一种显示面板的检测电路及其检测方法

一种显示面板的检测电路及其检测方法
【专利摘要】本发明提供一种显示面板的检测电路及所述电路的检测方法，所述检测电路包括：两条检测线，分别用于向每行像素单元提供扫描信号；其中一条所述检测线仅连接所述像素单元的一条扫描线，另一条所述检测线连接所述像素单元的另一条扫描线。本发明的显示面板的检测电路及使用所述电路对显示面板进行的检测方法，通过将像素单元的两条扫描线连接不同的检测线，并分别施加不同的电压，以检测显示面板的异常，解决了现有技术不能检测显示面板异常的技术问题，以提高显示效果。
【专利说明】一种显示面板的检测电路及其检测方法

【技术领域】
[0001]本发明涉及显示器领域，特别是涉及一种显示面板的检测电路及使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法。

【背景技术】
[0002]现有的显示面板包括多个像素单元，每个像素单元包括主像素部和子像素部，为了解决大视角色偏的问题，通常将主像素部的亮度设置成大于子像素部的亮度，从而提高显示效果。主像素部具有第一薄膜晶体管，子像素部具有第二薄膜晶体管和第三薄膜晶体管。主扫描线连接第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管的控制端，在主扫描线输入为高电平时，第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管闭合，通过数据线向主像素部和子像素部充电，充电结束后主像素部和子像素部的电荷相等。次扫描线连接第三薄膜晶体管的控制端，在次扫描线输入为高电平时，第三薄膜晶体管闭合，将子像素部的液晶电容上的一部分电荷分配到分享电容上，使得子像素部的电荷小于主像素部的电荷，从而解决了大视角色偏问题。
[0003]现有的检测电路1，如图1所示，其包括第一检测线11和第二检测线12，像素单元15，每个像素单元对应的扫描线为主扫描线13和次扫描线14，其中奇数行(1、3、5、7)的像素单元的主扫描线连接第一检测线11，偶数行(2、4、6、8)的像素单元的主扫描线连接第二检测线12，且第n+2行像素单元的主扫描线连接第η行像素单元的次扫描线，或者如图2所示，将第η+4行像素单元的主扫描线连接第η行像素单元的次扫描线，图2其余连接方式与图1相同，其中η为正整数。现有的检测电路，只能检测主像素部和子像素部能否发亮。
[0004]但是，在制程中分享电容与子像素部的像素电极之间存在着ITO(透明导电层)残留，从而使得子像素部的像素电极和分享电容之间出现短路，第三薄膜晶体管的控制作用失效。当子像素部的像素电极充电时，分享电容也充电，使得两者电位相同，当子像素部的像素电极充完电时，由于分享电容的上极板与子像素部的像素电极电位相同，使得子像素部的液晶电容不能向分享电容分享一部分电荷，使得子像素部的电位无法被拉低，使得子像素部的亮度出现异常，即显示面板出现异常。这种异常情况特别是在低灰阶(譬如L48灰阶)下较为明显，因此有必要对显示面板的异常进行检测；而使用现有的检测电路并不能检测显示面板的异常。
[0005]故，有必要提供一种显示面板的检测电路及使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法，以解决现有技术所存在的问题。


【发明内容】

[0006]本发明的目的在于提供一种显示面板的检测电路及使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法，以解决现有技术的检测电路不能检测显示面板异常的技术问题，以提闻显不效果。
[0007]为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下:
[0008]本发明实施例提供一种显示面板的检测电路，所述显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括:
[0009]数据线、扫描线、以及由所述数据线和所述扫描线限定的多个像素单元，所述多个像素单元组成多行像素单元，所述像素单元对应的扫描线包括主扫描线和次扫描线；
[0010]其中每个所述像素单元包括主像素部和子像素部、所述主像素部具有第一薄膜晶体管，所述子像素部具有第二薄膜晶体管以及第三薄膜晶体管，所述主扫描线，用于向所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的控制端输入第一扫描信号，其中所述第一扫描信号用于控制向所述第一薄膜晶体管的输入端和所述第二薄膜晶体管的输入端输入数据信号，所述第一薄膜晶体管的输出端与所述主像素部的主液晶电容连接，所述第二薄膜晶体管的输出端与所述子像素部的子液晶电容连接；
[0011]所述次扫描线，用于当所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开时，向所述第三薄膜晶体管的控制端输入第二扫描信号，其中所述第二扫描信号用于对所述子液晶电容和分享电容上的电荷进行重新分配，所述第三薄膜晶体管的输入端与所述子像素部的子液晶电容连接，所述第三薄膜晶体管的输出端与所述分享电容连接；
[0012]所述检测电路包括:
[0013]两条检测线，分别用于向每行所述像素单元提供扫描信号；
[0014]其中一条所述检测线仅连接所述像素单元的一条扫描线，另一条所述检测线连接所述像素单元的另一条扫描线。
[0015]本发明还提供一种使用上述的检测电路对显示面板进行检测的方法，其中所述两条检测线包括第一检测线和第二检测线；所述方法包括:
[0016]将所述多行像素单元划分为η组检测区域，其中每组所述检测区域包括h行像素单元，第2n+l组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线，第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线；第η组检测区域中的每行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域中的任一行的像素单元的主扫描线；其中η为正整数，h = 2k, k > I。
[0017]在本发明的使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法中，所述方法包括:向所述第一检测线输入高电平电压，以及向所述第二检测线输入低电平电压，以使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；
[0018]并通过所述数据线向所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号，以对所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电；
[0019]在所述通过所述数据线向所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号的步骤之后，所述方法还包括:
[0020]向所述第一检测线输入低电平电压，以及向所述第二检测线输入高电平电压，以使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合；
[0021]并通过所述数据线向所述第2n组检测区域的每行像素单元输入第二数据信号，以检测所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，生成检测结果；其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压。
[0022]在本发明的使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法中，所述方法包括:向所述第二检测线输入高电平电压，以及向所述第一检测线输入低电平电压，以使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；
[0023]并通过所述数据线向所述第2η组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号，以对所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电；
