专利名称：电子产品异常通断电的测试方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明属于电子技术领域，尤其是涉及一种电子产品异常通断电的测试方法及装置。
背景技术：
在电子类产品的设计、生产以及检测过程中，会出现由于异常通断电造成的一些偶然的故障问题，如CRT电视机如果异常开关机会出现电子束集中打到一点，造成彩管屏幕被烧坏；高智能高集成度的电器如果异常开关机会造成内部程序紊乱，无法正常使用甚至死机。但是偶然中存在着必然，这些故障现象必然是由于电路设计中存在着不合理造成的。电子类产品由于内部的电容充放电具有某些时间特性，而这些偶然的故障现象只有在某种特定的开关机频率下才会出现。要想解决这些故障问题，使产品具有更佳的性能和品质，首先要做的就是重复故障现象，找出电路中不合理的地方，然后加以解决。另外在生产检验时，需要对产品进行设定范围内的全频段开关机检验以保障其可靠性。
而目前的一些模拟开关机的仪器只能以固定频率间断输出220V市电，或是在一些已经设定的固定频率之间切换，这样都很难找到故障出现的频率点，也不能保障产品的可靠性。
发明内容
本发明要解决的技术问题是，克服上述现有技术存在的不足，提供一种本发明方法要解决的问题是提供一种在设定范围内提供全频段开关机间断供电的电子产品异常通断电的测试方法及装置。
为解决上述技术问题，本发明提供一种电子产品异常通断电的测试装置，包括中央控制器(IC3)、输入电源及与所述中央控制器(IC3)连接的存储器(IC5)，所述输入电源经整流、滤波后一路由第一稳压器(IC1)稳压并输入所述中央控制器(IC3)的电源脚，另一路由第二稳压器(IC2)稳压并输入所述中央控制器(IC3)的检测关机脚(P2.6)。
输入电源一路经二极管D1、D2整流，电容C1滤波；另一路经二极管D3、D4整流，电容C3滤波；所述滤波电容C1比C3大。
所述中央控制器(IC3)的输出脚(P3.4)连接射级跟随器(Q1)，并进而与反相器(Q4)相连。
本发明还提供一种电子产品异常通断电的测试方法，包括以下步骤(1)通过单片机设置继电器的通电吸合时间和断电断开时间；(2)改变继电器的通电吸合时间；以及(3)改变继电器断电断开时间。
所述步骤(1)设置的时间包括继电器吸合的起始时间(a1)、终止时间(a2)及增长的单位时间(Δa)；断开的起始时间(b1)、终止时间(b2)及增长的单位时间(Δb)；以及上述时间在每个频率点重复的次数n(n≥1)。
还包括步骤(10)对所述值分别设初始值为(a10)、(a20)、(Δa0)、(b10)、(b20)、(Δb0)及(n0)。
所述步骤(2)中断电断开时间(b)保持不变，继电器的通电吸合时间每次从起始时间(a1)增长单位时间(Δa)，重复n(n≥1)次，直到起始时间(a1)大于或等于终止时间(a2)。
所述步骤(3)中继电器的断电断开时间每次从起始时间(b1)增长单位时间(Δb)，重复n(n≥1)次，直到(b1)大于或等于终止时间(b2)，同时起始时间(a1)恢复初始值(a10)。
所述初始值存储于存储器中。
本发明的有益效果是本发明使用单片机，采用扫频的方法，可以覆盖在设定范围内所有的可能出现的开关机频率点，且这个设定范围可以任意更改，这样就可以找到故障出现的频率点，并且本发明可以在找到故障出现的频率点后锁住该频率点，重复模拟故障现象。
图1是本发明电子产品异常通断电的测试装置原理图。
图2是本发明电子产品异常通断电的测试装置电路结构图。
图3是本发明电子产品异常通断电的测试方法流程图。
具体实施例方式
以下结合附图对本发明电子产品异常通断电的测试方法及装置进行详细描述。
请同时参照图1-2所示，本发明电子产品异常通断电的测试装置如下关断电源检测部分单片机IC3(中央处理器)的P2.6检测是否关电，一旦检测到关电，立即将时间、开关次数及其它设置的参数保存到存储器IC5中。插座CON1为220V～输入电源插座，经过T1双15V变压器分两路整流滤波、稳压，一路经D1、D2整流，C1滤波，IC1稳压得到5V供给单片机IC3电源脚；另一路经D3、D4整流，C3滤波，IC2稳压给IC3的P2.6脚检测关机，由于滤波电容C1比C3大，当电源开关S1关断时，IC2输出的5V首先降下来，降到单片机IC3所需的逻辑0电平时，IC1输出的5V到单片机IC3供电脚暂时还未变，于是单片机IC3立即把待存参数从P3.0、P3.1(IC2总线的SDA、SCL)保存到存储器IC5中。
输出部分输出的控制电压由单片机IC3的P3.4输出，经Q1构成的射级跟随器，Q4构成的反相器控制继电器的通与断，以间歇开关被实验对象的电源。
