测试线路、显示面板及显示装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种测试线路、显示面板及显示装置，该测试线路包括对盒工艺检测线路、第一扇区、第二扇区、用于将该对盒工艺检测线路与该第一扇区相连接的导电区域，以及位于该导电区域中的电学检测区域，其中，该第一扇区与该第二扇区相连接，该导电区域包括用于同该第一扇区相连接的第一重叠区，该电学检测区域位于该导电区域中该第一重叠区之外的区域。本实用新型能够避免由于电学测试区域损伤而导致后续模组检测时的检测信号不能正常传输，降低面板不良发生率。
【专利说明】测试线路、显示面板及显示装置
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及显示领域，尤其涉及一种测试线路、显示面板及显示装置。
【背景技术】
[0002] 液晶显示器是当前主流的平板显示器，其由阵列基板、彩膜基板和两基板中间的 液晶层构成。在阵列基板的制造工艺中，通常在对盒完成后要对一整张显示面板进行两 次切割，为了对产品品质进行监控，对第一次切割后形成的中片（Q-panel)进行第一次测 试，即对盒工艺检测（cell test，CT)，随即对第二次切割后形成的显示面板单元（single panel)进行第二次测试，即电学检测（Electrical test, ET)。
[0003] 参见图1，图1为现有技术中的测试线路的示意图，其中，对盒工艺检测线路Γ通 过过孔6'与导电区域5'相连，电学测试区域（ET test Pad)2'位于导电区域5'中，且通 过电学测试区域2'使得导电区域5'分别与第一扇形区域3'以及第二扇形区域4'相连接， 从而使得使第一扇形区域3'中的信号能够传输至第二扇形区域4'中，进而能够使与第一 扇形区域3'相连的集成电路芯片（Integrated Circuit, 1C)发出的信号能够发送至与第 二扇形区域4'相连的GOA (Gate Drive on Array,阵列基板行驱动）区域中，但由于导电区 域5'裸露在空气中，在对第二次切割后形成的显示面板单元（single panel)进行第二次 测试时，容易对电学测试区域2'造成损害，从而使得第一扇形区域3'中的信号不能传输到 第二扇形区域4'中，导致后续模组检测时的检测信号不能从集成电路芯片到达G0A区域， 产生面板（panel)不良。 实用新型内容
[0004] (一）要解决的技术问题
[0005] 本实用新型要解决的技术问题是提供一种测试线路、显示面板及显示装置，以解 决由于电学测试区域损伤而影响后续检测的问题。
[0006] (二）技术方案
[0007] 为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案提供了一种测试线路，包括对盒工 艺检测线路、第一扇区、第二扇区、用于将所述对盒工艺检测线路与所述第一扇区相连接的 导电区域，以及位于所述导电区域中的电学检测区域，其中，所述第一扇区与所述第二扇区 相连接，所述导电区域包括用于同所述第一扇区相连接的第一重叠区，所述电学检测区域 位于所述导电区域中所述第一重叠区之外的区域。
[0008] 进一步地，所述导电区域通过设置在所述第一重叠区上的过孔与所述第一扇区相 连接。
[0009] 进一步地，所述导电区域还包括用于同所述对盒工艺检测线路相连接的第二重叠 区，所述电学检测区域还位于所述导电区域中所述第二重叠区之外的区域。
[0010] 进一步地，所述导电区域通过设置在所述第二重叠区上的过孔与所述对盒工艺检 测线路相连接。
[0011] 进一步地，所述导电区域还设置有开关，所述开关用于控制所述导电区域的通断。
[0012] 进一步地，所述开关设置在所述电学检测区与所述第一重叠区之间的区域。
[0013] 进一步地，还包括用于控制所述开关的控制线路。
[0014] 为解决上述技术问题，本实用新型还提供了一种显示面板，包括上述任意一种的 测试线路。
[0015] 为解决上述技术问题，本实用新型还提供了一种显示装置，包括上述的显示面板。
[0016] (三）有益效果
[0017] 本实用新型实施方式提供的测试线路，通过将电学测试区域设置在第一扇区与第 二扇区之外的区域，使得第一扇区中的信号不需通过电学测试区域就能够到达第二扇区， 在对显示面板进行电学检测时，即使对电学测试区造成损伤，也不会影响集成电路芯片与 G0A区域之间的信号传输，从而可以避免由于电学测试区域损伤而导致后续模组检测时的 检测信号不能正常传输，降低面板不良发生率。
【专利附图】
【附图说明】
[0018] 图1为现有技术中的测试线路的示意图；
[0019] 图2是本实用新型实施方式提供的一种测试线路的示意图；
[0020] 图3是本实用新型实施方式提供的另一种测试线路的示意图。
【具体实施方式】
[0021] 下面结合附图和实施例，对本实用新型的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下 实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。
[0022] 图2是本实用新型实施方式提供的一种测试线路的示意图，包括对盒工艺检测线 路1、第一扇区3、第二扇区4、用于将所述对盒工艺检测线路1与所述第一扇区3相连接的 导电区域5,以及位于所述导电区域5中的电学检测区域2,其中，所述第一扇区3与所述第 二扇区4相连接，所述导电区域5包括用于同所述第一扇区3相连接的第一重叠区51，所述 电学检测区域2位于所述导电区域5中所述第一重叠区51之外的区域。
