专利名称：自动调节卷盘绕线机返回位置的系统和方法
背景技术：
发明领域本发明一般涉及改进将光纤绕到卷盘上的系统和方法，特别涉及在盘缘上控制返回位置的系统和方法的诸有利方面。
现有技术的说明在典型的现有技术绕线机中，光纤绕到卷盘在一对盘缘之间长度方向上下旋转的筒上，绕制过程的控制长期以来是个问题。一个特别严重的问题是控制返回位置，即各凸缘上卷盘相对于光纤作横向运动被逆反的那个点。
理想情况下，返回应当出现在光纤刚抵达某凸缘的那一点。因此，返回位置通常是根据标准尺寸的卷绕盘用已知厚度的凸缘预置的。然而，由于卷盘制造中的可变性，对于特定的凸缘而言，返回位置可能不完全正确。若返回过慢，会在凸缘上累积多余的光纤，导致所谓的“抗拉”(dogbone)状态；若返回出现过早，则在凸缘上造成空隙。若返回过早，可能出现的另一种状态就是“级联”状态，光纤以非均匀的螺旋状绕在卷盘上。任何一种这样的状态都会使光纤不均匀地绕在凸缘上。这类错误状态在光纤制造中特别明显，卷盘的错误绕制会对光纤性能产生有害的影响。
现有技术系统通常只作人工介入，操作员根据观察到的“抗拉”或凸缘空隙状况控制卷盘的返回点。然而，该方法的缺点有多种原因。首先，对于抗拉或凸缘空隙状态而言，要让操作员看得清楚，就要求作多次返回。其次，返回位置的调节不够精密，并且为了确认错误状态实际上已被校正，需作几次附加的返回。这些因素大大降低了绕制过程的效率。
因此，要求有一种自动系统来调节绕线机中卷盘凸缘上的返回位置。
发明内容
本发明一较佳实施例提出一种把光纤绕到卷盘上的系统。该系统包括一个纺锤件，用于接收卷盘并使之绕其纵轴旋转。将光纤连续供给卷盘的光纤源相对于该纺锤件定位，使纺锤件转动卷盘让光纤绕其纵轴绕到卷盘上。张力检测装置检测并提供与绕到卷盘上的光纤的张力量相关的反馈。横移装置使光纤在前后卷缘之间来回绕到卷盘上，该装置包括前卷缘上的前返回位置和后卷缘上的后返回位置。控制器接收光纤张力反馈，并利用该反馈确定对前后返回位置的调节(如果要调节的话)。
参照以下的详细描述和附图，本发明的其它特征和优点将更清楚了。
附图概述
图1示出本发明系统的一较佳实施例。
图2示出用于本发明一较佳实施例的接收卷盘的侧视图。
图3示出部分绕制的接收卷盘的部分剖面。
图4示出用于本发明一较佳实施例的筛机的正视图。
图5A与5B分别出适用于图4所示筛机的接收纺锤件的侧视图与正视图。
图6A、6B与6C分别示出适用于图4所示筛机的横移件的俯视、侧视与正视图。
图7A与7B分别示出图5A与5B所示装到图6A、6B与6C所示横移件的接收纺锤件的侧视与正视图。
图8示出用于本发明一较佳实施例的微处理控制器的背视图。
图9示出本发明一较佳实施例中可能捕获的自动调整装置臂位置范围的示图。
图10示出本发明方法一较佳实施例的流程图。
图11示出本发明系统的另一实施例。
详细描述本发明一较佳实施例提供一种将光纤绕到卷盘上的系统和方法，它能自动校正卷盘的变异性和横向返回位置的差异。本发明可检查光纤的卷绕在两个返回位置的“平整度”，而返回位置都与卷盘的中点直径和自动调整装置的设定点位置相关。系统控制环路将卷盘的直径变化引入反馈自动调整装置控制环路，后者又对系统控制器提供校正每个卷盘返回位置所需的信息，即对每次连续的通过，将返回位置移向或移离各凸缘。
图1示出本发明一较佳实施例系统10的主要元件的框图。系统10包括装有制造松散卷盘14的松散纺锤件12和装有接收卷盘18的接收纺锤件16。纺锤件16本身装到横移件20，后者移动组件16，因而转动时，接收卷盘18沿横向往复。光纤22从松散卷盘经张力传感器24穿到接收卷盘，传感器24测量并输出绕到接收卷盘24上的光纤22的张力。松散纺锤件12、接收纺锤件16和横移件20均受微处理控制器26(包括控制软件28)控制。控制软件包括一对可编程限位开关30a、30b，其作用在下面再描述。在该实施例中，微处理控制器包括以C计算机语言编程的基于VME Intel 80486的PC控制系统。
