专利名称：边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置与方法
技术领域：
本发明涉及边际扫瞄测试界面的技术领域，尤其是指一种适用于边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置与方法。
背景技术：
随着晶片封装及多层印刷电路板技术的复杂化，传统以针床的测试方式已难于和印刷电路板上的节点接触，且由于表面粘着技术的成熟化，使得IC多已直接粘着在电路的表面上，因而造成IC内部讯号直接量测的困难。为解决此一问题，边际扫瞄(Boundary scan)技术便因应而生，例如JTAG(Joint Test Action Group)的boundary scan，其正式标准名称为IEEE1149.1，及IEEE1149.4的Digital Test Access Port界面便定义了可用于测试IC的边际扫瞄测试界面，其主要是以序列扫瞄链(Serial scan chain)来进行集成电路内部模组的测试，如图1所示为JTAG的界面架构，其采用五根讯号脚位(TDI，TDO，TMS，TCK，nTRST)作为扫瞄链资料的操作，其中，TDI脚位是作为序列资料输入、TDO脚位是作为序列资料输出、TMS脚位是作为模式选择输入、TCK脚位是作为时脉讯号输入、而nTRST脚位则提供系统重置的功能，而如图所示，JTAG架构包含有一测试存取接口(Test Access Port，TAP)控制器11、一测试资料暂存器12(Test data register)、一指令暂存器13、及一解码器14等。
在测试资料暂存器12中，一组扫瞄链暂存器121(Scan chainregister)是提供作为一扫瞄链(Scall chain)，可储存TDI脚位所输入的串列资料，一识别码暂存器122用以储存特殊的编号，其仅供输出，一旁通暂存器123是用以将TDI脚位的输入直接传递至TDO脚位以输出。
该指令暂存器13用以储存TDI脚位所输入的序列指令，并由一解码器14解码以控制该TAP控制器11的运作。
该TAP控制器11即依TMS脚位的输入而进行状态移转，且依据测试资料暂存器12的资料及解码器14的解码结果而运作，图2显示出该TAP控制器11的状态移转图，其是在TCK的正缘时取样TMS的讯号而作状态移转，如图所示，在初始时，TAP控制器11是在Test-LogicReset状态，之后，其可能进入闲置处理21、资料暂存器处理22、以及指令暂存器处理23等三部分状态，其中，如TMS输入为1，Test-LogicReset状态保持不变，当TMS输入为0时，状态移转为闲置处理21的Run-Test/Idle状态；于Run-Test/Idle状态时，如TMS输入为0，Run-Test/Idle状态保持不变，当TMS输入为1时，状态移转为资料暂存器处理22的Select-DR-Scan状态；于Select-DR-Scan状态时，如TMS输入为0，则进入Capture-DR状态，进而进行对于测试资料暂存器12的处理，当TMS输入为1时，状态移转为指令暂存器处理23的Select-IR-Scan状态；于Select-IR-Scan状态时，如TMS输入为0，则进入Capture-IR状态，进而进行对于指令暂存器13的处理，当TMS输入为1时，状态移转为初始时的Test-Logic Reset状态。
以上述JTAG的架构，对于控制讯号的传递或暂存器的存取，均透过TDI与TDO脚位来读写，然而，TDI及TDO的资料读写有其循序性，容易为人所侦测。因此无法保护例如机密性的暂存器值。惟在现今处理器的开发中，常会遇到要保护开发工具，不被他人盗用的状况。故如何在边际扫瞄测试界面标准中保护机密性的资料的存取，便成为一亟待解决的课题。
发明内容
本发明的主要目的是在提供一种边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置与方法，其无需经由标准的资料输入输出脚位即可读写资料，而实现在边际扫瞄测试界面标准中保护机密性资料的存取的目的。
本发明的另一目的是在提供一种边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置与方法，以便能在相容于边际扫瞄测试界面标准下，可读写机密性的资料，而完全不影响边际扫瞄测试界面所有状态与资料的路径。
为实现上述目的，本发明提供的一种边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，该边际扫瞄测试界面是依据一预定的状态移转图而运作，该状态移转图根据一输入而进行状态移转，其中，所进行的状态移转包括至少一无作用状态回圈，该装置包括一状态侦测器，用以监测该输入，以当侦测出有一第一预设输入串时，产生一第一资料的输出，之后，当侦测出有一第二预设输入串时，产生一第二资料的输出，其中，该第一预设输入串及第二预设输入串是符合该无作用的状态回圈的不同输入串；一移位暂存器，用以储存该状态侦测器所输出的第一及第二资料的组合，该第一及第二资料的组合包括一输入键值；一隐藏暂存器，用以储存资料；一比较装置，是将该输入键值与一预设的写入键值相比，以当两者相符时，将一特定写入资料载入该隐藏暂存器。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该第一及第二资料的组合更包含有该特定写入资料的资讯。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其更包括一选择器，用以选择将该隐藏暂存器或边际扫瞄测试界面界面所定义的一特定暂存器的内容输出。