显示驱动器和测试该显示驱动器的方法

专利名称：显示驱动器和测试该显示驱动器的方法
技术领域：
本发明涉及显示驱动器和测试该显示驱动器的方法。
背景技术：
近年来，在显示面板驱动器(显示驱动器)中已经要求诸如小幅度输入操作和高 频率数据传输这样的功能。根据此，由于显示驱动器的数据输入缺陷或者数据传输缺陷在 客户面板中出现诸如显示缺陷这样的各种问题。为了解决这些问题，已经执行操作测试以 检查数据是否被正确地输入到显示驱动器。然而，在没有包括测试电路的显示驱动器中，基 于灰阶电压需要执行操作测试，灰阶电压是来自于显示驱动器的输出的结果。更加具体地， 对于当显示驱动器的输入数据(灰阶数据)是六位时64个灰阶，和当输入数据是八位时 256个灰阶的灰阶电压来说需要精确地执行操作测试。为了执行多灰阶和多输出显示驱动 器的操作测试，需要大尺寸的昂贵的测试器。因此，已经强烈需要能够使用不昂贵的测试器 高速地检测数据输入缺陷等等的技术。图8示出在日本未经审查的专利申请公开No. 10-240194中公布的显示驱动器的 测试电路。图8中所示的电路包括存储器电路111、121、131 ；运算电路112、122、132 ；驱动 电路113、123、133 ；控制电路140 ；地址电路150 ；正逻辑与电路(AND电路)151 ；以及负逻 辑与电路(OR电路)152。存储器电路111、121、131具有相同的电路构造。存储器电路根据 从地址电路150提供的信号顺序地存储从灰阶数据输入端子101输入的灰阶数据。存储器 电路中的每一个通过地址电路150根据从控制电路140提供的控制信号同时地输出被存储 在其中的灰阶数据。运算电路112、122、132具有相同的电路构造。从存储器电路111、存储 器电路121、以及存储器电路131输出的信号分别被输入到运算电路112、122、132的每一 个。此外，从控制电路140输出的控制信号被输入到运算电路中的每一个。每一个运算电 路执行事先被设定的运算并且输出运算结果。驱动器电路113、123、133具有相同的电路构 造。从运算电路112、122、132输出的信号分别被输入到驱动电路113、123、133。驱动电路 中的每一个输出被放大到适合驱动液晶装置的电压或者电流的信号。如图8中所示，来自于驱动电路113、123、以及133的输出信号被输入到正逻辑与 电路151。正逻辑与电路151将正逻辑的逻辑与运算的结果输出到输出端子105。同时，来 自于驱动电路113、123、以及133的输出信号被输入到负逻辑与电路152。负逻辑与电路 152将负逻辑的逻辑与运算的结果输出到输出端子106。通过在测试模式下观察输出端子 105和106的电压，能够判断基于灰阶数据(锁存的数据)的输出结果是否正确。图9示出用于描述本发明的包括测试输出端子的显示驱动器的框图。图9中所示 的电路包括移位寄存器312、灰阶数据输入电路313、灰阶数据寄存器314、灰阶数据锁存电
3路315、测试电路316、电平移位器317、灰阶电压选择器318、以及输出放大器319。为了方 便起见，时钟输入301、起始脉冲输302、起始脉冲输出303、灰阶数据输入304、锁存脉冲输 入305、测试输入306、测试输出307、基准电源输入308、灰阶电压输出309、高电势侧电源 310、以及低电势侧电源311均示出端子名称和信号名称。此外，图9中所示的电路示出其 中灰阶数据输入信号304是六位(64个灰阶)的情况。在本示例中，通过六级寄存器来形成移位寄存器312。起始脉冲输入信号302和时 钟输入信号301被提供给移位寄存器312。通过与时钟输入信号301同步地顺序对起始脉 冲输入信号302进行移位来形成移位脉冲信号。此外，在图9中所示的示例中，显示驱动器包括六个灰阶数据寄存器314。六位灰 阶数据输入信号304通过灰阶数据输入电路313被并行地提供给每个灰阶数据寄存器314。 基于从移位寄存器312提供的移位脉冲信号顺序地选择灰阶数据寄存器314，使得存储灰 阶数据。在完成将灰阶数据输入到灰阶数据寄存器314之后，锁存脉冲输入信号305被输 入到灰阶数据锁存电路315。因此，灰阶数据锁存电路315同时地锁存(同步地输出)被保 持在灰阶数据寄存器314中的每一个中的灰阶数据。