显示设备、显示控制设备、显示控制方法以及程序的制作方法

专利名称：显示设备、显示控制设备、显示控制方法以及程序的制作方法
技术领域：
本发明涉及显示设备、显示控制设备、显示控制方法以及程序，更具体地，涉及被 配置为抑制烧损(burn-in，烧结)的出现的显示设备、显示控制设备、显示控制方法以及程序。
背景技术：
近来，使用有机EL(电致发光)元件的有机EL显示器作为一种FPD(平板显示装 置)而引起关注，并且有机EL显示装置已被积极开发。 目前主流的FPD是LCD (液晶显示器)。然而，LCD并不是使用自发光元件并且必 需使用发光器件(诸如，背光和偏光板)的装置。因此LCD存在一些问题，诸如装置厚度的 增加以及发光不充分。相反，有机EL显示器是使用自发光元件的装置。因此，与LCD相比， 有机EL发光显示器的优势在于，有机EL发光显示器由于原则上并不必需背光等而可以更 薄并且可以实现高亮度。 具体地，设置有执行每个像素的切换的TFT电路的所谓有源矩阵有机EL显示器能 够使每个像素保持点亮并由于这个能力而可以降低功耗。另外，因为有源矩阵有机EL显示 器可以使屏幕尺寸增大并可以相对容易地得到更高的分辨率，所以已进行积极开发并且预 期其将成为下一代FPD的主流。 顺便提及，有机EL元件的特性会随环境温度或自身受热而变化或劣化。同样，当 显示视频时，有机EL元件的温度环境会根据视频而不同。因此，有机EL元件的劣化条件可 能在面板的各部分中不同。例如，在有机EL显示器用作电视机的显示部的情况下，当在屏 幕角落上持续显示接收频道信息(表示接收频道的数字)时，持续显示接收频道信息的部 分中的有机EL元件劣化更快，并出现所谓的烧损现象。
现在将例如参考图1所示描述烧损现象。 图1示出了在显示接收频道信息的状态下的屏幕IIA和出现烧损的状态下的屏幕 IIB。 例如，如图1所示，在屏幕11A的右上角显示"12"作为接收频道信息。当接收频 道信息持续长时间显示在相同位置时，因为在这个部分的有机EL元件劣化而出现烧损。如 在出现烧损的状态下的屏幕11B所示，当显示一个亮视频时，在已显示收频道信息的部分 中(在图l的虚线圈出的区域内)出现表现为暗"12"的烧损。 作为减轻或防止这种烧损现象的技术，例如，JP-A-11-26055公开了通过以预定周 期反转固定持续显示的视频来显示视频的技术、或者通过以预定周期转换这种视频来显示 视频的技术。在以预定周期反转的同时显示视频的情况下，这种技术对于单色显示是有效的。然而，对于彩色显示，反转后的视频变成完全不同的视频。因此，彩色显示很难采用这 种技术。在以预定周期转换视频来显示视频的情况下，显示的位置偏移。因此，不适合在显 示静止视频时采用这项技术。 此外，例如，JP-A-2002-351403公开了一种通过以下步骤来延长寿命的方法在
显示区域外部设置伪像素(dummy pixel)，以检测在其发光时在伪像素中的有机EL元件的
端电压作为伪像素的劣化程度，并基于检测结果来校正视频信号。然而，通过基于伪像素的
端电压的检测结果进行校正，从检测结果仅校正的是整个显示区域，而没有局部校正在显
示区域中的有机EL元件。因此，用这个方法很难避免局部出现的烧损。 此外，JP-A-2006-201784公开了通过在面板的外围上设置内置的温度传感器反馈
来自该温度传感器的输出来校正温度的方法。然而，在使用面板外围上的温度传感器的情
况下，可能检测到整体温度，但很难准确地检测出主要产生热量的显示区域内的温度分布。
因此，难以避免局部出现的烧损。

发明内容
如上所述，用相关技术中的防止烧损现象的方法已难以抑制局部出现的烧损。
