专利名称：偏光薄膜的分类系统以及分类方法
技术领域：
本发明涉及偏光薄膜的分类系统以及分类方法，用于将已在其中一部分上标有表 示缺陷部分的记号的多个偏光薄膜分类成标有表示缺陷部分的记号的偏光薄膜和没有标 有上述记号的偏光薄膜。
背景技术：
偏光薄膜通常被制造成具有一定宽度的长带状，在此状态下对其进行各种处理并 卷绕到滚筒上作为卷筒薄膜(全幅的偏光薄膜)。然后，通常是卷筒薄膜从滚筒被拉出，并 按照产品规格从被拉出的卷筒薄膜切割出规定形状的多个片状薄膜(切割成多个产品的 偏光薄膜)。并且，在带状的状态下利用缺陷检测装置来对偏光薄膜进行缺陷检测，并在偏光 薄膜的已被检测的缺陷部位的附近位置上，用毡笔或喷墨等来做记号，以便在后续工序中 容易识别缺陷部分(例如参照专利文献1)。根据上述技术，当从卷筒薄膜切割出的片状薄膜上存在缺陷部分时，即使是肉眼 难以识别的缺陷部分，由于在其附近位置上标有记号，因此用肉眼也能够容易识别缺陷的 存在，能够容易将有缺陷的片状薄膜作为不合格品从产品中去除。然而，在上述已有技术中，在缺陷检查后的工序中，在将卷筒薄膜从滚筒拉出、并 将拉出的卷筒薄膜切割成规定形状的多个片状薄膜后，需要通过肉眼来判别含有记号的片 状薄膜，并通过人力来去除含有记号的片状薄膜。[专利文献1]日本发明专利公开公报“2001-305070号公报”(
公开日2001年10 月31日)
发明内容
本发明鉴于上述问题而成，其目的在于提供一种偏光薄膜的分类系统以及分类方 法，能够不用人力而是自动地将标有记号的片状薄膜与没有标记号的片状薄膜分类。为了解决上述问题，本发明涉及的偏光薄膜的分类系统是进行对于一部分标有记 号的多个偏光薄膜的分类的分类系统，其特征在于，具有摄像机构，其对上述多个偏光薄 膜的图像进行摄像；记号检测机构，其基于由上述摄像机构摄像的图像来检测在上述偏光 薄膜上存在的记号，并输出表示记号位置的记号检测信号；判断机构，其基于上述记号检测 信号来判断上述各偏光薄膜上是否标有记号；以及分类机构，其基于上述判断机构的判断 结果而将上述多个偏光薄膜分类成标有记号的偏光薄膜和没有标记号的偏光薄膜。根据上述构成，能够不用人力而是自动地将标有记号的片状薄膜与没有标记号的 片状薄膜分类。在本发明涉及的分类系统中，上述多个偏光薄膜是通过在对偏光薄膜进行检查并 在缺陷部分的附近位置标上记号后将偏光薄膜切割成多个偏光薄膜而得到的，上述摄像机 构是在上述多个偏光薄膜隔开间隔地并排输送的状态下进行摄像的，本发明的分类系统还具有薄膜间隔检测机构，该薄膜间隔检测装置对上述偏光薄膜之间的间隔的位置进行检 测，且输出表示间隔的位置的薄膜间隙检测信号，上述判断机构基于上述记号检测信号和 上述薄膜间隔检测信号来判断上述各偏光薄膜上是否标有记号。根据上述构成，能够自动进行连续地分类，从而能够从隔开间隔并排地连续被输 送的多个偏光薄膜中去除含有表示缺陷部分的记号的偏光薄膜。在本发明涉及的分类系统中，优选为，如果上述记号检测信号中对应于记号的脉 冲和上述薄膜间隔检测信号中对应于间隔的脉冲在时间轴上相邻接，则上述判断机构判断 为隔着该间隔的2个偏光薄膜上标有记号。根据上述构成，即使记号在切割时被不均勻地切断，也能够判断在两个偏光薄膜 上都存在记号。从而，例如即使记号在其端部刚好被切断，也能够将那个含有被切割成较小 的部分记号的偏光薄膜判断为含有表示缺陷部分的记号的偏光薄膜，能够防止将含有缺陷 部分的偏光薄膜分类到合格品中。