230。预处理模块230与获取模块210以及存储区域300中的第二存储单元320以及第三存储单元330相连，采用预设算法对第三存储单元330中存储的有关成像盒的不常改变数据进行计算，获得该中间校验数据并存储到第二存储单元320中。
[0091 ] 如图3所示，本申请实施例的存储芯片中，校验值生成系统200可以包括与存储区域300中第一存储单元310及第三存储单元330相连的确定模块240。确定模块240在获取模块210获取常改变数据及中间校验数据前，将会随着成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为常改变数据并将所确定的常改变数据存储到第一存储单元310，将不会随着成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为不常改变数据并将所确定的不常改变数据存储到第三存储单元330。
[0092]本申请实施例的存储芯片中，校验值生成系统200还可以在有关成像盒的常改变数据与不常改变数据之间进行调整。如图3所示，本申请实施例的校验值生成系统200可以包括接收模块250，以及与接收模块250及存储区域300中第一存储单元310及第三存储单元330相连的调整模块260。
[0093]接收模块250可以接收将有关成像盒的常改变数据中的信息调整到有关成像盒的不常改变数据中的第一调整操作。调整模块260根据该第一调整操作，将第一存储单元310存储的有关成像盒的常改变数据中的信息调整到第三存储单元330存储的有关成像盒的不常改变数据中。
[0094]接收模块250还可以接收将有关成像盒的不常改变数据中的信息调整到有关成像盒的常改变数据中的第二调整操作。调整模块260根据该第二调整操作，将第三存储单元330存储的有关成像盒的不常改变数据中的信息调整到第一存储单元310存储的有关成像盒的常改变数据中。
[0095]在有关成像盒的常改变数据与不常改变数据之间进行调整后，还需要针对有关成像盒的不常改变数据重新进行计算，并采用计算所获得的计算结果对先前生成的中间校验数据进行更新，以计算出与新的常改变数据与不常改变数据相匹配的校验值。
[0096]本申请实施例的存储芯片，可以在生产或者设计过程中将基于有关成像盒的不常改变数据计算获得的中间校验数据存储在自身的第二存储单元中。在打印成像设备需要存储芯片提供校验值时，存储芯片无需再对第三存储单元中所存储的不常改变数据进行计算，而是采用预先就生成并存储在第二存储单元中的中间校验数据与存储在第一存储单元中的常改变数据来计算，因此能够减少计算量，提高计算效率，缩短计算时间以及打印成像设备整体的响应时间，降低存储芯片的能耗。
[0097]如图3所示，本申请实施例的存储芯片中，校验值生成系统200还可以包括判断模块270以及第一更新模块280。
[0098]判断模块270，与存储区域300中的第三存储单元330相连，判断第三存储单元330中有关成像盒的不常改变数据是否发生了变化。
[0099]第一更新模块280，与判断模块270、计算模块220以及存储区域300中的第二存储单元320相连，在判断模块270判断出有关成像盒的不常改变数据发生了变化时，采用该预设算法对变化后的有关成像盒的不常改变数据进行计算，获得计算结果并对第二存储单元320所存储的先前计算出的中间校验数据进行更新，用于计算模块220计算发生了变化后的有关成像盒的不常改变数据的校验值。[0100]或者，在判断模块270判断出有关成像盒的不常改变数据发生变化时，计算模块220也可以采用该预设算法对第三存储单元330中存储的变化后的不常改变数据及第一存储单元310中存储的有关成像盒的常改变数据进行计算，获得不常改变数据发生了变化后的校验值。
[0101]判断模块270对不常改变数据是否发生了变化进行判断，可以通过多种方式来进行。
[0102]比如，判断模块270可以进行是否对存储芯片进行了测试性改写的判断。在打印成像设备对存储芯片的测试性改写时，就有可能会将第三存储单元330中的不常改变数据也改写了。此时第二存储单元320中所存储的中间校验数据就不一定与测试性改写后的不常改变数据相对应了。判断模块270在判断出对存储芯片进行了测试性改写时，即可以做出不常改变数据发生了变化的判断结论。
[0103]又如，判断模块270可以进行存储芯片的连续工作时间是否达到或超过预设时长的判断。其中，该预设时长比如可以是半小时或者I小时等。不会随着成像盒的不断使用而经常发生实时变化的数据，也可能随着成像盒的不断使用而偶尔发生变化。从而，打印成像设备在一段时间的连续使用后，第三存储单元330中所存储的不常改变数据中的部分信息也可能发生一定的变化。本申请的实施例可以在打印成像设备经过一段时间的连续使用后另行计算校验值来确保所提供的校验值的准确性。本申请实施例的校验值生成系统200可以对存储芯片的连续工作时间进行计时。判断模块270在存储芯片的连续工作时间达到或超过预设时长时，即可做出不常改变数据发生了变化的判断结论。
