光控制薄膜及使用了它的背照光装置的制作方法

专利名称：光控制薄膜及使用了它的背照光装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于液晶显示器等背照光装置的光控制薄膜，以及使用该光控制薄膜的背照光装置。

背景技术：
一直以来，液晶显示器等中大多采用侧边型或直下型的背照光装置(BackLight)。侧边型背照光装置，由于能使背照光装置本身厚度变薄，故多使用于笔记型电脑等；而直下型背照光装置则多使用在大型液晶电视等。
这些以往的背照光装置上，存在着由正面倾斜出射的光的成份。特别是侧边型的背照光装置上，有许多从正面大量倾斜出射的光的成份，因此很难得到高的正面亮度。
在以往的背照光装置中，为了提高正面亮度，组合使用数枚散光板等的光学薄膜及光扩散薄膜，使出射光能在于正面(参照专利文献1)。
一般来讲，散光板虽然能借着基于几何光学的表面设计，增加出射到正面(与薄膜正交面)上的光比率，但因有规律排列的凸部，容易出现干涉状图形，另外仅借此就产生闪光，有不易视看的缺点。另外，光过度集于正面的结果，将无法扩大视野角。
另外，单独使用扩散薄膜时，虽不会发生上述问题，但是正面亮度就不够。
记载于专利文献1上的技术虽然并用散光板与光扩散薄膜，但因为使用光散薄膜，会减低借由散光板提高的正面亮度。另外，因为层压薄膜，使各构件之间产生牛顿环，有时，也可能发生因构件之间的接触导致的伤痕。
专利文献1特开平9-127314号公报(权利要求1，段落号0034)

发明内容
发明要解决的课题 在此，本发明的目的在于提供借着单独或合并使用散光板，能确实达到提高正面亮度的同时，也具备适当的光扩散性，没有干涉状图形及闪光问题的光控制薄膜以及使用此薄膜的背照光装置。
解决课题的技术方案 为了达到上述目的，本发明者在关于光控制薄膜的表面形状上，针对规定凹凸形状，对薄膜面(基准面)的倾斜，凹凸高度，间距等表面形状的种种要素进行深入研究的结果，发现可借着适当控制构成凹凸面的曲面之对基准面的倾斜，让入射薄膜的光有效率地在于正面方面(出射方向)，因此可提高正面亮度。
更具体而言，在本发明第一～第四的方式发现了，将对于基准面(与形成凹凸之面相反的面)凹凸之上的曲面的倾斜(以下称为曲面倾斜)，在特定面积以上(1mm2或1mm2以上)的范围进行平均化时的曲面倾斜之平均(θnv(度))在于特定范围时，能达到良好的正面亮度。
还有，借着将曲面倾斜的平均(θnv(度))作为凹凸面倾斜的指标，并将凹凸面上的大致正方形区域的面积(凹凸面正射影的面积)(A1)与构成凹凸面的曲面表面积(A2)之间的比(Ar＝A2/A1)用来作凹凸高度的指标，可以以表示与正面亮度变化相关的特定关系式来记述，并发现当此数值在于特定范围时可达到优良的正面亮度。由此达到了本发明的第一～第四方式。
即，本发明第一方式的光控制薄膜，具有凹凸面，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)，在所述光控制薄膜的实质上所有的地点上，皆大于等于27度小于等于70度。(以下，θnv大于等于27度小于等于70度之条件称之为[条件一])。
另外，本发明第二方式的光控制薄膜，具有由凹凸层构成的凹凸面，该凹凸层是由特定折射率n的材料所形成的，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)，在所述光控制薄膜的实质上所有的地点上，都大于等于(59-20n)度小于等于70度。(以下，(θnv)大于等于(59-20n)度小于等于70度之条件称之为[条件二])。
此外，本发明第三方式的光控制薄膜，具有凹凸面，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)，以及所述大致正方形区域的面积(A1)与所述近似了的凹凸面上曲面表面积(A2)的比(Ar＝A2/A1)实质上在所有地点上，都满足下式(1)或(2)(以下，当为[θnv÷Ar≥22]或[30≤θnv×Ar≤140]条件时称之为[条件三])。
θnv÷Ar≥22…(1) 30≤θnv×Ar≤140 …(2) 另外，本发明第四方式的光控制薄膜，具有曲凹凸层构成的凹凸面，该凹凸层是由特定折射率n的材料所形成的，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)，以及所述大致正方形区域的面积(A1)与所述近似了的凹凸面上曲面表面积(A2)的比(Ar＝A2/A1)实质上在所有地点上，都满足下式(3)或(4)(以下，当为[θnv÷Ar×n2≥35]或[60≤θnv×Ar×n2≤350]条件时称之为[条件四])。
θnv÷Ar×n2≥35 …(3) 60≤θnv×Ar×n2≤350 …(4) 此外，为了达到上述目的，发现在本发明第五～第八方式中，将对于基准面(与形成凹凸之面相反的面)凹凸板上曲面的倾斜(以下称为曲面倾斜)在特定面积以上(1mm2或1mm2以上)的范围进行平均化时的曲面倾斜之平均(θnv(度))在于特定范围的时候，并且从被包含在所述面积内全部的表面高度数据求出，为一高度方向的概率密度函数的非对称性尺度数值的Ask(式(5))，或者当可从所述全部的表面高度数据求出的概率密度函数高度方向的尖锐尺度的Aku(式(6))在于特定范围的时候，可达到良好的正面亮度。
[式一] (式(5)中zi为从被测定出的表面高减去凹凸面的平均面之高度的数值，而m表示测定点的数值。) [式二] (式(6)中zi为，从被测定出的表面高减去凹凸面的平均面之高度的数值，而m表示测定点的数值。) 即，本发明第五方式的光控制薄膜，具有凹凸面，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)大于等于27度小于等于70度；并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(5)所算出的数值(Ask)的绝对值小于等于1.2之条件。(以下，当θnv为27度或大于等于27度小于等于70度，Ask的绝对值小于等于1.2时之条件称之为[条件五]) 另外，本发明第六方式的光控制薄膜，具有由凹凸层构成的凹凸面，该凹凸层是由特定折射率n的材料所形成的，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)大于等于(59-20n)度小于等于70度；并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(5)所算出的数值(Ask)的绝对值小于等于1.2之条件。(以下，当θnv为(59-20n)度(59-20n)或以上小于等于70度，Ask的绝对值小于等于1.2时之条件称之为[条件六]) 另外，本发明第七方式的光控制薄膜，具有凹凸面，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)大于等于27度小于等于70度；并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(6)所算出的数值(Ask)的绝对值大于等于1.5小于等于5.0之条件。(以下，当θnv大于等于27度小于等于70度，Aku大于等于1.5小于等于5.0时之条件称之为[条件七]) 另外，本发明第八方式的光控制薄膜，具有由凹凸层构成的凹凸面，该凹凸层是由特定折射率n的材料所形成的，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)大于等于(59-20n)度小于等于70度；并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(6)所算出的数值(Ask)的绝对值大于等于1.5小于等于5.0之条件。(以下，当θnv大于等于(59-20n)度小于等于70度，Aku大于等于1.5小于等于5.0时之条件称之为[条件八]) 另外，为了达到上述目的，发现在本发明第九～第十二方式中，当构成凹凸面的曲面表面积(A2)与凹凸面上的大致正方形区域之面积(凹凸面的正射影面积)(A1)的比(Ar＝A2/A1，以下称为表面面积)在于特定范围的时候，以及当从包含在所述面积内全部的表面高度数据求出的，为一高度方向的概率密度函数的非对称性尺度数值的Ask(式(5))，或者当可从所述全部的表面高度数据求出的概率密度函数高度方向的尖锐尺度的Aku(式(6))在于特定范围的时候，发现可达到良好的正面亮度。