因此，希望能够抑制烧损的出现。 根据本发明的实施例，提供了一种显示设备，包括多个像素电路，以矩阵形式排 列；发光电路，被设置给每个像素电路并且与驱动电流相对应地发光；以及检测电路，被设 置给预定像素电路并且根据随发光电路的亮度变化的温度来输出信号。 根据本发明的另一个实施例，提供了一种显示控制设备，包括显示装置，包括以 矩阵形式排列的多个像素电路、被设置给每个像素电路并与驱动电流相对应地发光的发光 电路以及被设置给预定像素电路并根据随发光电路的亮度变化的温度来输出信号的检测 电路；温度计算装置，用于基于从检测电路输出的信号来计算温度；以及校正装置，用于基 于由温度计算装置计算的温度来校正施加给发光电路的驱动电流。 根据本发明的另一个实施例，提供了一种显示控制设备的显示控制方法，显示控
制设备控制视频的显示并且包括以矩阵形式排列的多个像素电路、被设置给每个像素电路
并与驱动电流相对应地发光的发光电路以及被设置给预定像素电路并根据随发光电路的
亮度变化的温度来输出信号的检测电路，该显示控制方法包括以下步骤基于从检测电路
输出的信号来计算温度；以及基于计算出的温度来校正提供给发光电路的驱动电流。 根据本发明的另一个实施例，提供了一种使计算机起显示控制设备作用的程序，
显示控制设备控制视频的显示并且包括以矩阵形式排列的多个像素电路、被设置给每个像
素电路并与驱动电流相对应地发光的发光电路以及被设置给预定像素电路并根据随发光
电路的亮度变化的温度来输出信号的检测电路，并且程序使计算机起如下作用温度计算
装置，用于基于从检测电路输出的信号来计算温度；以及校正装置，用于基于由温度计算装
置计算的温度来校正提供给发光电路的驱动电流。 根据本发明的实施例，被设置给以矩阵形式排列的每个像素电路的发光电路与驱 动电流相对应地发光。被设置给预定像素电路的检测电路根据随发光电路的亮度变化的温 度来输出信号。 根据本发明的实施例，显示控制设备包括以矩阵形式排列的多个像素电路、被设置给每个像素电路并与驱动电流相对应地发光的发光电路以及被设置给预定像素电路并 根据随发光电路的亮度变化的温度来输出信号的检测电路。基于从检测电路输出的信号计 算温度，并基于所计算的温度来校正提供给发光电路的驱动电流。
根据本发明的多个实施例，能够抑制烧损的出现。


图1是用于描述烧损现象的示图； 图2是示出根据本发明实施例的显示设备的结构实例的框图； 图3是与形成显示面板的一个像素相对应的像素电路的电路图； 图4是用于描述读出温度检测电路的节点处的电压的操作时序的示图； 图5是用于描述PIN二极管被正向偏压驱动时的温度特性的示图，定义
AV==V1-V2= 77 * ln 其中n是制造工艺系数，k是波尔兹曼系数
(1.38X 10—23j/K)，而q是电子电荷电量(1.6X10—19); 图6是用于描述PIN 二极管的温度依赖性特征的示图； 图7是用于描述由显示设备进行的用以基于以像素为单位的温度数据来得出校 正系数、对图像进行校正以及显示校正后的图像的处理的流程图；以及
图8是示出根据本发明实施例的像素电路的电路图。
具体实施例方式
接下来，将参照附图详细描述本发明的具体实施例。 图2是示出根据本发明实施例的显示设备的结构实例的框图。 参照图2，显示设备21包括定时生成电路22、扫描电路23、视频信号驱动电路24、
显示面板25、温度信号处理电路26、存储器电路27以及运算电路28。 指定视频信号的中断(break)的、预定频率的同步信号从前级的未示出电路被提
供给定时生成电路22。根据这个时钟信号，定时生成电路22生成每个均用于确定扫描电路
23、视频信号驱动电路24和温度信号处理电路26中处理的定时的定时信号，并将这些定时
信号提供给扫描电路23、视频信号驱动电路24和温度信号处理电路26。 扫描电路23执行控制以根据定时生成电路22提供的定时信号(例如，垂直同步
信号)逐行地扫描以矩阵形式设置给显示面板25的像素。 视频信号驱动电路24根据定时生成电路22提供的定时信号(例如，垂直同步信