通过灰阶数据锁存电路315锁存的灰 阶数据被输入到测试电路316。在测试电路316中，通过测试输入信号306切换正常操作模 式和测试模式。在正常操作模式下，通过测试电路316将由灰阶数据锁存电路315锁存的 灰阶数据提供给电平移位器317，并且由电平移位器317适当地移位电压电平。在执行电平 移位之后，灰阶电压选择器318基于灰阶数据选择性地输出从基准电源输入端子308提供 的多个基准电压Vl至Vn (η是2或者更大的自然数)中的任何一个。然后，输出放大器319 放大通过灰阶电压选择器318选择的基准电压，并且将被放大的电压输出到灰阶电压输出 端子309。在本示例中，六个输出放大器319放大灰阶电压选择器318的对应的输出信号 (基准电压)，并且将被放大的信号输出到灰阶电压输出端子309。另一方面，在测试模式下，例如，执行与图8中所示的相类似的操作测试。总之，观 察被输入到测试电路316的灰阶数据的电压。更加具体地，观察从测试输出端子307输出的 电压。从而，通过观察从测试输出端子307输出的电压，能够判断从灰阶数据锁存电路315 输出的灰阶数据是否正确。如上所述，在图8和图9中所示的电路中，外部输出并且观察作为操作测试的结果 的电压值。因此，需要提供测试输出端子，并且需要添加观察电路以观察测试结果(操作测 试的结果；故障检测的结果)。简言之，根据现有技术，增加了电路尺寸。此外，在图8和图 9中所示的电路中，仅在操作测试中观察到已经出现缺陷。因此，即使当在多个部件中存在 缺陷时，不能够识别已经出现缺陷。此外，不能够指定有缺陷的部件。图10示出在日本未经审查的专利申请公开No. 2006-227168中公布的显示驱动器 200。显示驱动器200包括保持电路210，该保持电路210保持并且输出显示数据(灰阶数 据)；电平接口 230，该电平接口 230调节保持电路210的输出电平；D/A转换器220，该D/ A转换器220D/A转换从电平接口 230输出的显示数据；缓冲器240，该缓冲器240基于D/A 转换器220的输出电压输出灰阶电压；以及输出选择器250，该输出选择器250选择灰阶电 压(模拟信号)和显示数据(数字信号)并且将所选择的输出到驱动电压输出端子OUT。当扫描使能信号SCANEN被设定为非激活状态时，保持电路210保持与时钟信号
4是2或者更大的自然数)中的每一个的η 位显示数据。保持电路210从对应的输出端子LQl至LQn输出用于每一位的被保持在其中 的η位显示数据。从保持电路210输出的η位显示数据通过电平接口 230被输入到D/A转 换器220。D/A转换器220通过缓冲器240将根据显示数据的灰阶电压输出到输出选择器 250的输入端子INl。另一方面，当扫描使能信号SCANEN被设定为激活状态时，保持电路210从一位宽 输出端子LQn串行输出被保持在其中的η位显示数据。例如，串行输出意指与时钟信号同 步地从一位宽输出端子LQn输出第η位数据，然后从输出端子LQn输出第(η_1)位数据，并 且其后顺序地输出数据直到第一位数据。通过此串行输出而输出的一系列的第η至第一位 数据被称为串行输出数据。从输出端子LQn输出的串行输出数据通过电平接口 230被输入 到输出选择器250的输入端子ΙΝ2。在正常操作模式下，输出选择器250选择并且输出被输入到输入端子mi的灰阶 电压。此外，扫描使能信号SCANEN被设定为非激活状态。这时，输出选择器250将灰阶电 压输出到驱动电压输出端子V0UT。另一方面，在测试模式下，输出选择器250选择并且输 出被输入到输入端子IN2的显示数据。此外，扫描使能信号SCANEN被设定为激活状态。这 时，输出选择器250将基于串行输出数据的电压顺序地输出到驱动电压输出端子V0UT。通 过外部提供的观察电路比较先前设定的显示数据的测试图案和此串行输出数据，以便判断 两个数据是否匹配。因此，能够执行操作测试以检查显示驱动器200是否根据设计执行操 作等等。在日本未经审查的专利申请公开No. 2006-227168中公布的电路中，需要在测试 模式下以串行的方式且以高电压输出灰阶数据。因此，要求复杂的时序控制和数据处理。这 造成较长的判断时间(较长的操作测试)。特别地，当显示数据(灰阶数据)的位宽增加时 此问题严重。此外，在操作测试中，以与在日本未经审查的专利申请公开No. 10-240194中 公布的相类似的方式，外部输出并且观察作为操作测试的结果的电压值。因此，需要提供测 试输出端子，并且还需要添加观察测试结果(操作测试的结果；故障检测的结果)的观察电 路。简言之，根据现有技术，增加了电路尺寸。另外，在日本未经审查的专利申请公开No. 2006-178029中公布的电路中，通过测 量显示驱动器的输出端子的电流值来执行操作测试。然而，根据此现有技术，测量作为基于 输入数据(灰阶数据)执行运算处理的结果(输出信号)的电流值。因此，当输入数据具 有位宽时，不能够指定其中出现缺陷的位线。