[0024]在所述通过所述数据线向所述第2η组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号的步骤之后，所述方法还包括:
[0025]向所述第二检测线输入低电平电压，以及向所述第一检测线输入高电平电压，以使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合；
[0026]并通过所述数据线向所述第2η+1组检测区域的每行像素单元输入第二数据信号，以检测所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，以生成检测结果，其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压。
[0027]本发明还提供一种使用上述的检测电路对显示面板进行检测的方法，其中所述两条检测线包括第一检测线和第二检测线，所述方法包括:
[0028]将所述多行像素单元划分为η组检测区域，其中每组所述检测区域包括h行像素单元，第2n+l组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线，第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线；第η组检测区域中的每行的像素单元的次扫描线连接所述第η+1组检测区域中的任一行的像素单元的主扫描线；其中η为正整数，h = 2k，k彡I。
[0029]在本发明的使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法中，所述方法包括:向当所述第二检测线的输入高电平电压，以及向所述第一检测线的输入低电平电压，以使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；
[0030]并通过所述数据线向所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号，以对所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电；
[0031]在所述通过所述数据线向所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号的步骤之后，所述方法还包括:
[0032]向所述第二检测线输入低电平电压，以及向所述第一检测线输入高电平电压，以使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合；
[0033]并通过所述数据线向所述第2n组检测区域的像素单元输入第二数据信号，以检测所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，以生成检测结果，其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压。
[0034]在本发明的使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法中，所述方法包括:向所述第一检测线输入高电平电压，以及向所述第二检测线输入低电平电压，以使所述第2n组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2n组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；
[0035]并通过所述数据线向所述第2n组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号，以对所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电；
[0036]在所述通过所述数据线向所述第2η组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号的步骤之后，所述方法还包括:
[0037]向所述第一检测线输入低电平电压，以及向所述第二检测线输入高电平电压，以使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合；
[0038]并通过所述数据线向所述第2η+1组检测区域的像素单元输入第二数据信号，以检测所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，以生成检测结果，其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压。
[0039]在本发明的使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法中，将所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成所述检测结果。
[0040]在本发明的使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法中，当所述检测结果为所述子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度异常。
[0041]在本发明的使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法中，当所述检测结果为所述子像素部的亮度小于或等于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度正常。
[0042]本发明的显示面板的检测电路及使用所述电路对显示面板进行的检测方法，通过将像素单元的两条扫描线连接不同的检测线，并分别施加不同的电压，以检测显示面板的异常，解决了现有检测电路不能检测显示面板异常的技术问题，从而提高显示效果。
[0043]为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下:

【专利附图】

【附图说明】
[0044]图1为现有技术的第一种检测电路的结构示意图；
[0045]图2为现有技术的第二种检测电路的结构示意图；
[0046]图3为本发明的液晶显示面板的结构示意图；
[0047]图4为本发明第一实施例的检测电路的结构示意图；
[0048]图5为本发明第二实施例的检测电路的结构示意图；
[0049]图6为本发明第三实施例的检测电路的结构示意图；
[0050]图7为本发明第四实施例的检测电路的结构示意图。

【具体实施方式】
[0051]以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。
[0052]在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。
[0053]请参照图3，图3为本发明的液晶显示面板的结构示意图。
[0054]所述液晶显示面板包括阵列基板、彩膜基板以及设置在所述阵列基板和所述彩膜基板之间的液晶层，所述阵列基板包括:
[0055]数据线、扫描线、以及由所述数据线和所述扫描线限定的多个像素单元，所述多个像素单元组成多行像素单元，每个所述像素单元对应的扫描线包括主扫描线31和次扫描线32 ；
[0056]如图1所示，其中每个所述像素单元包括主像素部101和子像素部102、所述主像素部101具有第一薄膜晶体管34，所述子像素部102具有第二薄膜晶体管35以及第三薄膜晶体管36，所述第一薄膜晶体管34的输出端与所述主像素部101的主液晶电容连接，同时也与所述主像素部101的主存储电容连接，所述第二薄膜晶体管35的输出端与所述子像素部102的子液晶电容连接，同时也与所述子像素部102的子存储电容连接；所述第三薄膜晶体管36的输入端与所述子像素部的子液晶电容以及子存储电容连接，所述第三薄膜晶体管36的输出端与所述分享电容37连接。
[0057]所述主扫描线31，向所述第一薄膜晶体管34和所述第二薄膜晶体管的控制端35输入第一扫描信号，从而控制所述第一薄膜晶体管34和所述第二薄膜晶体管35的闭合或者断开，所述次扫描线32向所述第三薄膜晶体管36的控制端输入第二扫描信号，从而控制所述第三薄膜晶体管36的闭合或者断开。
