测试高频电路板的同轴倾斜引脚卡具的制作方法

专利名称：测试高频电路板的同轴倾斜引脚卡具的制作方法
技术领域：
本发明涉及自动测试高频或高速数字印制电路板和这些板上安装的元件，并且更具体地涉及一种用于把来自测试分析仪的测试信号转发到这些电路板或元件上的阻抗匹配传送器卡具。
背景技术：
用来检查印刷电路板的自动测试设备长期涉及使用测试期间在其中安装电路板的“钉床”测试卡具或转接器。这种测试卡具包括大量的在弹簧压力下和被测试电路板(也称为被测试单元或“UUT”)上的指定测试点电接触的钉状弹簧加载测试探针。布局在印制电路板上的任何特定电路大都和其它电路不同，从而对于具体的电路板必须定制出用于和板中的测试点接触的钉床排列。在设计要测试的电路时，选择检查中使用的测试点的图案并且在测试卡具中配置对应排列的测试探针。这典型地涉及在探针板上钻出和测试探针的定制排列匹配的孔图并且接着在探针板上的这些钻出的孔里安装测试探针以形成顺应的测试接口或探针场。接着把电路板安装在铺放在测试探针排列上的卡具中。在测试期间，使弹簧加载的探针和被测度电路板上的测试点弹簧压力地接触。然后电测试信号从电路板传送到测试探针并且接着传送到卡具的外部，以便和检测板上各电路中的各测试点之间的连续性或不连续性的高速电子测试分析仪通信。
一类典型的测试卡具是所谓的“网格”类测试卡具，其中通过把测试信号传送到接收器中按网格图案排列的接口引脚组上的转接器引脚与板上图案随机的测试点接触。典型网格卡具包括一个网格状的顺应测试接口或探针场，后者典型地包括按预定图案形成的等距开口。由于其构成网格的预先规定的开口图案，这种类型的顺应测试接口通常称为网格或网格基。网格型测试卡具包含带有大量开关的测试电子电路，这些开关与和网格基开口配合的测试探针连接，从而和电子测试分析仪中的测试电路对应。在网格测试器的一实施例中使用多达四万个的开关。当在这种测试器上测试裸板时，一个转换器卡具支持网格基中的网格图案测试探针和被测板上非网格图案测试点之间的通信。在一种现有技术的网格卡具中把所谓的“倾斜引脚”用作为转接器引脚。这些引脚是直的实心引脚并且安装在作为转换器卡具的一部分的转接器板上预先钻出的对应孔中。这些倾斜引脚可以按各种方向倾斜，以把来自UUT上的随机、非网格图案的测试点的各个测试信号传送到网格基中的网格图案的测试探针组上。
其它类型的测试卡具包括非“网格型”的测试卡具。这些卡具包含带有图案上和标准网格图案不同的开口的顺应测试接口。例如，这些开口可能不等距或不均匀间隔以形成“非网格图案”。这些卡具使用倾斜引脚，以把来自顺应测试接口上的非网格图案的测试信号转发到UUT中的非网格图案上。UUT上的非网格图案和顺应测试接口上的非网格图案不同。典型地，UUT上的测试点之间的间隔可短于顺应测试接口上的对应探针之间的间隔。
近来的方法对用于印制电路板测试器的转接器卡具采用转接器引脚保持系统，该测试器在安装上该转接器卡具时具有背离底板的测试探针图案。这种卡具具有多个大致平行并且间隔的转接器板，这些板具有预先形成的孔图案用于包含并且支持穿过转接器卡具的这些板延伸的转接器引脚，以供在由卡具支持的印制电路板上的测试点和该测试器的底板上的探针之间转发测试信号中使用。在这些转接器板之一的表面上方定位一个由弹性材料构成的薄弹性引脚保持板，从而该转接器卡具携带的转接器引脚穿过该引脚保持板。该弹性引脚保持板本质上在各转接器引脚周围施加压力。当卡具倾斜或者顶面向下时，该压力把引脚保持在卡具中。该施加在这些引脚上的压力允许引脚独立于该卡具的其它引脚以及各转接器板随该保持板移动。这实质上在卡具内避免了对引脚的顺应轴向移动的阻力或限制。例如在美国5,493,230号专利中说明这种引脚保持板，该专利收录作为参考文献。