发明内容
本发明人已经发现了问题，即在现有技术公开的显示驱动器中，在检测故障中增 加了电路尺寸。本发明的一个示例性方面是显示驱动器，该显示驱动器包括灰阶数据寄存器 (例如，本发明的第一示例性实施例中的灰阶数据寄存器14)，该灰阶数据寄存器存储具有 位宽的灰阶数据；和灰阶电压信号生成器(例如，本发明的第一示例性实施例中的灰阶电 压选择器18)，该灰阶电压信号生成器生成具有根据被存储在灰阶数据寄存器中的灰阶数 据的电压的灰阶电压信号并且输出所生成的灰阶电压信号，显示驱动器进一步包括测试电路，该测试电路被设置在灰阶数据寄存器和灰阶电压信号生成器之间，该测试电路在测试 模式下通过公共节点至少连接被设置在灰阶数据寄存器和灰阶电压信号生成器之间的位 线当中的多条位线，从而基于在公共节点中流动的电流的值来执行故障检测。根据如上所述的电路构造，可以容易地执行故障检测，同时抑制电路尺寸的增加。本发明的另一示例性方面是测试显示驱动器的方法，该显示驱动器基于灰阶数据 生成根据具有位宽的灰阶数据的灰阶电压信号并且输出所生成的灰阶电压信号，该方法包 括至少连接灰阶数据在其中流动的位线当中的多条位线，通过公共节点连接所述多条位 线，并且在将用于测试的灰阶数据输入到显示驱动器之后，检测根据用于测试的灰阶数据 的电流值是否在公共节点中流动，从而检测故障。根据上述方法，可以容易地执行故障检测，同时抑制电路尺寸的增加。根据本发明，可以提供一种显示驱动器，该显示驱动器使得能够容易地执行故障 检测，同时抑制电路尺寸的增加。


结合附图，根据某些示例性实施例的以下描述，以上和其它示例性方面、优点和特 征将更加明显，其中图1是示出根据本发明的第一示例性实施例的显示驱动器的电路图；图2是示出根据本发明的第一示例性实施例的显示驱动器的电路图；图3是示出根据本发明的第一示例性实施例的显示驱动器的测试操作的图；图4是示出根据本发明的第一示例性实施例的显示驱动器的测试操作的图；图5是示出根据本发明的第一示例性实施例的显示驱动器的测试操作的图；图6是示出根据本发明的第一示例性实施例的显示驱动器的测试操作的时序图；图7是根据本发明的第二示例性实施例的显示驱动器的电路图；图8是根据日本未经审查的专利申请公开No. 10-240194的显示驱动器的电路 图；图9是根据现有技术的显示驱动器的电路图；以及图10是根据日本未经审查的专利申请公开No. 2006-227168的显示驱动器的电路图。
具体实施例方式在下文中，将会参考附图详细地描述应用本发明的具体示例性实施例。附图中，通 过相同的附图标记来表示相同的组件，并且为了清晰起见将会适当地省略重复的描述。[第一示例性实施例]将会参考附图描述本发明的第一示例性实施例。图1是根据本发明的第一示例性 实施例的显示驱动器的框图。图1中所示的电路包括移位寄存器12、灰阶数据输入电路13、灰阶数据寄存器14、 灰阶数据锁存电路15、测试电路16、电平移位器17、灰阶电压选择器(灰阶电压信号生成 器)18、以及输出放大器19。为了方便起见，时钟输入1、起始脉冲输入2、起始脉冲输出3、 灰阶数据输入4、锁存脉冲输入5、测试输入6、基准电源输入8、灰阶电压输出9、高电势侧电源10、以及低电势侧电源11，每一个均示出端子名称和信号名称。图1中所示的电路示出其中灰阶数据输入信号4是六位(64个灰阶)的情况。此 种电路构造仅示出示例性实施例的一个示例，并且可以在不脱离本发明的精神的情况下进 行各种方式的修改。例如，尽管第一示例性实施例示出其中灰阶数据输入信号4是六位的 情况，但是本发明可以应用于具有不同的位宽的电路构造。