在本发明涉及的分类系统中，如果使上述记号检测信号中的脉冲沿时间轴方向的 前后伸长、且上述薄膜间隔检测信号中对应于间隔的脉冲全部与上述伸长后的脉冲重叠， 则上述判断机构判断为在隔着该间隔的2个偏光薄膜上标有记号。根据上述构成，即使由于在偏光薄膜的端部附有异物等而导致在时间轴上在与薄 膜间隔检测信号中对应于间隔的脉冲相邻接的位置上存在脉冲宽度较小的脉冲，也能够防 止误判断为隔着该间隔的2个偏光薄膜上存在记号。为了解决上述问题，本发明涉及的偏光薄膜的分类方法是进行对于一部分标有记 号的多个偏光薄膜的分类的分类方法，其特征在于，具有对上述多个偏光薄膜的图像进行 摄像的步骤；基于所摄像的图像来检测在上述偏光薄膜上存在的记号，而得到表示记号位 置的记号检测信号的步骤；基于上述记号检测信号来判断上述各偏光薄膜上是否标有记号 的步骤；以及基于上述判断的结果而将上述多个偏光薄膜分类成标有记号的偏光薄膜和没 有标记号的偏光薄膜的步骤。根据上述方法，能够不用人力而是自动地将标有记号的片状薄膜和没有标记号的 片状薄膜分类。本发明的其它目的、特征以及优点，将通过以下公开的内容而能够得到充分了解。 本发明的有益效果通过结合附图的以下说明而变得清楚。
图1是表示本发明一个实施方式涉及的偏光薄膜的分类系统的概要构成的示意 图。图2是表示从上述分类系统的图像处理装置输出的薄膜间隙检测信号以及记号 检测信号的一例的信号波形图。图3是表示从上述分类系统的图像处理装置输出的薄膜间隙检测信号、记号检测 信号、以及将记号检测信号沿时间轴方向伸长而形成的信号的一例的信号波形图。
具体实施例方式[实施方式1]
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以下，基于图1及图2来说明本发明的一个实施方式。图1是表示本发明一个实施方式涉及的偏光薄膜的分类系统的概要构成的示意图。该分类系统检测在偏光薄膜上标的记号，并根据检测结果对偏光薄膜进行分类， 且如图1所示，其具有滚筒2、输送辊4、5、编码器6、光源7、作为摄像机构的CCD(电荷耦 合器件)摄像机8、作为薄膜间隔检测机构以及记号检测机构的图像处理装置9、作为判断 机构的PLC(可编程逻辑控制器)10、以及作为分类机构的分类装置11。标有记号的偏光薄膜作为全幅的偏光薄膜、即卷筒薄膜1被提供给该分类系统。 对偏光薄膜没有特别限定，只要是具有透光性的即可，既可以是只由偏光子薄膜层构成的 单层薄膜，也可以是偏光子薄膜层与其它层层叠而成的层叠薄膜。对偏光子薄膜层的构成 材料没有特别限定，例如可以是在聚乙烯咔唑系树脂上吸附配向二色性色素的材料。对于 上述其它层没有特别限定，例如可以举出粘接剂层、保护膜层、剥离膜层、相位差薄膜层等。 卷筒薄膜1的尺寸例如可以设定为宽度1500mm、长度1000m。对于卷筒薄膜1，通过前道工序的由未图示的缺陷检测装置进行的检查而检测出 伤痕、不均勻处、异物、污迹、气泡等缺陷，且为了表示出卷筒薄膜(全幅偏光薄膜)的缺陷 位置，通过前道工序的未图示的划线装置或人力，在卷筒薄膜1上的缺陷部分的附近位置 标上记号，并且将该卷筒薄膜1卷绕到滚筒2上进行保管。对于在卷筒薄膜1上标的记号并无特别限定，只要是能够被CXD摄像机8捕捉到 的记号即可。