[式三] (式(5)中zi为从被测定出的表面高减去凹凸面的平均面之高度的数值，而m表示测定点的数值。) [式四] (式(6)中zi为从被测定出的表面高减去凹凸面的平均面之高度的数值，而m表示测定点的数值。) 另外，本发明第九方式的光控制薄膜，具有凹凸面，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述大致正方形区域的面积(A1)与所述近似了的凹凸面上曲面表面积(A2)的比(Ar＝A2/A1)大于等于1.2小于等于2.5，并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(5)所算出的数值(Ask)的绝对值小于等于1.2之条件(以下，当Ar大于等于1.2小于等于2.5，Ask的绝对值小于等于1.2时之条件称之为[条件九])。
另外，本发明第十方式的光控制薄膜，具有由凹凸层构成的凹凸面，该凹凸层是由特定折射率n的材料所形成的，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述大致正方形区域的面积(A1)与所述近似了的凹凸面上曲面表面积(A2)的比(Ar＝A2/A1)大于等于(2-0.5n)小于等于2.5，并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(5)所算出的数值(Ask)的绝对值小于等于1.2之条件(以下，当Ar为(2-0.5n)或(2-0.5n)以上，Ask的绝对值小于等于1.2时之条件称之为[条件十])。
另外，本发明第十一方式的光控制薄膜，具有凹凸面，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述大致正方形区域的面积(A1)与所述近似了的凹凸面上曲面表面积(A2)的比(Ar＝A2/A1)大于等于1.2小于等于2.5，并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(6)所算出的数值(Ask)的绝对值大于等于1.5小于等于5.0之条件(以下，当Ar大于等于1.2小于等于2.5，Ask大于等于1.5小于等于5.0时之条件称之为[条件十一])。
另外，本发明第十二方式的光控制薄膜，具有由凹凸层构成的凹凸面，该凹凸层是由特定折射率n的材料所形成的，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述大致正方形区域的面积(A1)与所述近似了的凹凸面上曲面表面积(A2)的比(Ar＝A2/A1)大于等于(2-0.5n)小于等于2.5，并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(6)所算出的数值(Ask)的绝对值大于等于1.5小于等于5.0之条件(以下，当Ar大于等于(2-0.5n)小于等于2.5，Aku大于等于1.5小于等于5.0时之条件称之为[条件十一])。
在本发明第一～第十二方式中，所谓凹凸面上的大致正方形区域的面积，意指凹凸面的正射影的面积。
本发明的第一～第十二方式中，所谓薄膜的基准面指，将薄膜看作概略平面时的其平面，当与本发明的光控制薄膜的凹凸形成之面相反的一侧之面为平滑状态时，则可将此面看作基准面。另外，若相反面并不平滑，而是凹凸面时，则可将包含此相异两方向的中心线之面视为基准面。
在本发明中第一～第八的方式使用曲面倾斜的平均(θnv(度))，而一般而言，对于上述基准面，构成凹凸面的曲面倾斜平均(Cfc)，若可用一般的函数z＝f(x，y)来表示凹凸面的曲面的话，将求所述平均的区域设定为D的话可以以下式(7)表示。
[式五] 以角度表示倾斜的曲面倾斜的平均(θnv(度))可用下式(8)表示。
[式六] θfc＝tan-1Cfc …(8) 然而作为产品设计虽可以使用这样的函数，但是在实际的产品用一般的函数来记述凹凸面几乎是不可能的，另外也无法得出曲面倾斜的平均(θnv(度))。因此在本发明第一～第八的方式中将如下列般求得的数值定义为曲面倾斜的平均(θnv度))。
首先，使用表面形状测定装置，在凹凸面上的任意地点，对于特定面积以上(1mm2或1mm2以上)的大致正方形区域，测定向纵向与横向方向，在各自基准面上的特定的间隔(ΔdL，ΔdH)以格子状分割的位置的表面高度数据。若所测定得知的基准面上的所述大致正方形的区域表面高度数据在纵向方向有r点，横向方向有s点时，这些高度数据全部成(r×s)点的数据，各数据点可以以{(H11，H12，H13，......，H1s)，(H21，H22，H23......H2s)，......，(Hr1，Hr2，Hr3，......，Hrs)}来表示。并且，为纵向与横向方向的测定点数的r与s，若是为大致正方形的话，r＝s或者r≠s都好。另外，关于纵向及横向方向的测定间隔，不管是ΔdL＝ΔdH或是ΔdL≠ΔdH也都好。
在此，在各自拥有纵横ΔdL，ΔdH长度的基准面上的单位格子上画一条对角线，将其分隔成两个三角形。从在基准面上这两个三角形的三个顶点位置的高度数据，对基准面上的三角形，各自定意为一个[一个三角形状的平面(以下称为，微小的三角形状平面)]；并通过计算求出从此微小的三角形状平面法线与基准面的法线相交的角，由此可以求得对此微小的三角形状平面基准面的倾斜。在此，若ΔdL与ΔdH十分小，那此微小的三角形状平面，可以将构成凹凸面的曲面视为逼近于平面。因此，此方法适用在测定高度数据大致正方形内的所有单位格子中，构成凹凸面的曲面，逼近于微小的三角形状平面，求此微小的三角形状平面之倾斜，借着平均这些数据，可得出曲面倾斜的平均(θnv(度))。
上述测定间隔(ΔdL与ΔdH)的长度，为一可足够且正确反应包含于测定区域中凹凸面形状程度的长度，具体而言都为1.0μm以下程度的间隔。
另一方面，在本发明第三～第四的方式以及第九～第十二的方式中，虽然使用构成凹凸面的曲面表面积(A2)，但一般而言构成凹凸面的曲面表面积(A2)若能以一般的函数z＝f(x，y)来表示凹凸面的曲面的话，将求所述平均的区域设定为D时就可以以下列公式(9)来表示。
[式七] 然而作为产品设计可使用这类函数，但是在实际上的产品方面上要使用一般的函数还记述凹凸面几乎不可能，所以也无法求得表面积(A2)。因此将在本发明第三～第四的方式以及第九～第十二的方式中如下列所示般求得的值定义为曲面表面积(A2)。
首先，使用表面形状测定装置，在凹凸面的任意地点上，测定向纵向与横向方向，在各自基准面上的特定的间隔(ΔdL，ΔdH)以格子状分割的位置的表面高度数据。若所测定得知的基准面上的所述大致正方形的区域表面高度数据在纵向方向有r点，横向方向有s点的情况，这些高度数据全部成(r×s)点的数据，各数据点可以以{(H11，H12，H13，......，H1s)，(H21，H22，H23......，H2s)......(Hr1，Hr2，Hr3，......，Hrs)}来表示。并且，为纵向与横向方向的测定点数的r与s，若是为大致正方形的话，可以为r＝s或者r≠s。另外，关于纵向及横向方向的测定间隔，也可以为ΔdL＝ΔdH或是ΔdL≠ΔdH。
在此，在各自拥有纵横ΔdL，ΔdH长度的基准面上的单位格子上画一条对角线，将其分隔成两个三角形。从在基准面上这两个三角形的三个顶点位置的高度数据，对基准面上的三角形，各自定意为一个[一个三角形状的平面(以下称为，微小的三角形状平面)]；此微小的三角形状平面的面积可借由计算得知。在此，若ΔdL与ΔdH十分小，那此微小的三角形状平面，可以将构成凹凸面的曲面视为逼近平面。因此，此方法适用在测定高度数据大致正方形内的所有单位格子中，构成凹凸面的曲面逼近于微小的三角形状平面，求此微小的三角形状平面面积，借着合计这些数据，可以求出曲面表面积(A2)。
上述测定间隔(ΔdL与ΔdH)的长度，为一可足够且正确反应包含于测定区域中凹凸面形状程度的长度，具体而言都为1.0μm以下程度的间隔。
另外，本发明第三方式的光控制薄膜的特征为，在上述的第一～第十二方式的光控制薄膜中，当凹凸面上曲面的法线投影到基准面时的正射影，与大致正方形区域中一边所形成之角度(φ)(-180＜φ≤180)的平均(φave)之绝对值，即使是在将大致正方形区域设定在凹凸面内任何的方向所取得时，也在于5度以下(下述φave的平均绝对值为5度以下之条件则称之为[条件13])。φ□ave即使是在将大致正方形区域设定在凹凸面内任何的方向所取得的情况之下，借着满足条件十三，即可进一步地防止光控制薄膜的闪光问题。为了使之成为满足这种条件十三的光控制薄膜，构成凹凸面的多个凸部最好几乎相互独立，并且凸部为一如后述图2-2般的旋转体。
另外，本发明第十四方式的背照光装置，具备至少在一端部配置光源，以与所述一端部大致正交的面为光出射面的导光板；以及配置在所述导光板的光出射面上的光控制薄膜，其特征在于作为所述光控制薄膜，使用上述光控制薄膜。本发明第十五方式的背照光装置，其特征为在上述背照光装置的所述光控制薄膜与所述导光板之间使用了散光板。