号)、基于经由运算电路28提供的视频信号来驱动显示面板25的各个像素。 显示面板25具有由有机EL元件形成并以矩阵形式设置的像素，并根据扫描电路
23和视频信号驱动电路24提供的信号来显示视频。此外，如以下参照图3所述，显示面板
25的每个像素都设置有温度检测电路。显示面板25将从每个像素的温度检测电路输出的
信号(例如，表示在以下所述图3中的节点A处的电位的信号)提供给温度信号处理电路26。 如以下参照图6所述，在温度信号处理电路26中设定了线性近似于绝对温度T和 阳极电位差AV的测量值的预先得出等式。来自显示面板25的各个像素的温度检测电路的信号被提供给温度信号处理电路26。温度信号处理电路26在这些信号中得出阳极电位 差AV并根据阳极电位差AV计算每个像素的绝对温度T。然后，温度信号处理电路26将 每个像素的绝对温度T从模拟形式转换成数字形式，并且使存储器电路27以像素为单位存 储所得到的温度数据。 存储器电路27以像素为单位存储从温度信号处理电路26提供的温度数据。例如， 存储器电路27能够存储关于一帧视频信号的温度数据。除了存储温度数据外，存储器电路 27还存储运算电路28进行处理所需的数据，例如，一帧视频信号和用于校正视频信号的校 正系数。 视频信号被从前级未示出的电路提供给运算电路28。运算电路28向存储器电路 27提供一帧视频信号以在其中临时存储视频信号。另外， 一旦提供一帧的视频信号，运算电 路28读出当前帧紧前的最后一帧的视频信号以及当在显示面板25上显示基于最后一帧的 视频信号的视频时得出的温度数据，这两者都被存储在存储器电路27中。然后，运算电路 28得出用于以像素为单位校正当前帧的视频信号电平的校正系数并使存储器电路27临时 存储校正系数。 例如，在最后一帧的视频信号电平(亮度值)大并且当显示基于最后一帧的视频
信号的视频时温度数据指示高温度的情况下，运算电路28得出校正系数使得以像素为单
位降低当前帧的视频信号电平。例如，运算电路28具有校正系数的表格，其中，视频信号电
平和温度数据彼此相关，并且运算电路28通过参考表格得出校正系数。 然后，运算电路28通过使当前帧的视频信号电平乘以存储在存储器电路27中的
校正系数、以像素为单位来校正当前帧的视频信号电平，并且向视频信号驱动电路24提供
校正后的视频信号。 如上所述，在显示设备21中，基于以像素为单位而得出的、形成显示面板25的像 素的温度数据来校正视频信号，并且基于校正后的视频信号的视频被显示在显示面板25 上。 图3是对应于形成显示面板25的一个像素的像素电路的电路图。 参照图3，像素电路31包括发光电路32和温度检测电路33。 像素电路31的发光电路32经由扫描线(WS)34和电源线(DS)35连接至图2的扫
描电路23并经由像素信号线(SIG)36连接至视频信号驱动电路24。另外，像素电路31的
温度检测电路33经由读取线(READ) 37连接至扫描电路23并经由电流信号线(ISIG) 38和
温度检测信号线(SIGT)39连接至图2中的温度信号处理电路26。 发光电路32具有写晶体管(WSTFT)41、驱动晶体管(DSTFT)42、存储电容器(CS)43 以及有机EL元件44。 写晶体管41的栅极连接至扫描线34而写晶体管41的漏极连接至像素信号线36。 写晶体管41的源极连接至驱动晶体管42的栅极，并且存储电容器43的一端连接至该连接 点。 驱动晶体管42的漏极连接至电源线35而驱动晶体管42的源极连接至有机EL元 件44的阳极。另外，存储电容器43的另一端连接至该连接点。另外，有机EL元件44的阴 极连接至预定的阴极电位(CATHODE)。 在如上构造的发光电路32中，根据经由像素信号线36提供的像素信号的电荷以经由扫描线34提供控制信号的定时被累积并保持在存储电容43中，并且对应于电荷的电 流流向有机EL元件44。因而，有机EL元件44以对应于像素信号的亮度发光。有机EL元 件44的温度随其亮度变化而变化。 温度检测电路33包括晶体管(TFT)51和52以及PIN二极管(p本征n二极管)53。