[0023] 其中，所述第一重叠区为导电区域5同第一扇区3相重叠的区域，所述导电区域5 可以通过设置在所述第一重叠区51上的过孔6与所述第一扇区3相连接。
[0024] 其中，所述导电区域5还包括用于同所述对盒工艺检测线路1相连接的第二重叠 区52,优选地，所述电学检测区域2还位于所述导电区域5中所述第二重叠区52之外的区 域，所述第二重叠区为导电区域5同所述对盒工艺检测线路1相重叠的区域，所述导电区域 5通过设置在所述第二重叠区52上的过孔与所述对盒工艺检测线路1相连接。
[0025] 本实用新型实施方式提供的测试线路，第一扇区3与集成电路芯片（1C)连接，第 二扇区4与G0A区域相连接，通过将电学测试区域设置在第一扇区与第二扇区之外的区域， 使得第一扇区3中的信号不需通过电学测试区域就能够到达第二扇区，在对显示面板进行 电学检测时，即使对电学测试区域造成损伤，也不会影响集成电路芯片与G0A区域之间的 信号传输，从而可以避免由于电学测试区域损伤而导致后续模组检测时的检测信号不能正 常传输，降低面板不良发生率。
[0026] 图3是本实用新型实施方式提供的另一种测试线路的示意图，该测试线路包括对 盒工艺检测线路1、第一扇区3、第二扇区4、用于将所述对盒工艺检测线路1与所述第一扇 区3相连接的导电区域5,以及位于所述导电区域5中的电学检测区域2,其中，所述第一扇 区3与所述第二扇区4相连接，所述导电区域5包括用于同所述第一扇区3相连接的第一 重叠区51，所述电学检测区域2位于所述导电区域5中所述第一重叠区51之外的区域，其 中，所述导电区域5还设置有开关7,所述开关7用于控制所述导电区域5的通断。
[0027] 其中，可以将开关设置在所述电学检测区与所述第一重叠区之间的区域。
[0028] 优选地，为了能够对上述实施方式中的开关7进行控制，还包括用于控制所述开 关7的控制线路8。
[0029] 具体地，通过本实用新型实施方式提供的测试线路对显示面板进行对盒工艺检测 (cell test，CT)时，用户向控制线路8输入控制信号控制开关7打开，CT信号通过对盒工 艺检测线路输入显示面板，并通过导电区域5传输至第一扇区3,并经第二扇区4传输至 G0A区从而实现对盒工艺检测，当对显示面板进行电学检测时，用户向控制线路8输入控制 信号控制开关7打开，电学检测信号通过电学检测区域2进入显示面板，并依次经过导电区 域、第一扇区和第二扇区进入G0A区，从而实现显示面板的电学检测，当对显示面板进行模 组检测时，用户向控制线路8输入控制信号控制开关7关闭，模组检测信号依次经过第一扇 区和第二扇区进入G0A区，从而实现模组检测。
[0030] 此外，本实用新型实施方式还提供了一种显示面板，包括如上述任意一种的测试 线路。
[0031] 此外，本实用新型还提供了一种显示装置，包括上述的显示面板。其中，上述显示 装置可以是笔记本电脑显示屏、电子纸、有机发光二级管显示器、液晶显示器、液晶电视、数 码相框、手机、平板电脑等任何具有显示功能的产品或部件。
[0032] 以上实施方式仅用于说明本实用新型，而并非对本实用新型的限制，有关技术领 域的普通技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和 变型，因此所有等同的技术方案也属于本实用新型的范畴，本实用新型的专利保护范围应 由权利要求限定。
【权利要求】
1. 一种测试线路，包括对盒工艺检测线路、第一扇区、第二扇区、用于将所述对盒工艺 检测线路与所述第一扇区相连接的导电区域，以及位于所述导电区域中的电学检测区域， 其特征在于，所述第一扇区与所述第二扇区相连接，所述导电区域包括用于同所述第一扇 区相连接的第一重叠区，所述电学检测区域位于所述导电区域中所述第一重叠区之外的区 域。
2. 根据权利要求1所述的测试线路，其特征在于，所述导电区域通过设置在所述第一 重叠区上的过孔与所述第一扇区相连接。
3. 根据权利要求1所述的测试线路，其特征在于，所述导电区域还包括用于同所述对 盒工艺检测线路相连接的第二重叠区，所述电学检测区域还位于所述导电区域中所述第二 重叠区之外的区域。
4. 根据权利要求3所述的测试线路，其特征在于，所述导电区域通过设置在所述第二 重叠区上的过孔与所述对盒工艺检测线路相连接。
5. 根据权利要求1至4任一所述的测试线路，其特征在于，所述导电区域还设置有开 关，所述开关用于控制所述导电区域的通断。
6. 根据权利要求5所述的测试线路，其特征在于，所述开关设置在所述电学检测区与 所述第一重叠区之间的区域。
7. 根据权利要求6所述的测试线路，其特征在于，还包括用于控制所述开关的控制线 路。
8. -种显示面板，其特征在于，包括如权利要求1至7任一所述的测试线路。
9. 一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求8所述的显示面板。
【文档编号】G02F1/13GK203838446SQ201420266323
【公开日】2014年9月17日 申请日期:2014年5月23日 优先权日:2014年5月23日
【发明者】唐磊, 李彬 申请人:北京京东方光电科技有限公司, 京东方科技集团股份有限公司