对于在卷筒薄膜1标上记号的方法并无特别限定，可以采用公知的各种方法， 例如可举出如下方法等，即日本发明专利公开2001-305070号公报公开的方法，该方法通 过采用了毡笔(例如市面上销售的“魔法笔(注册商标)”)的划线装置或喷墨式划线装置 等划线装置来自动地在偏光薄膜的缺陷部分的附近位置标上有色记号(黑色记号或彩色 记号等)；人工地利用毡笔在偏光薄膜的缺陷部位的附近位置标上有色记号的方法；利用 划线装置或人工地利用荧光笔在偏光薄膜的缺陷部位的附近位置标上荧光记号的方法；针 对偏光薄膜的缺陷部位的附近位置，利用划线装置或人工地在偏光薄膜的缺陷部位的附近 位置表面上划出伤痕来作为记号的方法。对卷筒薄膜1标上记号时，在将卷筒薄膜1的整 个面分割成棋盘格子状的多个矩形区域，且在各矩形区域内存在缺陷时，在该缺陷的附近 标上记号即可。对于在卷筒薄膜1上标记的记号的形状及位置并无特别限定，最适合的是例如日 本发明专利公开2001-305070号公报记载的那样，针对偏光薄膜的缺陷部分，在偏光薄膜 的宽度方向两侧的预定范围的附近位置标上的2根线状记号。当在卷筒薄膜1上标的记号 是线状记号时，其长度方向可以是任意方向。对于记号的尺寸也无特别限定，例如可以设定 为长度2cm、宽度2mmο卷筒薄膜1从滚筒2被拉出，并向在滚筒2与输送辊4、5之间配置的未图示的切 断装置被输送，且被未图示的薄膜切断装置切割成多个规定尺寸的矩形断片即片状薄膜3。通过切割而得到的多个片状薄膜3相互之间隔开间隔地排列，且被输送辊4、5以 及未图示的传送带输送到分类装置11。对于相邻的片状薄膜3之间的间隔并无特别限定， 例如可以设定为5mm。对于片状薄膜3的输送速度无特别限定，例如可以设定为200mm/ s(12m/min)。当片状薄膜3之间的间隔为5mm、片状薄膜3的输送速度为200mm/s时，片状 薄膜3之间的间隔(间隙)通过由CXD摄像机8摄像的1点所需的时间为0. 025秒。
当在卷筒薄膜1标上的记号为有色记号或伤痕之类的可视记号时，作为光源7，使 用发射出可视光的光源、例如白色灯或荧光等即可。另外，当在卷筒薄膜1标上的记号为荧 光记号时，作为光源7，使用紫外线灯等即可。在片状薄膜3被输送的状态下，从在输送辊4、5之间且在片状薄膜3下方配置的 光源7向片状薄膜3照射光，且利用在片状薄膜3上方配置的CCD摄像机8来对片状薄膜 3的透射图像进行摄像并转换成图像信号，并从CCD摄像机8输出到图像处理装置9。对于CCD摄像机8无特别限定，例如可以是线阵传感器，该线阵传感器的析像度为 250 μ m/像素，X方向(与片状薄膜3的输送方向正交且与片状薄膜3平行的方向)的摄像 尺寸为6000像素(X方向的视野尺寸为1500mm)，摄像机时钟为40MHz，扫描速率为10000 脉冲，扫描速度为4000次扫描/秒，捕捉时间为0. 008秒，每一次捕捉的Y方向(片状薄膜 3的输送方向)摄像尺寸为32像素的量即1.6mm。不过，也可以采用利用除CXD以外的摄 像元件的摄像机，来取代CCD摄像机8。另外，对于CCD摄像机8输出的图像信号的形态没 有特别限定，例如可以是256灰度等级的数字图像信号。图像处理装置9通过对从CXD摄像机8输出的图像信号进行图像处理，将该图像 信号转换成3个通道的二值信号即记号检测信号CH0、CH1以及薄膜间隔检测信号CH2。