此外，尽管第一示例性实施例示 出其中六个灰阶数据寄存器14被包括的情况，但是本发明可以应用于其中提供不同数目 的灰阶数据寄存器14的其它电路构造。在本示例中，通过六级寄存器来形成移位寄存器12。此外，通过六个灰阶数据寄存 器至14-6来形成灰阶数据寄存器14。另外，通过输出放大器19-1至19-6来形成输 出放大器19。移位寄存器12中的六级寄存器被区分为移位寄存器12-1至12-6。此外，连 接至输出放大器19的输出端子的六个灰阶电压输出端子9还被区分为灰阶电压输出端子 9-1 至 9-6。时钟输入端子1被连接至移位寄存器12-1至12-6的输入端子中的每一个。此 外，移位寄存器12-1至12-6被串联地连接在起始脉冲输入端子2和起始脉冲输出端子3 之间，使得形成移位寄存器。六位宽灰阶数据输入端子4被连接至灰阶数据输入电路13的 六位宽输入端子。灰阶数据输入电路13的六位宽输出端子被连接至灰阶数据寄存器14-1 至14-6的六位宽输入端子中的每一个。移位寄存器12-1至12-6的输出端子分别被连接 至对应的灰阶数据寄存器14-1至14-6的其他输入端子。灰阶数据寄存器14-1至14-6中的每一个的六位宽输出端子通过灰阶数据锁存电 路15、测试电路16、以及电平移位器17被连接至灰阶电压选择器18的输入端子(36位宽 =6位X6)。锁存脉冲输入端子5被连接至灰阶数据锁存电路15的其他输入端子。测试 输入端子6被连接至测试电路16的其他输入端子。Vl至Vn (η是2或者更大的自然数) 的基准电源输入端子8被连接至灰阶电压选择器18的其他输入端子。在灰阶电压选择器 18中，与灰阶数据寄存器14-1至14-6相对应的六个输出端子被连接至对应的输出放大器 19-1至19-6的输入端子。输出放大器19-1至19-6的输出端子被连接至对应的灰阶电压 输出端子9-1至9-6。起始脉冲输入信号2和时钟输入信号1被提供给移位寄存器12。移位寄存器12 通过与时钟输入信号1同步地顺序对起始脉冲输入信号2进行移位来形成移位脉冲信号。此外，六位灰阶数据输入信号4通过灰阶数据输入电路13被提供给灰阶数据寄存 器14-1至14-6中的每一个。基于从移位寄存器12提供的移位脉冲信号选择灰阶数据寄存 器^-丨至^乂中的任何一个。然后，灰阶数据被存储在被选择的灰阶数据寄存器中。这 样，基于移位脉冲信号选择性地切换存储灰阶数据的灰阶数据寄存器14-1至14-6。在完成将灰阶数据输入到灰阶数据寄存器14-1至14-6之后，锁存脉冲输入信号 5被输入到灰阶数据锁存电路15中。因此，灰阶数据锁存电路15同时地锁存(同步地输 出)被保持在灰阶数据寄存器14-1至14-6中的灰阶数据。从灰阶数据锁存电路15输出 的灰阶数据被输入到测试电路16。注意的是，在测试电路16中，基于测试输入信号6选择 性地切换正常操作模式和测试模式。在正常操作模式下，从灰阶数据锁存电路15输出的灰阶数据的电压电平通过测 试电路16由电平移位器17适当地移位。灰阶电压选择器18基于在执行电平移位之后的灰阶数据，选择性地输出从基准电源输入端子8提供的多个基准电压Vl至Vn (η是2或者 更大的自然数)中的一个。然后，输出放大器19放大通过灰阶电压选择器18选择的基准 电压并且将被放大的基准电压输出到灰阶电压输出端子9。在本示例中，六个输出放大器 19-1至19-6放大由灰阶电压选择器18选择的对应的基准电压并且将被放大的电压输出到 灰阶电压输出端子9。尽管在图1中高电势侧电源端子10和低电势侧电源端子11被连接 至灰阶数据锁存电路15，但是它们被连接至所有其它电路的电源。现在，图2示出根据本发明的第一示例性实施例的测试电路16的电路构造。在图 2中所示的示例中，从灰阶数据寄存器14-1 (未示出)输出的六位宽灰阶数据的每一位线被 称为A1、B1、C1、D1、E1、F1。类似地，从灰阶数据寄存器14_2 (未示出)输出的六位宽灰阶 数据的每一位线被称为A2、B2、C2、D2、E2、F2。从灰阶数据寄存器14_3 (未示出)输出的 六位宽灰阶数据的每一位线被称为A3、B3、C3、D3、E3、F3。从灰阶数据寄存器14_4(未示 出)输出的六位宽灰阶数据的每一位线被称为A4、B4、C4、D4、E4、F4。从灰阶数据寄存器 14-5(未示出)输出的六位宽灰阶数据的每一位线被称为A5、B5、C5、D5、E5、F5。