为了避免高频信号的衰减，高频或者高速数字UUT的测试要求测试源(即提供电信号的测试源)的阻抗和负载(即UUT)的阻抗匹配。此外，UUT和测试分析仪之间的互连阻抗必须和源的阻抗以及负载的阻抗匹配。目前的包含着引脚的转接器卡具的问题在于，引脚的阻抗可能随每个引脚变化。这种阻抗变化是由于用来测试一组测试点的二个引脚(即信号引脚和接地引脚)之间的间距上的变化造成的。这种变化是由于这样的事实造成的，即，UUT上要测试的测试点组之间的间距和顺应测试接口上的对应探针之间的间距是不同的。本质上，每组引脚构成一个以空气为电容器介质的电容器。由于一组引脚的间距可以和另一组引脚的间距不同，从而每组引脚之间的电容并且进行每组引脚之间的阻抗也不同。由此，目前的带有引脚的转接器卡具不适用于测试高频或高速UUT。
目前，典型地利用测试插座测试高频或高速数字UUT，例如数字电路板、安装着元件的数字电路板或者单个元件。典型地，在沿插座的整个厚度形成的空腔中安装短的弹簧探针。UUT的接触侧和从插座一侧凸出的弹簧探针的端头压接触。和测试分析仪连接的接触板和从该插座的相对侧凸出的弹簧探针的端头接触。该测试分析仪向该接触板发送高频测试信号，这些信号从该板经弹簧探针发送到UUT。但是，由于插座中弹簧探针中心之间的间距由弹簧探针的物理尺寸，即弹簧探针直径，的限制，这种类型的测试方案不能用于测试其接触点的中心间距相对短的UUT。另外，由于探针之间的间距减小，阻抗匹配可能变成是办不到的。为了使由于探针之间间距减小阻抗不匹配的影响为最小，必须使探针的长度为最小。确信匹配阻抗测试方案限于测试其接触点中心间距不小于0.07英寸的UUT。
许多现有技术卡具需要一些机械装置，例如弹簧加载探针，用于在引脚上施加顺应力以确保和UUT上的测试点的恰当接触。这种卡具的缺点是它们具有容易很快出故障的移动部件。
本发明基于认识到需要一种可用来测试其接触点中心间距小于0.07英寸的高频UUT的阻抗匹配互连。此外，本发明基于认识到需要一种这样的转接器卡具，即其不含有诸如用来向转接器卡具中的引脚施加顺应力的弹簧探针的机械装置。

发明内容
本发明涉及一种转接器卡具或者用于测试高频或高速数字电路板或者被测试单元(UUT)的互连。本发明由一种转接器卡具构成，其具有空间上间隔的顶接地支持板和底接地支持板，每块板带有穿过其厚度形成的引脚孔。在一实施例中，存在四块定位在顶板和底板之间的支持板，尽管该数据是可改变的。UUT和顶板的上表面接口。该顶板具有和UUT上的一组测试点对应的引脚孔。该底板和一个顺应的接口(或探针场)对接，后者具有一组按网格图案或非网格图案排列的弹性加载测试探针。底板上的孔和该弹簧探针图案对应。该探针图案典型地和UUT上的该组测试点形成的图案不同。第二电路板和该测试分析仪以及该顺应测试接口连接。
利用同轴引脚提供从测试分析仪到UUT上的测试点的信号路径，这些测试点的中心可按小于0.07英寸甚至小于0.025英寸的距离相隔。同轴引脚是由单个由屏蔽包围的信号引脚构成的。该信号引脚通过绝缘材料和该屏蔽隔离。该屏蔽充当地。信号引脚和每个引脚使用的屏蔽之间的间距是相同的。从而，每个同轴引脚具有相同的阻抗。