请参照图3所示，本发明电子产品异常通断电的测试方法的主要实现思路是使用在前述测试装置中单片机去控制继电器的通电吸合时间a和断电断开时间b，并按一定的规律去改变a和b，达到输出覆盖所需要的全部开关频率点的电源的目的，流程如下步骤1，设置继电器的通电吸合时间和断电断开时间。首先需要设定的值有继电器吸合的起始时间a1，终止时间a2，a从a1增长到a2，增长的单位时间为Δa，断开的起始时间为b1，终止时间为b2，b从b1增长到b2，增长的单位时间为Δb，以及在每个频率点重复的次数n，对这些值分别设初始值为a10、a20、Δa0、b10、b20、Δb0、n0。所述数值均存储在存储器IC5中。
步骤2，改变继电器的通电吸合时间a，断电断开时间b保持不变，a从a1增长，a1＝a1+Δa，重复n次，直到a1大于或等于a2，此时继电器断电断开。
步骤3，此时改变继电器的断开时间b，使b从b1增长，b1＝b1+Δb，同时a1恢复初始值，a1＝a10，然后在这个频率点重复n次后执行步骤2，直到b1大于或等于b2。
之后循环上述过程。
本发明巧妙地将扫描的思路运用到开关冲击仪即电子产品异常通断电的测试装置中，使本发明能提供所需要的任意频段内的全频段扫描开关电压输出。并且在找到某个特定的频率点后可以锁住该频率点，保持在这个频率点输出。
本发明目前已投入使用，使用方便且反映良好，能够很方便地找到一些设定范围内的所需要的特定频率点，还可以对一款产品进行全频段的开关冲击，以检验产品的可靠性。
权利要求
1.一种电子产品异常通断电的测试装置，其特征在于包括中央控制器(IC3)、输入电源及与所述中央控制器(IC3)连接的存储器(IC5)，所述输入电源经整流、滤波后一路由第一稳压器(IC1)稳压并输入所述中央控制器(IC3)的电源脚，另一路由第二稳压器(IC2)稳压并输入所述中央控制器(IC3)的检测关机脚(P2.6)。
2.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于输入电源一路经二极管D1、D2整流，电容C1滤波；另一路经二极管D3、D4整流，电容C3滤波；所述滤波电容C1比C3大。
3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于所述中央控制器(IC3)的输出脚(P3.4)连接射级跟随器(Q1)，并进而与反相器(Q4)相连。
4.一种电子产品异常通断电的测试方法，包括以下步骤(1)通过单片机设置继电器的通电吸合时间和断电断开时间；(2)改变继电器的通电吸合时间；以及(3)改变继电器断电断开时间。
5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于所述步骤()设置的时间包括继电器吸合的起始时间(a1)、终止时间(a2)及增长的单位时间(Δa)；断开的起始时间(b1)、终止时间(b2)及增长的单位时间(Δb)；以及上述时间在每个频率点重复的次数n(n≥1)。
6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于还包括步骤(10)对所述值分别设初始值为(a10)、(a20)、(Δa0)、(b10)、(b20)、(Δb0)及(n0)。
7.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于所述步骤(2)中断电断开时间(b)保持不变，继电器的通电吸合时间每次从起始时间(a1)增长单位时间(Δa)，重复n(n≥1)次，直到起始时间(a1)大于或等于终止时间(a2)。
8.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于所述步骤(3)中继电器的断电断开时间每次从起始时间(b1)增长单位时间(Δb)，重复n(n≥1)次，直到(b1)大于或等于终止时间(b2)，同时起始时间(a1)恢复初始值(a10)。
9.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于所述初始值存储于存储器中。
全文摘要
本发明提供一种电子产品异常通断电的测试方法，包括以下步骤(1)通过单片机设置继电器的通电吸合时间和断电断开时间；(2)改变继电器的通电吸合时间；以及(3)改变继电器断电断开时间。本发明还提供一种电子产品异常通断电的测试装置。本发明使用单片机，采用扫频的方法，可以覆盖在设定范围内所有的可能出现的开关机频率点，且这个设定范围可以任意更改，这样就可以找到故障出现的频率点，并且本发明可以在找到故障出现的频率点后锁住该频率点，重复模拟故障现象。
文档编号G01R31/00GK1877350SQ20061006049
公开日2006年12月13日 申请日期2006年4月26日 优先权日2006年4月26日
发明者卓成钰, 叶闯, 吴沛 申请人:深圳创维－Rgb电子有限公司