晶体管51的栅极连接至读取线37，晶体管51的漏极连接至电流信号线38，而晶 体管51的源极连接至PIN二极管53的阳极。下文中，该连接点适当地被称作节点A并且 晶体管52的漏极连接至节点A。另外，晶体管52的栅极连接至读取线37而晶体管52的源 极连接至温度检测信号线39。例如，PIN 二极管53的阴极连接至预定的参考电位(COM)。
在如上构造的温度检测电路33中，每当显示面板25显示一帧视频时，即，每当有 机EL元件44根据发光电路32中的像素信号发光时，执行从温度检测电路33两次读出节 点A的电位的处理。 更具体地，将参照图4描述在温度检测电路33中读出节点A的电位的操作时序。
图4示出了经由读取线37提供给晶体管51和52的读取信号的电位、经由电流信 号线38流到PIN二极管53的电流的电流值以及节点A的电位。 首先，从温度信号处理电路26向电流信号线38输出电流值IF1。在开始第一次 读取节点A的电位时，晶体管51和52随着读取信号的电位从低电位切换到高电位而导通。 由于晶体管51导通，所以电流值为IF1的恒定电流经由电流信号线38被提供给PIN二极 管53。节点A的电位因而变为V1。与此同时，由于晶体管51导通，所以节点A的电位V1 被输出至温度检测信号线39。然后，读取信号的电位从高电位切换到底电位。
在从温度信号处理电路26向电流信号线38输出的电流从电流值IF 1降至电流 值IF2之后经过预定时间后，读取信号的电位在开始第二次读取节点A的电位时从低电位 转换到高电位。因此，晶体管51和52导通并且电流值为IF2的恒定电流被提供给PIN 二 极管53。因此，节点A的电位变为V2，并且节点A的电位V2经由温度检测信号线39被输 出。然后，读取信号的电位从高电位切换到低电位。 如上所述，温度检测电路33在电流值为IF 1的恒定电流流向PIN 二极管53时将 PIN 二极管53的阳极电位VI输出至温度信号处理电路26而在电流值为IF2的恒定电流流 向PIN 二极管53时将PIN 二极管53的阳极电位V2输出至温度信号处理电路26。然后，温 度信号处理电路26基于PIN 二极管53的温度特性，根据阳极电位VI和阳极电位V2的电 位差来计算绝对温度。 下面将参照图5来描述PIN 二极管53被正向偏向驱动时的温度特性。 在图5中，横坐标用于PIN 二极管53的阳极和阴极之间的电压，而纵坐标用于从
PIN二极管53的阳极正向流动的正向电流。应注意，图3中的温度检测电路33输出PIN二
极管53相对于预定参考电位的阳极电位，但是将参照图5来描述相对于PIN 二极管53的
阴极电位的阳极电位，即，阳极和阴极之间的电压。 例如，在当正向电流IF1从PIN 二极管53的阳极以正向流动时的电压VI与当正 向电流IF2(IF1 > IF2)流动时的电压V2之间的阳极电位差AV的温度依赖性被表示为等 式(1)。
AV = 7 ^ I n f^、
q UF2J (i)
在上面的等式(1)中，n是制造工艺的系数，k是波尔兹曼系数，T是绝对温度，以 及q—个电子的电荷量。 因此，通过获得阳极电位差AV(V1-V2)以及正向电流IF1和IF2，图2中的温度信 号处理电路26就能够通过计算上述等式(1)得出PIN 二极管53的绝对温度T。