同轴引脚的端头磨成一个点，从而各信号引脚超过各自的屏蔽。同轴引脚的一端穿过顶板上的孔，而另一端穿过底板上的孔并且和顺应测试接口中的一个预先确定的弹簧加载测试探针接触，该弹簧加载测试探针对该同轴引脚施加顺从力，以确保和UUT上的测试点的可靠接触。来自测试分析仪的信号通过第二电路板经弹簧加载测试探针并且经同轴引脚传送到UUT上的测试点。还使用接地引脚，以使UUT上的接地点和顺应测试接口中的接地的弹簧加载测试探针连接。
同轴引脚、接地引脚、同轴测试探针、UUT、测试分析仪以及接口电路板的阻抗是匹配的。顺应测试接口中的各探针的阻抗是相邻的信号探针和接地探针之间的间距的函数。阻抗上的匹配允许把这种互连应用于对高频或高速数字电路板的测试。
在另一实施例中，该转接器卡具不包含任何弹簧加载探针并且从而不和顺应测试接口对接。而UUT和顶板对接。与测试分析仪连接的第二电路板和底板对接。同轴引脚提供第二和第一电路板之间的信号路径。在测试期间，通过应用真空或者通过机械装置这二块电路板彼此相对移动，从而使各同轴引脚扣紧，最好为欧拉扣紧。引脚的扣紧造成它们对二个电路板施加顺从力，从而确保引脚和UUT上的测试点之间的以及引脚和第二电路板上的适当点之间的可靠接触。第二板上的点形成网格式或非网格式图案。
借助该实施例，利用二件式支杆使顶板和底板隔开。每个二件式支杆包括可和第二构件滑动啮合的第一构件。一个构件和顶板连接，而另一个构件和底板连接。在扣紧引脚之前，第一构件不跨过二个板之间的整个距离。在第一构件和一个板之间存在间隙。随着二个电路板彼此相对地移动，各个引脚扣紧。同时，该在第一构件和一个板之间形成的间隙消失。从而，该间隙的初始宽度控制二个电路板彼此相对移动的量，并且由此引脚扣上的量。每个同轴引脚的信号引脚和屏蔽之间的间距保持不变，即使扣紧上同轴引脚时。从而，即使扣紧上，同轴引脚的阻抗保持不变。
通过改变顺应测试接口或测试分析仪电路中孔间间距，引脚可以充分倾斜以提供对UUT上的接触点的互连，这些接触点中心之间的距离可以小于0.07英寸甚至小于0.025英寸。另外，由于同轴引脚提供阻抗匹配，可把本发明的互连应用于测试高频UUT。
通过参照下面的详细说明以及各附图会更全面地理解本发明这些以及其它方面。


图1是示意方块图，示出测试仪以及依据本发明原理的带有引脚保持装置的转接器卡具的组成部分。
图2是带有刚性同轴引脚的转接器卡具的局部剖面图。
图3是同轴引脚的剖面图。
图4A是带着不具有弹簧加载探针的刚性同轴引脚的转接器卡具的局部剖面图。
图4B是图4A的转接器卡具在扣上同轴引脚时的局部剖面图。
图5A是图4A的转接器卡具的正视图。
图5B是图4B中示出的转接器卡具的正视图。
本发明的详细说明参照图1的示意方块图，电路板测试仪包括一个顺应测试接口板或探针场(本文中称为“顺应测试接口”)10，后者具有一组在二维图案上排列的弹簧加载测试探针12。该图案可以是由一组行列上均匀间隔的测试探针组成的网格式图案，或者可以是非网格式图案，即只由均匀间隔的测试探针构成的图案。测试探针12包括从顺应测试接口的表面上凸起的、典型地在探针组上均匀分布的弹簧加载插杆。转接器卡具或互连14支持要测试的高频或高速印制电路板16、安装着元件的电路板、单个元件或者成组的元件(本文称为“被测试单元”或“UUT”)。转接器卡具充当被测试板上的一组测试点18和该顺应测试接口中的测试探针组12之间的接口。外部电子测试分析仪20通过该转接器卡具中的测试探针和被测试板中的测试点电气连接。这些测试探针(它们可以为几种类型)概括地在22处示出。