从灰阶数 据寄存器14-6 (未示出)输出的六位宽灰阶数据的每一位线被称为46、86丄6、06工646。 这些总共的36条位线通过测试电路16和电平移位器17被连接至灰阶数据选择器18 (未 示出)的输入端子。测试电路16包括与36条位线相对应的开关元件。在图2中所示的示例中，测试 电路16包括与36条位线相对应的36个开关元件。每个开关元件的一个端子被连接至对 应的位线。具有一个被连接至位线Al的端子的开关元件被称为SA1。具有一个被连接至位 线Bl的端子的开关元件被称为SBl。类似地，通过将“S”添加到被连接至每个开关元件的 一个端子的每条位线的前部来命名开关元件。开关元件SAl至SA6的另一端子通过第一公共节点被相互连接在一起。开关元件 SBl至SB6的另一端子通过第二公共节点被相互连接在一起。开关元件SCl至SC6的另一 端子通过第三公共节点被相互连接在一起。开关元件SDl至SD6的另一端子通过第四公共 节点被相互连接在一起。开关元件SEl至SE6的另一端子通过第五公共节点被相互连接在 一起。开关元件SFl至SF6的另一端子通过第六公共节点被相互连接在一起。简言之，测 试电路16包括对于每具有每个灰阶数据的相同位序的各位线来说不同的公共节点(第一 至第六公共节点)。此外，通过测试输入信号6切换这36个开关元件的连接状态(导通/断开)。例 如，当测试输入信号6是低电平时，每个开关元件被断开。在这样的情况下，测试电路16示 出正常操作模式的操作。简言之，在正常操作模式下，测试电路16将从灰阶数据锁存电路 15输出的灰阶数据直接地输出到电平移位器17。另一方面，当测试输入信号6是高电平时，每个开关元件被导通。在这样的情况 下，测试电路16示出测试模式的操作。更加具体地，位线A1-A6被相互连接在一起。位线 B1-B6被相互连接在一起。位线C1-C6被相互连接在一起。位线D1-D6被相互连接在一起。 位线E1-E6被相互连接在一起。位线F1-F6被相互连接在一起。此外，通过灰阶数据输入 信号4控制具有从灰阶数据寄存器14-1至14-6 (未示出)输出的每个灰阶数据的相同位 序的位线彼此具有相同的电势。简言之，控制位线Al至A6具有相同的电势。同样地，位线 B 1至B6具有相同的电势，位线C 1至C6具有相同的电势，位线Dl至D6具有相同的电势，
8位线El至E6具有相同的电势，并且位线F 1至F6具有相同的电势。注意，在测试模式下， 如上所述，具有每个灰阶数据的相同位序的位线被相互连接在一起。当没有位线包括缺陷(正常工作)时，这意指当正确地传输灰阶数据时，被连接在 一起的位线的电势示出相同的值。因此，在正常工作中，在位线之间不存在电势差，并且电 流没有流动。另一方面，当位线中的任何一个包括缺陷时，这意指当没有正确地传输灰阶数 据时，具有缺陷的位线的电势具有不同的值。简言之，仅具有缺陷的位线具有不同于被连接 在一起的位线的电势。总之，当位线中的任何一个包括缺陷时，在被连接在一起的位线之间 产生了电势差，并且电流流动。注意，通过测量被设置在测试电路16的前级中的灰阶数据 锁存电路15的高电势侧电源10或者低电势侧电源11能够检查此电流值。通过采用此电路构造，通过使用用于测量电源电流的不昂贵的测试器，能够容易 地观察灰阶数据的传输缺陷。此外，在本发明的第一示例性实施例中，不同于现有技术，不 观察输出信号的电压值。因此，不需要新添加用于检测故障的电路(观察测试结果的观察 电路)。此外，不需要提供用于实现它的测试输出端子。图3至图5示出根据本发明的第一示例性实施例的显示驱动器的测试操作的具体 示例。图3至图5都示出测试模式下的操作。图3示出当正确地传输灰阶数据时操作的示 例。图4示出当在灰阶数据的一条位线中出现缺陷时操作的示例。图5示出在灰阶数据的 两条位线中出现缺陷时操作的示例。此外，图3至图5中所示的示例都仅示出测试电路16 和灰阶数据锁存电路15的电路构造。此外，在图3至图5中所示的示例中，仅示出从灰阶 数据寄存器14-2 (未示出)输出的灰阶数据(A2、B2、C2、D2、E2、F2)和从灰阶数据寄存器 14-3 (未示出)输出的灰阶数据(A3、B3、C3、D3、E3、F3)之间的连接关系。如上所述，图3至图5都示出测试模式下的操作。