专利名称：伸长的线状缺陷的定位的制作方法
技术领域：
本发明涉及摄影，更具体地说涉及数字照相加工应用中照相材料上的伸长的线状缺陷的定位。
背景技术：
照相材料(如胶片)上图像的扫描再现中通常会出现伸长的线状缺陷。这种缺陷包括，但不限于划痕，坑缺，冲洗拖痕，涂层的条痕，涂层的波纹，扫描仪的缺陷等。例如，制造照相材料时，涂层加工时的缺陷可能会导致沿照相材料的纵向的影响一个或多个感光层的狭长区域，被称为条痕。因为这个或这些受影响的层的原因，在此条痕区域中的感光材料和/或联结剂的量上存在了变化。这种变化本身体现在条痕区域的异常特征数据。在第二实例中，照相机中的尘粒可能会导致当送片通过尘粒上时因压力敏感的作用而形成表现为伸长的线状缺陷的可显影潜像。
在本领域中，已知的是利用在胶卷上曝光的校准补片来实现光学冲印时更佳的曝光控制。有关范例，参见一九九八年六月十六日授予Terashita的美国专利5,767,983。还可见到，参考校准补片的运用在确定数字印刷中所用的扫描胶片数据的校准值方面的是很有用的。例如，参见一九九七年九月十六日授予Reem等人的美国专利5,667,944以及一九九七年七月十五日授予Wheeler等人美国专利5,649,260。
虽然伸长的线状缺陷可能导致景象的图像上的非期望的人为缺陷，但是当这种缺陷发生在包含感光方式曝光的补片的参考校准图像时，它们的影响可能会更为有害。如果这种缺陷可以被检测和查找到，则可以将图像缺陷的位置馈送到预设来测量感光补片的软件，以使这种软件可以避免使用从缺陷区域所导出的数据或运用适当的重构技术来恢复受影响的数据。
在先有技术中，一九九八年四月七日授予Takada等人的美国专利5,736,996和一九九三年一月二十三日授予Ohtsubo等人的美国专利5,189,521描述了通过在记录媒体上铺设测试目标来自动检测图像的不均匀性的方法。但是，关注非均匀性的原本是记录头，而非记录图像的假定均匀的媒体。一旦检测到非均匀性，记录头就自动被校准，以将均匀的密度传送到记录媒体，无论记录头中是否存在非均匀性。当这种缺陷产生于记录媒体中，而非记录装置时或发生在记录步骤之后，此先有技术则无法修补这种非均匀性，因为无法在冲印参考校准目标时确定这些缺陷的位置和严重性。
Rafael Gonzalez and Paul Wintz，Addison-Wesley出版公司，Reading，MA，1997的《数字图像处理》中所描述的查找数字图像中的线状对象的标准技术，直观图像分段和说明技术可以运用来查找据称为均匀的感光补片中的这种缺陷。但是，在具有呈现低信噪比的曝光量的补片中，这种检测算法就崩溃了。无法检测这种补片中的缺陷可能会导致补片的密度估算值或噪声级别上的偏差。在校准过程中使用讹误的数据可能会以有害的形式影响整个图像。再者，在高度结构化的非均匀图像(如二维条码)中，这些标准技术无法可靠地区分条码部分和人为缺陷所导致的部分的线状特征。
发明概述因此，需要一种改进的方法来检测和查找照相材料的扫描图像中的线状缺陷。
根据本发明，满足此要求的方法是提出了一种查找照相材料上线状缺陷的方法，所述材料具有有效的成像宽度和与所述材料的纵向一致的缺陷，所述方法包括下列步骤使所述材料的一定区域曝光，以形成横跨所述材料有效成像宽度的基本上均匀的潜像；将所述潜像显影以产生密度信号；利用测光装置对所述密度信号取样；以及分析所取样的密度数据，确定与所述材料纵向一致的显著离差的存在，以查找所述缺陷。
照相材料至少包括具有感光层的基底，所述感光层对光敏感，产生可显影的潜像。所述感光层可以包括常规的卤化银化学物或其它感光材料，如可热或施压显影的化学物。它可以具有透明基底，反射基底，或附有磁敏感涂层的基底。照相材料可以通过标准化学处理方法来冲洗，包括但不仅限于Kodak处理工艺C-41及其派生的方法，ECN-2，VNF-1，ECP-2及其派生的方法，D-96，D-97，E-4，E-6，K-14，R-3，和RA-2SM，或者RA-4；Fuji方法CN-16及其派生的方法，CR-6，CP-43FA，CP-47L，CP-48S，RP-305，RA-4RT；Agfa MSC 100/101/200胶片和纸张处理工艺，Agfacolor处理工艺70，71，72和94，Agfachrome处理工艺44NP和63；和Konica处理工艺CNK-4，CPK-2-22，DP，和CRK-2，和Konica ECOJET HOA-N，HQA-F，和HQA-P处理工艺。可以采用替代处理工艺来处理照相材料，例如表观干式处理工艺，此处理工艺可以在材料中保留某些或全部显影的银或卤化银，或者可以包括分层和使照相材料膨胀而添加适量的水。根据照相材料的设计，所述照相材料还可以采用可以包括热或高压处理的干式处理工艺来处理。处理工艺还可以包括表观干式法、干式法以及常规湿法的组合。