图6是示出了 PIN 二极管53的温度依赖性的示图。 在图6中，横坐标用于阳极电位差AV而纵坐标用于绝对温度T。图6示出了当分 别流过100 ii A禾P 1 ii A作为正向电流IF1和IF2时测量的阳极电位差A V以及在这种情况 下测量的绝对温度T。 如图6所示，阳极电位差A V随绝对温度T的变化而线性变化并且图6中所示的 等式是通过线性近似得出的。例如，以此方式得出的线性近似等式可以被设定在图2的温 度信号处理电路26中。因此，信号处理电路26当正向电流IF1和IF2分别流过PIN 二极 管53时读出阳极电位V1和V2，以通过计算阳极电位差AV得出每个像素的温度，并且使存 储器电路27存储温度数据。 如上所述，在显示设备21中，通过向每个像素电路31设置温度检测电路33，能够 检测每个像素的温度。运算电路28读出因而存储在存储器电路27中的温度数据以得出校 正系数，并且校正视频信号。 图7是用于描述由图2中的显示设备21进行的用以基于以像素为单位的温度数 据来得出校正系数、对图像进行校正以及显示校正后的图像的处理的流程图。例如，每当从 前级的电路向运算电路28提供一帧视频信号时就执行这个处理。当对某一帧执行处理时， 这一帧紧前的最后一帧的视频信号被存储在存储器电路27中。 在步骤Sl 1中，运算电路28接收从前级电路中的电路提供的一帧视频信号并且流 程前进至步骤S12中的处理。 在步骤S12中，温度信号处理电路26从用于图3的每个像素电路31的温度检测 电路33读出节点A的电位VI和V2，并且流程前进至步骤S13中的处理。这里，从温度检测 电路33读出当显示最后一帧视频时节点A的电位VI和V2。 在步骤S13中，温度信号处理电路26基于PIN 二极管53的温度特性，根据节点A 的电位VI和V2计算PIN 二极管53的绝对温度。温度信号处理电路26将以像素单位得出 (即，关于每个像素电路31)的绝对温度T从模拟形式转换成数字形式，并使存储器电路27 存储所得到的温度数据。 在步骤S13的处理之后，流程前进至步骤S14中的处理，其中，运算电路28从存储
器电路27读出存储在存储器电路27中的最后一帧视频信号以及在步骤S13中存储的每个
像素的温度数据。然后，运算电路28基于视频信号和温度数据，以像素为单位得出校正系
数并且使存储器电路27存储校正系数。然后，流程前进至步骤S15中的处理。 在步骤S15中，运算电路28以像素为单位读出在步骤S14中存储在存储器电路27
中的校正系数，并通过使校正系数乘以对应于所感兴趣的像素并包含在步骤Sll中接收的
视频信号中的像素值以像素为单位来校正视频信号。 在步骤S15中的处理之后，流程前进至步骤S16中的处理，其中，运算电路28向视 频信号驱动电路24提供校正的视频信号以使显示面板25显示视频。另外，运算电路28用 当前的视频信号来重写(更新)存储在存储器电路27中的最后一帧视频信号，然后处理结束。 如上所述，在显示设备21中，温度信号处理电路26计算显示面板25的每个像素 的温度，并且运算电路28得出用于基于所计算的温度来校正视频信号的校正系数，然后校 正视频信号。因此，例如，当给定像素的温度高时，能够以使对应于这个像素的视频信号的 亮度值降低的方法来进行校正，即，以像素为单位校正视频信号。通过用如上所述的温度反 馈来校正视频信号，即，通过校正提供给发光电路32中的有机EL元件44的电流，能够避免 显示面板25的温度局部升高的情况，因此抑制烧损的出现。因而，能够避免由烧损引起的 图像质量的劣化。因此，可以延长显示面板25的寿命。 特别地，如参照图1所述，当持续显示接收频道信号等时，认为由于有机EL元件会 随着其对应部分的温度的上升劣化而出现烧损。为解决这个问题，显示设备21能够响应于 温度来调节以像素为单位显示接收频道信息的部分的亮度。因而，能够抑制有机EL元件的 局部劣化。 在像素电路31中，通过由PIN二极管53形成温度检测电路33，能够在制造发光电 路32的处理中制造温度检测电路33。