专利名称：检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检测装置，特别是一种针对小型光学组件的检测装置。
现有光学零组件的检测仪器主要为光波量测系统，藉由扫描波长测试系统的分析，将光学零件做等级分类，并将不良品筛检出来，传统此一量测分检动作，是采用人工作业，利用人力将待测零件夹持到测式系统的载台，加以定位后并开启激光光源，再由人力读取分析结果后参考资料库数据将产品分类的。此种办法除了因人为因素夹持细小工作上件产生定位的误差外，读取资料及比对资料库也可能产生错误，而长时间的量测及分类动作更造成人力的疲乏及浪费。
本实用新型是这样实现的，一种检测装置，其特征在于包括一置料机构，一搬送机构及一量测机构；置料机构设于机架平台上，于两侧设有供承载工件的载板；搬送机构横跨于置料机构上方，其上设有固定座，该搬送机构带动固定座平移运动，以带动固定座上的取料头取放载板的工件；量测机构设于置料机构两侧载板间，具有复数组的检测平台，检测平台的一侧设有可平移的固定座，该固定座装设有适当数量的检测头，检测头移动至相关检测平台位置。
以下结合附图
以具体实施例对本实用新型进行详细说明。此等实例仅供举例说明之用而非限制本实用新型。
待测上件是置放于载板11的载盘上，工件经由相应载板11位置区的搬送机构20的取料头22取放至检测平台31，定位杆32将工件推移定位后，检测头34经由固定座33的带动位移至相应检测平台31，再进行对待测上件的检测，检测数据经软体解读后与资料库内容进行比对，可得出该待测工件的等级并释出讯号给搬送机构20，藉搬送机构20的另侧取料头22将已测工件取放至相应载板12的分类载盘上，上述动作的连动及相关对应位置的决定则经由可程控装置的设定而达成。
传统小型光学组件的检测是经由人力取放于光学检测头下，再加以定位后启动检测头，使光束穿过待测工件，并将接受器所测得的透射率、折射率等数据经比对后再由人力作分类，诸此等等皆使产量与品质无法有效提升；本实用新型藉由各机构的相对作动，可大幅缩短被测组件检测流程所需花费的时间，尤其针对小型化的光学组件，更可提供稳定精确的定位结果，并在最短时间内完成检测及分类动作，使产量及量测品质皆能同时提高。
虽然本实用新型实施例仅显示一种态样，但是上所述仅为本实用新型的较佳实施例，不能来限定本实用新型的范围。因此，凡依本实用新型上述内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本实用新型涵盖的范围内。
权利要求1.一种检测装置，其特征在于包括一置料机构，一搬送机构及一量测机构；置料机构设于机架平台上，于两侧设有供承载工件的载板；搬送机构横跨于置料机构上方，其上设有固定座，该搬送机构带动固定座平移运动，以带动固定座上的取料头取放载板的工件；量测机构设于置料机构两侧载板间，具有复数组的检测平台，检测平台的一侧设有可平移的固定座，该固定座装设有适当数量的检测头，检测头移动至相关检测平台位置。
2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于置料机构两侧载板上设有适当数量的可装移载盘。
3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于搬送机构的取料头以吸放或夹持方式进行工件的取放。
4.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于量测机构的检测平台设有相应的定位杆，该定位杆对置放于检测平台的工件进行定位。
5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于定位杆以伸缩推移方式对上件定位。
专利摘要本实用新型是一种检测装置，主要包括一置料机构，一搬送机构及一量测机构，该置料机构的一侧可供承载待测物；该搬送机构可作两轴的平移动作，将待测物取放于量测机构的检测平台，并将经检测完成的已测物取放于置料机构的另一侧；该量测机构具有复数组的定位检测平台，及相配合的光学发射接受组，可对待测物作透射率、折射率筝光学特性的检测；藉由各机构的相对连动，大幅缩短被测组件险测流程所用时间，尤其针对小型的光学组件，更可提供稳定精确的定位结果，再进行光学量测动作，缩短组件上平台量测的等待时间，使产能及量测品质皆能同时有所提高。
文档编号G01M11/00GK2550743SQ0223930
公开日2003年5月14日 申请日期2002年6月20日 优先权日2002年6月20日
发明者余惠民, 陈杲卿, 王连能 申请人:技创科技股份有限公司