测试分析仪20包括电子地询问UUT的各个测试点18的电子询问电路以便确定任何二个给定测试点之间的高频电气连接特性。UUT上的测试点间检测出的高频特性电子上和已存储的从事先询问无故障母(主)印制电路板的测试点得到的基准结果比较。如果测试结果和该存储的基准结构匹配则被测板是好的，但是如果板上的电路中存在问题，通过该测试结果查出该问题从而可把坏板和好板区分开。
电子询问电路可以由多个具有用于进行电子测试的电子元件和印制电路的印制电路卡构成。测试过程中使用的每个测试探针可以通过一个通往该测试分析仪的对应开关24和测试电子电路连接。在包含着开关的网格式测试仪(即包含着用来接纳测试探针的网格图案孔组的顺应测试接口的测试仪)中，可以存在多达4万个用于测试被测板上的各个测试点的开关。这些开关最好包含在一个或多个电路板中。
转接器卡具14可包括一串垂直间隔的平行转接器支持板，它们可包括顶板26，顶板下方短距离处的上板28，靠近该转接器卡具中间高度处的中板30以及位于该转接器卡具的底部的底板32。在一优选实施例中，可在中板和底板之间包含一块附加的下支持板33(图2)。通过把该卡具保持为一个整体刚性单元的刚性支柱组35把这些转接器板支承在垂直间隔的平行位置上。该卡具还包括一组标准转接器引脚，例如示意地在22处示出的穿过转换器板26、28、30和32的倾斜引脚。为了简单图1只示出一些标准倾斜引脚。这些穿过转接器卡具的底板32的倾斜引脚对准顺应测试接口10中的测试探针12的图案。穿过顶板26的倾斜引脚顶部为非网格式图案，该图案排列成和UUT上的测试点18的随机图案匹配。这样，倾斜引脚可以轻微倾斜，从而可以使用各种三维定向，以进行该顺应测试接口上的探针图案和顶板上的非网格式图案之间的转换。由于它们是倾斜的，倾斜引脚能和UUT上的其中心间距小于0.07英寸的测试点接触。通过倾斜引脚而不是把它们保持成彼此平行，可以使各个引脚点彼此大为接近。
这些标准倾斜引脚穿过底板、下板、中板、上板和顶板上的孔。每块转接器板上的孔钻成图案，该图案根据周知的过程通过标准计算机操作软件控制从而使倾斜引脚按各种定向排列以便实现顺应测试接口上的探针图案和UUT上的非网格式图案之间的转换。
倾斜引脚还穿过位于底部上方(并且在一优选实施例中位于下板的下方)由一块薄的弹性材料公用板构成的弹性引脚保持板34。在前面提到的美国5,493,230号专利中说明该引脚保持板。
本发明涉及利用带有倾斜引脚的转接器卡具测试高频或高速数字UUT。申请人发现使用倾斜引脚可以测试触点中心靠近，即二个触点中心之间的间距小于0.07英寸甚至小于0.025英寸，的UUT。高频测试包括频率等级超过100M赫、测试带宽超过1G赫的测试。在1-2G赫范围甚至在4G赫范围进行测试是常见的。为了避免高频信号的衰减，源(即测试电路)的阻抗和负载(即UUT)的阻抗匹配。这要求倾斜引脚的阻抗以及弹簧加载探针的阻抗和负载的阻抗匹配。安装在转接器卡具中的普通倾斜引脚的阻抗可能随引脚不同而不同。这是因为在每组用来测试UUT上的一组测试点的引脚中测试信号引脚和相邻的接地引脚之间间距是不同的。本质上，相邻的引脚形成一个空气充当介质的电容器。由于引脚组之间间距是不同的，从而电容并且进而阻抗也是不同的。本发明通过使用带有图2中所示的刚性同轴引脚的转接器卡具克服该问题。