本发明的第十六方式的背照光装置，具备光源；配置于所述光源一侧的光扩散板；以及配置于所述光扩散板的、所述光源以外的一侧的光控制薄膜，其特征在于作为所述光控制薄膜，使用上述光控制薄膜。
发明的效果 本发明第一～第十三方式的光控制薄膜，因为拥有特定形状的凹凸面，故从与凹凸面相反方向入射，从凹凸面出射的光线之中，可增加正面，特别是出射角0∽30度范围的成份，亦可以达到远高于通常扩散薄膜的高正面亮度。并且也兼备适当的光扩散性，不会有产生闪光及干涉图形的问题。
另外，本发明第十四以及第十五方式的背照光装置，因为使用特定的光控制薄膜，所以，是一种正面亮度高，且具备适当的光扩散性，不会产生闪光及干涉图形的背照光装置。另外，也能抑止因散光板与其他构件接触时，所导致的散光板上发生伤痕等问题。

具体实施例方式 以下，参照附图并详细说明本发明的光控制薄膜与背照光装置。另外，在本发明说明时所使用的附图中，为了说明各要素的尺寸(厚度，宽度，高度等)根据需要，扩大或缩小，并非反映实际光控制薄膜与背照光装置各要素尺寸。
图1(a)∽(c)为示意地表示本发明光控制薄膜实施方式的图。如图所示般，本发明的光控制薄膜，在几乎平面状的薄膜之一方面上有细微的凹凸，其特征正在于此凹凸形状。凹凸，如(a)及(b)所示般，可形成于基底材料的薄膜一方之面上所形成的层上，如(c)所示般，亦可只在凹凸形成的层上构成光控制薄膜。
本发明的光控制薄膜，当从与形成凹凸面的相反侧的面入射的光，从凹凸面出射的时候，控制光的方向，使出射光之中从正面朝向特定角度范围内的光成份将会变更多，借此可以提高正面亮度，同时并可提供能防止闪光的光扩散性。与凹凸面所形成之面的相反面，是典型的平滑面，但也不限于平滑面。例如可以钝化或形成特定的点状等。
接着，说明为了控制所述光的方向的凹凸的形状之条件。
在本发明中，针对由旋转体所形成的单一凸部形状(图2-2)；所述旋转体为如最初于图2所示，在以x，y平面为基准面，对与其正交的面上所描绘出的任意曲线为z轴而旋转，改变凸形状，高度，入射光的入射角度等等，在三维空间模拟实验入射光与出射光间的关系，研究能获得最佳出射光的条件。这样从此凸部的底面，可借计算求出与从实际的背照光装置的导光板出射的光的分布有同样分布的光在入射时，从凸部侧所出射的光的分布(出射角度特性)。在此凸部的内部折射率n以一般的丙烯基类树脂的折射率1.5来计算。
图3为出射光分布图，该图表示对图2-2中所示的形状凸部所进行的模拟实验结果。图中，实线为出射光的分布，虚线则表示入射光的分布。在此因为其正面亮度良好，并且具备某种程度的光散乱性，因此最好有许多从正面(0度)出射到±30度范围的光的成份。
接着关于有多个凸部形成的凹凸面，为了找出能获得此般条件的出射光特性的条件，关于上述拥有着多个凸部的系，对于改变种种凸部形状以及高度时，出射光的分布变化进行了模拟试验。具体而言，借着将凸部的底面积设定为一定数值，将高度改变5∽6点，每个高度都将曲线形状约改变100点左右，制定计500∽600种类的凸部形状，并可对同一凸部形状于平面上多个存在的，计约500∽600种类的样品，模拟出射光的分布变化。其结果将表示于图4的图表上。图中，横轴为曲面倾斜的平均(θnv(度))，纵轴为出射光的能量；图表中以△，□，○所表示的点中，△所表示的第一组601为对各样品z轴，被包含于6度范围内的出射光能量(以下称出射光6)；□所表示的第二组602为对各样品z轴，被包含于18度范围内的出射光能量(以下称出射光18)；○所表示的第三组603为对各样品z轴被包含于30度范围内的出射光能量(以下称出射光30)； 从图4的模拟实验结果可以得知，借着将曲面倾斜平均(θnv(度))设为大于等于27度小于等于70度，若能设为大于等于27度小于等于65度更好，最好的是设为大于等于27度小于等于60度，可增加出射光30的比率。
另外，从图4的模拟实验结果可以发现，随着曲面倾斜平均(θnv(度))越大，出射光30的比率虽然会增加，但变大到某一程度后，反而有有减少的倾向。于是研究了能得出与出射光30的相关的凹凸形状的综合性指标，结果发现使用曲面倾斜平均(θnv(度))，与对构成凹凸面的曲面表面积(A2)的凹凸面上大致正方形区域的面积(A1)的比(Ar＝A2/A1，以下称表面积比)的商数或乘积，与出射光30的关系能更清楚地记录。在此，A2可借着合计，由高度数据得出的微小三角形状的平面面积来导出。
图5与图6，用θnv以及Ar的指标表示模拟实验图4的数据；图5表示了将曲面倾斜平均(θnv)除以表面积比(Ar)后的值为横轴时出射光能量的变化；图6则表示了将曲面倾斜平均(θnv)乘以表面积比(Ar)后的值为横轴时出射光能量的变化。
从图5及图6可以发现，当将曲面倾斜平均(θnv)除以表面积比(Ar)后的值(商数)大于等于22时，且将曲面倾斜平均(θnv)乘以表面积比(Ar)后的值(乘积)大于等于30小于等于140时，出射角度30度的范围中出射光能量会大幅增加。亦即是，借着满足以下条件(式(1))或式(2))，可以形成具有高正面亮度且具备适当扩散性的光控制薄膜。
θnv÷Ar≥22 ......(1) 30≤θnv×Ar≤140 ......(2) 另外，式(1)中将曲面倾斜平均(θnv)除以表面积比(Ar)后的值最好大于等于25，而式(2)中将曲面倾斜平均(θnv)和表面积比(Ar)后的乘积最好在下限35或35以上，上限130以下为佳。
这般条件，有必要在实质上所有的位置上要满足。所谓的[实质上所有的位置]，指对特定的光控制薄膜关于多个测定位置进行观察时，在所观察的几乎全部的位置上能满足即可，也包括含有不满足所述条件1，2的位置的时候。
然而，为了找出应满足本发明凹凸面的条件，在上述的模拟实验中，将凸部假定为由折射率1.5的材质所形成，本发明的光控制薄膜的凹凸层，可采用一般使用于光学薄膜上的材料，其折射率并不限于1.5。为了考虑折射率n使其一般化，在特定范围内边改变折射率，同时反覆进行上述模拟实验的结果，发现在曲面倾斜的平均(θnv)大于等于(59-20n)度，小于等于70度时，可以得到上述效果。
同样，考虑折射率n将所述式(1)，(2)一般化，可如下列式(3)，(4)般表示。
θnv÷Ar×n2≥35 ......(3) 60≤θnv×Ar×n2≤350 ......(4) 另外，式(3)的值最好大于等于40，式(4)的值最好为下限70或70以上，上限340以下为佳。考虑到这般构成凹凸之材料的折射率，设计凹凸形状，由此进一步地提高朝正面方向的亮度。
另外，从所述模拟实验结果，研究了能得出与出射光30的相关的凹凸形状的综合性的其他指标，结果了解到，当采用从求曲面倾斜平均时所用的所有表面高度数据中得出的，为高度方向概率密度函数非对称性尺度的数值Ask，或者从所述所有的表面高度数据中求出的概率密度函数高度方向的尖锐尺度数值Aku的时候，可以最佳记述与出射光30的相关。
图7与图8为使用θnv的指标，来表示图4模拟实验数据的图表，两者都表示了取曲面倾斜的平均(θnv)作为横轴时，出射光能量的变化。在图7中[●]点704表示了上述式(5)中所示的Ask绝对值小于等于1.2样品的数据。而图8中[●]点804则表示了上述式(6)中所示的Aku大于等于1.5小于等于5.0样品的数据。
从图7与图8可以了解到，当曲面的倾率之平均(θnv)大于等于27度小于等于70度时，出射角30度范围的出射光能量有大幅增加的倾向；但也发现即使曲面的倾斜角度之平均(θnv)在于这个范围，出射光30的比例也不会变多(图7的[○]点703与图8的[○]点803)。然而，若只注意上述式(5)中所表示的Ask的绝对值小于等于1.2的结果时(图7的[●]点704)，可以发现出射光30的比例一定很高。另外，若只注意上述式(6)中所表示的Aku大于等于1.5小于等于5.0的结果时(图6的[●]点804)，可以发现出射光30的比例必定很高。
当此曲面倾斜的平均(θnv)大于等于27度小于等于70度，能大于等于27度小于等于65度更好，最好是大于等于27度小于等于60度；而式(5)中所示的Ask的绝对值小于等于1.2，最好小于等于1.1，或者式(6)所表示的Aku大于等于1.5小于等于5.0，最好是大于等于1.5小于等于4.5时能达到特优效果。
这般条件，有必要在实质上所有的位置上满足。所谓的[实质上所有的位置]，指对特定的光控制薄膜关于多个测定位置进行观察，在所观察的几乎全部的位置上能满足即可，也包括含有不满足所述条件1，2的位置的时候。
然而为了找出应满足本发明凹凸面的条件，在上述的模拟实验中，将凸部假定为由折射率1.5材质所形成；然而，本发明的光控制薄膜的凹凸层，可采用一般使用于光学薄膜上的材料，其折射率并不限于1.5。考虑折射率n使其一般化，对曲面斜率的平均(θnv)大于等于(59-20n)度，小于等于70度时即可达到上述效果。
