专利名称：光纤型隔离器的测试装置和方法
技术领域：
本发明是涉及一种光学器件的测试装置和方法，特别涉及一光纤型隔离器的测试装置和方法。
背景技术：
光纤型隔离器是高速光纤通信系统、光纤放大器、光传感系统以及各种高精度光测试设备中的关键性器件。因此，光纤型隔离器的生产厂家和各使用单位需要准确测试它的各种性能的设备。
根据国内外现已发表的各种文献可知，测试光纤型隔离器各种性能还是采用光隔离器的测试设备，必须将光纤型隔离器正反向两次接入光路进行测试，正向通光(光由光纤型隔离器的0度偏振片一侧入射，经过法拉第旋光片、45度偏振片，由光纤端射出)可以测试插损，反向通光(光由光纤端射入，经过光纤型隔离器的45度偏振片、法拉第旋光片，由0度偏振片射出)可以测试隔离度。但是从正向通光测试插损需要有激光器和透镜，并且需要大量的时间来进行调节，最后却又往往不能测试出理想的插损。
发明内容
为了解决上述问题，本实用新型提供了一个测试准确且简便有效的光纤型隔离器的测试装置和方法。
为了实现上述目的，本发明测试装置包括一带正向磁场的磁管的法兰盘和带反向磁场的磁管的法兰盘，所述法兰盘和功率计的光探头连接，这样，当测试时，上述法兰盘的磁管将隔离芯套入其中，所述隔离器包括45度偏振片和法拉第旋光片，0度偏振片，磁场作用于隔离芯的法拉第旋光片。
在测试时根据光路可逆原理，让光源发射的光由尾纤一端入射(反向通光)，经过45度偏振片和法拉第旋光片，再由0度偏振片射出，由功率计接收测试。其中光纤型隔离器为半成品状态，即不含磁管。当利用此光路测试插损时，将上述带有反向磁场的磁管的法兰盘和功率计的光探头连接，这样在隔离芯上施加一反向磁场。而测试隔离度也同样使用此光路，仅需换上带有正向磁场的法兰盘，这是对法拉第旋光片施加正向磁场。这样测试成品的插损和隔离度就不需要分别对两端入光进行测试，而只需光源发射的光束一直从尾纤一端入射，进行变换磁场方向就可以实现。其中变换磁场方向可以分别使用两个磁管，将磁场方向相反使用即可；也可以使用电磁装置来控制磁场方向，这样将会更加方便。本发明的测试方法不仅准确的测试出产品的性能，而且大大的简化了测试繁琐程度，提高了生产效率。
本发明的优点是待测光纤型隔离器只需一次接入，不需调向，便可完成综合测试其各性能。可在测试插入损耗的同时测量其隔离度。
下面结合附图对本实用新型进一步说明。
图1为本发明光纤型隔离器的测试装置法兰盘的结构剖面图。
图2为本发明光纤型隔离器的测试方法的原理图。
具体实施例方式
下面结合附图对本发明光纤型隔离器的测试方法在作进一步说明。
图1为本发明光纤型隔离器的测试装置，如图1所示，本发明包括一带正向磁场的法兰盘51和一带反向磁场的法兰盘52，所述带正向磁场的法兰盘51包括一磁管511和一连接端512，所述磁管511包含隔离器4的隔离芯41，从而对隔离芯41施加磁场；如图2所示，所述连接端512用以和光功率计3的光探头31连接形成光路通路。带反向磁场的法兰盘52和所述带正向磁场的法兰盘51结构一致，唯一区别在于磁管521和磁管511所施加的磁场方向相反。
本发明光纤型隔离器的测试光路如图2所示，其中光源1连接一偏振控制器2，所述偏振控制器2通过熔接和光纤型隔离器4的光纤端42连接，光纤型隔离器4的近隔离器端通过法兰盘51和光功率计3的光探头31相互连接。其中光纤型隔离器4为半成品状态，即未固定磁管511。