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该比较装置是将该输入键值与一预设的读出键值相比，以当两者相符时，控制该选择器以将该隐藏暂存器的内容输出。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该比较装置是将该输入键值与一预设的回复键值相比，以当两者相符时，控制该选择器以将该特定暂存器的内容输出。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该输入键值是为该第一及第二资料的组合的奇数位元，该特定写入资料是为该第一及第二资料的组合的偶数位元。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该边际扫瞄测试界面为一JTAG界面，该输入为一TMS输入。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该边际扫瞄测试界面为一IEEE1149.1界面，该输入为一TMS输入。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该边际扫瞄测试界面为一IEEE1149.4的Digital Test Access Port界面，该输入为一TMS输入。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该状态移转图是初始于一Test-Logic Reset状态，且在TMS输入为1时，状态保持不变，当TMS输入为0时，状态移转为Run-Test/Idle状态，且在TMS输入为0，状态保持不变，当连续三个TMS输入为1时，状态移转为Test-Logic Reset状态，而形成该至少一无作用状态回圈。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该第一预设输入串为‘0111’，该第二预设输入串为‘1’。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该第一资料为‘1’，该第二资料为‘0’。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该第一预设输入串为，0 111’，该第二预设输入串为‘1’，当中 代表至少一个0。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该第一资料为‘1’，该第二资料为‘0’。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该状态侦测器所输出的资料是依JTAG所定义的TCK讯号来取样而存入该移位暂存器中。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其中，该特定暂存器为识别码暂存器。
为实现上述目的，本发明提供的一种边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，该边际扫瞄测试界面是依据一预定的状态移转图而运作，该状态移转图根据一输入而进行状态移转，其中，所进行的状态移转包括至少一无作用状态回圈，该方法包括(A)监测该输入，以当侦测出有一第一预设输入串时，产生一第一资料的输出，而当侦测出有一第二预设输入串时，产生一第二资料的输出，其中，该第一预设输入串是符合该无作用的状态回圈的一输入串，该第二预设输入串是不同于该第一预设输入串且符合该无作用的状态回圈的输入串；(B)暂存该输出的第一、第二资料的组合，其中，该第一及第二资料的组合包括一输入键值；(C)比较该输入键值与一预设的写入键值，以当两者相符时，将一特定写入资料载入一隐藏暂存器。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其中，该第一及第二资料的组合更包含有该特定写入资料的资讯。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，更包括一步骤(D)以将该输入键值与一预设的读出键值相比，当两者相符时，将该隐藏暂存器的内容经由边际扫瞄测试界面所定义的一特定暂存器的输出路径而输出。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，更包括一步骤(E)以将该输入键值与一预设的回复键值相比，当两者相符时，使得边际扫瞄测试界面所定义的特定暂存器的输出路径仍输出该特定暂存器的内容。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其中，于步骤(B)中，该输入键值是为该第一及第二资料的组合的奇数位元，该特定写入资料是为该第一及第二资料的组合的偶数位元。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其中，该边际扫瞄测试界面为一JTAG界面，该输入为一TMS输入。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其中，该边际扫瞄测试界面为一符合IEEE1149.1界面，该输入为一TMS输入。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其中，该边际扫瞄测试界面为一IEEE1149.4的Digital Test Access Port界面，该输入为一TMS输入。