考虑这般构成凹凸层材料的折射率，设计凹凸面的形状，由此可以更加提高朝向正面方向的亮度。
另一方面，图9与图10为用表面积比(Ar)的指标，来表示图4模拟实验数据的图表，两者都表示了取表面积比(Ar)作为横轴时出射光能量的变化。在图9中[●]点904表示了上述式(5)中所表现的Ask绝对值小于等于1.2样品的数据。而图10中[●]点1004则表示上述式(6)中所表现的Aku大于等于1.5小于等于5.0样品的数据。
从图9与图10可以发现，当表面积比(Ar)大于等于1.2小于等于2.5时，出射角30度范围的出射光能量会有大幅增加的倾向；而即使表面积比(Ar)在于这个范围，出射光30的比例也不会变多(图9的[○]点903与图10的[○]点1003)。然而，若只注意上述式(5)中所表示的Ask的绝对值小于等于1.2的结果时(图9的[●]点904)，可以发现出射光30的比例一定很高。另外，若只注意上述式(6)中所表示的Aku大于等于1.5小于等于5.0的结果时(图10的[●]点1004)，可以发现出射光30的比例必定很高。
当此表面积比(Ar)大于等于1.2小于等于2.5时，大于等于1.3小于等于2.4更好，最好大于等于1.4小于等于2.3时；而所述式(5)中所示的Ask的绝对值小于等于1.2，最好小于等于1.1，或者式(6)所表示的Aku大于等于1.5小于等于5.0，最好是大于等于1.5小于等于4.5时能达到特优效果。
这般条件，有必要在实质上所有的位置上要满足。所谓的[实质上所有的位置]，指对特定的光控制薄膜关于多个测定位置进行观察时，在所观察的几乎全部的位置上能满足即可，也包括含有不满足于所述条件1，2位置的情况。
然而为了找出应满足本发明凹凸面的条件，在上述的模拟实验中，将凸部假定为由折射率1.5的材质所形成；然而，本发明的光控制薄膜的凹凸层，可采用一般使用于光学薄膜上的材料，其折射率并不受限于1.5。为了考虑折射率n使其一般化，表面积比(Ar)大于等于(2-0.5n)，小于等于2.5时即可达到上述效果。
考虑这般构成凹凸层之材料的折射率，设计凹凸面的形状，由此可以更加提高朝往正面方向的亮度。
本发明的光控制薄膜，设计凹凸面使之满足上述条件，由此使其具有高正面亮度，且具备某程度扩散性。拥有这般特性的本发明的光控制薄膜，可以作为，例如，直接配置在侧边型的背照光装置的导光板上，或者介于光扩散材配置在直下型的背照光装置的光源上，作为控制光出射方向的薄膜来使用。
本发明的光控制薄膜，只要[凹凸面的曲面倾斜之平均(θnv)]，或者[表面积比(Ar)]满足上述条件一～十二的话，凸部的形状与配置位置并没有特别限定。也就是说凸部与凹部可以无规则地配置，而凸部与凹部为规则性地配置也无妨。然而，借由无规则的配置，即使与拥有规则性模式的其他构件组合，也可以轻易地防止干涉图形的发生。个别的凸部与凹部的形状可以一样，不同也无妨；可以互相重叠配置，也可以重叠一部份或全部的凸部与凹部配置。凸部的高度，凹部的深度都为3∽100μm程度，凸部或凹部的配置密度最好为10个～20万个/mm2程度。满足上述条件的典型的光控制薄膜的凹凸面如图10一所示。
接着说明为了制造上述具有凹凸面的光控制薄膜的具体性构成。
作为构成本发明的光控制薄膜10的基底材料11与凹凸层12的材料，可以使用一般用于光学薄膜上的材料。具体来说，基底材料11只要是透光性良好之物就没有特别限制，可以使用聚对苯二甲酸乙二醇酯，聚对苯二甲酸丁二醇酯，聚萘二甲酸乙二醇酯，聚碳酸酯，聚乙烯，聚丙烯，聚苯乙烯，三乙酰纤维素，丙烯基，聚氯乙烯等塑料薄膜等等。
即使以构成凹凸层12的材料，只要是透光性佳就没有特别限制，可使用玻璃，高分子树脂等等。以玻璃而言，可举出如硅酸盐玻璃，磷酸盐玻璃，硼酸盐玻璃等氧化玻璃。以高分子而言，可举出聚酯类树脂，丙烯基类树脂，丙烯氨基甲酸酯类树脂，聚酯丙烯酸酯类树脂，聚氨基甲酸丙烯酸酯类树脂，环氧丙烯酸类树酯，氨基甲酸酯类树酯，环氧类树脂，聚碳酸酯类树脂，纤维素类树脂(cellulose)，缩醛类树脂，乙烯类树脂，聚乙烯类树脂(polyethylene)，聚苯乙烯类树脂(polystyrene)，聚丙烯类树脂，聚酰胺类树脂(polyamide)，聚酰亚胺类树脂(polyimide)，密胺类树脂(melamine)，苯酚类树脂(phenol)，硅酮类树脂，氟类树脂等等的热可塑性树脂，热固化性树脂，电离放射线固化性树脂等等。
这些材料中，从加工性，操作性的观点来看以高分子树脂为佳，特别是使用折射率(JIS K71421996)为1.3∽1.7程度的最好。作为形成凹凸层的材料，即使使用折射率n在上述范用以外，借着使其满足条件1，3，5，7，9或11，也可以达到良好的亮度；但是借着这般使用范围内，可达到更高的亮度。特别是根据材料的折射率，借着使凹凸面满足条件2，4，6，8，10或12，可以更加提高正面亮度。
在凹凸层12上，如一般的光扩散性薄板般，使其含有有机有孔玻璃珠或无机颜料等等的光扩散剂也行，但并非必须。在本发明的光控制薄膜上，即使不使之含有光扩散剂，也能发挥在凹凸面本身具备的某程度的光扩散效果。因此不会有因光扩散剂伤害到其他构件，或者光扩散剂剥落产生垃圾的情况。
作为凹凸层12的形成方法，可采用例如1)使用压花棍之方法，2)蚀刻处理，3)因型成型方法；然而，以能制造具备再现性良好，拥有特定凹凸层的光控制薄膜的观点来看，使用模具来制造的方法最好。具体而言，可借着制作与凹凸面互补的形状的模具，再于该模具中注入高分子树脂等构成凹凸面的材料，使其固化后，再从模具中取出来制造。使用基底材料时，可借着在模具中注入高分子树脂等，在上面重叠透明基底材料后，使高分子树脂等固化，再从模具中连带透明基底材料一起取出来而制造。
作为在模具上面形成与凹凸面互补的形状之方法，虽然没有特别限定，但可以采用下列方法。例如，借由激光精密加工技术，在平板上形成配置密度，如数千个/mm2的特定形状之凸部，以此作为凸型，制造成型用的模具(凹形)。所谓特定形状之凸部，指将一个凸部全体，以可以正确反应其形状的幅度(1.0m以下)的等间隔来测定高度数据的结果为，当该凸部满足条件一或条件三。或者固化分散特定粒子直径的粒子的树脂，制作具有凹凸层的树脂板，再以表面测定装置测定这些凹凸层的表面，选择与上述条件相符的树脂板，以其作为凸型，来制作成型用的模具(凹型)。
另外，与光控制薄膜的凹凸面相反的面可以为平滑的面；并且为了在与导光板或树脂板相接时不会产生牛顿环，亦可实施微钝化处理；以及为了提高光透过率，亦可施以反射防止处理。
另外，为了获得良好的正面亮度，作为光控制薄膜的光学特性，朦度(haze)以大于等于60％为佳，最好大于等于70％。在此所谓的朦度，为在JIS K71362000上的朦度值，由朦度值(％)＝[(τ4/τ2)-τ3(τ2/τ1)]×100□一式中所求出之值(τ1入射光的光通量，τ2透过试验片的全光通量，τ3在装置上扩散的光通量，τ4在装置及试验片上扩散的光通量)。
光控制薄膜全体的厚度虽然没有特别限制，然而通常为20∽300m之程度。
上述所说明的本发明之光控制薄膜，主要是作为构成液晶显示器，灯饰招牌等背照光的一部份构件来使用。
接着说明关于本发明的背照光。本发明的背照光，其构成最少拥有光控制薄膜与光源。作为一种光控制薄膜是使用上述的光控制薄膜。背照光中的光控制薄膜的方向虽并没有特别限制，但最好将凹凸面设为光出射面来使用。背照光，则最好采用所谓的侧边型，直下型之构成。
侧边型的背照光，由导光板，配置在导光板上最少一端的光源，以及配置在导光板的光设出面侧的光控制薄膜等等构成。在此，光控制薄膜，最好使凹凸面为光出射面侧来使用。另外，导光板与光控制薄膜间最好使用散光板。由此构造，拥有极佳的正面亮度，视野角平衡，同时也可成为没有散光板特有的闪光问题的背照光装置。
导光板由，至少将其一面设为光入射面，与之略正交的一方之面为光出射面所形成的略平板状构成；主要由聚甲基丙烯酸甲脂等高透明的树脂中选出的矩阵树脂所构成。根据需要可添加矩阵树脂与折射率不同的树脂粒子。导光板的各面可以不是一样的平面，而可以为复杂的表面形状；亦可设置点状等扩散印刷。
光源为配置于导光板上至少一端上之物，主要使用冷阴极荧光灯(Cold Cathode Fluorescent Light/Tube)。作为光源之形状，可举出如线状，L字状等等。
侧边型之背照光，除了配备上述光控制薄膜，导光板，光源之外，根据目的尚备有反射板，偏振光薄膜，电磁波遮护薄膜等等。
本发明之侧边型背照光的一实施方式如图12所示。此背照光140具有，于导光板141两侧配备有光源142之结构，而于导光板141的上侧为了使凹凸面成为外侧，装载了光控制薄膜143。光源142为了使从光源的光能有效率地入射导光板141，除掉与导光板141相对的部份，被光源反射器(reflector)144覆盖。另外在导光板141的下侧配备有，收纳于机芯145的反射板146。借此可使出射到导光板141的出射侧与相反侧的光再度回到导光板141，增加从导光板141的出射光。