本发明光纤型隔离器的测试方法步骤包括1.如图1和图2所示，当测量光纤型隔离器4的隔离度(IS)时，将带正向磁场的法兰盘51和功率计的光探头31相互连接，这样所述光源1发射的光束经过偏振控制器2进行偏振态调节，使光束偏振态与45度偏振片413的偏振态一致，光束通过45度偏振片413后，由于法兰盘51对法拉第旋光片412施加正向磁场，光束借由法拉第旋光片412旋转45度后光束变为90度而和0度偏振片411的偏振方向垂直，而被隔离，后通过光功率计3对接收到的功率进行测量，此时法兰盘51中的磁管511对隔离芯施加正向磁场，这样通过光功率计3测得本光纤型隔离器4的隔离度(IS)参数。
2.如图1和图2所示，当测量光纤型隔离器4的插入损耗(IL)时，将带反向磁场的法兰盘52和功率计3的光探头32相互连接，这样所述光源1发射的光束经过偏振控制器2进行偏振方向调节，使光束偏振方向与45度偏振片413的偏振方向一致，光束通过45度偏振片后，由于法兰盘52中的磁管521对法拉第旋光片412施加反向磁场，光束借由法拉第旋光片412旋转45度后光束偏振方向变为与0度偏振片413的偏振方向一致，而射出，后通过光功率计3对接收到的功率进行测量，此时法兰盘52中的磁管521对隔离芯4施加反向磁场，这样通过光功率计3测得本光纤型隔离器4的插入损耗(IL)参数。
同样上述测试可通过使用电磁场来控制磁场方向，在此不再重述。
由于利用如上方式和装置测试所述隔离器4的插损和隔离度不需要分别两端入光进行测试，而只需要光源1发射的光束从尾纤端42一端入射，进行变换磁场方向就可以实现。变换磁场方向可以分别使用两个带有正、反磁场的磁管511、521的法兰盘51、52，将磁场方向相反使用即可；也可以使用电磁装置来控制磁场方向，这样将会更加方便。本发明的测试方法不仅准确的测试出产品的性能，而且大大的简化了测试繁琐程度，提高了生产效率。
以上所述者，仅为本发明的最佳实施例而已，并非用于限制本发明的范围，凡依本发明申请专利范围所作的等效变化或修饰，皆为本发明所涵盖。
权利要求
1.一光纤型隔离器的测试方法，包括a)让光源发射的光由尾纤一端入射，经过偏振控制器、光纤端和隔离器芯、以及带磁管的法兰盘，光功率计接收光束；b)测试光纤型隔离器的插入损耗时，带有反向磁场的法兰盘和功率计的光探头连接，通过光功率计测得数据得出插入损耗参数；c)而测试隔离度时，对光隔离器施加正向磁场的法兰盘，这时对法拉第旋光片施加正向磁场，通过光功率计测得数据得出隔离度参数。
2.如权利要求1所述的光纤型隔离器的测试方法，其特征在于，步骤b)可以通过对隔离器施加一反向电磁场实现。
3.如权利要求1所述的光纤型隔离器的测试方法，其特征在于，步骤c)可以通过对隔离器施加一正向电磁场实现。
4.一光纤型隔离器的测试装置，包括一光源、一偏振控制器，以及一光功率计，光源连接一所述偏振控制器，所述偏振控制器通过熔接和光纤型隔离器的光纤端连接，光纤型隔离器的近隔离器端和光功率计的光探头相互连接，其特征在于，还包括至少一带磁管的法兰盘。所述带磁管的法兰盘的连接端和光功率计的光探头连接。
5.如权利要求4所述的光纤型隔离器的测试装置，其特征在于，其中法兰盘的磁管可以通过改变电流方向来改变磁场方向。
全文摘要
本发明光纤型隔离器在测试时根据光路可逆原理，让光源发射的光由尾纤一端入射(反向通光)，经过45度偏振片和法拉第旋光片，后借由0度偏振片射出，通过变换磁场进行插损和隔离度的测量。其中变换磁场方向可以分别使用两个磁管，将磁场方向相反使用即可；也可以使用电磁场来控制磁场方向，这样将会更加方便。本发明的测试方法不仅准确的测试出产品的性能，而且大大的简化了测试繁琐程度，提高了生产效率。
文档编号G01M11/00GK1702441SQ200410027299
公开日2005年11月30日 申请日期2004年5月24日 优先权日2004年5月24日
发明者陈贵明, 王伟 申请人:昂纳信息技术(深圳)有限公司