图2示出用于本发明该实施例的接收卷盘18的侧视图。接收卷盘包括绕光纤22的柱形卷筒32。接收卷盘18还包括一对凸缘，前凸缘34a在将卷盘装入接收纺锤件16时表向外对着机器操作员，后凸缘34b则面向内对着筛机而远离机器操作员。当接收卷盘18装入纺锤件16时，后者绕其纵轴36到转动前者。横移件20使转动的卷盘沿其纵轴32来回移动。
通过微处理控制器26的引导，接收卷盘纺锤件16和接收卷盘横移件20一起让光纤22有前后凸缘34a、34b之间一系列层中的卷筒32长度方向上下绕到接收卷盘18上。返回位置，即横移件使旋转的接收卷盘沿其纵轴倒向的各接收卷缘上的点，在控制软件28中一对可编程限位开关(PLS)30a、30b确定，一只开关确定前凸缘返回，另一只开关确定后凸缘返回。当横移抵达各卷缘时，各可编程限位开关被检测和初始化，控制器在该点启动-返回顺序或例行程序，提供一数字凸轮型面，执行以下三种功能(1)检测当前横移位置；(2)开始将横移减速到预定止动位置；和(3)以及方向开始将横移加速到预定速率。
在该实施例中，控制器26将预置返回位置与可调凸缘偏差加在一起，计算各凸缘的返回位置(可以是正、零或负)返回位置＝返回设置位置+凸缘偏差这些量均示于图2，对于前凸缘34a，返回设置位置由虚线38a表示，凸缘偏差由距离40a表示，计算的返回位置由虚线42a表示。同样地，对于后凸缘34b，返回设置位置由虚线38b表示，凸缘偏差由距离40b表示，计算的返回位置由虚线42b表示。
预置返回位置38a、38b以接收卷筒32上卷绕表面的已知宽度为基础。在理想情况下，预置返回位置应足以使光纤正确地绕在凸缘34a、34b之间而无须加上凸缘偏差40a、40b。不幸的是，由于制造的接收卷盘有变异性，横移件预定的返回点可能不足以使光纤正确地绕到接收卷盘上。
具体而言，返回可能在凸缘上出现得过晚，使过量光纤累积在该凸缘上，或出现得过早，在凸缘上形成空隙。第一状态称为“抗拉”，第二状态称为“凸缘空隙”。这些不理想的状态示于图3，该图示出了接收卷盘对准其侧面的部分剖面。图3示出两层已正确绕制的光纤和两层绕制时在错误的一点返回的光纤，图左侧示出抗拉状态22a，右侧是凸缘空隙22b。除了这两类差错之外，还有一种差错状态称为“级联”，即光纤不均匀的螺旋状旋转。像凸缘空隙一样，当返回在凸缘上出现过快时，会发生级联状态。如下面进一步描述的那样，本发明提出一种优越的方法，它根据两种返回测出的光纤张力所提供的反馈，自动地调节凸缘返回而将抗拉、凸缘空隙和级联的出现次数减至最少。
图4示出本发明一较佳实施例使用的筛机44，其三种主要元件是梳散卷盘纺锤件12、接收卷盘纺锤件16和横移件20，筛件46位于这两个卷盘之间。如图4所示，光纤22穿过一连串滑轮，为光纤通过各级筛选处理形成一条通路。本发明特别关注的是自动调整件48，它起着图1所示张力传感器24的作用，用于测量光纤22绕到接收卷盘16时的张力。
自动调整件包括绕其穿过光纤22的滑轮50、自动调整凸轮52的枢轴电枢54。电刷直流电机(未示出)包括从直流电机两端伸出的电枢54，其一端接至自动调整臂52，以塑时针方向对自动调整臂52施加一恒定的力矩。穿过滑轮的光纤22中的张力以顺时针方向对自动调整臂施加力矩。直流电机施加的力矩与光纤张力施加的力矩相平衡。在筛机44初始化期间，建立了自动调整臂52的设定点位置，它是代表光纤绕到卷盘上最佳张力量的自动调整臂位置。在本例中，把该设定点位置校成与水平线成90度。然后，可对自动调整臂52应用任意个位置作为设定点位置。