因此，在测试电路16中位线A2 和A3被连接在一起。位线B2、B3被连接在一起。位线C2、C3被连接在一起。位线D2、D3 被连接在一起。位线E2、E3被连接在一起。位线F2、F3被连接在一起。此外，在正常状态 下，控制具有从灰阶数据寄存器14-1至14-6输出的每个灰阶数据的相同位序的位线具有 相同的电势。在图3中所示的示例中，高电平电压被提供给位线A2、A3。低电平电压被提 供给位线B2、B3。高电平电压被提供给位线C2、C3。低电平电压被提供给位线D2、D3。高 电平电压被提供给位线E2、E3。低电平电压被提供给位线F2、F3。现在，从灰阶数据锁存电路15输出每个灰阶数据。简言之，具有高电压电平的位 线被连接至高电势侧电源端子10。此外，具有低电压电平的位线被连接至低电势侧电源端 子11。首先将会描述正常工作。在这样的情况下，如图3中所示，被连接在一起的位线的 电势具有相同的值。简言之，在被连接在一起的位线之间不存在生成的电势差。因此，不存 在通过每条位线在高电势侧电源10或者低电势侧电源11中流动的异常电流。接下来，将会描述其中在位线D3中出现缺陷的情况。在这样的情况下，如图4中 所示，位线D3的电压电平变高，这不同于原始电平。这时，在位线D2与D3之间存在生成的 电势差。因此，如由图4中的具有箭头的实线示出的路径所示，异常电流I通过位线D3和 D2从高电势侧电源10流到低电势侧电源11。简言之，通过测量电源电流能够观察灰阶数 据的传输缺陷。接下来，将会描述其中在位线A3中也出现缺陷的情况。在这样的情况下，如图5中
9所示，位线A3的电压电平变低，这不同于原始电平。这时，在位线D2与D3之间，以及在位 线A2和A3之间存在生成的电势差。因此，如由图5中的具有箭头的实线示出的路径中所 示，异常电流I通过位线D3和D2从高电势侧电源10流到低电势侧电源11。类似地，异常 电流I通过位线A2和A3从高电势侧电源10流到低电势侧电源11。总之，异常电流1X2 从高电势侧电源10流到低电势侧电源11。根据上面的描述，能够通过测量从高电势侧电源 10流到低电势侧电源11的异常电流而检查有多少灰阶数据的传输缺陷出现。图6是示出根据本发明的第一示例性实施例的显示驱动器的测试操作的时序图。 此外，在图6中，在根据现有技术的测试操作和根据本发明的第一示例性实施例的测试操 作之间进行比较。总之，图6示出其中观察根据图9中所示的现有技术的测试输出信号307 的电压的情况和其中测量根据本发明的第一示例性实施例的电源电流(高电势侧电源10、 低电势侧电源11)的情况的时序图。在图6中所示的示例中，移位寄存器12与时钟信号1的下降边缘同步地检测起始 脉冲输入信号2并且输出移位脉冲信号。然后，灰阶数据寄存器14-1至14-6基于移位脉 冲信号存储灰阶数据输入信号4。然后，从灰阶数据锁存电路15同时输出被存储在灰阶数 据寄存器14-1至14-6中的灰阶数据。尽管在图6中所示的示例中已经描述与时钟信号1 的下降边缘同步地操作电路的示例，但是它不限于此示例。例如，本发明还能够被应用于其 中与时钟信号1的上升边缘同步地操作电路的情况。在图9中所示的现有技术中，通过检测从测试输出端子307输出的信号的电压电 平(高电平或者低电平)执行测试操作。然而，即使当存在两个有缺陷的部件时，也不能检 测到它。同时，根据本发明的第一示例性实施例，通过测量在高电势侧电源10或者低电势 侧电源11中流动的电源电流的值来执行操作测试。在正常工作中异常电流没有流动。另 一方面，当数据传输是异常的时，测量根据具有缺陷的位线的数目的电流值。在图6中所示 的示例中，当存在两个有缺陷的部件时流动的异常电流是当存在一个有缺陷的部件时流动 的异常电流的两倍。因此，通过测量从高电势侧电源10流到低电势侧电源11的异常电流， 能够检查有多少灰阶数据的传输缺陷出现。尽管在本发明的第一示例性实施例中，已经描述其中具有从灰阶数据寄存器14-1 至14-6输出的每个灰阶数据的相同位序的位线具有相同的电势的情况，但是它不限于本 示例。例如，在具有相同位序的位线当中，位线中的任何一个可以被设定为不同于其它位线 的电势的电势。因此，在正常工作中，电流I从高电势侧电源10流动到低电势侧电源11。 另一方面，当在具有不同电势的位线中存在缺陷时，不同于电流I的电流流动。