晶振检测仪挡料机构的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于电子器件检测装置领域，具体涉及一种晶振检测仪挡料机构。
【背景技术】
[0002]在电子技术领域的产品生产过程中，经常要用到一种原材料一晶体振荡器，简称晶振，产品生产完成后，如果晶振不起振将会影响设计功能的实现，但是，在生产过程中逐个测量晶振频率所花费的人力物力较大，因此人们设计有晶振检测仪。现有的晶振检测仪是由振动盘、晶体轨道以及晶体轨道上的检测机构组合而成的，晶体通过振动落下以被检测装置检测，其缺点是晶体直接由晶体轨道上方落入到检测装置位置处，其下落中途未设置有缓冲装置，常常造成因冲力较大而未完成检测的情况，而且一次性落料过多极易导致检测仪出现卡料或其它不可预估的问题。
【发明内容】
[0003]本实用新型所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足，提供一种晶振检测仪挡料机构，在晶振下落中途对晶振进行多次挡料操作，避免出现检测不完全、卡料等问题。
[0004]本实用新型所采用的技术方案是:一种晶振检测仪挡料机构，包括倾斜设置的晶体轨道，所述晶体轨道上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽，所述晶体轨道的左侧设置有检测装置，所述晶体轨道上设置有挡料装置，该挡料装置由位于所述晶体轨道左侧的左挡料机构和位于所述晶体轨道右侧的右挡料机构组成，所述右挡料机构由右挡料座以及设置在该右挡料座上的第一挡料针和第三挡料针构成，所述第一挡料针和第三挡料针平行设置于所述右挡料座对应晶体轨道的一侧，所述左挡料机构由左挡料座以及设置在该左挡料座上的第二挡料针和第四挡料针构成，所述第二挡料针和第四挡料针平行设置于所述左挡料座对应晶体轨道的一侧，所述检测装置设置于所述晶体轨道上对应所述第四挡料针位置处。
[0005]作为优选，所述晶体轨道下方设置有贯穿其左右两侧的挡料连板，所述左挡料机构和所述右挡料机构均固定设置在该挡料连板上。
[0006]作为优选，所述第二挡料针位于所述第一挡料针和第三挡料针的中间位置，且所述第一挡料针和第二挡料针之间的距离等于单个晶振的长度。
[0007]作为优选，所述第一挡料针、第二挡料针、第三挡料针和第四挡料针均与所述晶体轨道相垂直。
[0008]作为优选，所述晶体轨道表面对应所述第一挡料针、第二挡料针和第三挡料针位置处分别设置有供其滑行通过的过针槽。
[0009]作为优选，所述第四挡料针位于所述晶体轨道上表面下方，贯穿所述晶体轨道左侧壁后伸入至所述晶振通槽内。
[0010]本实用新型的有益效果在于:由于本实用新型在晶体轨道上设置有挡料装置，挡料装置上设置有多个挡料针，在晶振下落途中可以对其进行多次挡料操作，使晶振下落的冲力得到有效缓解，避免因冲力过大不能完成检测的问题发生，避免检测不完全和卡料等情况产生。
【附图说明】
[0011]图1为本实用新型的结构示意图。
[0012]图中:1、晶体轨道；2、晶振通槽；3、检测装置；4、右挡料座；5、第一挡料针；6、第三挡料针；7、左挡料座；8、第二挡料针；9、第四挡料针；10、挡料连板；11、过针槽。
【具体实施方式】
[0013]下面将结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。
[0014]如图1所示，一种晶振检测仪挡料机构，包括倾斜设置的晶体轨道1，所述晶体轨道I上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽2，所述晶体轨道I的左侧设置有检测装置3，所述晶体轨道I上设置有挡料装置，该挡料装置由位于所述晶体轨道I左侧的左挡料机构和位于所述晶体轨道I右侧的右挡料机构组成，晶体轨道I下方设置有贯穿其左右两侧的挡料连板10，所述左挡料机构和所述右挡料机构均固定设置在该挡料连板10上，可以同时带动左挡料机构和右挡料机构，节约动力源。所述右挡料机构由右挡料座4以及设置在该右挡料座4上的第一挡料针5和第三挡料针6构成，所述第一挡料针5和第三挡料针6平行设置于所述右挡料座4对应晶体轨道I的一侧，所述左挡料机构由左挡料座7以及设置在该左挡料座7上的第二挡料针8和第四挡料针9构成，所述第二挡料针8和第四挡料针9平行设置于所述左挡料座7对应晶体轨道I的一侧，所述第一挡料针5、第二挡料针8、第三挡料针6和第四挡料针9均与晶体轨道I相垂直，所述检测装置3设置于所述晶体轨道I上对应所述第四挡料针9位置处。