图 像处理装置9例如通过安装有图像处理软件的个人电脑来实现。图像处理装置9基于从CXD摄像机8输出的图像信号，对从与输送方向相反的方 向看时(从分类装置11侧观看)位于左侧的片状薄膜3上存在的记号进行检测，且输出表 示记号位置的记号检测信号CH0。记号检测信号CHO是在左侧一列的片状薄膜3上进行记 号检测的过程中成为ON电平(高电平)的二值信号，从而包含与左侧一列的片状薄膜3上 的记号相对应的脉冲。记号检测信号CHO在例如从CXD摄像机8输出的、与左侧一列的片 状薄膜3相对应的部分的图像信号的灰度值为阈值(例如，图像信号为具有0 255灰度 值的数字信号时为64)以下时成为高电平，且在从CCD摄像机8输出的图像信号的灰度值 超过阈值时成为低电平。图像处理装置9基于从CXD摄像机8输出的图像信号，对从与输送方向相反的方 向观看时(从分类装置11侧观看)位于右侧的片状薄膜3上存在的记号进行检测，且输出 表示记号位置的记号检测信号CH1。记号检测信号CHl是在右侧一列的片状薄膜3上进行 记号检测的过程中成为ON电平(高电平)的二值信号，从而包含与右侧一列的片状薄膜3 上的记号相对应的脉冲。记号检测信号CHl在例如从CXD摄像机8输出的、与右侧一列的 片状薄膜3相对应的部分的图像信号的灰度值为阈值(例如，图像信号为具有0 255灰 度值的数字信号时为64)以下时成为高电平，且在从CCD摄像机8输出的图像信号的灰度 值超过阈值时成为低电平。图像处理装置9基于从CXD摄像机8输出的图像信号来检测片状薄膜3之间的间 隔(间隙、薄膜间隔)的位置，并输出表示间隔的位置的薄膜间隔检测信号。记号检测信号 CH2是在片状薄膜3间的间隔检测过程中成为ON电平(高电平)的二值信号，从而包含与 片状薄膜3之间的间隔相对应的脉冲。记号检测信号CH2在例如从CCD摄像机8输出的、 与右侧一列的片状薄膜3相对应的部分的图像信号的灰度值为阈值(例如，图像信号为具 有0 255灰度值的数字信号时为214)以上时成为高电平，而在从CCD摄像机8输出的图 像信号的灰度值低于阈值时成为低电平。图2中示出记号检测信号CH0、CH1以及薄膜间隔检测信号CH2的例子。图像处理装置9将包含记号检测信号CH0、CH1以及薄膜间隔检测信号CH2的处理 输入输出(PIO)信号向PLClO输出。在例如CXD摄像机8是上述例子中的线阵传感器时， 图像处理装置9输出的记号检测信号CH0、CH1以及薄膜间隔检测信号CH2的更新周期可以 设定为8msοPLClO基于从图像处理装置9得到的记号检测信号CH0、CH1以及薄膜间隔检测信 号CH2，来判断各片状薄膜3上是否标有记号。即，PLClO根据薄膜间隔检测信号CH2中与 薄膜间隔(以及外侧的没有薄膜的部分)相对应的脉冲之间是否存在记号检测信号CH0、 CHl中与记号相对应的脉冲，来判断各片状薄膜3上是否标有记号。进而，PLClO基于从编 码器6输出到PLClO的、表示片状薄膜3的输送速度的速度信号，来判断标有记号的片状薄 膜3是否处于分类装置11的位置上，并根据其判断结果来控制分类装置11。分类装置11基于PLClO的判断结果来将多个片状薄膜3分类成标有记号的片状 薄膜3和没有标记号的片状薄膜3，且将标有记号的片状薄膜3作为不合格品而从产品(合 格品)中去除，并将没有标记号的片状薄膜3作为产品。