自动调整臂52的位置用一合适的位置传感装置检测，本例中用一旋转可变差分变压器(RVDT)检测。RVDT接至从直流电机伸出的电枢54的另一端，这样，电枢54的一端接至自动调整臂52，另一端接至RVDT。当自动调整臂52绕电枢54运动时，电枢54就转动，该转动由RVDT检测，令RVDT产生一与转轴旋转量因而也与自动调整臂52的移动量成线性关系的电压信号。因此，微处理控制器26通过监视RVDT电压信号确定自动调整臂52的位置，当然，该位置直接与光纤绕到卷盘上的张力量相关。
每个自动调整臂位置对应于光纤22不同的张力级。对于图4的系统，当光纤22的张力降到低于最佳级时，自动调整臂52将以逆时针方向离开自动调整装置设定点偏向左侧的新位置，该新位置表示更低的张力级。当光纤22的张力升到高于最佳值时，自动调整臂52将以顺时针方向离开自动调整装置设定点偏向右侧的新位置，该新位置表示更高的张力级。光纤22的张力是若干变量的函数，变量包括接收卷盘直径与卷盘转速。
图5A与5B分别表示适用于本实施例的纺锤件16的侧视与正视图。编锤件16包括装有接收卷盘18的纺锤56和使卷盘18绕其纵轴旋转的伺服电机58。
图6A、6B和6C分别示出横移件20的俯视、侧视与正视图，该横移件适于与图5A和5B所示的纺锤件一起在纺锤件16转动卷盘18时将接收卷盘18沿其纵轴来回移动。横移件20包括装有纺锤件16的滑架60，滑架60装到轮轨62上，而轮轨62限定了纺锤件16沿其运行的直线路径。横移件20包括可逆电机64，它在横移件轨62上来回移动纺锤件16。图7A与7B分别示出装到横移件20的滑架60的纺锤件16的侧视与正视图。
图8示出用于本发明的控制器26的后面板。设置的两根引线66a、66b用于将系统的其它元件接至控制器26。控制器26通过统计横移电机的步数或转数，能精密地控制纺锤件16沿横移件20的轮轨62运行的距离。另外，控制器26通过倒转电机的转向，可以倒换纺锤件16沿横移件轮轨62的运行方向。
如图1所示，在本例中，控制器配备一对可编程限位开关30a、30b，各自对应每个返回位置。如上所述，当横移抵达各卷缘时，各开关就被检测出并初始化。随着PLS启动，就开始了返回顺序或例行程序，完成三项任务(1)检测当前的横移位置；(2)横移开始减速至预定的止动位置；和(3)横移移动沿反方向加速至预定速率。
该系统提供一种有利地利用来自张力传感器24的张力信息的系统和方法，即利用自动调整装置组件48中自动调整臂52的位置来检测和校正绕制过程中的错误状态。光纤的张力由若干因素确定，包括接收卷盘转速与绕制表面卷盘直径。现有技术系统应用来自自动调整件48的反馈控制纺锤件16的转速，以将光纤22的张力维持于由自动调整装置设定点表示的最佳级，但是，自动调整装置反馈一直未被用于调节凸缘返回位置。
当出现抗拉线或凸缘空隙状态时，在返回位置，光纤张力有一可测量的尖峰或凹陷。如在抗拉状态中，绕制表面的直径在凸缘返回位置增大，造成光纤中张力的伴随增大。在凸缘空隙状态中，绕制表面的直径在凸缘返回位置减小，造成光纤中张力的减小。自动调整臂位置有返回位置与自动调整装置设定点的偏差，反映了这些光纤张力的变化。本实施例运用这一偏差作为调节凸缘返回位置的基础。
在本发明目前较佳的实施例中，在凸缘返回处捕获自动调整臂位置。具体而言，在上述凸轮型面例行程序第三步骤开始时捕获自动调整臂位置。在程序的该点，在反向加速之前，横移已抵达其预定止动位置。本例应用的捕获的自动调整臂位置的范围示于图9。有一个限定的自动调整装置设定点68，即反映最佳光纤张力的自动调整臂位置。该设定点周围是一“死区”70，它是设定点附近可接受的捕获自动调整臂位置的范围，即该系统的误差阈值。只要捕获的自动调整臂位置在死区70以内，就测不出误差。死区的左边是区72，表示与凸缘空隙有关的光纤张力的跌落。同样地，死区70的右边是区74，表示与抗拉状态有关的光纤张力的增大。在-V(min)或+V(max)之外的区76、78表示出现报警状态，要求系统介入。