通过还对其 它位线执行类似的处理，能够指定出现缺陷的位线。[第二示例性实施例]图7示出被包括在根据本发明的第二示例性实施例的显示驱动器中的测试电路 16的电路构造。在图7中所示的电路中，被设置在测试电路16中的开关元件的连接关系不 同于图7中所示的本发明的第一示例性实施例的连接关系。在图7中所示的示例中，被设置在测试电路16中的36个开关元件中的每一个的 一个端子被连接至每个对应的位线。开关元件SAl、SBl、SCl、SDl、SEl、SF 1的另一个端子 通过第一公共节点被相互连接在一起。开关元件SA2、SB2、SC2、SD2、SE2、SF2的另一个端 子通过第二公共节点被相互连接在一起。开关元件SA3、SB3、SC3、SD3、SE3、SF3的另一个端子通过第三公共节点被相互连接在一起。开关元件SA4、SB4、SC4、SD4、SE4、SF4的另一 个端子通过第四公共节点被相互连接在一起。开关元件SA5、SB5、SC5、SD5、SE5、SF5的另 一个端子通过第五公共节点被相互连接在一起。开关元件SA6、SB6、SC6、SD6、SE6、SF6的 另一个端子通过第六公共节点被相互连接在一起。总之，测试电路16包括对于每示出单个 灰阶数据的多条位线来说不同的公共节点(第一至第六公共节点)。通过测试输入信号6切换36个开关元件的连接状态(导通/断开)。例如，当测 试输入信号6是低电平时，开关元件中的每一个的连接状态被设为断开。在这样的情况下， 测试电路16示出正常操作模式的操作。简言之，在正常操作模式下，测试电路16将从灰阶 数据锁存电路15输出的灰阶数据直接地输出到电平移位器17。另一方面，当测试输入信号6是高电平时，开关元件中的每一个的连接状态为导 通。在这样的情况下，测试电路16示出测试模式的操作。更加具体地，位线A1、B1、C1、D1、 E1、F1被相互连接在一起。位线A2、B2、C2、D2、E2、F2被相互连接在一起。位线A3、B3、C3、 D3、E3、F3被相互连接在一起。位线A4、B4、C4、D4、E4、F4被相互连接在一起。位线A5、B5、 C5、D5、E5、F5被相互连接在一起。位线A6、B6、C6、D6、E6、F6被相互连接在一起。此外，在 从灰阶数据寄存器14-1至14-6(未示出)输出的灰阶数据当中，通过灰阶数据输入信号4 控制示出单个灰阶数据的多条位线具有相同的电势。具体地，例如，控制从灰阶数据寄存器 14-1输出的位线Al、Bi、Cl、Dl、El、Fl具有相同的电势(例如，高电平)。类似地，控制位 线A2、B2、C2、D2、E2、F2具有相同的电势，控制位线A3、B3、C3、D3、E3、F3具有相同的电势， 控制位线A4、B4、C4、D4、E4、F4具有相同的电势，控制位线A5、B5、C5、D5、E5、F5具有相同 的电势，并且控制位线A6、B6、C6、D6、E6、F6具有相同的电势。如上所述，在测试模式下，示 出单个灰阶数据的多条位线被连接在一起。这时，当在所有的位线中没有找到缺陷(正常工作)时，这意指当正确地传输灰阶 数据时，示出单个灰阶数据的多条位线具有相同的电势。因此，在正常工作中，在位线之间 不产生电势差，并且电流没有流动。另一方面，当在位线中的任何一个中出现缺陷时，这意 指当没有正确地传输灰阶数据时，具有缺陷的位线的电势示出不同的值。简言之，在被相互 连接在一起的位线的电势当中，仅具有缺陷的位线具有不同的值。总之，当在位线中的任何 一个中出现缺陷时，在缺陷出现的位线和被连接的其它位线之间产生电势差，并且电流流 动。注意，通过测量被设置在测试电路16的前级中的灰阶数据锁存电路15的高电势侧电 源10或者低电势侧电源11能够检查此电流值。而且，同样在第二示例性实施例中，如在第 一示例性实施例中的情况相似，可以检查有多少灰阶数据的传输缺陷出现。如上所述，而且在第二示例性实施例中，通过使用用于测量电源电流的不昂贵的 测试器能够观察灰阶数据的传输缺陷。此外，能够检查有多少灰阶数据的传输缺陷出现。此 外，在本发明的第二示例性实施例中，不同于现有技术，不观察输出信号的电压值。因此，不 需要新添加用于检测故障的电路(观察测试结果的观察电路)。此外，不需要设置用于实现 它的测试输出端子。