一种方片式元件的自动测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种电子元器件的测试设备技术领域，尤其涉及一种方片式元件的自动测试装置。
【背景技术】
[0002]现有的元件测试机种类很大，且大多能精确完成元器件的测试，但这种元器件一般都是圆柱状的；这些测试机不适用于方片式的元件检测，因为方片式元件的体形不规整，在输送过程中容易产生叠片、跑偏、对位不准的问题，所以方片式的元件一般都由人工检测。但人工检测效率太慢，众所周知，手工操作误差很大，测试效率差。
【发明内容】
[0003]为了克服现有技术中的不足，本发明提供一种测试效率高的方片式元件的自动测试装置。
[0004]为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的:一种方片式元件的自动测试装置，包括上料机构、送料机构和自动测片机构，所述的送料机构上设有平轨轨道，所述的平轨轨道上设有传输皮带，在传输皮带的两侧还设有挡料块；在平轨轨道的起始端设有传感器，传感器随时监测进料情况；在平轨轨道的末端设有自动测片机构。
[0005]进一步:在上述方片式元件的自动测试装置中，所述的自动测片机构包括对称设在平轨轨道末端且用于夹住待测料的夹料块，在夹料块的侧边设有测试针、在夹料块的上端设有光纤探测头。所述的平轨轨道上还设有自动检测元件外观缺陷的摄影传感装置，所述的摄影传感装置对称设置在传输皮带的两侧，这样全方位扫描元件有无外观缺陷；所述的平轨轨道上还设有与摄影传感装置对应的定位装置，这样便于精确摄影。元件外观，如碰伤、划花、缺角等不良品，通过摄影机影像记录，然后通过感应器将元件的外观信息及时传到PLC逻辑控制器中，PLC逻辑控制器进行分选合格品与不良品，达到元件外观严格的监控，大大提高产品质量，解决人工检测问题。
[0006]当方片式元件到达检测机构时，为防止检测时，元件出现两片重叠情况，光纤探测头的光纤感光度设定为2000 ±200。
[0007]所述的测试针与测试气缸连接，所述的夹料块与夹料气缸连接，有效防止机构动力的相互干扰。所述的送料机构是振盘，该机构有效使元件作队列排序。所述的上料机构、送料机构和自动测片机构均与PLC逻辑控制器相连；所述的上料机构、送料机构、自动测片机构均由电机带动，由PLC逻辑控制器统一控制，充分实现整个测试装置协调动作，实现整个系统的精准的自动检测功能。
[0008]与现有技术相比，上述方片式元件的自动测试装置，包括上料机构、送料机构和自动测片机构，所述的送料机构上设有平轨轨道，所述的平轨轨道上设有传输皮带；在平轨轨道的两侧还没有挡料块，防止方片式元件在运输过程中跑偏；在平轨轨道的起始端设有传感器，在平轨轨道的末端设有自动测片机构；所述的自动测片机构包括对称设在平轨轨道末端且用于夹住待测料的夹料块，方便测试针精确定位，夹料块防止定位不准；在夹料块的侧边设有测试针、在夹料块的上端设有光纤探测头，准确控测夹料块中有无待测物。振盘均匀的将方片式元件有效的分开，防止重叠。传感器精确检测方片式元件有没有移到传送带上。所以本发明能自动、高效的检测方片式元件。本发明的自动测试装置所测元件规格为:长15_36mm，宽6_15mm，厚1.0_3mm，分选速度大于等于100片/分钟；整个自动测试装置测试精度控制在±1%。
【附图说明】
[0009]图1是本发明实施方式一自动测试装置的结构示意图；
[0010]图2是本发明实施方式二自动测试装置的结构示意图；
[0011]图3是图1、2的A部放大图；
[0012]其中I平轨轨道、2传输皮带、3挡料块、4夹料块、5测试针、6光纤探测头、7测试气缸、8夹料气缸、9振盘、10传感器、11摄影传感装置、12定位装置。
【具体实施方式】
[0013]为了便于本领域技术人员的理解，下面结合附图对本发明作进一步的描述。
[0014]实施方式一:如附图1、3，一种方片式元件的自动测试装置，包括上料机构、送料机构和自动测片机构，所述的送料机构上设有平轨轨道1，所述的平轨轨道上设有传输皮带2 ;在平轨轨道的起始端设有传感器10，在平轨轨道的末端设有自动测片机构；在平轨轨道的两侧还没有挡料块3 ;所述的自动测片机构包括对称设在平轨轨道末端且用于夹住待测料的夹料块4，在夹料块的侧边设有测试针5、在夹料块的上端设有光纤探测头6。所述的测试针与测试气缸7连接，所述的夹料块与夹料气缸8连接。所述的送料机构是振盘9。所述的上料机构、送料机构和自动测片机构均与PLC逻辑控制器相连。所述的上料机构、送料机构、自动测片机构均由电机带动。