图10是一较佳实施例方法的流程图，用于按本发明自动调节凸缘返回位置80。在第一步82，系统初始化。作为这一初始化的一部分，设置自动调整装置设定点与死区。初始化一旦完成，筛机就开始将光纤绕到接收卷盘上。
在第二步84，在接收卷盘每次横移返回期间，控制器26捕获自动调整臂位置“返回自动调整器位置”。如上所述，该位置就是各凸缘倒转沿其纵轴横移旋转卷盘的点。如以上进一步描述的那样，这一步的一种执行方法是应用包括一对可编程限位开关的控制器软件，这些开关在指定的返回点开始启动各凸缘返回。在该方法中，当横移在反向加速之前一点点(如约2毫秒)停止时，即捕获该自动调整臂位置。实践中，自动调整装置位置快捕的最大滞后为8毫秒，与返回要求的50～65毫秒相比，无明显影响。
在步骤86，控制器通过比较自动调整装置位置与自动调整装置设定点而计算误差量，即误差＝返回自动调整装置位置-设定点自动调整装置位置在步骤88，计算“平均采样误差”，计算以校正前发生的通过/返回次数为基础。需要时，控制器可调整该次数。计算公式如下 式中N＝校正前的通过次数。
在步骤90，控制器确定“平均采样误差”是否在设置的死区内。需要时，操作员可用键盘、鼠标或其它接至该控制器的合适输入装置调节死区。
在步骤92，若“平均采样误差”不在设置的死区内，对凸缘偏差作校正。根据系统的增益计算凸缘偏差调节量。系统增益包括两个分量，即基于当前平均采样误差与前一平均采样误差之差的差分增益D_GAIN和基于当前平均采样误差幅值的积分增益I_GAIN，这两个增益均为机器专用量，可用已知的技术测量。这些增益利用下式计算凸缘返回位置的调节量“偏差调节”偏差调节＝〔D_GAIN(平均采样误差-前-平均采样误差)〕+〔I_GAIN(平均采样误差)〕该方法用两种D_GAIN与I_GAIN是有利的，因为它比应用固定偏差调节的方法更灵敏，更精确。本例中，系统对大误差作为调节，对小误差作小调节。此外，需要时可调谐计算凸缘调节量的环路算法。
正或负的“平均采样误差”分别指示抗拉或凸缘空隙。在步骤94，根据当前采样的是凸缘、前或后，对“凸缘偏差”施加“偏差调节”前 缘凸缘偏差＝凸缘偏差+凸缘调节后 缘凸缘偏差＝凸缘偏差-偏差调节最后在步骤96，对接收横移返回位置施加该凸缘偏差，这样可对返回可编程限位开关(PLS)重新定位如下返回位置＝设置返回位置+凸缘偏差于是控制器返回步骤84，捕获下次返回的自动调整臂位置。
在死区内检测出有自动调整装置位置，表示未产生误差。因此，从理论上讲，无须对凸缘返回位置校正。但通过实验发现，检出的自动调整装置位置即使在死区内，本发明一较佳实施例还是希望对凸缘位置作调节以引起抗拉状态。
希望造成抗拉的理由在于，对系统而言，检测抗拉比检测凸缘空隙容易得多。抗拉几乎可立即测出，因为绕制表面直径会马上增大。而在凸缘空隙状况中，在光纤“落入”空隙造成光纤张力下降之前，光纤可以继续绕几层。
在步骤98，为防止出现凸缘空隙，在返回步骤84之前，即使已确定自动调整装置位置在死区内，可以故意对凸缘返回位置朝向凸缘作少量预定的调节。这样，绕到卷盘上的光纤将在每次通过时朝凸缘“蠕动”，直到系统检出抗拉状态。检出抗拉状态后，系统将对凸缘返回位置作正常调节，如上所述，把它拉回死区。返回位置一旦返回死区，再次开始蠕动过程。
实验确定，这种凸缘调节量最好是光纤直径的一小部分，从而对造成的抗拉作几次通过。在一实施例中，光纤直径为250微米，凸缘调节量约是该直径的八分之一。
另外，在该例中，由于每次返回都作校正，所以每次返回都要计算“平均采样误差”。换言之，N为1。
调节了返回位置后，控制器返回步骤84，捕获下次返回的自动调整臂位置。