[0015]作为优选，所述第二挡料针8位于所述第一挡料针5和第三挡料针6的中间位置，且所述第一挡料针5和第二挡料针8之间的距离等于单个晶振的长度。所述晶体轨道I表面对应所述第一挡料针5、第二挡料针8和第三挡料针6位置处分别设置有供其滑行通过的过针槽11，第四挡料针9位于所述晶体轨道I上表面下方，贯穿所述晶体轨道I左侧壁后伸入至所述晶振通槽2内。
[0016]本实用新型的工作过程如下:左挡料机构与右挡料机构互斥运动，当左挡料机构靠近晶体轨道I时，右挡料机构则远离，当左挡料机构远离晶体轨道I时，右挡料机构则靠近。当左挡料机构靠近晶体轨道I开始检测晶振时，第二挡料针8挡住待检测晶振的后一个晶振，第四挡料针9挡住待检测晶振；当左挡料机构远离晶体轨道I时，第四挡料针9向左移动，其上的已检测晶振由晶体轨道I落出，第二挡料针8左移，其上的晶振开始下落，此时右挡料机构靠近晶体轨道I移动，第三挡料针6也随着向左移动，挡住刚才下落的晶振，对晶振下落起到缓冲作用，同时第一挡料针5也对其上方的晶振下落起到缓冲作用，缓解下冲力。
[0017]由于本实用新型在晶体轨道I上设置有挡料装置，挡料装置上设置有多个挡料针，在晶振下落途中可以对其进行多次挡料操作，使晶振下落的冲力得到有效缓解，避免因冲力过大不能完成检测的问题发生，避免检测不完全和卡料等情况产生。
[0018]以上所述，仅为本实用新型较佳实施例而已，故不能以此限定本实用新型实施的范围，即依本实用新型申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本实用新型专利涵盖的范围内。
【主权项】
1.一种晶振检测仪挡料机构，包括倾斜设置的晶体轨道(1)，所述晶体轨道(I)上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽(2)，所述晶体轨道(I)的左侧设置有检测装置(3)，其特征在于:所述晶体轨道(I)上设置有挡料装置，该挡料装置由位于所述晶体轨道(I)左侧的左挡料机构和位于所述晶体轨道(I)右侧的右挡料机构组成，所述右挡料机构由右挡料座(4)以及设置在该右挡料座(4)上的第一挡料针(5)和第三挡料针(6)构成，所述第一挡料针(5)和第三挡料针(6)平行设置于所述右挡料座(4)对应晶体轨道(I)的一侧，所述左挡料机构由左挡料座(7)以及设置在该左挡料座(7)上的第二挡料针(8)和第四挡料针(9)构成，所述第二挡料针(8)和第四挡料针(9)平行设置于所述左挡料座(7)对应晶体轨道(I)的一侧，所述检测装置(3 )设置于所述晶体轨道(I)上对应所述第四挡料针(9 )位置处。
2.根据权利要求1所述的晶振检测仪挡料机构，其特征在于:所述晶体轨道(I)下方设置有贯穿其左右两侧的挡料连板(10)，所述左挡料机构和所述右挡料机构均固定设置在该挡料连板(10)上。
3.根据权利要求1所述的晶振检测仪挡料机构，其特征在于:所述第二挡料针(8)位于所述第一挡料针(5 )和第三挡料针(6 )的中间位置，且所述第一挡料针(5 )和第二挡料针(8)之间的距离等于单个晶振的长度。
4.根据权利要求1所述的晶振检测仪挡料机构，其特征在于:所述第一挡料针(5)、第二挡料针(8)、第三挡料针(6)和第四挡料针(9)均与所述晶体轨道(I)相垂直。
5.根据权利要求1或4所述的晶振检测仪挡料机构，其特征在于:所述晶体轨道(I)表面对应所述第一挡料针(5 )、第二挡料针(8 )和第三挡料针(6 )位置处分别设置有供其滑行通过的过针槽(U)。
6.根据权利要求1所述的晶振检测仪挡料机构，其特征在于:所述第四挡料针(9)位于所述晶体轨道(I)上表面下方，贯穿所述晶体轨道(I)左侧壁后伸入至所述晶振通槽(2)内。
【专利摘要】本实用新型公开一种晶振检测仪挡料机构，包括倾斜设置的晶体轨道，所述晶体轨道上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽，所述晶体轨道的左侧设置有检测装置，所述晶体轨道上设置有挡料装置，该挡料装置由左挡料机构和右挡料机构组成，所述右挡料机构由右挡料座以及设置在该右挡料座上的第一挡料针和第三挡料针构成，所述左挡料机构由左挡料座以及设置在该左挡料座上的第二挡料针和第四挡料针构成。由于本实用新型在晶体轨道上设置有挡料装置，挡料装置上设置有多个挡料针，在晶振下落途中可以对其进行多次挡料操作，使晶振下落的冲力得到有效缓解，避免因冲力过大不能完成检测的问题发生，避免检测不完全和卡料等情况产生。
【IPC分类】B65G47-74
【公开号】CN204528602
【申请号】CN201520244711
【发明人】李谦平, 林峰, 杨宗安
【申请人】福建省将乐县长兴电子有限公司
【公开日】2015年8月5日
【申请日】2015年4月22日