[0104]还如，判断模块270还可以通过直接对第三存储单元300中所存储的当前的不常改变数据与预先生成中间校验数据时的不常改变数据进行比较的方式，来判断当前的不常改变数据与预先生成中间校验数据时的不常改变数据是否相同。判断模块270在比较出当前的不常改变数据与预先生成中间校验数据时的不常改变数据不相同时，即可做出不常改变数据发生了变化的判断结论。
[0105]如图3所示，本申请实施例的存储芯片中，校验值生成系统200还可以包括中间处理模块291以及第二更新模块292。
[0106]中间处理模块291与存储区域300中的第三存储单元330相连，定时或者不定时地采用与预先计算中间校验数据以及计算校验值时相同的算法，来对第三存储单元330中所存储的当前有关成像盒的不常改变数据进行计算。
[0107]第二更新模块292与中间处理模块291、计算模块220及存储区域300中的第二存储单元320相连，对中间处理模块291所获得的计算结果与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据进行比较。在比较出该计算结果与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据相同时，说明当前有关成像盒的不常改变数据与先前的不常改变数据是相同的，并没有发生改变。在比较出该计算结果与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据不同时，说明当前有关成像盒的不常改变数据相比先前的不常改变数据已经发生改变。在当前有关成像盒的不常改变数据相比先前的不常改变数据已经发生改变时，采用根据当前有关成像盒的不常改变数据进行计算而获得的计算结果对第二存储单元320中所存储的根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据进行更新，从而使得后续在与当前有关成像盒的不常改变数据相对应的中间校验数据参与的最终校验值的计算中，保证了校验值的准确性。
[0108]为了保证校验值准确性的同时又能尽量减少中间计算环节，提高计算效率，也可以在定时或者不定时地采用与预先计算中间校验数据以及计算校验值时相同的算法，来对当前有关成像盒的不常改变数据进行计算后，第二更新模块292直接采用计算所获得的计算结果对第二存储单元320中存储的根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据进行更新，而不对这一计算结果是否与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据相同而进行比较，从而省略了这一比较过程。这种情形下，无论这一计算结果是否与根据先前的不常改变数据计算获得的中间校验数据相同，该计算结果都是与当前有关成像盒的不常改变数据相对应的中间校验数据，保证了后续计算校验值的准确性。
[0109]中间处理模块291对有关成像盒的不常改变数据进行计算，可以选择在打印成像设备的闲时来进行，避免打印成像设备工作忙时进行这一计算而影响打印成像设备的工作效率。
[0110]本领域的技术人员应该明白，上述的本申请实施例所提供的系统和/或装置的各组成部分，以及方法中的各步骤，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上。可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现。从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
[0111]虽然本发明所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本发明技术方案而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。
【权利要求】
1.一种校验值生成方法，用于存储芯片根据所存储的有关成像盒的数据生成所述校验值，其中，所述有关成像盒的数据包括常改变数据和不常改变数据，该方法包括: 获取所述常改变数据； 获取基于所述不常改变数据预先生成的中间校验数据； 采用预设算法对所述常改变数据及中间校验数据进行计算，获得所述校验值。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，基于所述不常改变数据预先生成的中间校验数据，包括: 采用所述预设算法对所述不常改变数据预先进行计算，获得所述中间校验数据。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，该方法包括: 在获取所述常改变数据及中间校验数据前，将会随着所述成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为所述常改变数据，将不会随着所述成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为所述不常改变数据。