专利名称：光盘片检测装置的制作方法
技术领域：
本发明关于一种光盘片检测装置，尤其是一种用以检测光盘片是否变形的检测装置。
背景技术：
随着信息与多媒体世代的来临，人们对于储存媒体的储存密度及容量的需求也不断地增加。传统的储存媒体，大致上可分为两大类，分别是磁记录媒体与光记录媒体。目前市场上是以光记录媒体占优势，其包含只读型光盘(CD-ROM)、可写一次型光盘(CD-R)、可重复读写型光盘(CD-RW)、只读型数字激光视盘(DVD-ROM)、可写一次型数字激光视盘(DVD-R)、可重复读写式数字激光视盘(DVD-RW，DVD+RW)、以及动态随机记忆数字激光视盘(DVD-RAM)等等。
以现有的单面双层DVD-R光盘片10为例，如图1所示，其含有一第一基板11、一第一记录积层(first recording stack，L0)12、一间隔层13、一第二记录积层(second recording stack，L1)14、及一第二基板15。其中，第一记录积层(first recording stack，L0)12及第二记录积层(second recording stack，L1)14涂布在第一基板11和第二基板15的资料面上，且间隔层13夹置在第一记录积层12及第二记录积层14之间。
如图1所示，资料写入或读取时，激光光可穿过第一基板11聚焦于第一记录积层12，或穿过间隔层13以聚焦于第二记录积层14。也就是说，激光光会发出两种不同功率的光线，以分别聚焦于不同的记录积层上。
其中，基板(例如第一基板11、及第二基板15)的制造将塑料原料利用射出机台来成型，其将塑料原料先行加热熔融后，再利用适当的速度及压力，将熔融塑料定量充填入模具内，经加压冷却固化，再以适当的顶出方式取出塑料成品。而制成成品的基板，进入光盘片制程时，又可能因为制程的需要而进行环境的升温或是降温。因此，在经过加热及冷却的循环过程下，基板容易变形，使得光盘片的形状翘曲不平整，进而造成光盘片的品质下降。
如图2所示，为了保持光盘片的品质，则需要利用光盘片检测装置来测量光盘片是否变形。现有技术中，光盘片检测装置20具有一光盘片置放座21、一光源22、一平面镜23、一传感器24、以及一显示器25。其中，光盘片26放置于光盘片置放座21上。由光源22所发出的光线，经过平面镜23反射后，照射至光盘片26，经光盘片26反射后的光线，则再经过平面镜23反射至传感器24。而传感器24接收到光线后，则进行计算分析后以判断光盘片26是否有翘曲。最后，再由显示器25出现检测结果。
如图3A及图3B所示，传感器24利用变形翘曲的光盘片26’，其入射光的法线N偏移一角度β至法线N’，而使得反射后的出射光角度会偏移2β。而不同的角度偏移，造成传感器24测得的距离不同，经由计算分析，则可判断光盘片26是否有变形翘曲的现象。
再请参照图2，现有技术的光盘片检测装置20，光源22设置于光盘片检测装置20的一侧，距离光盘片26较远，故造成光盘片检测装置20的体积较大，进而增加了机械设备所需要的空间。这对于厂商来说，无疑是一种设备成本的增加。
有鉴于上述问题，本案发明人因于此，亟思一种可以解决现有光盘片检测装置体积较大问题的「光盘片检测装置」。
发明内容
本发明的目的为提供一种光盘片检测装置，其能减少光盘片检测装置所需要的体积。
为达上述目的，依本发明的光盘片检测装置，用以检测一光盘片是否变形，其特征是，包含一承载座，其承载该光盘片；一光源，其邻设于该承载座，且位于该光盘片下方，并发出一光线；一菱镜，其介于该光盘片与该光源之间，该光线穿透该菱镜并照射至该光盘片，该光盘片反射的该光线再经由该菱镜折射；以及一光传感器，其接收折射后的该光线，并进行分析。
此外，本发明的又一特征是，更包含一显示屏幕，其与该光传感器连结。
承上所述，本发明的光盘片检测装置，光源邻设于承载座，且利用一菱镜代替现有技术中的平面镜，以减少光盘片检测装置的体积。与现有技术相比，本发明的光盘片检测装置，能缩短了光源与光盘片的距离，再利用菱镜折射，使得光盘片检测装置的体积能缩小，进而减少了机械设备所需的空间成本。再者，光源下可具有可移动式的底座，以使得光盘片检测装置能检测到光盘片上的任何一点。另外，本发明的光盘片检测装置能检测出光盘片是否翘曲、变形，故可替产品的品质把关，进而增加出货产品的合格率。
本发明还包括其它技术特征，将在具体实施例和附图中详细阐述。
图1为已知的单面双层DVD-R光盘片的结构示意图；
图2为已知的光盘片检测装置的示意图；以及图3A及3B为已知的光盘片检测装置的部份光路径的示意图；图4为本发明的光盘片检测装置的示意图；图5为本发明的光盘片检测装置的部份光路径的示意图；以及图6为本发明的光盘片检测装置的翘曲角度计算的示意图。
图中符号说明10单面双层DVD-R光盘片11第一基板12第一记录积层13间隔层14第二记录积层15第二基板20光盘片检测装置21光盘片置放座22光源23平面镜24传感器25显示器26光盘片26’变形翘曲的光盘片30光盘片检测装置31承载座311旋转机构32光源321光线33菱镜34光传感器35光盘片
36底座37显示屏幕L0第一记录积层L1第二记录积层β光盘片翘曲角度R菱镜至光传感器的距离P无翘曲光盘片的光线入射至光传感器的位置P’有翘曲光盘片的光线入射至光传感器的位置N法线N’偏移后的法线具体实施方式