[0058]当所述第一扫描信号输入高电平，所述第二扫描信号输入低电平时，所述第一薄膜晶体管34和所述第二薄膜晶体管35闭合，所述第三薄膜晶体管36断开，所述数据线33向所述第一薄膜晶体管34的输入端和所述第二薄膜晶体管35的输入端输入数据信号，以对所述主像素部和所述子像素部充电。
[0059]当所述第一扫描信号输入低电平的时候，第二扫描信号的电压为高电平时，所述第一薄膜晶体管34和所述第二薄膜晶体管35断开，所述主像素部和所述子像素部充电完成，所述第三薄膜晶体管36闭合，子液晶电容(或者子存储电容)的一部分电荷通过所述第三薄膜晶体管36转移到了分享电容37上，即所述子液晶电容和分享电容上的电荷进行重新分配，使得所述主像素部的亮度大于所述子像素部的亮度。
[0060]本实施例的检测电路包括:
[0061]两条检测线，分别用于向每行所述像素单元提供扫描信号；
[0062]其中一条所述检测线仅连接所述像素单元的一条扫描线，另一条所述检测线连接所述像素单元的另一条扫描线。
[0063]请参照图4，图4为本发明第一实施例的检测电路的结构示意图。
[0064]本实施例的检测电路4，其包括两条检测线，即第一检测线41和第二检测线42 (附图仅给出每行像素单元包括一个像素单元为例说明)；所述第一检测线41连接奇数行(1、3、5、7)的所述像素单元45的主扫描线43，而所述第二检测线42连接偶数行(2、4、6、8)的所述像素单元45的主扫描线43，且第η行的像素单元的次扫描线连接至第η+1的主扫描线。譬如，所述第一检测线41连接第I行所述像素单元的主扫描线，第2行的像素单元的主扫描线连接所述第二检测线42，且第2行的像素单元的主扫描线连接至第I行的所述像素单元的次扫描线，第3行的像素单元的主扫描线连接至第2行的所述像素单元的次扫描线，其余行数像素单元的连接方式与此类似，其中η为整数。
[0065]图5为本发明第二实施例的检测电路的结构示意图，
[0066]本实施例的检测电路5，其包括两条检测线，即第一检测线51和第二检测线52 (附图仅给出每行像素单元包括一个像素单元为例说明)；所述第一检测线51连接奇数行(1、3、5、7、9)的所述像素单元55的主扫描线53，而所述第二检测线52连接偶数行(2、4、6、8、10)的所述像素单元55的主扫描线53，且第η行的像素单元的次扫描线连接至第η+3的主扫描线。譬如所述第一检测线51连接第I行所述像素单元55的主扫描线53，第2行的像素单元的主扫描线53连接所述第二检测线52，且第4行的像素单元的主扫描线连接至第I行的所述像素单元的次扫描线，第5行的像素单元的主扫描线连接至第2行的所述像素单元的次扫描线，其余行数像素单元的连接方式与此类似，其中η为整数。
[0067]使用实施例一和二的检测电路对显示面板检测过程中，包括以下步骤:
[0068]S201、向所述第一检测线输入高电平电压，以及向所述第二检测线输入低电平电压；
[0069]由于奇数行像素单元的主扫描线连接第一检测线，偶数行像素单元的主扫描线连接第二检测线，且第η+1行或者η+3行像素单元的主扫描线连接第η行的次扫描线，即奇数行像素单元的次扫描线连接偶数行像素单元的主扫描线，结合图4、5，譬如将第2或4行像素单元的主扫描线连接第I行像素单元的次扫描线，因此向所述第一检测线输入高电平电压，以及向所述第二检测线输入低电平电压，可使奇数行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使奇数行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开。
[0070]S202、通过所述数据线向奇数行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第一数据信号，以对奇数行像素单元的所述子像素部进行充电。
[0071]在对奇数行像素单元的所述子像素部进行充电时，奇数行像素单元的主像素部也同时充电，因而奇数行的主像素部的主液晶电容和子像素部的子液晶电容电荷量相等，奇数行的主像素部的主存储电容和子像素部的子存储电容电荷量相等，使得奇数行的分享电容的上极的电压等于所述第一数据信号的电压。
[0072]S203、在充电结束后，向所述第一检测线输入低电平电压，以及向所述第二检测线输入高电平电压；
[0073]由于奇数行像素单元的主扫描线连接第一检测线，偶数行像素单元的主扫描线连接第二检测线，使得奇数行的像素单元的主扫描线为低电平，偶数行的像素单元的主扫描线为高电平，由于第η+1行或者η+3行像素单元的主扫描线连接第η行的次扫描线(当η为奇数时，η+1或者η+3为偶数)，使得奇数行的像素单元的次扫描线为高电平，因此向所述第二检测线输入高电平电压，以及向所述第一检测线输入低电平电压；可使奇数行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使奇数行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合；以及使偶数行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合；
[0074]S204、通过所述数据线向所述偶数行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第二数据信号；
[0075]由于奇数行像素单元的次扫描线连接偶数行像素单元的主扫描线，因此在进行步骤S204时；奇数行像素单元的所述第三薄膜晶体管的输入端也会输入第二数据信号。
[0076]其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压，其中所述第一数据信号的电压譬如为48灰阶电压，第二数据信号的电压譬如为O灰阶电压。
[0077]相对于奇数行的像素单元而言，当显示面板正常时，由于奇数行像素单元的所述第三薄膜晶体管的输入端输入第二数据信号，奇数行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第一数据信号，因而奇数行的分享电容上下两极板之间形成压差，能够将奇数行的子像素部的子液晶电容以及子存储电容上的电荷分配一部分到分享电容上，从而使得奇数行的子像素部的亮度小于主像素部的亮度；而当显示面板出现异常时，由于奇数行的分享电容不能将子像素部的子液晶电容以及子存储电容上的电荷分配一部分到分享电容上。因此出现异常时，奇数行的子像素部的亮度比正常的子像素部的亮度亮一些。
[0078]检测过程中，如果发现奇数行的某个子像素部的亮度比其他子像素部的亮度亮一些，就判定该子像素部的亮度异常，从而便于及时维修或者处理，以提高显示面板的质量。
[0079]经过上述过程，完成了奇数行像素单元的子像素部的亮度异常的检测。
[0080]接下来检测偶数行像素单元的子像素部的亮度异常:
[0081]S205、向所述第二检测线输入高电平电压，以及向所述第一检测线输入低电平电压；
[0082]由于偶数行像素单元的主扫描线连接第二检测线，奇数行像素单元的主扫描线连接第一检测线，且偶数行像素单元的次扫描线连接奇数行像素单元的主扫描线，因此向所述第二检测线输入高电平电压，以及向所述第一检测线输入低电平电压，可使偶数行像素单元的主扫描线为高电平，偶数行像素单元的次扫描线为低电平，进而偶数行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使偶数行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；
[0083]S206、并通过所述数据线向偶数行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第一数据信号，以对偶数行像素单元的所述子像素部进行充电；
[0084]在对偶数行像素单元的所述子像素部进行充电时，偶数行像素单元的主像素部也同时充电，因而偶数行的主像素部的主液晶电容和子像素部的子液晶电容电荷量相等，偶数行的主像素部的主存储电容和子像素部的子存储电容电荷量相等，使得偶数行的分享电容的上极板的电压等于所述第一数据信号的电压；
[0085]S207、在充电结束后，向所述第二检测线输入低电平电压，以及向所述第一检测线输入高电平电压；