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其中，该状态移转图是初始于一Test-LogicReset状态，且在TMS输入为1时状态保持不变，当TMS输入为0时，状态移转为Run-Test/Idle状态，且在TMS输入为0，状态保持不变，当连续两个TMS输入为1时，状态移转为Test-Logic Reset状态，而形成该至少一无作用状态回圈。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其中，于步骤(A)中，该第一预设输入串为‘0111’，该第一资料为‘1’，该第二预设输入串为‘1’，该第二资料为‘0’。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其中，于步骤(A)中，该第一预设输入串为‘0 111’，该第一资料为‘1’，当中 代表至少一个0，该第二预设输入串为‘1’，该第二资料为‘0’。
所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其中，该特定暂存器为识别码暂存器。
由以上的说明可知，本发明通过由使用边际扫瞄测试界面的状态移转图中无作用的状态回圈来传输隐含讯号，无需经由标准的资料输入输出脚位即可输入讯号，可实现在边际扫瞄测试界面标准中保护机密性控制讯号的传输的目的，且完全不影响边际扫瞄测试界面所有状态与资料的路径，而完全相容于边际扫瞄测试界面标准。
图1是为公知JTAG界面的架构图图2是为JTAG界面的TAP控制器的状态移转图；图3是依据本发明的边际扫瞄测试界面的架构图；图4是显示TAP控制器的状态移转图中的无作用的状态回圈；图5是为依据本发明的边际扫瞄测试界面的机密资料侦测及存取控制器的电路图；图6是为状态侦测器的运作流程图。
具体实施例方式
为能让贵审查委员能更了解本发明的技术内容，特举一较佳具体有关本发明的边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置与方法，请先参照图3所示的架构图，其包含有一TAP控制器31、一测试资料暂存器32、一指令暂存器33、一解码器34、一机密资料侦测及存取控制器35、一隐藏暂存器37、及一选择器38，其中，本发明的边际扫瞄测试界面可为JTAG、IEEE1149.1、IEEE1149.4或其他相似的界面，于本实施例中，边际扫瞄测试界面是为一JTAG界面，故该等TAP控制器31、测试资料暂存器32、指令暂存器33、及解码器34是依JTAG的标准而运作，其采用序列资料输入(TDI)、序列资料输出(TDO)、模式选择输入(TMS)、时脉讯号输入(TCK)、系统重置(nTRST)等五根讯号脚位来作为扫瞄链资料的操作，前述选择器38是用以选择将隐藏暂存器37或测试资料暂存器32中的识别码暂存器321的内容输出的，而前述机密资料侦测及存取控制器35是可依据TMS输入而实现机密资料的读写。
再请参照图2所示，由JTAG标准所定义的状态移转图可知，在JTAG界面不动作时，TMS脚位输入是持续为1(亦即，有一连串的‘1’的输入、)，使其保持在Test-Logic Reset状态，当欲作动JTAG界面时，才将TMS输入改变为0以进行状态移转，然而，为避免在一连串的1中误产生一个0而错误地作动JTAG，因此，在TMS脚位输入为0而移转至Run-Test/Idle状态后，如TMS脚位输入仍持续为1，则状态将经由Select-DR-Scan状态、Select-IR-Scan状态、而移转回初始的Test-Logic-Reset状态，实质上仅执行了一个无作用的状态回圈，而不会进入任何实际动作的状态，因而避免误动作的产生。
图4绘示出前述无作用的状态回圈，在符合此无作用的状态回圈的TMS输入，均不会在JTAG界面产生任何实际的动作，因此，本发明是通过由定义至少二个符合此无作用的状态回圈的TMS输入串，以分别作为两种不同资料A及B的输入，于本实施例中，A为二进制的0，B为二进制的1，且如图所示，本发明是较佳地定义TMS输入串‘0111’为输入资料B(＝1)，及定义随后的TMS输入串‘1’为输入资料A(＝0)。除此之外，由于Run-Testdata/Idle状态在输入0时均不改其状态，因此，亦可定义TMS输入串‘0 111’为输入资料B，其中 代表至少一个0。
再请参照图5所示前述机密资料侦测及存取控制器35的电路图，其包括一状态侦测器51、一移位暂存器52、及一比较装置50，比较装置50中包括三个比较器53、54及55，该状态侦测器51的运作流程图如图6所示，其输入TCK、TMS及由TAP控制器31产生的JTAG状态，以在判定该TAP控制器31的状态为初始的Test-Logic Reset状态时，开始监测TMS输入，而当侦测出有一TMS输入串‘0111’时，在其资料输出端511产生一资料B(＝1)的输出(步骤S601)，之后，当侦测出有一TMS输入串‘1’时，在其资料输出端511产生一资料A(＝0)的输出(步骤S602)，而此资料输出端511所输出的资料则依TCK来取样而存入该移位暂存器52中。因此，通过由在TMS脚位输入适当的字串的组合，便可在状态侦测器51的资料输出端511产生所要输入的资料组合，此资料组合是暂存于该移位暂存器52中。
前述暂存于该移位暂存器52中的资料组合的一部份是作为输入键值，而另一部分则可作为写入资料，于本实施例中，该资料组合的奇数位元是作为输入键值，而资料组合的偶数位元是作为写入资料，而比较器53、54及55是将该输入键值分别与写入键值、读出键值及回复键值比较，当输入键值与写入键值相同时，比较器53输出一写入控制讯号，当输入键值与读出键值相同时，比较器54输出一读出控制讯号，当输入键值与回复键值相同时，比较器55输出一回复控制讯号。