同轴引脚23包括一个由接地屏蔽42(图3)包围的中央信号引脚40。介质44使信号引脚和屏蔽隔离。从引脚的一端到另一端，信号引脚和屏蔽之间的径向距离46并且从而该介质的径向厚度是不变的。从而，同轴引脚具有规定的阻抗。依据本发明，转接器卡具中包含的同轴引脚实际上具有相同的阻抗。在一实施例中，负载和UUT的阻抗都是50欧姆。从而，在该实施例中，同轴引脚的阻抗也是50欧姆。
同轴引脚的端头磨成一个点，从而每个信号引脚40超过屏蔽。此外，通过具有端点，借助倾斜同轴引脚的端点相互更靠近，从而能使它们和UUT上的间距小于0.025英寸的点接触。
当在该转换器卡具中定位时，同轴引脚屏蔽的一端接在顶板的上表面50上，而另一端终接在底板的下表面52上。顶板和底板是接地板并且利用低损耗接地连接48二者连接到电接地。信号引脚从顶板伸出以和UUT接触并且从底板伸成以和信号载送弹簧加载探针接触。弹簧加载探针在引脚上施加顺从(compliant force)力以便确保和UUT上的测试点的可靠接触。
可以使用接地引脚54以和UUT上的接地测试点以及顺应测试接口中的接地的弹簧加载探针(也称为“接地探针”)接触。接地引脚的阻抗也和源、负载以及同轴引脚的阻抗匹配。信号探针和接地探针的阻抗是顺应测试接口中的探针间距的函数。由于同轴引脚的阻抗不受引脚之间的间距的影响，容易设计顺应测试接口中的探针的间距以产生所要求的探针阻抗并且接纳尺寸合理的弹簧加载探针。
在一优选实施例中，接口电路板58使弹簧加载探针和测试设备对接。在该实施例中，信号引脚23和接口电路板58上的信号点连通。电路板58的阻抗也和负载的阻抗匹配。这样，接通一条从测试设备经该接口电路板、经一个信号探针、经UUT上的一个测试点、经UUT上的一个接地测试点并且经一个接地引脚到地的电路。备择地，UUT上的接地测试点可以直接接地到顶板上，从而缓和接地引脚的需要。
在另一实施例中，转换器卡具包括顶板126和底板132但不使用其它中间板(图4A)。顶板和UUT16对接而底板和测试分析仪接口电路板158对接。如前一实施例那样，顶板和底板接地。每个板具有贯穿其整个厚度的孔60。出于简便在图4A中把顶板和底板示出具有一个孔60。顶板孔和UUT上的各测试点对齐。底板孔和接口电路板上的各信号点对齐。它们还可以和接口电路板上的接地点对齐。接口电路板上的接地点和UUT上的接地测试点可分别直接和接地的底板或顶板接触。
同轴倾斜引脚123的一端装入底板上的孔中并且另一端装入顶板的孔中，从而提供测试分析仪和UUT之间的必需信号路径。由于同轴倾斜引脚的端头和末端最好磨成使中央信号引脚超过屏蔽的锥形，只有信号引脚的尖点和UUT上的测试点以及接口电路板的信号点接触。屏蔽和顶板以及底板上的孔60的环壁接触。在UUT上的接地点不接地到顶板上的情况下，还可以采用这种倾斜引脚形状的接地引脚。