[0086]由于奇数行像素单元的主扫描线连接第一检测线，偶数行像素单元的主扫描线连接第二检测线，使得奇数行的像素单元的主扫描线为高电平，偶数行的像素单元的主扫描线为低电平；由于第η+1行或者η+3行像素单元的主扫描线连接第η行的次扫描线(当η为偶数时，η+1或者η+3为奇数)，因而偶数行的像素单元的次扫描线为高电平，因此向所述第二检测线输入低电平电压，以及向所述第一检测线输入高电平电压，可使偶数行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使偶数行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合；使奇数行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合；
[0087]S208、通过所述数据线向所述奇数行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第二数据信号；
[0088]由于偶数行像素单元的次扫描线连接奇数行像素单元的主扫描线，因此在进行步骤S208时；偶数行像素单元的所述第三薄膜晶体管的输入端也会输入第二数据信号。
[0089]其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压，其中所述第一数据信号的电压譬如为48灰阶电压，第二数据信号的电压譬如为O灰阶电压。
[0090]相对于偶数行的像素单元而言，当显示面板正常时，由于偶数行像素单元的所述第三薄膜晶体管的输入端输入第二数据信号，偶数行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第一数据信号，因而偶数行的分享电容上下两极板之间形成压差，能够将偶数行的子像素部的子液晶电容以及子存储电容上的电荷分配一部分到分享电容上，从而使得偶数行的子像素部的亮度小于主像素部的亮度；而当显示面板出现异常时，由于偶数行的分享电容不能将子像素部的子液晶电容以及子存储电容上的电荷分配一部分到分享电容上。因此出现异常时，偶数行的子像素部的亮度比正常的子像素部的亮度亮一些。
[0091]检测过程中，如果发现偶数行的某个子像素部的亮度比其他子像素部的亮度亮一些，就判定该子像素部的亮度异常，从而便于及时维修或者处理，以提高显示面板的质量。
[0092]经过上述过程，完成了偶数行像素单元的子像素部的亮度异常的检测。
[0093]当然检测过程中可以先进行偶数行像素单元的检测，再进行奇数行像素单元的检测。所述第一检测线可连接偶数行的像素单元的主扫描线，而所述第二检测线可连接奇数行的像素单元的主扫描线。
[0094]本发明的显示面板的检测电路及使用所述电路对显示面板进行的检测方法，通过将像素单元的两条扫描线连接不同的检测线，并分别施加不同的电压，从而能够检测显示面板的异常，提高显示效果。
[0095]请参照图6，图6为本发明第三实施例的检测电路的结构示意图，
[0096]结合图6，本实施例的检测电路6，其包括两条检测线，所述两条检测线包括第一检测线61和第二检测线62 ;使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法包括:
[0097]将所述多行像素单元划分为4组检测区域￠01-604)，此处仅以四组举例说明，其中每组所述检测区域包括2行像素单元65，第1、3组检测区域601、603中的每行像素单元的主扫描线63连接所述第一检测线61 ;第2、4组检测区域602、604中的每行像素单元的主扫描线63连接所述第二检测线62，第I组检测区域601中的第I行(序号I)像素单元的次扫描线64连接第2组检测区域602中的第I行(序号3)的像素单元的主扫描线63，第I组检测区域601中的第2行(序号2)像素单元的次扫描线连接第2组检测区域602中的第2行(序号4)的像素单元的主扫描线，当然也可以第I组检测区域601中的第I行像素单元的次扫描线连接第2组检测区域602中第2行的像素单元的主扫描线，第I组检测区域601中的第2行像素单元的次扫描线连接第2组检测区域602中的第I行的像素单元的主扫描线。
[0098]第2组检测区域602中的第I行像素单元的次扫描线连接第3组检测区域603中的第I行(序号5)的像素单元的主扫描线，第2组检测区域602中的第2行像素单元的次扫描线连接第3组检测区域603中的第2行(序号6)的像素单元的主扫描线；
[0099]第3组检测区域603中的第I行像素单元的次扫描线连接第4组检测区域604中的第I行(序号7)的像素单元的主扫描线，第3组检测区域603中的第2行像素单元的次扫描线连接第4组检测区域604中的第2行(序号8)的像素单元的主扫描线。
[0100]当n>4，第η组检测区域中的第I行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域中的第I行的像素单元的主扫描线，第η组检测区域中的第2行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域中的第2行的像素单元的主扫描线，其中每组所述检测区域包括2行像素单元，其中η为正整数。
[0101]当然可以理解的是，任一奇数组检测区域中的一行像素单元的次扫描线可以连接任一偶数组检测区域中的任意一行的像素单元的主扫描线，任一偶数组检测区域中的一行像素单元的次扫描线可以连接任一奇数组检测区域中的任意一行的像素单元的主扫描线。譬如第I组检测区域中的其中一行像素单元的次扫描线可以连接第2组检测区域中的任意一行的像素单元的主扫描线。第I组检测区域中的其中一行像素单元的次扫描线还可以连接第4组检测区域中的任意一行的像素单元的主扫描线。第2组检测区域中的其中一行像素单元的次扫描线可以连接第3组检测区域中的任意一行的像素单元的主扫描线。第2组检测区域中的其中一行像素单元的次扫描线还可以连接第I组检测区域中的任意一行的像素单元的主扫描线。
[0102]请参照图7，图7为本发明第三实施例的检测电路的结构示意图。
[0103]结合图7，本实施例的检测电路7，其包括两条检测线，所述两条检测线包括第一检测线71和第二检测线72 ;使用所述检测电路对显示面板进行检测的方法包括:
[0104]将所述多行像素单元划分为3组检测区域(701-703)，此处仅以3组举例说明，其中每组所述检测区域包括4行像素单元65，第1、3组检测区域701、703中的每行像素单元的主扫描线73连接所述第一检测线71 ;第2组检测区域702中的每行像素单元的主扫描线73连接所述第二检测线72。
[0105]第I组检测区域701中的第I行(序号I)像素单元的次扫描线73连接第2组检测区域702中的第I行(序号5)的像素单元的主扫描线74，第I组检测区域701中的第2行(序号2)像素单元的次扫描线连接第2组检测区域702中的第2行(序号6)的像素单元的主扫描线，第I组检测区域701中的第3行(序号3)像素单元的次扫描线连接第2组检测区域702中的第3行(序号7)的像素单元的主扫描线，第I组检测区域701中的第4行(序号4)像素单元的次扫描线连接第2组检测区域702中的第4行(序号8)的像素单元的主扫描线。
[0106]第2组检测区域702中的第I行像素单元的次扫描线73连接第3组检测区域703中的第I行(序号9)的像素单元的主扫描线74，第2组检测区域702中的第2行像素单元的次扫描线73连接第3组检测区域703中的第2行(序号10)的像素单元的主扫描线74，第2组检测区域702中的第3行像素单元的次扫描线73连接第3组检测区域703中的第3行(序号11)的像素单元的主扫描线74，第2组检测区域702中的第4行像素单元的次扫描线73连接第3组检测区域703中的第4行(序号12)的像素单元的主扫描线74。
[0107]当η>3时，第η组检测区域中的第I行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域中的第I行的像素单元的主扫描线，第η组检测区域中的第2行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域中的第2行的像素单元的主扫描线，第η组检测区域中的第3行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域中的第3行的像素单元的主扫描线，第η组检测区域中的第4行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域中的第4行的像素单元的主扫描线，其中每组所述检测区域包括4行像素单元，其中η为正整数。上述连接方式也可以是第η组检测区域中的第I行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域中的第2、3、4行中任意一行的像素单元的主扫描线，其余行的连接变形方式在此不一一列举。