这样，在本实施方式中，能够不用人力而是自动地将标有记号的片状薄膜与没有 标记号的片状薄膜分类。[实施方式2]以下，基于图1及图3来说明本发明的另一个实施方式。为了便于说明，对具有与 上述实施方式1中所示的各部件相同功能的部件均标注相同符号并省略其说明。在卷筒薄膜1标上的记号在切割时被不均等地切断，其结果记号跨越2个片状薄 膜3而存在的情况下，如图3所示，在记号检测信号CHl中，与被切断的记号中较小的那部 分记号相对应的脉冲(用虚线表示的脉冲)消失，而只有与被切断的记号中较大的那部分 记号相对应的脉冲(位于用虚线表示的脉冲的右边的用实线表示的脉冲)存在。在这种场 合下，如果采用实施方式1的单纯判断为在与记号检测信号CHO、CHl的脉冲相对应的片状 薄膜3上存在记号的方法，则对于标有被切断的记号中较小的那部分记号的片状薄膜3，不 能检测出该片状薄膜3上标有记号的情况，而有可能将标有该较小的记号的片状薄膜3误 判断为合格品。因此，有可能将包含缺陷部分的片状薄膜3分类到合格品一方，使包含缺陷 部分的片状薄膜3向合格品一方流出。为此，本实施方式2涉及的发明目的在于提供一种分类方法，即使切割时将记号 不均等地切断而导致较小的那部分记号难以检测，也能够可靠地将存在该较小记号的片状 薄膜3作为不合格品去除。本实施方式涉及的分类系统与图1所示的实施方式1涉及的分类系统相比，只有 PLClO判断各片状薄膜3上是否存在记号的判断方法不同。本实施方式涉及的分类系统为了实现上述目的，在与片状薄膜3之间的间隔相对 置的片状薄膜3的端部上存在记号时，PLClO则判断为隔着间隙与该端部相邻接的另一个 片状薄膜3上也存在记号，且两个片状薄膜3上都标有记号。即，如果记号检测信号CHO、CHl 中对应于记号的脉冲和薄膜间隙检测信号CH2中对应于间隙的脉冲在时间轴上相邻接，则 PLClO判断为隔着该间隔的2个片状薄膜3上都标有记号。这样，即使当记号在切割时被不均等地切断时，例如记号刚好在其端部被切断时，也能够判断两个片状薄膜3上都存在记号。从而，即使在如上述的场合，也能够将含有被切 断成较小记号的片状薄膜3判断为标有表示缺陷部分的记号的片状薄膜3，并能够防止使 含有缺陷部分的片状薄膜3向合格品一方流出的错误发生。PLClO的上述判断方法优选为通过以下方法来实现，即PLC10使记号检测信号 CHO、CHl中的脉冲沿时间轴方向的前后伸长，且将使脉冲沿时间轴方向的前后伸长后的记 号检测信号CHO’、CH1’与薄膜检测信号CH2进行比较，如果间隙检测信号CH2中与间隔相 对应的脉冲全体与沿时间轴方向的前后伸长后的记号检测信号CHO’、CH1’的脉冲重叠，则 判断为隔着该间隔的两个片状薄膜3双方都标有记号。即，优选为，如果薄膜间隔检测信号 CH2中与间隔相对应的脉冲全体与沿时间轴方向的前后伸长后的记号检测信号CHO’、CH1’ 的脉冲重叠，则PLClO判断为在与伸长前的脉冲相对应的片状薄膜3上标有记号，并且判断 为在隔着间隔与该片状薄膜3相邻接的片状薄膜3上也存在记号。还可以考虑过通过以下方法来实现PLClO的上述判断方法，即在上述记号检测 信号CHO、CHl中，如果在时间轴上在与薄膜间隔检测信号CH2中的间隔相对应的脉冲相邻 接的位置上存在脉冲，则PLClO无条件地判断为在隔着该间隔的两个片状薄膜3上都标有 记号。