利用支杆70(图5A)顶板126和底板132连接。每个支杆最好包括和第二构件74滑动啮合的第一构件72。一个构件和顶板连接而另一个构件和底板连接。当安装倾斜引脚时，第一构件不跨过二个板之间的整个距离。在第一构件和一个板之间存在间隙76。接着彼此相对地移动UUT和接口电路板，从而使同轴引脚扣紧。这可以通过利用机械部件80推UUT和接口电路板中的一个或二者来实现。替代地，可以通过在UUT和接口电路板之间引入使二者相对移动的真空来予以实现。可以通过真空装置82引入真空。利用机械部件或者真空装置使板彼此相对地移动在技术上是周知的。随着板彼此相对地移动，各倾斜引脚在欧拉扣紧下扣紧(图4B)。当对细长杆，即引脚，以Pcr施加负载时出现欧拉扣紧，Pcr等于4π2EI/l2，其中E是同轴引脚的弹性模量，I是转动惯量而l是引脚的自由长度64。
当UUT和接口电路板彼此相对移动时，每个支杆的二个构件也彼此相对滑动从而闭合间隙76。一旦该间隙闭合(图5B)，UUT和接口电路板彼此不能进一步相对移动。从而，可以设计间隙宽度以把引脚的扣紧限制在所需水平上。
一旦扣紧，同轴引脚对UUT上的测试点以及接口电路板上的适当点施加顺从力。因此，不需要用于在引脚上施加顺从力以便确保引脚和UUT上的测试点之间的可靠接触的弹簧加载探针。
在欧拉扣紧期间每个同轴引脚之间的中央信号引脚和屏蔽之间的间距保持不变。这样，尽管扣紧可能改变引脚之间的间距，但同轴引脚的阻抗保持不变。因此，采用同轴引脚能把本发明的互连应用于在高频下测试UUT。
该实施例的一个优点是不必在测试电路中使用弹簧加载探针。结果是，还可以减小为了在顺应测试接口上使这些探针具有适当空间以便使它们的阻抗和UUT的阻抗匹配所需的时间和成本。如前一实施例那样，也需要接口电路板的阻抗和UUT的阻抗匹配。此外，如果使用接地引脚，接地引脚的阻抗也应和UUT的阻抗匹配。
在一替代实施例中，顶板可以和一个不是UUT的第一电路板(未示出)对接。在这种实施例中，UUT和该第一电路板连接或以其它方式对接。类似地，底板可和第二电路板(未示出)对接。在这种情况下，该第二电路板和该接口电路板158会彼此连接或者按其它方式对接。
权利要求
1.一种用于使要在高频下测试的一块电路板和提供高频测试信号的测试分析仪设备相连接的转接器卡具，该卡具包括一块用于和被测试的电路板连接的顶板；一块用于和用来提供高频测试信号源的测试分析仪设备连接的底板；以及多个由该顶板以及该底板支持的同轴测试引脚，每个测试引脚包括一个实心的中央引脚，其中每个中央引脚具有延伸到该顶板上的第一端以及延伸到该底板上的第二端以提供从该测试分析仪设备到该电路板上的测试点的测试信号路径，所述同轴测试引脚实质上具有相同的阻抗以促进足以在高频下实现对该电路板有效测试的阻抗匹配。
2.根据权利要求1所述的卡具，其中每个同轴引脚还包括一层同轴环绕中央引脚的屏蔽，通过不导电材料隔离屏蔽和中央引脚，其中在引脚的每个端头处中央引脚超出屏蔽。
3.根据权利要求2所述的卡具，其中顶板和底板是接地的，其中顶板和底板具有贯穿它们的厚度的孔，其中每个同轴引脚的屏蔽和顶板上的孔的环壁接触并和底板上的孔的环壁接触，并且其中每个同轴引脚的中央引脚伸出到顶板的上表面之上并伸出到底板的下表面之下。
4.根据权利要求3所述的卡具，其中每个同轴引脚的屏蔽不伸出到顶板的上表面之上和底板的下表面之下。
5.根据权利要求3所述的卡具，还包括多个接地引脚，每个接地引脚具有穿过顶板上的孔用于和被测试电路板上的测试点接触的第一端以及穿过底板上的孔的第二端。