图11示出本发明另一实施例，其中光纤22利用飞行头组件100沿横向相对于接收卷盘18移动。本例的作用基本上与上例相同，但是不是在横移件上来回移动旋转的卷盘，系统控制飞行头100的来回移动。这类结构例如可在光纤制造中应用的拉制机中见到。在该第二实施例中，系统再次利用来自张力传感器24的信息监视光纤的张力，并用该信息对任一凸缘的飞行头作返回位置调节。因此，本发明同样适用于该替代实施例。
最后要指出，虽然本发明特别适用于光纤，但是它能应用于将光纤、导线、线或灯丝绕到卷盘上的其它系统。
虽然上述描述包括了能让本领域的技术人员实施本发明的细节，但是应当明白，该描述在本质上是示例性的，从这些教授内容中得益的技术人员显然知道其许多修正和变化。例如，可用不同于上述自动调整件的结构执行张力传感器24的功能。因此，本发明仅由所附的权项限定，而这些权项由现有技术作广义的解释。
权利要求
1.一种将光纤绕到卷盘上的系统，其特征在于所述系统包括纺锤件，用于接收卷盘并使之绕其纵轴旋转；光纤源，用于向卷盘连续供应光纤，所述光纤源相对于纺锤件定位，致使由纺锤件造成的卷盘转动使光纤绕其纵轴绕到卷盘上；张力传感装置，用于检测和提供与光纤中张力量相关的反馈；横移位置，使光纤在前后卷缘之间来回绕到卷盘上，所述横移装置包括前卷缘的前返回位置和后卷缘的后返回位置；控制器，用于接收光纤张力反馈，并用所述反馈确定对前后返回位置的调节量(有的话)。
2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，张力传感装置包括一自动调整件，它具有一自动调整臂用于抵住加力的光纤，从而当光纤绕到卷盘上时，自动调整臂的位置是该光纤张力的函数，光纤源包括一位置传感器，用于检测自动调整臂的位置并将其作为反馈来提供。
3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，控制器在返回顺序期间捕获凸缘上自动调整臂位置，并将捕获的返回位置与设定点自动调整装置位置作比较，以确定对前后返回位置的调节量(如果有的话)。
4.如权利要求3所述的系统，其特征在于，在比较捕获的返回自动调整装置位置与设定点自动调整装置位置时，控制器从捕获的返回自动调整装置中减去设定点自动调整装置位置而算出误差量。
5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，控制器通过在某一可调凸缘偏差作调节之前对就每次返回计算得到的误差量求均来算出平均采样误差，然后与设置的返回位置一起确定各凸缘的返回位置。
6.如权利要求5所述的系统，其特征在于，正平均采样误差表示过量光纤累积在凸缘上的抗拉状态，而负平均采样误差表示凸缘空隙状态或级联状态。
7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，控制器确定平均采样误差是否落在一设置的死区内。
8.如权利要求7所述的系统，其特征在于，若平均采样误差落在死区内，控制器就调节凸缘偏差，使返回位置朝凸缘移一预定距离，由此造成抗拉状态。
9.如权利要求8所述的系统，其特征在于，预定距离是光纤直径的一小部分。
10.如权利要求9所述的系统，其特征在于，预定距离是光纤直径的八分之一。
11.如权利要求7所述的系统，其特征在于，若平均采样误差在死区以外，控制器计算对凸缘偏差的调节量。
12.如权利要求11所述的系统，其特征在于，根据测出的系统增益计算对凸缘偏差的调节量。
13.如权利要求12所述的系统，其特征在于，测出的系统增益包括差分增益分量D_GAIN和积分增益分量I_GAIN。
14.如权利要求13所述的系统，其特征在于，按下式计算对凸缘偏差的调节量“偏差调节”偏差调节＝〔D_GAIN(平均采样误差-前-平均采样误差)〕+〔I_GAIN(平均采样误差)〕