然而，在上述方法中，即使是因片状薄膜3的端部附有异物等而导致在时间轴上与薄 膜间隔检测信号CH2中的间隔相对应的脉冲相邻接的位置上存在脉冲宽度较小的脉冲的 情况下，也有可能误判断为在隔着该间隔的2个偏光薄膜3上都标有记号。相对于此，根据上述的使记号检测信号CHO、CHl中的脉冲沿时间轴方向的前后伸 长的方法，即使是因片状薄膜3的端部附有异物等而导致在时间轴上与薄膜间隔检测信号 CH2中的间隔相对应的脉冲相邻接的位置上存在脉冲宽度较小的脉冲的情况下，也不会误 判断为隔着该间隔的2个片状薄膜3上都标有记号。从而，通过上述方法能够将记号与附 着在片状薄膜3端部的异物等周边缺陷识别并进行检测。不过，特别是，在片状薄膜3是由隔着粘接剂(浆糊)层的多个薄膜层构成的多层 结构时，常常会有粘接剂从其端部溢出并导致该粘接剂上附着异物的情况发生，其结果常 常会在片状薄膜3的端部附着异物。作为使记号检测信号CHO、CHl的脉冲沿时间轴方向的前后伸长的方法，能够采用 各种公知的方法，例如采用以下方法即可。S卩，首先根据使脉冲向时间轴方向的后方伸长的 量而相应地使记号检测信号CHO、CHl中的脉冲的后沿延迟，由此使记号检测信号CHO、CHl 中的脉冲向时间轴方向的后方伸长。为了使记号检测信号CHO、CHl中的脉冲的后沿延迟， 例如可以使用以比脉冲宽度更长的时间来保持振幅电压的电路。另外，要使记号检测信号 CHOXHl中的脉冲向时间轴方向的前方(过去)伸长，不可能只通过记号检测信号CH0、CH1 的信号处理来直接实现，但能够通过根据使脉冲向时间轴方向的前方伸长的量而相应地使 薄膜间隔检测信号CH2延迟，并且根据使脉冲向时间轴方向的前方伸长的量而相应地使记 号检测信号CH0、CH1中的脉冲的后沿延迟来间接地实现。使记号检测信号CH0、CH1中的脉 冲沿时间轴方向的前后伸长的幅度可以根据能够由CCD摄像机8及图像处理装置9检测到 的最小的记号长度以及在卷筒薄膜1上划线(标记号)的位置精度来决定。(记号检测算法)并且，在由实施方式1和2的方法中的图像处理装置9来进行信号处理时，例如可 以采用以下的记号检测算法。
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首先，从由CXD摄像机8输出的图像信号中取出从值nXStart到值nXEnd为止的范 围，且将该范围的图像信号利用沿着Y方向延伸的分割线分割成η个部分，其中值nXStart 的X坐标被假设为处于片状薄膜3存在的范围内的左端，值nXEnd的X坐标被假设为处 于片状薄膜3存在的范围内的右端。此时，如果设沿X方向排列的片状薄膜3的数量为 nColumn(图1中是2)、且设将分割各片状薄膜3的分割线的数量为nLine，则分割数η为η = nColumnX (nLine+1)。nLine例如可以是3个。而且，通过针对各分割线求出灰度值，能够求出Y方 向的曲线。其中，通过片状薄膜3内的分割线数量是nColumnXnLine(条)。求出该 nColumnXnLine (条)曲线的平均曲线(薄膜内平均曲线)后存入数组中，并求出由Y坐 标的变化导致的灰度值(平均)的变化。并且，对于各分割部分的图像信号，将灰度值(平 均)在阈值nThresholdLight (例如214)以下的Y坐标的范围设为Y方向薄膜范围(ROI)。 这样能够求出Y方向薄膜范围。