6.根据权利要求3所述的卡具，还包括一个提供底板和测试设备之间的接口的顺应测试接口板，该顺应测试接口板包括多个孔，其中每个孔和底板上的一个孔对应；以及每个顺应接口板孔中的一个弹簧加载探针，用于对穿过对应孔伸到底板下表面之下的中央引脚施加力以使该同轴引脚和被测试电路板上的测试点可靠接触。
7.根据权利要求6所述的卡具，还包括多个接地引脚，每个接地引脚具有穿过顶板上的孔用于和被测试电路板上的测试点接触的第一端以及穿过底板上的孔并和一个弹簧加载探针接触的第二端。
8.根据权利要求7所述的卡具，其中布置和一个中央引脚接触的弹簧加载探针与相邻的和一个接地引脚接触的弹簧加载探针之间的间距，以产生通过每个所述探针的和同轴引脚的阻抗匹配的阻抗。
9.根据权利要求8所述的卡具，其中把同轴引脚的阻抗选择成和被测试电路板的阻抗以及测试设备的阻抗匹配。
10.根据权利要求6所述的卡具，还包括一块和底顺应测试接口板的下表面连接的测试设备电路板，该测试设备电路板具有和测试设备的阻抗匹配的阻抗，并且该电路板具有和弹簧加载探针接触的触点以便提供测试设备和探针之间的电气路径。
11.根据权利要求1所述的卡具，其中每个同轴引脚的阻抗约为50欧姆。
12.根据权利要求1所述的卡具，还包括一块用于和测试设备连接的下电路板，该下电路板和底板的下表面对接并且具有用来提供对同轴引脚的电气路径的接触点，其中扣紧各引脚以对下电路板上的接触点以及被测试电路板上的测试点施加力。
13.根据权利要求12所述的卡具，其中同轴引脚被欧拉扣紧。
14.根据权利要求12所述的卡具，还包括用于相对于底板支持顶板的支杆，每条支杆包括和板之一连接的第一构件；以及和另一个板连接的第二构件，第二构件滑动地和第一构件啮合，从而能使顶板相对于底板移动。
15.根据权利要求14所述的卡具，其中这些支杆限制一块板向另一块板的移动。
16.根据权利要求12所述的卡具，其中每个同轴引脚由一个带有同轴的屏蔽的中央引脚构成，通过不导电材料该屏蔽和该中央引脚隔离，其中在该中央引脚的每端该中央引脚超出该屏蔽并且其中中央引脚穿过底板以和下电路板上的接触点接触。
17.一种电路板测试系统，包括包括多个测试点的第一电路板；用于和测试信号提供设备对接的第二电路板，该第二电路板包括多个信号点；一个转接器卡具包括一个上表面和该第一电路板连接的顶板，该顶板包括多个孔，每个孔和该第一电路板上的一个测试点连通，一个下表面和该第二电路板连接的底板，该底板位于该顶板的下方并和该顶板间隔，该底板包括多个孔，其中每个孔和该第二电路板上的一个信号点连通，以及多个同轴引脚，每个引脚具有一个同轴地带有大致圆柱型的屏蔽套的中央引脚，通过不导电材料屏蔽套和中央引脚隔离，其中在每个同轴引脚的每个端头处中央引脚超过屏蔽套，其中每个中央引脚的第一端穿过顶板上的一个孔并且每个中央引脚的第二端穿过底板上的一个孔，其中每个同轴引脚的外屏蔽套和顶板以及底板接触；以及使一个电路板相对另一个电路板移动的装置，以使同轴引脚扣紧并且产生使每个中央引脚端头和第一电路板上的一个测试点和第二电路板上的一个信号点可靠接触的力从而提供从该信号点到该测试点的信号路径。
18.根据权利要求17所述的系统，其中各引脚承受欧拉扣紧。
19.根据权利要求18所述的系统，其中该装置包括使一块电路板相对另一块电路板移动的真空生成装置。
20.根据权利要求18所述的系统，其中该装置包括使一块电路板向另一块电路板移动的机械装置。