直下型的背照光由以下所构成光控制薄膜，有顺序地配备于与光控制薄膜的光出射面相反面上的光扩散材，以及光源等等。在此，光控制薄膜，最好使凹凸面为光出射面侧来使用为佳。另外，导光板与光控制薄膜间最好使用散光板。由此结构，拥有了极佳的正面亮度，视野角平衡，同时也可以成为没有散光板特有闪光问题的背照光装置。
光扩散材是用以消除光源图形(pattern)，除了乳白色的树脂板，于光源对应部份上形成点状的透明薄膜(遮光板)之外，可单独或适宜地组合使用在透明基底材料上具备有凹凸光扩散层，也就是所谓的光扩散薄膜。
作为光源，主要使用冷阴极荧光灯。作为光源之形状，可举出如线状，L字状等等。直下行的背照光除了具备上述光控制薄膜，光扩散材与光源之外，根据目的亦可具备反射板，偏振光薄膜，电磁波遮护薄膜等等。
本发明之直下型背照光之实施方式如图13所示。此背照光150，如图所示般，其构造为，在收纳于机芯155的反射板156上配备多个的光源152；在于其上介于光扩散材157装载光控制薄膜153。
本发明之背照光，作为控制从光源或导光板出射光之方向的光控制薄膜，借着使用具有特定凹凸面的光控制薄膜，比起以往的背照光，非但可以提高正面亮度，并且很少发生如单独使用散光板时会有的闪光问题及伤痕。
以下，根据实施例，进一步地说明本发明。
实施例1∽4 借着激光精密加工技术来制作形成特定凹凸的四种类型(1)～(4)。其中于(1)～(3)的模具中注入折射率1.50的紫外线固化型树脂，于(4)的模具中注入折射率1.40的硅酮类树脂。接着，使注入的树脂固化后，从模具中取出，可得到23cm(光源与垂直方向)×31cm(光源与平行方向)的光控制薄膜(1)～(4)(实施例1∽4的光控制薄膜)。
接着，借着激光显微镜(VK-9500Keyence Corporation)，使用50倍的对物透镜来测定光控制薄膜(1)～(4)凹凸面(光出射面)的高度数据。平面内的测定间隔约为0.26μm。因为50倍的对物透镜的一视野为270μm×202μm，故利用自动连结机能可测得1mm×1mm的区域表面高度数据。测定为，在各光控制薄膜上任意五处进行，使用此表面高度数据算出对基准面曲面倾斜的平均(θnv)(单位为[度])。关于光控制薄膜(1)～(4)所得之结果如表一所示。另外，借着浊度计(NDH2000Nippon Denshoku Co.，LTD.)按着JIS K71362000，测定光控制薄膜(1)～(4)的朦度之结果，合并表示于表一。
[表一] 由表一可知，实施例1∽4之光控制薄膜，在所有的测定点上，其曲面倾斜的平均度大于等于27度小于等于70度。另外，实施例1∽4的各光控制薄膜的朦度都大于等于70％；为了得到良好的正面亮度，须满足必要的光学特性。
接着，将光控制薄膜(1)～(4)组装到15英寸侧边型背照光装置(冷阴极荧光灯上下各一灯)上，并测定正面亮度。亦即是，使光控制薄膜(1)～(4)的凹凸面作为光出射面，来将其设置于导光板上，测定位于背照光装置上中央的光源(冷阴极荧光灯)，以及位于平行方向与垂直方向每个出射角度的亮度(一英寸＝2.54cm)。有关光控制薄膜(1)～(4)所得之结果如表二所示(单位为[cd/m2]。
[表二] 由表二的结果可得知，在背照光装置内只装入一组实施例1∽4的光控制薄膜，可提高光出射角30度以内的亮度，并可得到对正面方向的高出射光。
(实施例5∽8) 借着激光精密加工技术来制作形成特定凹凸的四种类型(5)～(8)。其中于(5)～(7)的模具中注入折射率1.50的紫外线固化型树脂，于一个模具(8)中注入折射率1.40的硅酮类树脂。接着，使注入的树脂固化后，从模具中取出，可得到23cm×31cm的光控制薄膜(5)～(8)(实施例5∽8的光控制薄膜)。
接着，和实施例1∽4一样测定光控制薄膜(5)～(8)的凹凸面(光出射面)的表面高度数据。测定将在各光控制薄膜上任意五处进行，使用此表面高度数据，算出对基准面曲面倾斜的平均(θnv)。并且，从相同的表面高度数据求出凹凸面的表面积(A2)，再算出与测定出的凹凸面正射影的面积(A1)之比(Ar＝A2/A1)，求出曲面倾斜的平均(θnv)与表面积的比(Ar)的乘积或商数。有关光控制薄膜(5)～(8)所得之结果如表三所示(倾斜单位为[度])。另外，借着浊度计(NDH2000Nippon Denshoku Co.，LTD.)按着JIS K71362000，测定光控制薄膜(5)～(8)的朦度之结果，合并表示于表三。
[表三] 如表三所示，在实施例5∽8的光控制薄膜，在所有测定的位置，曲面倾斜的平均与表面积的比之变动不多，作为光控制薄膜全体，具有均一的凹凸特性。另外，实施例5∽8的各光控制薄膜的朦度都大于等于70％；为了得到良好的正面亮度，须满足必要的光学特性。
接着，将光控制薄膜(5)～(8)组装到15英寸侧边型背照光装置(冷阴极荧光灯上下各一灯)上，并测定正面亮度。亦即是，将光控制薄膜(5)～(8)的凹凸面作为光出射面，将其设置于导光板上，测定位于背照光装置上中央的光源(冷阴极荧光灯)，以及位于平行方向与垂直方向每个出射角度的亮度(一英寸＝2.54cm)。有关光控制薄膜(5)～(8)所得之结果如表四所示(单位为[cd/m2]。
[表四] 由表四的结果可得知，只把一枚实施例5∽8的光控制薄膜，装入背照光装置内，可提高光出射角30度以内的亮度，并可得到对正面方向的高出射光。
[比较例1∽3] 关于市售的光扩散性薄板，与实施例一样，先在薄膜上五处测定凹凸面(光射出面)的表面形状，再求出曲面倾斜的平均(θnv)。于比较例1∽3所得到的结果依顺序表示在表五上。
[表五] 从表五可以发现，比较例1∽3的光扩散性薄板，在全部的测定点上，其曲面倾斜的平均(θnv)都不会大于等于27度小于等于70度。
接着，将比较例1∽3中的光控制性薄板组装到15英寸侧边型背照光装置(冷阴极荧光灯上下各一灯)上，并测定正面亮度。即，将比较例1∽3中的光控制性薄板的凹凸面作为光出射面，并将其设置于导光板上，测定位于背照光装置上中央的光源(冷阴极荧光灯)，以及位于平行方向与垂直方向每个出射角度的亮度(一英寸＝2.54cm)。有关其结果如表六所示(单位为[cd/m2]。
[表六] 从表六的结果也可以了解，当将以往的光扩散性薄板组装到背照光装置时，无法得到良好的正面亮度。
从实事例可以清楚的了解，实施例的光控制薄膜，借着使其凹凸面满足了特定的构造，不但具有良好的正面亮度，也具备了适当的光扩散性。另外，借着将这般的光控制薄膜组装到背照光装置中，可以使其成为一具有高正面亮度，不会发生闪光与干涉图形的背照光装置。
(实施例9∽12) 借着激光精密加工技术来制作形成特定凹凸的四种类型(9)～(12)。其中于(9)～(11)的模具中注入折射率1.50的紫外线固化型树脂，于型(12)中注入折射率1.40的硅酮类树脂。接着，使注入的树脂固化后，从模具中取出，可得到23cm.31cm的光控制薄膜(9)～(12)(实施例9∽12的光控制薄膜)。
接着，借着激光显微镜(VK-9500Keyence Corporation)，使用50倍的对物透镜来测定光控制薄膜(9)～(12)凹凸面(光出射面)的高度数据。平面内的测定间隔约为0.26μm。因为50倍的对物透镜的一视野为270μm×202μm，故利用自动连结机能可测得1mm×1mm的区域表面高度数据。测定为，在各光控制薄膜上任意五处进行，使用此表面高度数据算出对基准面曲面倾斜的平均(θnv)。并且使用同样的表面高度数据，借上述式(五)算出Ask。
另外，借着浊度计(NDH2000Nippon Denshoku Co.，LTD.)按着JIS K71362000，测定光控制薄膜(9)～(12)的朦度之结果，合并表示于表七。
[表七] 由表七可知，实施例9∽12之光控制薄膜，在所有的测定点上，其曲面倾斜的平均(θnv)都大于等于27度小于等于70度。另外，所有的Ask之绝对值都小于等于1.2。并且，实施例9∽12的各光控制薄膜的朦度都大于等于70％；为了得到良好的正面亮度，满足必要的光学特性。
接着，将光控制薄膜(9)～(12)组装到15英寸侧边型背照光装置(冷阴极荧光灯上下各一灯)上，并测定正面亮度。亦即是，使光控制薄膜(9)～(12)的凹凸面作为光出射面，并将其设置于导光板上，测定位于背照光装置上中央的光源(冷阴极荧光灯)，以及位于平行方向与垂直方向每个出射角度的亮度(一英寸＝2.54cm)。有关光控制薄膜(9)～(12)所得之结果如表八所示(单位为[cd/m2]。
[表八] 表八的结果表示了，只要将一枚实施例9∽12的光控制薄膜装入背照光装置，就可以提高出射角30度以内的亮度，并可得到对正面方向的高出射光。