不过，对于各分割部分的图像信号，当发现了灰度值(平均)在阈值 nThresholdLight (例如214)以上的Y坐标的范围时，将表示发现薄膜间隔的标志设为1， 而当未发现灰度值(平均)在阈值nThresholdLight (例如214)以上的Y坐标的范围时， 将表示发现薄膜间隔的标志设为0。接着，用以下公式求出各片状薄膜3的X方向假设中心(各片状薄膜3的X方向 大致中心)nXCenter[k]nXCenter[k] = nXStart+((nXEnd-nXStart)/nColumn/2)X (2Xk+1)(k是满足0彡k彡nColumn-1的整数)另外，对于从CCD摄像机8输出的图像信号，求出X坐标相等的多个像素间的灰度 值平均(水平方向的平均曲线)，并求出X坐标的变化导致的灰度值(平均)的变化。并 且，基于由X坐标的变化导致的灰度值(平均)的变化，从各片状薄膜3的X方向临时中心 起到+X方向以及-X方向的各方向找出各片状薄膜3的边缘，由此求出各片状薄膜3的-X 方向侧边缘的坐标以及+X方向侧边缘的坐标。这样能够求出X方向薄膜范围。然后，在检查根据需要求出的Y方向薄膜范围以及X方向薄膜范围是否妥当后，基 于由X方向薄膜范围内的X坐标变化导致的灰度值(平均)变化，检测在哪个片状薄膜3 上存在记号。在基于由X方向薄膜范围内的X坐标变化导致的灰度值(平均)变化来检测 在哪个片状薄膜3上存在记号时，也可以使X方向薄膜范围内的X坐标变化导致的灰度值 (平均)变化平滑化，并求出X坐标每增大一个值后灰度值(平滑化后的灰度值)的增量， 且基于该增量如何因X方向薄膜范围内的X坐标变化而变化，来检测在哪个片状薄膜3上 存在记号。此外，在上述实施方式中，作为摄像片状薄膜3的图像的方法，采用从光源7向片 状薄膜3照射光，且用CCD摄像机8来摄像其透射图像的方法。但也可以是从光源7向片 状薄膜3照射光，且用CXD摄像机8来摄像其反射图像。这种方法不仅适用于透光性的片 状薄膜3，还适用于非透光性的片状薄膜3。另外，在上述实施方式中，卷筒薄膜1标上的记号可以通过由CXD摄像机8摄像的 片状薄膜3的透射图像来检测，但在用CCD摄像机8摄像片状薄膜3的反射图像的场合下， 卷筒薄膜1标上的记号也可以通过由CXD摄像机8摄像的片状薄膜3的反射图像来检测。
另外，在上述实施方式中，图像处理装置9将薄膜间隔检测信号CH2向PLClO输 出，PLClO基于记号检测信号CHO、CHl和薄膜间隔检测信号CH2来判断各片状薄膜3是否 含有记号。但也可以不用图像处理装置9输出薄膜间隔检测信号CH2，而是由薄膜切割装置 将表示切割定时的切割定时信号向PLClO输出，PLClO基于记号检测信号CHO、CHl和切割 定时信号来判断各片状薄膜3是否含有记号。另外，在上述实施方式中，在对卷筒薄膜1进行检查后在缺陷部分的附近位置标 上记号，然后将卷筒薄膜1切割成多个切片，并将所得到的多个切片(片状薄膜3)隔开间 隔并排输送，在此输送状态下由CXD摄像机8进行摄像。但也可以在将多个片状薄膜3 — 张一张地固定的状态下由CXD摄像机8进行摄像。另外，上述记号也可以不是在缺陷部分 的附近位置标上的记号，而是表示检查合格的记号。另外，薄膜检查也可以不是在切割之前 而是在切割之后进行。如上所述，本发明能够不用人力而是自动地将标有记号的片状薄膜与没有标记号 的片状薄膜分类。在用于实施发明的最佳方式各项中实施的具体实施方式