以下将参照相关附图，说明依本发明较佳实施例的光盘片检测装置。
本发明的光盘片包含只读型光盘(CD-ROM)、可写一次型光盘(CD-R)、可重复读写型光盘(CD-RW)、只读型数字激光视盘(DVD-ROM)、可写一次型数字激光视盘(DVD-R)、可重复读写式数字激光视盘(DVD-RW，DVD+RW)、以及动态随机记忆数字激光视盘(DVD-RAM)等等。
如图4所示，本发明的光盘片检测装置30，包含一承载座31、一光源32、一菱镜33、以及一光传感器34。光盘片检测装置30用以检测一光盘片35是否变形或翘曲。
承载座31承载光盘片35，承载座31具有一旋转机构311使光盘片35于检测过程中旋转。
光源32邻设于承载座31，且位于光盘片35下方，并发出一光线321。本实施例中，光源32为一半导体红光激光。
本实施例中，光盘片检测装置30更包含一底座36，光源32设置于底座36上。底座36为可移动，以调整光源32相对于光盘片35的位置。
菱镜33介于光盘片35与光源32之间，光线321穿透菱镜33并照射至光盘片35。因此，当光源32所发出的光线321，穿透过菱镜33而照射于光盘片35时，利用底座36即可调整光线321入射于光盘片35的位置，再加上承载座31上的旋转机构311，因此光线321能入射至光盘片35上的任意点，以进行检测。
请参照图4及图5，光线321照射至光盘片35后，即被反射。被光盘片35反射的光线321重新进入菱镜33后，再被菱镜33折射至光传感器34。
光传感器34接收折射后的光线321，以进行计算分析光盘片35的翘曲角度。其中，光传感器34可为一电荷耦合元件、或是一位置传感器。本实施例中，光传感器34为一位置传感器，能藉由无翘曲的光盘片及翘曲的光盘片(虚线所示)，经菱镜33所折射后的入射至光传感器34的光线321的位置不同(P及P’)，进行计算分析，以得到光盘片35翘曲的角度。
如图5及图6所示，由于菱镜33与光传感器34的距离R为已知，当光盘片的翘曲角度相当小时，PP’弧长约等于其弦长(即P点至P’点的距离)，如下列算式所示PP′‾=PP′⫬=2πR×2β360]]>因此即得，β=PP′‾×3602πR×2]]>获得光盘片35光盘片翘曲角度β后，即可利用翘曲角度的大小，来作为品管的管制点。当光盘片翘曲的角度大于可容许范围时，使用者可将光盘片35视为不良品，如此一来，即可确保光盘片35的品质。
本实施例中，光盘片检测装置更包含一显示屏幕37，其与光传感器34连结，使得分析后的结果，得以显示于屏幕37上，便于使用者检视。
综上所述，本发明的光盘片检测装置，光源邻设于承载座，且利用一菱镜代替现有技术中的平面镜，以减少光盘片检测装置的体积。与现有技术相比，本发明的光盘片检测装置，能缩短了光源与光盘片的距离，再利用菱镜折射，使得光盘片检测装置的体积能缩小，进而减少了机械设备所需的空间成本。再者，光源下可具有可移动式的底座，以使得光盘片检测装置能检测到光盘片上的任何一点。另外，本发明的光盘片检测装置能检测出光盘片是否翘曲、变形，故可替产品的品质把关，进而增加出货产品的良率。
以上所述仅为举例性，而非为限制性者。任何未脱离本发明的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于所述的权利要求范围中。
权利要求
1.一种光盘片检测装置，用以检测一光盘片是否变形，其特征是，包含一承载座，其承载该光盘片；一光源，其邻设于该承载座，且位于该光盘片下方，并发出一光线；一菱镜，其介于该光盘片与该光源之间，该光线穿透该菱镜并照射至该光盘片，该光盘片反射的该光线再经由该菱镜折射；以及一光传感器，其接收折射后的该光线，并进行分析。
2.如权利要求1所述的光盘片检测装置，其特征是，更包含一显示屏幕，其与该光传感器连结。
3.如权利要求1所述的光盘片检测装置，其特征是，该承载座具有一旋转机构使该光盘片旋转。
4.如权利要求1所述的光盘片检测装置，其特征是，更包含一底座，该光源设置于该底座上。
5.如权利要求4所述的光盘片检测装置，其特征是，该底座为可移动，以调整该光源相对于该光盘片的位置。
6.如权利要求1所述的光盘片检测装置，其特征是，该光源为一半导体的红激光。
7.如权利要求1所述的光盘片检测装置，其特征是，该光传感器为一电荷耦合元件。
8.如权利要求1所述的光盘片检测装置，其特征是，该光传感器为一位置传感器。
全文摘要
本发明的光盘片检测装置，用以检测一光盘片是否变形，其包含一承载座、一光源、一菱镜、一光传感器、以及一显示屏幕。其中，承载座承载光盘片，光源邻设于承载座，且位于该光盘片下方，并发出一光线，菱镜介于光盘片与光源之间，光线穿透菱镜并照射至光盘片，光盘片反射的光线再经由菱镜折射，光传感器接收菱镜折射后的光线，并进行分析。与现有技术相比，本发明的光盘片检测装置，缩短了光源与光盘片的距离，再利用菱镜折射，使得光盘片检测装置的体积缩小，进而减少了机械设备所需的空间成本。同时，本发明的光盘片检测装置能检测出光盘片是否翘曲、变形，进而增加了产品的合格率。
文档编号G01B11/16GK1743798SQ200410075189
公开日2006年3月8日 申请日期2004年9月2日 优先权日2004年9月2日
发明者赖昭平 申请人:精碟科技股份有限公司