(实施例13∽16) 借着激光精密加工技术来制作形成特定凹凸的四种类型(13)～(16)。其中于(13)～(15)的模具中注入折射率1.50的紫外线固化型树脂，于一个模具(16)中注入折射率1.40的硅酮树脂类。接着，使注入的树脂固化后，从模具中取出，可得到23cm×31cm的光控制薄膜(13)～(16)。
接着，和实施例9∽12一样，测定光控制薄膜(13)～(16)凹凸面(光出射面)表面的高度数据。测定为，在各光控制薄膜上任意五处进行，使用此表面高度数据算出对基准面曲面倾斜的平均(θnv)。并且使用同样的表面高度数据，借上述式(六)算出Aku。关于光控制薄膜(13)～(16)所得之结果如表九所示(倾斜单位为[度])。另外，借着浊度计(NDH2000Nippon Denshoku Co.，LTD.)按着JIS K71362000，测定光控制薄膜(13)～(16)的朦度之结果，合并表示于表九。
[表九] 由表九可知，实施例13∽16之光控制薄膜，在所有的测定点上，其曲面倾斜的平均(θnv)都大于等于27度小于等于70度。另外，所有的Aku都大于等于1.5小于等于5.0。并且，实施例13∽16的各光控制薄膜的朦度都大于等于70％；为了得到良好的正面亮度，满足了必要的光学特性。
接着，将光控制薄膜(13)～(16)组装到15英寸侧边型背照光装置(冷阴极荧光灯上下各一灯)上，并测定正面亮度。亦即是，使光控制薄膜(13)～(16)的凹凸面作为光出射面，并将其设置于导光板上，测定位于背照光装置上中央的光源(冷阴极荧光灯)，以及位于平行方向与垂直方向每个出射角度的亮度(一英寸＝2.54cm)。有关光控制薄膜(13)～(16)所得之结果如表十所示(单位为[cd/m2]。
[表十] 表十的结果表示了，只要将一枚实施例13∽16的光控制薄膜装入背照光装置，就可以提高出射角30度以内的亮度，并可得到对正面方向的高的出射光。
(比较例四～六) 借着激光精密加工技术来制作形成特定凹凸的三种类型的型(17)～(19)。
于模具中注入折射率1.50的紫外线固化型树脂。接着，使注入的树脂固化后，从模具中取出，可得到23cm×31cm的光控制薄膜(17)～(19)(比较例4∽6的光控制薄膜)。
接着，和实施例9∽12一样，测定光控制薄膜(17)～(19)凹凸面(光出射面)的表面高度数据。测定为，在各光控制薄膜上任意五处进行，使用所得到的此表面高度数据算出倾斜的平均(θnv)。并且使用同样的表面高度数据，借上述式(五)算出Ask。光控制薄膜(17)～(19)所得之结果如表十一所示。(倾斜单位为[度]) [表十一] 由表十一可知，实施例4∽6之光控制薄膜(17)～(19)，在所有的测定点上，曲面倾斜的平均(θnv)都大于等于27度小于等于70度。然而，其所有的Ask之绝对值都大于1.2。
接着，将光控制薄膜(17)～(19)组装到15英寸侧边型背照光装置(冷阴极荧光灯上下各一灯)上，并测定正面亮度。亦即是，使光控制薄膜(17)～(19)的凹凸面作为光出射面，并将其设置于导光板上，测定位于背照光装置上中央的光源(冷阴极荧光灯)，以及位于平行方向与垂直方向每个出射角度的亮度(一英寸＝2.54cm)。有关光控制薄膜(17)～(19)所得之结果如表十二所示(单位为[cd/m2]。
[表十二] 由表十二之结果可以发现，在将比较例4∽6的光控制薄膜组装到背照光装置时之正面亮度并不足。
(比较例7∽9) 借着激光精密加工技术来制作形成特定凹凸的三种类型的型(20)～(22)。
于模具中注入折射率1.50的紫外线固化型树脂。接着，使注入的树脂固化后，从模具中取出，可得到23cm×31cm的光控制薄膜(20)～(22)(比较例7∽9的光控制薄膜)。
接着，和实施例9∽12一样，测定光控制薄膜(20)～(22)凹凸面(光出射面)的表面高度数据。测定为，在各光控制薄膜上任意五处进行，使用此表面高度数据算出对基准面曲面倾斜的平均(θnv)。并且使用同样的表面高度数据，借上述式(六)算出Aku。光控制薄膜(20)～(22)所得之结果如表十三所示。(倾斜单位为[度]) [表十三] 由表十三可知，实施例7∽9之光控制薄膜(20)～(22)，在所有的测定点上，其曲面倾斜的平均(θnv)都大于等于27度小于等于70度。然而，其所有的Aku都小于1.5，或大于5.0。
接着，将光控制薄膜(20)～(22)组装到15英寸侧边型背照光装置(冷阴极荧光灯上下各一灯)上，并测定正面亮度。亦即是，使光控制薄膜(20)～(22)的凹凸面作为光出射面，并将其设置于导光板上，测定位于背照光装置上中央的光源(冷阴极荧光灯)，以及位于平行方向与垂直方向每个出射角度的亮度(一英寸＝2.54cm)。有关光控制薄膜(20)～(22)所得之结果依序如表十四所示(单位为[cd/m2]。
[表十四] 由表十四的结果可以发现，在将比较例7∽9的光控制薄膜组装到背照光装置时之正面亮度并不足够。
(比较例10∽11) 关于市售的光扩散性薄板，与实施例一样，先在薄膜上五处测定凹凸面(光射出面)的表面形状，再求出曲面倾斜的平均(θnv)。并且使用同样的表面高度数据，求出上述式(5)所示之Ask与，上述式(6)所示之Aku。于比较例10∽11所得之结果如表十五所示。
[表十五] 由表十五可知，实施例10∽11之光控制薄板，在所有的测定点上，其曲面倾斜的平均(θnv)都无法达大于等于27度小于等于70度。
接着，将比较例10∽11的光控制薄板组装到15英寸侧边型背照光装置(冷阴极荧光灯上下各一灯)上，并测定正面亮度。亦即是，使比较例7∽8的光扩散薄板的凹凸面作为光出射面，并将其设置于导光板上，测定位于背照光装置上中央的光源(冷阴极荧光灯)，以及位于平行方向与垂直方向每个出射角度的亮度(一英寸＝2.54cm)。其结果依序如表十六所示(单位为[cd/m2])。
[表十六] 由表十六的结果可知，在将以往的光扩散性薄板组装到背照光装置时，无法获得良好的正面亮度。
从以上的实施例也可以清楚的了解，实施例的光控制薄膜，借着使其凹凸面满足了特定的构造，为一不但具有良好的正面亮度，也具备了适当的光扩散性之物。另外，借着将这般的光控制薄膜组装到背照光装置中，可以使其成为一具有高正面亮度，不会发生闪光与干涉图形的背照光装置。
(实施例17∽20) 借着激光精密加工技术来制作形成特定凹凸的四种类型(23)～(26)。其中于(23)～(25)的模具中注入折射率1.50的紫外线固化型树脂，于模具(26)中注入折射率1.40的硅酮类树脂。接着，使注入的树脂固化后，从模具中取出，可得到23cm(光源与垂直方向)×31cm(光源与平行方向)的光控制薄膜(23)～(26)(实施例17∽20的光控制薄膜)。
接着，借着激光显微镜(VK-9500Keyence Corporation)，使用50倍的对物透镜来测定光控制薄膜(23)～(26)凹凸面(光出射面)的表面高度数据。平面内的测定间隔约为0.26μm。因为50倍的对物透镜的一视野为270μm×202μm，故利用自动连结机能可测得1mm×1mm的区域表面高度数据。测定为，在各光控制薄膜上任意五处进行，使用所得之表面高度数据求出凹凸面的表面积(A2)，再算出与测定得知的凹凸面之正射影面积(A1)的比(Ar＝A2/A1)。并且使用相同的表面高度数据，借由上述式(5)算出Ask。关于光控制薄膜(23)～(26)所得之结果如表十七所示。另外，借着浊度计(NDH2000NipponDenshoku Co.，LTD.)按着JIS K71362000，测定光控制薄膜(23)～(26)的朦度之结果，合并表示于表十七。
[表十七] 由表十七可知，实施例17∽20之光控制薄膜(23)～(26)，在所有的测定点上，其曲面倾斜的面积比Ar大于等于1.2小于等于2.5。另外，所有的Ask之绝对值都小于等于1.2。并且，实施例17∽20的各光控制薄膜的朦度都大于等于70％；为了得到良好的正面亮度，满足了必要的光学特性。
接着，将光控制薄膜(23)～(26)的光控制薄板组装到15英寸侧边型背照光装置(冷阴极荧光灯上下各一灯)上，并测定正面亮度。亦即是，使光控制薄膜(23)～(26)凹凸面作为光出射面，并将其设置于导光板上，测定位于背照光装置上中央的光源(冷阴极荧光灯)，以及位于平行方向与垂直方向每个出射角度的亮度(一英寸＝2.54cm)。光控制薄膜(23)～(26)所得之结果如表十八所示(单位为[cd/m2]。
[表十八] 由表十八的结果表示了，只把一枚实施例17∽20的光控制薄膜(23)～(26)装入背照光装置，就可以提高出射角30度以内的亮度，并可得到对正面方向的高出射光。