21.根据权利要求18所述的系统，其中该第一电路板是要被该系统测试的电路板。
22.根据权利要求18所述的系统，其中该第一电路板、该第二电路板以及各引脚具有区配的阻抗。
23.根据权利要求22所述的系统，其中同轴引脚的阻抗为50欧姆。
24.一种用于使要在高频下测试的一块电路板和一个提供高频测试信号的测试分析仪相连接的转接器卡具，该卡具包括一块用于和要被测试的电路板连接的顶板；一块用于和用来提供高频测试信号源的测试分析仪设备连接的底板；以及多个测试引脚，每个引脚包括一个内实心部分，所述引脚内部按第一预定图案和该顶板对接并且按第二预定图案和该底板对接以便提供从该测试分析仪到该电路板上的测试点的测试信号路径，其中该第一预定图案和该第二预定图案不同，并且其中每个测试引脚上实质上具有相同的阻抗以促进在高频下有效测试该电路板的阻抗匹配。
25.根据权利要求24所述的卡具，其中至少一些测试引脚是同轴测试引脚。
26.一种电路板测试系统，包括一个要被测试的电子单元，其具有形成第一图案的第一接触点阵列；一个具有第二接触点阵列的信号提供电路板，该第二接触点阵列和该第一接触点阵列相对应，该第二接触点阵列形成和该第一图案不同的第二图案；以及多个同轴引脚，每个引脚具有一个从该电路板的一个接触点延伸到该单元上的一个对应接触点的实心内构件。
27.根据权利要求26所述的系统，其中同轴引脚承受欧拉扣紧。
28.根据权利要求26所述的系统，其中该电路板通过该第二接触点阵列提供高频信号，这些信号的频率不低于100兆赫。
29.一种电路板测试系统，包括一个要被测试的高频电子单元，其具有用于传送频率不低于100兆赫的高频信号的接触点组，其中第一接触点的中心离第二接触点的中心的距离小于0.07英寸；一个用于提供高频测试信号的电路板，该电路板具有用于传送这些高频信号的接触点组；第一接触引脚，其第一端和该第一接触点连接而第二端和该电路板上的一个接触点连接；以及第二接触引脚，其第一端和该第二接触点连接而第二端和该电路板上的一个接触点连接。
30.根据权利要求29所述的系统，其中该电子单元第一和第二接触点中心之间的距离不大于0.025英寸。
31.根据权利要求30所述的系统，其中这些引脚是同轴引脚。
32.根据权利要求29所述的系统，其中该单元和引脚阻抗匹配。
33.根据权利要求29所述的系统，其中信号的频率不低于1吉赫。
34.根据权利要求29所述的系统，其中接触引脚承受欧拉扣紧。
全文摘要
一种用于测试高频和高速数字电路板的转接器卡具。该卡具具有引脚支持顶板(29)和底板(32)以及插入到该卡具中的用来提供从测试分析仪到被测试电路板(16)的信号路径的同轴、阻抗固定的测试引脚组(23)。被测试板和该顶板的上表面连接。各同轴引脚的阻抗和被测试板的阻抗以及测试分析仪的阻抗匹配。施加在同轴引脚上的力确保引脚和被测试电路板上的测试点的接触。该力是通过安装在该底板下面的顺应测试接口(10)上的弹簧加载探针(12)施加的。也可以通过被测试电路板和与该底板或该测试分析仪连接的第二电路板之间的相对运动使引脚承受欧拉扣紧施加该力。
文档编号G01R1/06GK1559008SQ01823783
公开日2004年12月29日 申请日期2001年10月10日 优先权日2001年10月10日
发明者查尔斯·J·约翰斯顿, 查尔斯 J 约翰斯顿 申请人:特拉华资本形成公司