并请参照图3所示，前述作用的写入控制讯号将会设定(SET)该隐藏暂存器37而将前述写入资料予以载入，因此，如欲隐密地写入一笔资料时，可通过由在TMS脚位输入适当的字串的组合，以在状态侦测器51的资料输出端511产生该笔资料及相等于写入键值的输入键值，因此产生写入控制讯号而将该笔资料写入隐藏暂存器37中。
前述作用的读出控制讯号是用以控制选择器38将隐藏暂存器37的内容输出，而前述作用的回复控制讯号是用以控制选择器38将识别码暂存器321的内容输出，因此，如欲读出该隐藏暂存器37的内容时，可通过由在TMS脚位输入适当的字串的组合，以在状态侦测器51的资料输出端511产生相等于读出键值的输入键值，因此产生读出控制讯号而控制选择器38将隐藏暂存器37的内容经由JTAG界面所定义的识别码暂存器的输出路径而输出；而如不再读取该隐藏暂存器37的内容时，则通过由在TMS脚位输入适当的字串的组合，以在状态侦测器51的资料输出端511产生相等于回复键值的输入键值，因此产生回复控制讯号而控制选择器38将识别码暂存器321的内容输出，亦即，使得JTAG界面所定义的识别码暂存器的输出路径仍输出识别码暂存器的内容，因此回复原本JTAG界面的状态。
上述实施例仅是为了方便说明而举例而已，本发明所主张的权利范围自应以专利范围为准，而非仅限于上述实施例。
权利要求
1.一种边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，该边际扫瞄测试界面是依据一预定的状态移转图而运作，该状态移转图根据一输入而进行状态移转，其中，所进行的状态移转包括至少一无作用状态回圈，该装置包括一状态侦测器，用以监测该输入，以当侦测出有一第一预设输入串时，产生一第一资料的输出，之后，当侦测出有一第二预设输入串时，产生一第二资料的输出，其中，该第一预设输入串及第二预设输入串是符合该无作用的状态回圈的不同输入串；一移位暂存器，用以储存该状态侦测器所输出的第一及第二资料的组合，该第一及第二资料的组合包括一输入键值；一隐藏暂存器，用以储存资料；一比较装置，是将该输入键值与一预设的写入键值相比，以当两者相符时，将一特定写入资料载入该隐藏暂存器。
2.根据权利要求1所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该第一及第二资料的组合更包含有该特定写入资料的资讯。
3.根据权利要求2所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其更包括一选择器，用以选择将该隐藏暂存器或边际扫瞄测试界面界面所定义的一特定暂存器的内容输出。
4.根据权利要求3所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该比较装置是将该输入键值与一预设的读出键值相比，以当两者相符时，控制该选择器以将该隐藏暂存器的内容输出。
5.根据权利要求4所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该比较装置是将该输入键值与一预设的回复键值相比，以当两者相符时，控制该选择器以将该特定暂存器的内容输出。
6.根据权利要求2所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该输入键值是为该第一及第二资料的组合的奇数位元，该特定写入资料是为该第一及第二资料的组合的偶数位元。
7.根据权利要求2所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该边际扫瞄测试界面为一JTAG界面，该输入为一TMS输入。
8.根据权利要求2所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该边际扫瞄测试界面为一IEEE1149.1界面，该输入为一TMS输入。
9.根据权利要求2所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该边际扫瞄测试界面为一IEEE1149.4的Digital TestAccess Port界面，该输入为一TMS输入。
10.根据权利要求7所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该状态移转图是初始于一Test-Logic Reset状态，且在TMS输入为1时，状态保持不变，当TMS输入为0时，状态移转为Run-Test/Idle状态，且在TMS输入为0，状态保持不变，当连续三个TMS输入为l时，状态移转为Test-Logic Reset状态，而形成该至少一无作用状态回圈。
11.根据权利要求10所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该第一预设输入串为‘0111’，该第二预设输入串为‘1’。
12.根据权利要求11所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该第一资料为‘1’，该第二资料为‘0’。
13.根据权利要求10所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该第一预设输入串为， ，该第二预设输入串为‘1’，当中 代表至少一个0。