或实施例归根结底是为 了说明本发明的技术内容，不应狭义地解释为仅限于这种具体的例子，而是能够在本发明 的宗旨和权利要求书内进行各种变更来实施。将不同实施方式中分别公开的技术方案适当 组合后得到的实施方式也包括在本发明的技术范围内。产业上的可利用性本发明能够不依靠人力而是自动地进行偏光薄膜的分类，因此适用于偏光薄膜以 及利用偏光薄膜的各种产品的制造。
权利要求
一种分类系统，进行对于一部分标有记号的多个偏光薄膜的分类，其特征在于，具有摄像机构，其对上述多个偏光薄膜的图像进行摄像；记号检测机构，其基于由上述摄像机构摄像的图像来检测在上述偏光薄膜上存在的记号，并输出表示记号位置的记号检测信号；判断机构，其基于上述记号检测信号来判断上述各偏光薄膜上是否标有记号；分类机构，其基于上述判断机构的判断结果来将上述多个偏光薄膜分类成标有记号的偏光薄膜和没有标记号的偏光薄膜。
2.根据权利要求1所述的分类系统，其特征在于，上述多个偏光薄膜是通过对偏光薄膜进行检查并在缺陷部分的附近位置标上记号后 将偏光薄膜切割成多个切片而得到的，上述摄像机构是在上述多个偏光薄膜相互隔开间隔地并排输送的状态下进行摄像的， 上述分类系统还具有薄膜间隔检测装置，该薄膜间隔检测装置对上述偏光薄膜之间的 间隔的位置进行检测，且输出表示间隔的位置的薄膜间隔检测信号，上述判断机构基于上述记号检测信号和上述薄膜间隔检测信号来判断上述各偏光薄 膜上是否标有记号。
3.根据权利要求2所述的分类系统，其特征在于，如果上述记号检测信号中对应于记 号的脉冲和上述薄膜间隔检测信号中对应于间隔的脉冲在时间轴上相邻接，则上述判断机 构判断为隔着该间隔的2个偏光薄膜上标有记号。
4.根据权利要求3所述的分类系统，其特征在于，如果使上述记号检测信号中的脉冲 沿时间轴方向的前后伸长、且上述薄膜间隔检测信号中对应于间隔的脉冲全部与上述伸长 后的脉冲重叠，则上述判断机构判断为在隔着该间隔的2个偏光薄膜上标有记号。
5. 一种分类方法，进行对于一部分标有记号的多个偏光薄膜的分类，其特征在于，具有对上述多个偏光薄膜的图像进行摄像的步骤；基于所摄像的图像来检测在上述偏光薄膜上存在的记号，得到表示记号位置的记号检 测信号的步骤；基于上述记号检测信号来判断上述各偏光薄膜上是否标有记号的步骤； 基于上述判断的结果来将上述多个偏光薄膜分类成标有记号的偏光薄膜和没有标记 号的偏光薄膜的步骤。
全文摘要
本发明提供一种偏光薄膜的分类系统以及分类方法。该分类系统进行对于一部分标有记号的多个片状薄膜(3)的分类，且具备摄像图像的CCD摄像机(8)；基于由CCD摄像机(8)摄像的图像来检测在片状薄膜(3)上存在的记号，并输出表示记号位置的记号检测信号(CH0、CH1)的图像处理装置(9)；基于记号检测信号(CH0、CH1)来判断片状薄膜(3)上是否标有记号的PLC(10)；以及基于PLC(10)的判断结果来将上述多个片状薄膜(3)分类成标有记号的片状薄膜(3)和没有标记号的片状薄膜(3)。由此，本发明能够不用人力而是自动地分类成标有记号的片状薄膜和没有标记号的片状薄膜。
文档编号B65H43/00GK101980797SQ200980111169
公开日2011年2月23日 申请日期2009年3月26日 优先权日2008年3月31日
发明者广濑修, 篠塚淳彦 申请人:住友化学株式会社