(实施例21～24) 借着激光精密加工技术来制作形成特定凹凸的四种类型(27)～(30)。其中于(27)～(29)的模具中注入折射率1.50的紫外线固化型树脂，于一个模具(30)中注入折射率1.40的硅酮类树脂。接着，使注入的树脂固化后，从模具中取出，可得到23cm×31cm的光控制薄膜(27)～(30)(实施例27∽30的光控制薄膜)。
接着，和实施例17∽20一样测定光控制薄膜(27)～(30)凹凸面(光出射面)的表面高度数据。测定为，在各光控制薄膜上任意五处进行，使用所得之表面高度数据求出凹凸面的表面积(A2)，再算出与测定得知的凹凸面之正射影面积(A1)的比(Ar＝A2/A1)。另外，使用同一表面高度数据，借上述式(6)算出Aku。关于光控制薄膜(27)～(30)所得之结果如表十九所示(倾斜单位为[度])。另外，借着浊度计(NDH2000Nippon Denshoku Co.，LTD.)按着JIS K71362000，测定光控制薄膜(27)～(30)的朦度之结果，合并表示于表十九。
[表十九] 由表十九可知，实施例21∽24之光控制薄膜，在所有的测定点上的面积比Ar大于等于1.2小于等于2.5。另外，所有的Aku都大于等于1.5小于等于5.0。并且，实施例21∽24的各光控制薄膜(27)～(30)的朦度都大于等于70％；为了得到良好的正面亮度，满足了必要的光学特性。
接着，将光控制薄膜(27)～(30)的光控制薄板组装到15英寸侧边型背照光装置(冷阴极荧光灯上下各一灯)上，并测定正面亮度。亦即是，使光控制薄膜(27)～(30)的光扩散薄板的凹凸面作为光出射面，并将其设置于导光板上，测定位于背照光装置上中央的光源(冷阴极荧光灯)，以及位于平行方向与垂直方向每个出射角度的亮度(一英寸＝2.54cm)。光控制薄膜(27)～(30)所得之结果如表二十所示(单位为[cd/m2]。
[表二十] 由表二十的结果表示了，只要将一枚实施例21∽24的光控制薄膜装入背照光装置，就可以提高出射角30度以内的亮度，并可得到对正面方向的高出射光。
借着激光精密加工技术来制作形成特定凹凸的三种类型的模具(31)～(33)。于模具中注入折射率1.50的紫外线固化型树脂。接着，使注入的树脂固化后，从模具中取出，可得到23cm×31cm的光控制薄膜(31)～(33)(比较例21∽24的光控制薄膜)。
接着，和实施例17∽20一样测定光控制薄膜(31)～(33)凹凸面(光出射面)表面的高度数据。测定为，在各光控制薄膜上任意五处进行，使用所得之表面高度数据求出凹凸面的表面积(A2)，再算出与测定得知的凹凸面之正射影面积(A1)的比(Ar＝A2/A1)。另外，使用同一表面高度数据，借上述式(5)算出Ask。关于光控制薄膜(31)～(33)所得之结果如表二十一所示(倾斜单位为[度])。
[表二十一] 由表二十一可知，比较例12∽14之光控制薄膜(31)∽(33)，在所有的测定点上的面积比Ar都大于等于1.2小于等于2.5。然而，所有的Ask大于1.2。
接着，将光控制薄膜(31)～(33)的光控制薄板组装到15英寸侧边型背照光装置(冷阴极荧光灯上下各一灯)上，并测定正面亮度。亦即是，使光控制薄膜(31)～(33)的凹凸面作为光出射面，并将其设置于导光板上，测定位于背照光装置上中央的光源(冷阴极荧光灯)，以及位于平行方向与垂直方向每个出射角度的亮度(一英寸＝2.54cm)。光控制薄膜(31)～(33)所得之结果如表二十二所示(单位为[cd/m2]。
[表二十二] 由表二十二的结果可知，在将比较例12∽14的光扩散性薄板组装到背照光装置时，其正面亮度并不足够。
(比较例15∽17) 借着激光精密加工技术来制作形成特定凹凸的三种类型的型(34)～(36)。
于模具中注入折射率1.50的紫外线固化型树脂。接着，使注入的树脂固化后，从模具中取出，可得到23cm×31cm的光控制薄膜(34)～(36)(比较例15∽17的光控制薄膜)。
接着，和实施例一样测定光控制薄膜(34)～(36)凹凸面(光出射面)表面的高度数据。测定为，在各光控制薄膜上任意五处进行，使用所得之表面高度数据求出凹凸面的表面积(A2)，再算出与测定得知的凹凸面之正射影面积(A1)的比(Ar＝A2/A1)。另外，使用同一表面高度数据，借上述式(6)测定出Aku。关于光控制薄膜(34)～(36)所得之结果如表二十三所示(倾斜单位为[度])。
[表二十三] 由表二十三可知，实施例15∽17之光控制薄膜，在所有的测定点上的面积比Ar都大于等于1.2小于等于2.5。然而，所有的Aku皆小于1.5或大于5.0。
接着，将光控制薄膜(34)～(36)的光控制薄板组装到15英寸侧边型背照光装置(冷阴极荧光灯上下各一灯)上，并测定正面亮度。亦即是，使光控制薄膜(34)～(36)的凹凸面作为光出射面，并将其设置于导光板上，测定位于背照光装置上中央的光源(冷阴极荧光灯)，以及位于平行方向与垂直方向每个出射角度的亮度(一英寸＝2.54cm)。光控制薄膜(34)～(36)所得之结果如表二十四所示(单位为[cd/m2]。
[表二十四] 由表二十四的结果可知，在将比较例15∽17的光扩散性薄膜组装到背照光装置时，其正面亮度并不足够。
(比较例18∽19) 对于市售的光扩散性薄板(比较例18∽19)，与实施例一样，在薄膜上任意五处测定凹凸面(光出射面)的表面高度数据，并求出凹凸面的表面积(A2)，然后算出与所测定的凹凸面正射影之面积(A1)的比(Ar＝A2/A1)。另外，使用同一表面高度数据，求出上述式(5)所示的Ask和上述式(6)所示的Aku。关于比较例18∽19的各光控制薄板所得之结果如表二十五所示。
[表二十五] 从表二十五可以得知，比较例18∽19之光控制薄板，在所有的测定点上的面积比Ar不达到大于等于1.2小于等于2.5。
接着，将比较例18∽19的光控制薄板组装到15英寸侧边型背照光装置(冷阴极荧光灯上下各一灯)上，并测定正面亮度。亦即是，比较例18∽19的光扩散薄板的凹凸面作为光出射面，并将其设置于导光板上，测定位于背照光装置上中央的光源(冷阴极荧光灯)，以及位于平行方向与垂直方向每个出射角度的亮度(一英寸＝2.54cm)。结果如表二十六所示。
[表二十六] 由表二十六的结果可知，在将以往的光扩散性薄板组装到背照光装置时，并无法得到良好的正面亮度。
另外，关于实施例1∽24的光控制薄膜，将测定将其凹凸面上的曲面法线投影至基准面时的正射影，以及与已测定之大致正方形区域一边所成之角度(φ)(-180度＜φ≤180度＝的平均(φave)之绝对值。具体而言，关于实施例1∽24的光控制薄膜上任意一处所测定之正方形区域(1mm×1mm)，与实施例1∽24一样测定表面形状，再以所测定之高度数据为基础，绘制了类似的凹凸面的曲面。分别求出将此曲面之预先定好的特定多个地点的法线投影到基准面时的正射影，以及与已设定之正方形区域的预先定好的一个边所形成之角度(φ)；算出其平均φave后，再求其绝对值。实施例中1∽24的每一个光控制薄膜，其φave的绝对值也都在5度以下。另外，将所设定之正方形区域的中心为旋转轴，使其在薄膜内旋转，所测定的高度数据，不偏于正方形区域的方向，φave的绝对值也在5度以下。
作为一代表例，可以举出实施例1，9，17的光控制薄膜，图10四表示了在这些光控制薄膜上，使所设定的正方形区域方向每十度旋转一次的时候，其φave的绝对值的变化。在图10四中，纵轴表示φave的绝对值，横轴表示从正方区域初始位置的方向(度)，粗线1401为实施例一，细线1402为实施例九，虚线1403为实施例十七的光控制薄膜。从图10四可以得知，不论是实施例1，9，17的光控制薄膜的φave的绝对值，最大都不满0.5，并且φave的绝对值为5度以下。
由于像实施例1∽24的光控制薄膜中，所设定的正方形区域不论其方向为，φave的绝对值都在5度以下，所以在组装到背照光装置时，也不会产生闪光。
从以上的实施例也可以清楚的了解，实施例的光控制薄膜，借着使其凹凸面满足了特定的构造，为一不但具有良好的正面亮度，也具备了适当的光扩散性之物。另外，借着将这般的光控制薄膜组装到背照光装置中，可以使其成为一具有高正面亮度，不会发生闪光与干涉图形的背照光装置。



[图1]表示本发明光控制薄膜实施方式的断面图。
[图2-1]本发明中为模拟因形状导致的出射角特性的不同而使用的三维凸部形状的断面图。[图2-2]本发明中为模拟因形状导致的出射角特性的不同而使用的三维凸部形状的一例的图。
[图3]表示在本发明实施方式上，改变凸部形状而进行三维模拟实验结果的图。
[图4]表示在本发明实施方式上，改变凸部形状而进行三维模拟实验结果的图。
[图5]表示在本发明实施方式上，改变凸部形状而进行三维模拟实验结果的图。
[图6]表示在本发明实施方式上，改变凸部形状而进行三维模拟实验结果的图。
[图7]表示在本发明实施方式上，改变凸部形状而进行三维模拟实验结果的图。
[图8]表示在本发明实施方式上，改变凸部形状而进行三维模拟实验结果的图。