14.根据权利要求13所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该第一资料为‘1’，该第二资料为‘0’。
15.根据权利要求7所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该状态侦测器所输出的资料是依JTAG所定义的TCK讯号来取样而存入该移位暂存器中。
16.根据权利要求2所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置，其特征在于，其中该特定暂存器为识别码暂存器。
17.一种边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其特征在于，该边际扫瞄测试界面是依据一预定的状态移转图而运作，该状态移转图根据一输入而进行状态移转，其中，所进行的状态移转包括至少一无作用状态回圈，该方法包括(A)监测该输入，以当侦测出有一第一预设输入串时，产生一第一资料的输出，而当侦测出有一第二预设输入串时，产生一第二资料的输出，其中，该第一预设输入串是符合该无作用的状态回圈的一输入串，该第二预设输入串是不同于该第一预设输入串且符合该无作用的状态回圈的输入串；(B)暂存该输出的第一、第二资料的组合，其中，该第一及第二资料的组合包括一输入键值；(C)比较该输入键值与一预设的写入键值，以当两者相符时，将一特定写入资料载入一隐藏暂存器。
18.根据权利要求17所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其特征在于，其中该第一及第二资料的组合更包含有该特定写入资料的资讯。
19.根据权利要求18所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其特征在于，更包括一步骤(D)以将该输入键值与一预设的读出键值相比，当两者相符时，将该隐藏暂存器的内容经由边际扫瞄测试界面所定义的一特定暂存器的输出路径而输出。
20.根据权利要求19所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其特征在于，更包括一步骤(E)以将该输入键值与一预设的回复键值相比，当两者相符时，使得边际扫瞄测试界面所定义的特定暂存器的输出路径仍输出该特定暂存器的内容。
21.根据权利要求18所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其特征在于，其中于步骤(B)中，该输入键值是为该第一及第二资料的组合的奇数位元，该特定写入资料是为该第一及第二资料的组合的偶数位元。
22.根据权利要求18所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其特征在于，其中该边际扫瞄测试界面为一JTAG界面，该输入为一TMS输入。
23.根据权利要求18所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其特征在于，其中，该边际扫瞄测试界面为一符合IEEE1149.1界面，该输入为一TMS输入。
24.根据权利要求18所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其特征在于，其中该边际扫瞄测试界面为一IEEE1149.4的Digital TestAccess Port界面，该输入为一TMS输入。
25.根据权利要求22所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其特征在于，其中该状态移转图是初始于一Test-LogicReset状态，且在TMS输入为1时状态保持不变，当TMS输入为0时，状态移转为Run-Test/Idle状态，且在TMS输入为0，状态保持不变，当连续两个TMS输入为1时，状态移转为Test-Logic Reset状态，而形成该至少一无作用状态回圈。
26.根据权利要求25所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其特征在于，其中于步骤(A)中，该第一预设输入串为‘0111’，该第一资料为‘1’，该第二预设输入串为‘1’，该第二资料为‘0’。
27.根据权利要求25所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其特征在于，其中于步骤(A)中，该第一预设输入串为 ，该第一资料为‘1’，当中 代表至少一个0，该第二预设输入串为‘1’，该第二资料为‘0’。
28.根据权利要求19所述边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的方法，其特征在于，其中该特定暂存器为识别码暂存器。
全文摘要
本发明是有关于一种边际扫瞄测试界面中存取隐藏资料的装置与方法，其是在边际扫瞄测试界面中定义一无作用状态回圈，且在边际扫瞄测试界面的状态为初始之时，监测边际扫瞄测试界面的状态移转图的一输入，以当侦测出有一第一预设输入串时，产生一符合该无作用的状态回圈的一输入串的第一资料的输出，而当侦测出有一第二预设输入串时，产生一第二资料的输出，前述输出的第一及第二资料的组合包括一输入键值，当该输入键值与一预设的写入键值相符时，将一特定写入资料载入一隐藏暂存器。
文档编号G01R31/28GK1654971SQ200410004830
公开日2005年8月17日 申请日期2004年2月9日 优先权日2004年2月9日
发明者梁伯嵩 申请人:凌阳科技股份有限公司