尽管在本发明的第二示例性实施例中已经描述其中在从灰阶数据寄存器14-1至 14-6输出的灰阶数据当中示出单个灰阶数据的多条位线具有相同的电势的情况，但是不限 于本示例。例如，还能够设定示出单个灰阶数据的多条位线当中的任何一条位线具有不同 于其它位线的电势。因此，在正常工作中，电流I从高电势侧电源10流到低电势侧电源11。另一方面，当在具有不同电势的位线中存在缺陷时，不同于电流I的电流流动。通过还为其 它位线执行类似的处理，能够指定出现缺陷的位线。注意，本发明不限于上述示例性实施例，但是在不脱离本发明的精神的情况下能 够适当地进行更改。例如，本发明不限于上述显示驱动器的电路构造，但是如果需要可以存 在不具有输出放大器19的电路构造。或者，例如，可以存在具有逻辑运算电路的电路构造。本领域的技术人员能够根据需要组合第一和第二示例性实施例。虽然已经按照若干示例性实施例描述了本发明，但是本领域的技术人员将理解本 发明可以在权利要求的精神和范围内进行各种修改的实践，并且本发明并不限于上述的示 例。此外，权利要求的范围不受到上述示例性实施例的限制。此外，应当注意的是，申请人意在涵盖所有权利要求要素的等同形式，即使在之后 的审查过程中进行过修改亦是如此。
权利要求
一种显示驱动器，包括灰阶数据寄存器，所述灰阶数据寄存器存储具有位宽的灰阶数据；以及灰阶电压信号生成器，所述灰阶电压信号生成器生成灰阶电压信号并且输出所生成的灰阶电压信号，所述灰阶电压信号具有根据被存储在所述灰阶数据寄存器中的所述灰阶数据的电压，所述显示驱动器进一步包括测试电路，所述测试电路被设置在所述灰阶数据寄存器和所述灰阶电压信号生成器之间，所述测试电路在测试模式下通过公共节点至少连接被设置在所述灰阶数据寄存器和所述灰阶电压信号生成器之间的位线当中的多条位线，从而基于在所述公共节点中流动的电流的值来执行故障检测。
2.根据权利要求1所述的显示驱动器，其中所述测试电路包括对于所述位线当中的每 具有每个灰阶数据的相同位序的各位线来说不同的所述公共节点。
3.根据权利要求1所述的显示驱动器，其中所述测试电路包括对于每示出单个灰阶数 据的多条位线来说不同的所述公共节点。
4.根据权利要求1所述的显示驱动器，其中所述测试电路包括开关元件，所述开关元 件在所述公共节点和对应的位线之间，并且所述开关元件在所述测试模式下被导通并且在正常操作模式下被断开。
5.一种测试显示驱动器的方法，所述显示驱动器根据具有位宽的灰阶数据生成灰阶电 压信号并且输出所生成的灰阶电压信号，所述方法包括至少连接所述灰阶数据在其中流动的位线当中的多条位线，通过公共节点连接所述多 条位线；并且在将用于测试的灰阶数据输入到所述显示驱动器之后，检测根据所述用于测试的灰阶 数据的电流值是否在所述公共节点中流动，从而检测故障。
6.根据权利要求5所述的测试显示驱动器的方法，包括输入所述灰阶数据使得被连接 至所述公共节点的所述多条位线具有相同的电势，从而基于在所述公共节点中流动的电流 的值来检测所述多条位线中的故障。
7.根据权利要求5所述的测试显示驱动器的方法，包括输入所述灰阶数据使得被连接 至所述公共节点的所述多条位线中的任何一条具有不同的电势，从而基于在所述公共节点 中流动的电流的值来检测被设定具有所述不同的电势的位线中的故障。
8.根据权利要求5所述的测试显示驱动器的方法，包括在测试模式下导通开关元件并 且在正常操作模式下断开所述开关元件，所述开关元件的每一个被设置在所述公共节点和 对应的位线之间。
全文摘要
本发明涉及显示驱动器和测试该显示驱动器的方法。该显示驱动器包括灰阶数据寄存器，该灰阶数据寄存器存储具有位宽的灰阶数据；和灰阶电压信号生成器，该灰阶电压信号生成器生成灰阶电压信号并且输出所生成的灰阶电压信号，该灰阶电压信号具有根据被存储在灰阶数据寄存器中的灰阶数据的电压，显示驱动器进一步包括测试电路，该测试电路被设置在灰阶数据寄存器和灰阶电压信号生成器之间，该测试电路在测试模式下通过公共节点至少连接被设置在灰阶数据寄存器和灰阶电压信号生成器之间的位线当中的多条位线，从而基于在公共节点中流动的电流的值来执行故障检测。
文档编号G09G3/00GK101901573SQ20101016786
公开日2010年12月1日 申请日期2010年4月22日 优先权日2009年4月22日
发明者田付敏一 申请人:瑞萨电子株式会社