[0015]工作时，方片式元件由振盘9出来进入平轨轨道I的传输皮带2上，期间方片式元件经过用于监测进料情况的传感器2，当没有方片式元件经过传感器2时，装置则起保护作用，自动停机。经过传感器2的方片式元件进入由电机带动的传输皮带2，在挡料块3的辅助下，到达自动测片机构，自动测片机构的夹料气缸8带动夹料块夹住方片式元件(待测物)进行精确定位测试，所述自动测片机构包括光纤探测头6，光纤探测头6检测到方片式元件到达后，由测试气缸7带动的测试针5，进行测试并反馈信息到PLC控制系统中，测试完毕后，夹料气缸8打开，方片式元件落到预定的料盒中测试完成，等待进行下一步的工序。
[0016]实施方式二:如附图2、3，在实施方式一的基础上，所述的平轨轨道上还设有自动检测元件外观缺陷的摄影传感装置和与摄影传感装置11对应的定位装置12，这样便于精确摄影，所述的摄影传感装置对称设置在传输皮带2的两侧，便于摄影传感装置全方位扫描方片元件的外观。元件外观，如碰伤、划花、缺角等不良品，通过摄影机影像记录，然后通过感应器将元件的外观信息及时传到PLC逻辑控制器中，PLC逻辑控制器进行分选合格品与不良品，达到元件外观严格的监控，大大提高产品质量，解决人工检测问题。
[0017]工作时，方片式元件由振盘9出来进入平轨轨道I的传输皮带2上，期间方片式元件经过用于监测进料情况的传感器2，当没有方片式元件经过传感器2时，装置则起保护作用，自动停机。经过传感器2的方片式元件进入由电机带动的传输皮带2，在挡料块3的辅助下，穿过摄影传感装置和与摄影传感装置11对应的定位装置12，到达自动测片机构，自动测片机构的夹料气缸8带动夹料块夹住方片式元件(待测物)进行精确定位测试，所述自动测片机构包括光纤探测头6，光纤探测头6检测到方片式元件到达后，由测试气缸7带动的测试针5，进行测试并反馈信息到PLC控制系统中，测试完毕后，夹料气缸8打开，方片式元件落到预定的料盒中测试完成，等待进行下一步的工序。
[0018]上述实施例中提到的内容为本发明较佳的实施方式，并非是对本发明的限定，在不脱离本发明发明构思的前提下，任何显而易见的替换均在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种方片式元件的自动测试装置，包括上料机构、送料机构和自动测片机构，其特征在于: 所述的送料机构上设有平轨轨道(I)，所述的平轨轨道上设有传输皮带(2)，在传输皮带的两侧设有挡料块(3)； 在平轨轨道的起始端设有传感器(10)，在平轨轨道的末端设有自动测片机构。2.根据权利要求1所述的方片式元件的自动测试装置，其特征在于:所述的自动测片机构包括对称设在平轨轨道末端且用于夹住待测料的夹料块(4)，在夹料块的侧边设有测试针(5)、在夹料块的上端设有光纤探测头(6)。3.根据权利要求2所述的方片式元件的自动测试装置，其特征在于:所述的平轨轨道上还设有自动检测元件外观缺陷的摄影传感装置(11)。4.根据权利要求3所述的方片式元件的自动测试装置，其特征在于:所述的摄影传感装置对称设置在传输皮带的两侧。5.根据权利要求4所述的方片式元件的自动测试装置，其特征在于:所述的平轨轨道上还设有与摄影传感装置对应的定位装置(12)。6.根据权利要求5所述的方片式元件的自动测试装置，其特征在于:所述光纤探测头的光纤感光度设定为2000 ±200。7.根据权利要求6所述的方片式元件的自动测试装置，其特征在于:所述的测试针与测试气缸(7)连接，所述的夹料块与夹料气缸(8)连接。8.根据权利要求7所述的方片式元件的自动测试装置，其特征在于:所述的送料机构是振盘(9)。9.根据权利要求1-8中任一项所述的方片式元件的自动测试装置，其特征在于:所述的上料机构、送料机构和自动测片机构均与PLC逻辑控制器相连。10.根据权利要求9所述的方片式元件的自动测试装置，其特征在于:所述的上料机构、送料机构、自动测片机构均由电机带动。
【专利摘要】本发明属于电子元器件的测试设备技术领域，尤其涉及一种方片式元件的自动测试装置，它包括上料机构、送料机构和自动测片机构，所述的送料机构上设有平轨轨道，所述的平轨轨道上设有传输皮带；在传输皮带的两侧还设有挡料块；在平轨轨道的起始端设有传感器，在平轨轨道的末端设有自动测片机构；所述的自动测片机构包括对称设在平轨轨道末端且用于夹住待测料的夹料块，在夹料块的侧边设有测试针、在夹料块的上端设有光纤探测头。本发明的自动测试装置能自动、高效的检测方片式元件。
【IPC分类】B65G47/22, B65G15/56, G01N21/88
【公开号】CN104973382
【申请号】CN201510377331
【发明人】孔祥坚, 梁镇杰
【申请人】肇庆市众一自动化设备有限公司
【公开日】2015年10月14日
【申请日】2015年6月30日