因而，以低成本、轻易地、无需与相关技术的处理的任 何改变就能够制造温度检测电路33。 另外，如图3所示，通过在发光电路32附近的位置(具体地，在温度检测电路33 的有机EL元件44附近)设置PIN 二极管53，能够通过PIN 二极管53更准确地检测发光电 路32的温度变化。 另外，因为温度检测电路33检测PIN二极管53的阳极电位，所以可以通过由两个 晶体管51和52形成的简单电路结构来实现。 例如，除从PIN 二极管53的阳极电位得出像素温度之外，温度信号处理电路26还 可从PIN二极管53的阳极和阴极之间的电压得出像素的温度。在这种情况下，在像素电路 31中设置用以读出PIN 二极管53的阴极电位的晶体管。 具体地，图8示出了根据本发明实施例的这种情况下的像素电路的电路图。
在该图中，相同的部件相对于图3被标以相同的数字并且在下文中将适当省略了 对这些部件的描述。 为了更加具体，参见图8，发光电路32与图3中的相对部分的一致之处在于，它包 括写晶体管41、驱动晶体管42、存储电容器43和有机EL元件44，而温度检测电路33与图 3中的相对部分的一致之处在于，它包括晶体管51和52以及PIN二极管53。这两个电路 与图3中的各个相对部分的一致之处在于，它们也经由扫描线34、电源线35和读取线37连 接至扫描电路23，经由像素信号线36连接至视频信号驱动电路24，以及经由电流信号线38 和温度检测信号线39连接至温度信号处理电路26。 图8中的温度检测电路33'与图3中的相对部分的不同之处在于，新增了晶体管 61并且其经由温度检测信号线(SIGC)62连接至温度信号处理电路26。
在图8的像素电路31'的温度检测电路33'中，晶体管61的栅极连接至读取线 37，晶体管61的漏极连接至PIN 二极管53的阴极，并且晶体管61的源极连接至温度检测 信号线62。晶体管61与晶体管52同时导通并且经由温度检测信号线62将PIN 二极管53 的阴极电位提供给温度信号处理电路26。 PIN 二极管53的阳极电位经由温度检测信号线39提供给温度信号处理电路26，
10并且PIN二极管53的阴极电位也经由温度检测信号线62提供给温度信号处理电路26。然 后，温度信号处理电路26基于PIN 二极管53的阳极和阴极之间的电压来计算PIN 二极管 53的温度。 如上所述，通过使用PIN二极管53的阳极和阴极之间的电压计算温度，能够比使 用阳极电位的情况更准确地计算PIN 二极管53的温度。 在本实施例中，温度检测电路33每当发光电路32根据一帧视频信号发光时就检 测温度。然而，发光电路32和温度检测电路33可以被单独控制。更具体地，例如，其可以 以使温度检测电路33每当发光电路32根据预定帧数发出预定数量的光线时就检测温度的 方式来配置。通过以此方式延长通过温度检测电路33检测温度的时间间隔，可以减轻对运 算电路28的处理负担。 另外，在本实施例中，显示面板25的每个像素电路31都设置了温度检测电路33。 然而，其可以以将像素电路31设置给由RGB构成的每个像素或者将显示面板25分成多个 区域以为每个区域设置像素电路31的方式来配置。通过以此方式减少温度检测电路33的 数量，可以减少将检测的温度数据的项数，这可以使存储器电路27更小并且加快了处理。
可选地，也可以以将温度检测电路33设置给所有像素电路31的方式来配置，使得 通过调节将采样的温度检测电路33来从每预定数量的像素电路31检测温度数据。
另外，如图3所示，发光电路32采用了2Tr(晶体管)+lC(电容器)电路。然而， 发光电路32可采用任何类型的电路。 参考以上流程图描述的每个处理并不必须以流程图的描述顺序来时序地执行，并 且它包括将并行或单独执行的处理(例如，由目标进行的并行处理或处理)。另外，运算电 路28用以执行处理的程序包括除预存在运算电路28中的程序以外的其他程序。例如，可 以经由未示出的通信部来将程序重新存储(程序可以被更新)到运算电路28中。