[图9]表示在本发明实施方式上，改变凸部形状而进行三维模拟实验结果的图。
[图10]表示在本发明实施方式上，改变凸部形状而进行三维模拟实验结果的图。
[图11]表示本发明的光控制薄膜凹凸面之一例的斜视图。
[图12]表示本发行背照光装置的一实施方式的图。
[图13]表示本发行背照光装置的一实施方式的图。
[图14]表示关于实施例1，9，17的光控制薄膜所测定的φav的绝对值与所设定的正方形区域方向关系之图。
符号说明 10…光控制薄膜 11…基底材料 12…凹凸层 140…侧边型背照光装置 150…直下型背照光装置
权利要求
1.一种光控制薄膜，具有凹凸面，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)，在所述光控制薄膜的实质上所有的地点上，皆大于等于27度小于等于70度。
2.一种光控制薄膜，具有由凹凸层构成的凹凸面，该凹凸层是由特定折射率n的材料所形成的，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)，在所述光控制薄膜的实质上所有的地点上，都大于等于(59-20n)度小于等于70度。
3.一种光控制薄膜，具有凹凸面，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)，以及所述大致正方形区域的面积(A1)与所述近似了的凹凸面上曲面表面积(A2)的比(Ar＝A2/A1)实质上在所有地点上，都满足下式(1)或(2)，
θnv÷Ar≥22 …(1)
30≤θnv×Ar≤140…(2)。
4.一种光控制薄膜，具有由凹凸层构成的凹凸面，该凹凸层是由特定折射率n的材料所形成的，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)，以及所述大致正方形区域的面积(A1)与所述近似了的凹凸面上曲面表面积(A2)的比(Ar＝A2/A1)实质上在所有地点上，都满足下式(3)或(4)，
θnv÷Ar×n2≥35 …(3)
60≤θnv×Ar×n2≤350…(4)。
5.一种光控制薄膜，具有凹凸面，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)大于等于27度小于等于70度；并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(5)所算出的数值(Ask)的绝对值小于等于1.2之条件，
[式一]
(式(5)中zi为从被测定的表面高度减去凹凸面的平均面的高度后的值，m表示测定点的数)。
6.一种光控制薄膜，具有由凹凸层构成的凹凸面，该凹凸层是由特定折射率n的材料所形成的，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)大于等于(59-20n)度小于等于70度；并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(5)所算出的数值(Ask)的绝对值小于等于1.2之条件，
[式二]
(式(5)中zi为从所测定的表面高度减去凹凸面的平均面高度后的值，m表示测定点的数)。
7.一种光控制薄膜，具有凹凸面，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)大于等于27度小于等于70度；并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(6)所算出的数值(Ask)的绝对值大于等于1.5小于等于5.0之条件，
[式三]
(式(6)中zi为从所测定的表面高度减去凹凸面的平均面高度后的值，m表示测定点的数)。
8.一种光控制薄膜，具有由凹凸层构成的凹凸面，该凹凸层是由特定折射率n的材料所形成的，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)大于等于(59-20n)度小于等于70度；并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(6)所算出的数值(Ask)的绝对值大于等于1.5小于等于5.0之条件，
[式四]
(式(6)中zi为从所测定的表面高度减去凹凸面的平均面高度后的值，m表示测定点的数)。
9.一种光控制薄膜，具有凹凸面，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述大致正方形区域的面积(A1)与所述近似了的凹凸面上曲面表面积(A2)的比(Ar＝A2/A1)大于等于1.2小于等于2.5，并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(5)所算出的数值(Ask)的绝对值小于等于1.2之条件，
[式五]
(式(5)中zi为从所测定的表面高度减去凹凸面的平均面高度后的值，m表示测定点的数)。
10.一种光控制薄膜，具有由凹凸层构成的凹凸面，该凹凸层是由特定折射率n的材料所形成的，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述大致正方形区域的面积(A1)与所述近似了的凹凸面上曲面表面积(A2)的比(Ar＝A2/A1)大于等于(2-0.5n)小于等于2.5，并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(5)所算出的数值(Ask)的绝对值小于等于1.2之条件，
[式六]
(式(5)中zi为从所测定的表面高度减去凹凸面的平均面高度后的值，m表示测定点的数)。
11.一种光控制薄膜，具有凹凸面，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述大致正方形区域的面积(A1)与所述近似了的凹凸面上曲面表面积(A2)的比(Ar＝A2/A1)大于等于1.2小于等于2.5，并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(6)所算出的数值(Ask)的绝对值大于等于1.5小于等于5.0之条件，
[式七]
(式(6)中zi为从所被测定的表面高度减去凹凸面的平均面高度后的值，m表示测定点的数)。
12.一种光控制薄膜，具有由凹凸层构成的凹凸面，该凹凸层是由特定折射率n的材料所形成的，其特征在于在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述大致正方形区域的面积(A1)与所述近似了的凹凸面上曲面表面积(A2)的比(Ar＝A2/A1)大于等于(2-0.5n)小于等于2.5，并且，在所述光控制薄膜的实质上所有地点上，满足使用所有所述凹凸面的高度数据而由式(6)所算出的数值(Ask)的绝对值大于等于1.5小于等于5.0之条件，
[式八]
(式(6)中zi为从所测定的表面高度减去凹凸面的平均面高度后的值，m表示测定点的数)。
13.根据权利要求1至12中任何一项所记载的光控制薄膜，其特征在于所述凹凸面上的曲面的法线在所述基准面上的正射影与所述大致正方形区域的一边所成之角度(φ)(-180度＜φ≤180度)的平均(φave)的绝对值即使是在把所述大致正方形区域设定在所述凹凸面内的任一方向而取得时，都小于等于5度。
14.一种背照光装置，具备至少在一端部配置光源，以与所述一端部大致正交的面为光出射面的导光板；以及配置在所述导光板的光出射面上的光控制薄膜，其特征在于作为所述光控制薄膜，使用了权利要求1至13中任何一项记载的光控制薄膜。
15.根据权利要求14记载的背照光装置，其特征在于在所述光控制薄膜与所述导光板之间使用了散光板。
16.一种背照光装置，具备光源；配置于所述光源一侧的光扩散板；以及配置于所述光扩散板的、所述光源以外的一侧的光控制薄膜，其特征在于作为所述光控制薄膜，使用了权利要求1至13中任何一项记载的光控制薄膜。
全文摘要
本发明提供可以力求提高正面亮度，并具备适当的光扩散性，没有干涉图形和闪光问题的光控制薄膜。它具有凹凸面的光控制薄膜(10)，其构成为，在所述凹凸面上任意地点上所设定的面积1mm2或1mm2以上的大致正方形区域中，就采用在所述大致正方形区域的纵向与横向分别按特定的每一间隔所测定的所述凹凸面的高度数据来近似而得到的所述凹凸面之上的曲面而言，所述凹凸面上的曲面对薄膜的基准面的倾斜的平均(θnv)，在所述光控制薄膜的实质上所有的地点上，皆大于等于27度小于等于70度。
文档编号F21V8/00GK1926448SQ200580006429
公开日2007年3月7日 申请日期2005年3月2日 优先权日2004年3月3日
发明者饵取英树 申请人:木本股份有限公司