15.如权利要求14所述的系统，其特征在于，用下式将计算的偏差调节量施加于前缘凸缘偏差＝凸缘偏差+偏差调节并且用下式将计算的编差调节量施加于后缘凸缘偏差＝凸缘偏差-偏差调节
16.如权利要求15所述的系统，其特征在于，用下式对下次返回重新定出凸缘的返回位置返回位置＝设置返回位置+凸缘偏差
17.一种将光纤绕到卷盘上的方法，其特征在于，包括以下步骤使卷盘绕其纵轴旋转；对卷盘连续供给光纤，从而卷盘旋转使光纤绕其纵轴绕到卷盘上；检测和提供与光纤张力量相关的反馈；当光纤绕到卷盘上时，让它在前后卷缘之间横移；在前后卷缘附近的第一与第二返回位置分别改变光纤的横移方向；用光纤张力反馈确定前后返回位置的调节量(如果有的话)。
18.如权利要求17所述的方法，其特征在于，用光纤张力反馈确定前后返回位置之调节量(如果有的话)的步骤包括从各返回位置检测的光纤张力量中减去设定点张力而计算误差量。
19.如权利要求18所述的方法，其特征在于，还包括下述步骤通过在某一可调节凸缘偏差作调节之前对就每个返回位置计算得到的误差量求平均来计算平均采样误差，然后与设置的返回位置一起确定各凸缘的返回位置。
20.如权利要求19所述的方法，其特征在于，还包括下述步骤确定平均采样误差是否落在设置的死区内。
21.如权利要求20所述的方法，其特征在于，还包括下述步骤若平均采样误差落在死区内，调节凸缘偏差，使返回位置朝凸缘移动一预定距离，由此造成过量光纤累积在凸缘上的抗拉状态。
22.如权利要求21所述的方法，其特征在于，预定距离是光纤直径的一小部分。
23.如权利要求22所述的方法，其特征在于，预定距离是光纤直径的八分之一。
24.如权利要求20所述的方法，其特征在于，还包括下述步骤若平均采样误差在死区以外，计算对凸缘偏差的调节量。
25.如权利要求24所述的方法，其特征在于，计算对凸缘偏差的调节量的步骤包括根据测量得到的系统增益计算对凸缘偏差的调节量。
26.如权利要求25所述的方法，其特征在于，根据测得的系统增益计算对凸缘偏差的调节量的步骤包括根据包括差分增益分量D_GAIN与积分增益分量I_GAIN的测得的系统增益，计算对凸缘偏差的调节量。
27.如权利要求26所述的方法，其特征在于，计算对凸缘偏差的调节量的步骤还包括用下式计算对凸缘偏差的调节量“偏差调节”偏差调节＝〔D_GAIN(平均采样误差-前-平均采样误差)〕+〔I_GAIN(平均采样误差)〕
28.如权利要求27所述的方法，其特征在于，还包括按下式将计算得到的偏差调节量施于前缘凸缘偏差＝凸缘偏差+偏差调节并用下式将计算得到的偏差调节量施加于后缘凸缘偏差＝凸缘偏差-偏差调节。
29.如权利要求28所述的方法，其特征在于，还包括用下式对下次返回重新定出凸缘的返回位置返回位置＝设置返回位置+凸缘偏差。
全文摘要
一种将光纤(22)绕到卷盘(18)上的系统(10),该系统包括:纺锤件(16),用于接收卷盘(18)并使之绕其纵轴(36)旋转。光纤源(14)用于向卷盘(18)连续供应光纤,其中光纤源相对于纺锤件(16)定位,致使由纺锤件(16)造成的卷盘(18)转动使光纤(22)绕其纵轴(16)绕到卷盘(18)上。张力传感装置(24)检测和提供与光纤张力量相关的反馈。横移位置(20),使光纤在前后卷缘(34a,34b)之间来回绕到卷盘(18)上,横移装置(20)包括前卷缘(34a)的前返回位置和后卷缘(34b)的后返回位置。控制器(26)接收光纤张力反馈,并用该反馈确定对前后返回位置的调节量(如果有的话)。
文档编号B65H59/38GK1348426SQ99815168
公开日2002年5月8日 申请日期1999年12月14日 优先权日1998年12月29日
发明者D·A·贝德纳尔奇克, M·S·托特, T·S·沃尔顿, T·里德 申请人:康宁股份有限公司