[0108]可以理解的是，其中每组所述检测区域包括h行像素单元，h也可以大于4，譬如为6行；h = 2k, k彡1，即h为偶数。
[0109]当然可以理解的是，任一奇数组检测区域中的一行像素单元的次扫描线可以连接任一偶数组检测区域中的任意一行的像素单元的主扫描线，任一偶数组检测区域中的一行像素单元的次扫描线可以连接任一奇数组检测区域中的任意一行的像素单元的主扫描线。譬如第I组检测区域中的其中一行像素单元的次扫描线可以连接第2组检测区域中的任意一行的像素单元的主扫描线。第I组检测区域中的其中一行像素单元的次扫描线还可以连接第4组检测区域中的任意一行的像素单元的主扫描线。第2组检测区域中的其中一行像素单元的次扫描线可以连接第3组检测区域中的任意一行的像素单元的主扫描线。第2组检测区域中的其中一行像素单元的次扫描线还可以连接第I组检测区域中的任意一行的像素单元的主扫描线。上述两种检测电路对显示面板的检测过程包括以下步骤:
[0110]S301、向所述第一检测线输入高电平电压，以及向所述第二检测线输入低电平电压；
[0111]由于第2n+l组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线，第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线；使得第2n+l组检测区域中的每行像素单元的主扫描为高电平，由于第η组检测区域中的每行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域中的任一行的像素单元的主扫描线，使得第2η+1组检测区域中的每行像素单元的次扫描为低电平；因此向所述第一检测线输入高电平电压，以及向所述第二检测线输入低电平电压，可使所述第2η+1(奇数)组检测区域(譬如601、603)中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；
[0112]S302、通过所述数据线向所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第一数据信号，以对所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电；
[0113]在对奇数组检测区域中全部像素单元的所述子像素部进行充电时，奇数组检测区域中全部像素单元的主像素部也同时充电，使得奇数组检测区域中全部像素单元的主像素部的主液晶电容和子像素部的子液晶电容电荷量相等，主像素部的主存储电容和子像素部的子存储电容电荷量相等，因而奇数组检测区域中全部像素单元的分享电容的上极板的电压等于所述第一数据信号的电压；
[0114]S303、在充电结束后，向所述第一检测线输入低电平电压，以及向所述第二检测线输入高电平电压；
[0115]由于第2η+1组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线，第2η组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线，使第2η+1(奇数组)检测区域的每行像素单元的主扫描线为低电平，以及第2η (偶数组)检测区域的每行像素单元的主扫描线为高电平；由于第η组检测区域的每行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域的任一行的像素单元的次扫描线(当η为奇数时，η+1为偶数)，可使第2η+1 (奇数组)检测区域的每行像素单元的次扫描线为高电平，从而使所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合；以及使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合；
[0116]S304、通过所述数据线向所述第2η组检测区域的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第二数据信号，以检测所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，生成检测结果；
[0117]由于第2η+1组检测区域的每行像素单元的次扫描线连接第2η组检测区域的每行像素单元的主扫描线，因此在进行步骤S304时；第2η+1组检测区域的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管的输入端也会输入第二数据信号。
[0118]其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压，其中所述第一数据信号的电压譬如为48灰阶电压，第二数据信号的电压譬如为O灰阶电压。
[0119]当显示面板正常时，由于所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第一数据信号，所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管的输入端输入第二数据信号，因而奇数组检测区域中全部像素单元的分享电容上下两极板之间形成压差，能够将奇数组检测区域中全部像素单元的子像素部的子液晶电容以及子存储电容上的电荷分配一部分到分享电容上，从而使得奇数组检测区域中全部像素单元的子像素部的亮度小于主像素部的亮度；当显示面板出现异常时，由于奇数组检测区域中全部像素单元的分享电容不能将子像素部的子液晶电容以及子存储电容上的电荷分配一部分到分享电容上。因此出现异常时，奇数组检测区域中像素单元的子像素部的亮度比正常的子像素部的亮度亮一些。
[0120]在判断显示面板是否异常时，将奇数组检测区域中某个所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成所述检测结果，所述预设亮度阈值为整个显示面板的全部像素单元的子像素部亮度的平均值，当其中有一个像素单元的子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，就判定该子像素部的亮度异常，表明显示面板异常，从而便于及时维修或者处理，以提闻显不面板的质量。
[0121]经过上述过程，完成了奇数组检测区域的子像素部的亮度异常的检测。
[0122]接下来检测偶数组检测区域的子像素部的亮度异常的检测:
[0123]S305、向所述第二检测线输入高电平电压，以及向所述第一检测线输入低电平电压；
[0124]由于第2η+1组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线，第2η组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线，使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的主扫描线为高电平；第η组检测区域中的每行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域中的任一行的像素单元的主扫描线，使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的次扫描线为低电平；因此向所述第一检测线输入高电平电压，以及向所述第二检测线输入低电平电压，可使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；
[0125]S306、通过所述数据线向所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第一数据信号，以对所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电；