应认识到，本发明并不限于以上所述的实施例，而是可以在不背离本发明范围的 情况下，以各种方式进行修改。
1权利要求
一种显示设备，包括多个像素电路，以矩阵形式排列；发光电路，被设置给每个像素电路，并且与驱动电流相对应地发光；以及检测电路，被设置给预定像素电路，并根据随所述发光电路的亮度变化的温度来输出信号。
2. 根据权利要求1所述的显示设备，其中，所述检测电路具有PIN 二极管(p本征n 二极管)，并且当通过正向偏压驱动所 述PIN 二极管而使恒定电流在所述PIN 二极管的阳极与阴极之间流动 时，输出所述阳极的 电位作为所述信号。
3. 根据权利要求1所述的显示设备，其中，所述检测电路具有PIN 二极管(p本征n 二极管)，并且当通过正向偏压驱动所 述PIN 二极管而使恒定电流在所述PIN 二极管的阳极与阴极之间流动时，输出在阳极的电 位与阴极的电位之间的电位差作为所述信号。
4. 根据权利要求2或3所述的显示设备，其中，所述检测电路还具有开关，用于执行对提供给所述PIN 二极管的电流的控制以 及对所述信号的输出的控制。
5. 根据权利要求2或3所述的显示设备，其中，所述检测电路的所述PIN 二极管被设置在与所述发光电路邻近的位置处。
6. —种显示控制设备，包括显示装置，包括以矩阵形式排列的多个像素电路、被设置给每个像素电路并与驱动电 流相对应地发光的发光电路以及被设置给预定像素电路并根据随所述发光电路的亮度变 化的温度来输出信号的检测电路；温度计算装置，用于基于从所述检测电路输出的信号来计算所述温度；以及 校正装置，用于基于由所述温度计算装置计算的温度来校正提供给所述发光电路的所 述驱动电流。
7. —种显示控制设备的显示控制方法，所述显示控制设备控制视频的显示并且包括以 矩阵形式排列的多个像素电路、被设置给每个像素电路并与驱动电流相对应地发光的发光 电路以及被设置给预定像素电路并根据随发光电路的亮度变化的温度来输出信号的检测 电路，所述显示控制方法包括以下步骤基于从所述检测电路输出的信号来计算所述温度；以及 基于所计算的温度来校正提供给所述发光电路的所述驱动电流。
8. —种程序，使计算机起到显示控制设备的作用，所述显示控制设备控制视频的显示 并且包括以矩阵形式排列的多个像素电路、被设置给每个像素电路并与驱动电流相对应地 发光的发光电路以及被设置给预定像素电路并根据随发光电路的亮度变化的温度来输出 信号的检测电路，其中，所述程序使计算机起到如下作用温度计算装置，用于基于从所述检测电路输出的信号来计算所述温度；以及 校正装置，用于基于由所述温度计算装置计算的温度来校正提供给所述发光电路的所 述驱动电流。
9. 一种显示控制设备，包括显示单元，包括以矩阵形式排列的多个像素电路、被设置给每个像素电路并与驱动电 流相对应地发光的发光电路以及被设置给预定像素电路并根据随所述发光电路的亮度变 化的温度来输出信号的检测电路；温度计算单元，被配置为基于从所述检测电路输出的信号来计算所述温度；以及 校正单元，被配置为基于所述温度计算单元计算的温度来校正提供给所述发光电路的 所述驱动电流。
全文摘要
本发明公开了显示设备、显示控制设备和显示控制方法以及程序，其中，该显示设备，包括多个像素电路，以矩阵形式排列；发光电路，被设置给每个像素电路并与驱动电流相对应地发光；以及检测电路，被设置给预定像素电路并根据随发光电路的亮度变化的温度来输出信号。通过本发明，可以抑制烧损的出现。
文档编号G09G3/32GK101707045SQ20091016752
公开日2010年5月12日 申请日期2009年8月19日 优先权日2008年8月20日
发明者中村和夫, 内野胜秀 申请人:索尼株式会社