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，该方法包括: 接收将所述常改变数据中的信息调整到所述不常改变数据中的第一调整操作，并根据所述第一调整操作将所述常改变数据中的信息调整到所述不常改变数据中；和/或 接收将所述不常改变数据中的信息调整到所述常改变数据中的第二调整操作，并根据所述第二调整操作将所述不常改变数据中的信息调整到所述常改变数据中。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，该方法包括: 判断所述不常改变数据是否发生了变化； 在所述不常改变数据发生变化时，采用所述预设算法对变化后的所述不常改变数据进行计算，获得计算结果对所述中间校验数据进行更新；或者 在所述不常改变数据发生变化时，采用所述预设算法对变化后的所述不常改变数据及所述常改变数据进行计算，获得所述校验值。
6.根据权利要求5所述的方法，其中，判断所述不常改变数据是否发生了变化，包括: 判断是否对所述存储芯片进行了测试性改写； 判断所述存储芯片的连续工作时间是否达到或超过预设时长；或者判断当前的所述不常改变数据与预先生成所述中间校验数据时的所述不常改变数据是否相同； 其中，在对所述存储芯片进行了测试性改写时判断出所述不常改变数据发生了变化，在所述存储芯片的连续工作时间达到或超过预设时长时判断出所述不常改变数据发生了变化，在当前的所述不常改变数据与预先生成所述中间校验数据时的所述不常改变数据不同时判断出所述不常改变数据发生了变化。
7.根据权利要求1所述的方法，其中，该方法包括: 采用所述预设算法对当前的所述不常改变数据进行计算并获得计算结果； 采用所述计算结果对所述中间校验数据进行更新，或者比较出所述计算结果与所述中间校验数据不同时采用所述计算结果对所述中间校验数据进行更新。
8.一种校验值生成系统，用于存储芯片根据所存储的有关成像盒的数据生成所述校验值，其中，所述有关成像盒的数据包括常改变数据和不常改变数据；该系统包括: 获取模块，获取所述常改变数据，以及获取基于所述不常改变数据预先生成的中间校验数据； 计算模块，采用预设算法对所述常改变数据及中间校验数据进行计算，获得所述校验值。
9.根据权利要求8所述的系统，其中，该系统包括: 预处理模块，采用所述预设算法对所述不常改变数据进行计算获得所述中间校验数据。
10.根据权利要求8所述的系统，其中，该系统包括: 确定模块，在获取所述常改变数据及中间校验数据前，将会随着所述成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为所述常改变数据，将不会随着所述成像盒的使用而经常发生变化的数据确定为所述不常改变数据。
11.根据权利要求8所述的系统，其中，该系统包括: 接收模块，接收将所述常改变数据中的信息调整到所述不常改变数据中的第一调整操作和/或将所述不常改变数据中的信息调整到所述常改变数据中的第二调整操作； 调整模块，根据所述第一调整操作将所述常改变数据中的信息调整到所述不常改变数据中，根据所述第二调整操作将所述不常改变数据中的信息调整到所述常改变数据中。
12.根据权利要求8所述的系统，其中，该系统包括: 判断模块，判断所述不常改变数据是否发生了变化； 更新模块，在所述判断模块判断出所述不常改变数据发生变化时，采用所述预设算法对变化后的所述不常改变数据进行计算，获得计算结果对所述中间校验数据进行更新；或者在所述判断模块判断出所述不常改变数据发生变化时，采用所述预设算法对变化后的所述不常改变数据及所述常改变数据进行计算，获得所述校验值。
13.根据权利要求12所述的系统，其中: 所述判断模块 判断是否对所述存储芯片进行了测试性改写，并在对所述存储芯片进行了测试性改写时判断出所述不常改变数据发生了变化； 判断所述存储芯片的连续工作时间是否达到或超过预设时长，并在所述存储芯片的连续工作时间达到或超过预设时长时判断出所述不常改变数据发生了变化；或者 判断当前的所述不常改变数据与预先生成所述中间校验数据时的所述不常改变数据是否相同，并在当前的所述不常改变数据与预先生成所述中间校验数据时的所述不常改变数据不同时判断出所述不常改变数据发生了变化。
14.根据权利要求8所述的系统，其中，该系统包括: 中间处理模块，采用所述预设算法对当前的所述不常改变数据进行计算并获得计算结果; 更新模块，采用所述计算结果对所述中间校验数据进行更新，或者比较出所述计算结果与所述中间校验数据不同时采用所述计算结果对所述中间校验数据进行更新。
15.一种存储芯片，其中，包括如权利要求8至14中任一项所述的校验值生成系统，还包括: 第一存储单元，存储所述常改变数据；以及 第二存储单元，存储基于所述不常改变数据生成的中间校验数据。
16.根据权利要求15所述的存储芯片，其中，该芯片还包括:第三存储单元，存储 所述不常改变数据。
【文档编号】B41J2/175GK104015494SQ201410196938
【公开日】2014年9月3日 申请日期:2014年5月9日 优先权日:2014年5月9日
【发明者】刘卫臣 申请人:珠海艾派克微电子有限公司