[0126]在对偶数组检测区域中全部像素单元的所述子像素部进行充电时，偶数组检测区域中全部像素单元的主像素部也同时充电，使得偶数组检测区域中全部像素单元的主像素部的主液晶电容和子像素部的子液晶电容电荷量相等，主像素部的主存储电容和子像素部的子存储电容电荷量相等，因而偶数组检测区域中全部像素单元的分享电容的上极板的电压等于所述第一数据信号的电压；
[0127]S307、在充电结束后，向所述第二检测线输入低电平电压，以及向所述第一检测线输入高电平电压；
[0128]由于第2n+l组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线，第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线，第2n(偶数组)检测区域的每行像素单元的主扫描线为低电平，使得2n+l (奇数组)检测区域的每行像素单元的主扫描线为高电平，由于第η组检测区域的每行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域的任一行的像素单元的次扫描线(当η为偶数时，η+1为奇数)，可使第2η (偶数组)检测区域的每行像素单元的次扫描线为高电平，从而使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合；以及使所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合；
[0129]S308、并通过所述数据线向所述第2η+1组检测区域的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第二数据信号，以检测所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，以生成检测结果。
[0130]由于第2η组检测区域的每行像素单元的次扫描线连接第2η+1组检测区域的每行像素单元的主扫描线，因此在进行步骤S308时；第2η组检测区域的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管的输入端也会输入第二数据信号。
[0131]当显示面板正常时，由于所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第一数据信号，所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管的输入端输入第二数据信号，因而偶数组检测区域中全部像素单元的分享电容上下两极板之间形成压差，能够将偶数组检测区域中全部像素单元的子像素部的子液晶电容以及子存储电容上的电荷分配一部分到分享电容上，从而使得偶数组检测区域中全部像素单元的子像素部的亮度小于主像素部的亮度；当显示面板出现异常时，由于偶数组检测区域中全部像素单元的分享电容不能将子像素部的子液晶电容以及子存储电容上的电荷分配一部分到分享电容上。因此出现异常时，偶数组检测区域中像素单元的子像素部的亮度比正常的子像素部的亮度亮一些。
[0132]在判断显示面板是否异常时，将偶数组检测区域中某个所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成所述检测结果，所述预设亮度阈值为整个显示面板的全部像素单元的子像素部亮度的平均值，当其中有一个像素单元的子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，就判定该子像素部的亮度异常，表明显示面板异常，从而便于及时维修或者处理，以提闻显不面板的质量。
[0133]当然可以先进行偶数组检测区域的检测，再进行奇数组检测区域的检测。
[0134]同样的，作为本发明的另一种实施方式，将所述多行像素单元划分为η组检测区域，其中每组所述检测区域包括h行像素单元，第2n+l组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线，第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线；第η组检测区域中的每行的像素单元的次扫描线连接所述第η+1组检测区域中的任一行的像素单元的主扫描线；其中η为正整数，h = 2k，k彡I。
[0135]上述检测电路对显示面板的检测过程包括以下步骤:
[0136]S401、向当所述第二检测线的输入高电平电压，以及向所述第一检测线的输入低电平电压；
[0137]由于第2n+l组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线，第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线；使得第2n+l组检测区域中的每行像素单元的主扫描为高电平，由于第η组检测区域中的每行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域中的任一行的像素单元的主扫描线，使得第2η+1组检测区域中的每行像素单元的次扫描为低电平；因此向所述第二检测线输入高电平电压，以及向所述第一检测线输入低电平电压，可使所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；
[0138]S402、通过所述数据线向所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第一数据信号，以对所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电；
[0139]在对奇数组检测区域中全部像素单元的所述子像素部进行充电时，奇数组检测区域中全部像素单元的主像素部也同时充电，使得奇数组检测区域中全部像素单元的主像素部的主液晶电容和子像素部的子液晶电容电荷量相等，主像素部的主存储电容和子像素部的子存储电容电荷量相等，因而奇数组检测区域中全部像素单元的分享电容的上极板的电压等于所述第一数据信号的电压；
[0140]S403、在充电结束后，向所述第二检测线输入低电平电压，以及向所述第一检测线输入高电平电压；
[0141]由于第2η+1组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线，第2η组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线，使第2η+1 (奇数组)检测区域的每行像素单元的主扫描线为低电平，以及第2η (偶数组)检测区域的每行像素单元的主扫描线为高电平，由于第η组检测区域的每行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域的任一行的像素单元的次扫描线(当η为奇数时，η+1为偶数)，可使第2η+1 (奇数组)检测区域的每行像素单元的次扫描线为高电平，从而使所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合；以及使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合；
[0142]S404、并通过所述数据线向所述第2η组检测区域的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第二数据信号，以检测所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，以生成检测结果。
[0143]由于第2η+1组检测区域的每行像素单元的次扫描线连接第2η组检测区域的每行像素单元的主扫描线，因此在进行步骤S404时；第2η+1组检测区域的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管的输入端也会输入第二数据信号。
[0144]其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压，其中所述第一数据信号的电压譬如为48灰阶电压，第二数据信号的电压譬如为O灰阶电压。