适合的替代法和干式处理工艺的实例包括下列专利中公开的处理工艺Levy等人于二○○○年六月三日中请的序列号为60/211,058的美国专利；Irving等人于二○○○年六月三日申请的60/211,446；Irving等人于二○○○年六月三日申请的60/211,065；Irving等人于二○○○年六月三日申请的60/211,079；Ishikawa等人于一九九七年三月十二日公开的EP专利0762201A1；Iwai等人于一九九八年十月十二日公开的EP专利0926550A1；一九九八年十一月三日授予Ueda的美国专利5,832,328；一九九八年五月二十六日授予Kobayashi等人的美国专利5,758,223；一九九七年十月十六日授予Nakahanada等人的美国专利5,698,382；一九九六年五月二十一日授予Edgar的美国专利5,519,510；以及一九九九年十一月二十三日授予Edgar的美国专利5,988,896。应注意的是，Edgar所公开的处理工艺中，图像的显影和扫描是同时进行的。因此，本发明倾向于可以同时执行任何显影和扫描步骤。
一旦照相材料被处理并将样本图像数字化，就比较所有的像素值，即对曝光区宽度进行截面扫描(cross-section spanning)。如果与照相材料纵向平行的小像素区域完全呈现显著不同于均匀曝光区域的其他区域所呈现的值，则在照相材料上的相应位置找到线状缺陷。
参照
图1，在最佳实施例中，充分均匀曝光的参考图像12被曝光在摄影胶卷10上，使得参考图像横跨图像帧14的宽度。
对于涂层缺陷的检测，最好选择足够高的曝光量等级，以便在显影由所述曝光所形成的潜像时、把胶片的所有层都主动地包括在产生的密度中。对于检测局部压力变化或划痕引起的附加密度，最好选择足够低的曝光量等级，以便使这种缺陷起源所导致的附加密度在所述参考图像的总体密度上可见。例如，对于纽约罗彻斯特的Eastman Kodak公司制造的Advantix 200胶片，适合的曝光量足以产生1.5Dmin以上(1.5 above Dmin)的密度。在照相材料是具有多个层的彩色负片的情况下，曝光量足够高、以产生可在此胶片的所有层显影的潜像，并且足够低、以产生显影时可进行因缺陷所致的任何附加密度的检测的潜像。相同的原理适用于任何多层的负片，包括(例如)任何多层单色胶片。
选择单一曝光量等级满足上述两种需求是不可能的。在这种情况下，可以采用沿胶卷纵向变化的多种曝光量等级。
参照图2，说明用于查找纵向线状缺陷的方法中的步骤。首先对摄影胶卷进行均匀曝光量12的曝光(20)，以记录潜像。然后冲洗所述胶卷(22)，以便从记录的潜像产生密度信号。再通过光度测量产生取样的图像(24)，最好通过胶片扫描仪扫描显影的图像并将扫描仪的输出数字化。然后分析取样的图像(26)，以判断是否存在均匀度不同于均匀曝光量12的区域。如果发现任何与胶卷纵向一致的这种区域，就找到线状缺陷(28)。
参照图3，通过观察每个像素上的值36分析通过均匀曝光量12的图像帧14的数字图像的横向扫描34。如果几个值38显著不同于扫描其他区域的其余值36，则检测到缺陷。如果通过均匀曝光量12的多次扫描在相同横向位置呈现缺陷，则查找到所述缺陷并将其归类为线状缺陷。可以将多次扫描线取平均值，并将类似的处理运用于所述取平均值的扫描线以增强线状缺陷的检测能力。
当查找到缺陷时，可以在图像分析软件中利用所述位置，以改善图像的外观，或在参考校准图像的情况下改善校准数据的可靠性。
权利要求
1.一种具有有效成像宽度的照相材料，所述材料包括横跨所述材料的所述有效成像宽度且基本均匀的潜像，以用于查找与所述材料的纵向一致的线状缺陷。
2.权利要求1的照相材料，其特征在于所述照相材料是具有多个层的摄影负片，且所述曝光量足够高，以产生在所述胶片的所有层都可显影的潜像。
3.权利要求1的照相材料，其特征在于所述照相材料是摄影负片，且所述曝光量足够低，以产生在显影时可检测因缺陷所致的任何附加密度的潜像。
4.权利要求1的照相材料，其特征在于所述照相材料是具有多个层的摄影负片，以及所述曝光量足够高、以产生在所述胶片的所有层都可显影的潜像且所述曝光量足够低、以产生在显影时可检测因缺陷所致的任何附加密度的潜像。
5.权利要求4的照相材料，其特征在于所述曝光量足以产生1.5Dmin以上(1.5 above Dmin)的显影图像。
6.权利要求1的照相材料，其特征在于所述照相材料包括具有常规的卤化银化学物的感光层。
7.权利要求1的照相材料，其特征在于所述照相材料包括具有可热显影的化学物的感光层。
8.权利要求1的照相材料，其特征在于所述照相材料包括具有可施压显影的化学物的感光层。
9.权利要求1的照相材料，其特征在于所述照相材料是胶卷。
全文摘要
一种查找照相材料上的线状缺陷的方法,所述材料具有有效的成像宽度和与所述材料纵向一致的缺陷,所述方法包括下列步骤:将所述材料的一定区域曝光,以形成在所述缺陷的有效成像宽度上基本均匀的潜像;将潜像显影以产生密度信号;利用测光装置对密度信号取样;以及分析取样的密度数据,确定与所述材料纵向一致的显著离差的存在,以查找所述缺陷。
文档编号G03C1/765GK1337594SQ0112520
公开日2002年2月27日 申请日期2001年8月9日 优先权日2000年8月9日
发明者N·D·卡希尔, J·P·斯彭斯 申请人:伊斯曼柯达公司