[0145]当显示面板正常时，由于所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第一数据信号，所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管的输入端输入第二数据信号，因而奇数组检测区域中全部像素单元的分享电容上下两极板之间形成压差，能够将奇数组检测区域中全部像素单元的子像素部的子液晶电容以及子存储电容上的电荷分配一部分到分享电容上，从而使得奇数组检测区域中全部像素单元的子像素部的亮度小于主像素部的亮度；当显示面板出现异常时，由于奇数组检测区域中全部像素单元的分享电容不能将子像素部的子液晶电容以及子存储电容上的电荷分配一部分到分享电容上。因此出现异常时，奇数组检测区域中像素单元的子像素部的亮度比正常的子像素部的亮度亮一些。
[0146]在判断显示面板是否异常时，将奇数组检测区域中某个所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成所述检测结果，所述预设亮度阈值为整个显示面板的全部像素单元的子像素部亮度的平均值，当其中有一个像素单元的子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，就判定该子像素部的亮度异常，表明显示面板异常，从而便于及时维修或者处理，以提闻显不面板的质量。
[0147]经过上述过程，完成了奇数组检测区域的子像素部的亮度异常的检测。
[0148]接下来检测偶数组检测区域的子像素部的亮度异常的检测:
[0149]S405、向所述第一检测线输入高电平电压，以及向所述第二检测线输入低电平电压；
[0150]由于第2n+l组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线，第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线，使所述第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线为高电平；第η组检测区域中的每行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域中的任一行的像素单元的主扫描线，使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的次扫描线为低电平；因此向所述第一检测线输入高电平电压，以及向所述第二检测线输入低电平电压，可使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；
[0151]S406、通过所述数据线向所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第一数据信号，以对所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电；
[0152]在对偶数组检测区域中全部像素单元的所述子像素部进行充电时，偶数组检测区域中全部像素单元的主像素部也同时充电，使得偶数组检测区域中全部像素单元的主像素部的主液晶电容和子像素部的子液晶电容电荷量相等，主像素部的主存储电容和子像素部的子存储电容电荷量相等，使得偶数组检测区域中全部像素单元的分享电容的上极板的电压等于所述第一数据信号的电压；
[0153]S407、在充电结束后，向所述第一检测线输入低电平电压，以及向所述第二检测线输入高电平电压；
[0154]由于第2η+1组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线，第2η组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线，使得第2η+1 (奇数组)检测区域的每行像素单元的主扫描线为高电平，第2η(偶数组)检测区域的每行像素单元的主扫描线为低电平。由于第η组检测区域的每行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域的任一行的像素单元的次扫描线(当η为偶数时，η+1为奇数)，可使第2η (偶数组)检测区域的每行像素单元的次扫描线为高电平，从而以使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合；以及使所述第2η+1组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合；
[0155]S408、并通过所述数据线向所述第2η+1组检测区域的像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第二数据信号，以检测所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，以生成检测结果；其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压。
[0156]由于第2η组检测区域的每行像素单元的次扫描线连接第2η+1组检测区域的每行像素单元的主扫描线，因此在进行步骤S408时；第2η组检测区域的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管的输入端也会输入第二数据信号。
[0157]当显示面板正常时，由于所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的输入端输入第一数据信号，所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管的输入端输入第二数据信号，因而偶数组检测区域中全部像素单元的分享电容上下两极板之间形成压差，能够将偶数组检测区域中全部像素单元的子像素部的子液晶电容以及子存储电容上的电荷分配一部分到分享电容上，从而使得偶数组检测区域中全部像素单元的子像素部的亮度小于主像素部的亮度；当显示面板出现异常时，由于偶数组检测区域中全部像素单元的分享电容不能将子像素部的子液晶电容以及子存储电容上的电荷分配一部分到分享电容上，因此出现异常时，偶数组检测区域中像素单元的子像素部的亮度比正常的子像素部的亮度亮一些。
[0158]在判断显示面板是否异常时，将偶数组检测区域中某个所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成所述检测结果，所述预设亮度阈值为整个显示面板的全部像素单元的子像素部亮度的平均值，当其中有一个像素单元的子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，就判定该子像素部的亮度异常，表明显示面板异常，从而便于及时维修或者处理，以提闻显不面板的质量。
[0159]本发明使用所述电路对显示面板进行的检测方法，通过多行像素单元划分多组检测区域，并且将位于奇数组和偶数组检测区域的主扫描线连接不同的检测线，并且将偶数组的主扫描线连接奇数组的次扫描线，将奇数组的主扫描线连接偶数组的次扫描线，并分别施加不同的电压，从而检测显示面板的异常，以提高显示效果。
[0160]综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
【权利要求】
1.一种显示面板的检测电路，其特征在于， 所述显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括: 数据线、扫描线、以及由所述数据线和所述扫描线限定的多个像素单元，所述多个像素单元组成多行像素单元，所述像素单元对应的扫描线包括主扫描线和次扫描线； 其中每个所述像素单元包括主像素部和子像素部、所述主像素部具有第一薄膜晶体管，所述子像素部具有第二薄膜晶体管以及第三薄膜晶体管，所述主扫描线，用于向所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管的控制端输入第一扫描信号，其中所述第一扫描信号用于控制向所述第一薄膜晶体管的输入端和所述第二薄膜晶体管的输入端输入数据信号，所述第一薄膜晶体管的输出端与所述主像素部的主液晶电容连接，所述第二薄膜晶体管的输出端与所述子像素部的子液晶电容连接； 所述次扫描线，用于当所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开时，向所述第三薄膜晶体管的控制端输入第二扫描信号，其中所述第二扫描信号用于对所述子液晶电容和分享电容上的电荷进行重新分配，所述第三薄膜晶体管的输入端与所述子像素部的子液晶电容连接，所述第三薄膜晶体管的输出端与所述分享电容连接； 所述检测电路包括: 两条检测线，分别用于向每行所述像素单元提供扫描信号； 其中一条所述检测线仅连接所述像素单元的一条扫描线，另一条所述检测线连接所述像素单元的另一条扫描线。
2.一种使用如权利要求1所述的检测电路对显示面板进行检测的方法，其特征在于，所述两条检测线包括第一检测线和第二检测线；所述方法包括: 将所述多行像素单元划分为η组检测区域，其中每组所述检测区域包括h行像素单元，第2n+l组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线，第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线；第η组检测区域中的每行像素单元的次扫描线连接第η+1组检测区域中的任一行的像素单元的主扫描线；其中η为正整数，h =2k, k ^ 10
3.根据权利要求2所述的对显示面板进行检测的方法，其特征在于， 向所述第一检测线输入高电平电压，以及向所述第二检测线输入低电平电压，以使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开； 并通过所述数据线向所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号，以对所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电； 在所述通过所述数据线向所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号的步骤之后，所述方法还包括: 向所述第一检测线输入低电平电压，以及向所述第二检测线输入高电平电压，以使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合； 并通过所述数据线向所述第2n组检测区域的每行像素单元输入第二数据信号，以检测所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，生成检测结果；其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压。
4.根据权利要求2所述的对显示面板进行检测的方法，其特征在于， 向所述第二检测线输入高电平电压，以及向所述第一检测线输入低电平电压，以使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开； 并通过所述数据线向所述第2η组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号，以对所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电； 在所述通过所述数据线向所述第2η组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号的步骤之后，所述方法还包括: 向所述第二检测线输入低电平电压，以及向所述第一检测线输入高电平电压，以使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合； 并通过所述数据线向所述第2η+1组检测区域的每行像素单元输入第二数据信号，以检测所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，以生成检测结果，其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压。
5.一种使用如权利要求1所述的检测电路对显示面板进行检测的方法，其特征在于，所述两条检测线包括第一检测线和第二检测线，所述方法包括: 将所述多行像素单元划分为η组检测区域，其中每组所述检测区域包括h行像素单元，第2n+l组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第二检测线，第2n组检测区域中的每行像素单元的主扫描线连接所述第一检测线；第η组检测区域中的每行的像素单元的次扫描线连接所述第η+1组检测区域中的任一行的像素单元的主扫描线；其中η为正整数，h = 2k, k 彡 I。
6.根据权利要求5所述的对显示面板进行检测的方法，其特征在于，向当所述第二检测线的输入高电平电压，以及向所述第一检测线的输入低电平电压，以使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开；并通过所述数据线向所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号，以对所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电； 在所述通过所述数据线向所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号的步骤之后，所述方法还包括: 向所述第二检测线输入低电平电压，以及向所述第一检测线输入高电平电压，以使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合； 并通过所述数据线向所述第2n组检测区域的像素单元输入第二数据信号，以检测所述第2n+l组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，以生成检测结果，其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压。
7.根据权利要求5所述的对显示面板进行检测的方法，其特征在于， 向所述第一检测线输入高电平电压，以及向所述第二检测线输入低电平电压，以使所述第2n组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管闭合，并且使所述第2n组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管断开； 并通过所述数据线向所述第2η组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号，以对所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部进行充电； 在所述通过所述数据线向所述第2η组检测区域中的每行像素单元输入第一数据信号的步骤之后，所述方法还包括: 向所述第一检测线输入低电平电压，以及向所述第二检测线输入高电平电压，以使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管断开，并且使所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述第三薄膜晶体管闭合； 并通过所述数据线向所述第2η+1组检测区域的像素单元输入第二数据信号，以检测所述第2η组检测区域中的每行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，以生成检测结果，其中所述第一数据信号的电压大于所述第二数据信号的电压。
8.根据权利要求3、4、6、7中任一所述的对显示面板进行检测的方法，其特征在于， 将所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成所述检测结果。
9.根据权利要求8所述的对显示面板进行检测的方法，其特征在于， 当所述检测结果为所述子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度异常。
10.根据权利要求8所述的对显示面板进行检测的方法，其特征在于， 当所述检测结果为所述子像素部的亮度小于或等于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度正常。
【文档编号】G02F1/13GK104375294SQ201410680359
【公开日】2015年2月25日 申请日期:2014年11月24日 优先权日:2014年11月24日
【发明者】刘桓, 王金杰 申请人:深圳市华星光电技术有限公司