专利名称：X荧光测硫仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测硫仪，尤其是一种用于分析材料中硫或其氧化物含量的能量色散型X荧光测硫仪。
背景技术：
目前，硫的测量一般采用化学分析方法，也有采用测硫仪进行分析，但目前的测硫仪不管是什么类型，都是基于化学分析方法，一般都需要将样品在高温下燃烧，再用化学试剂与其反应从而计算出硫的含量。这种基于化学分析的测硫方法，由于需要在高温下燃烧，所以测量时间较长，设备长期在高温下使用，设备的可靠性也较低；由于需要用化学试剂，所以会对环境造成严重污染，对使用人员的身体健康造成损害；由于是人工操作，所以劳动强度较大，人为误差也较大。
发明内容
为克服现有技术存在缺陷，本实用新型提供一种无化学污染、无放射性污染、测量时间短、精度高、结构简单、安全可靠、激发能量色散型的X荧光测硫仪。
为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是一种X荧光测硫仪，包括激发光源、样品架、探头、电路输出设备，其特点是，所述样品架由设置在滑板上的样品孔、样品孔旁边置有的校准样组成，所述激发光源包括X光管、准直器、光管高压，其中X光管上设置一准直器，X光管右边、样品孔的上方设有探头，所述探头包括正比管高压，正比计数管，装在正比计数管前的次级滤色片，与正比计数管连接的电荷灵敏前置放大器，以及与放大器连接的电路输出设备。
激发光源与探头外置有铁板。
次级滤色片为含有硫的薄膜，正比计数管为薄铍窗正比计数管。
X光管高压为8000伏。
激发光源的X光管与样品之间为25毫米，准直器的直径为6毫米。
电路输出设备包括脉冲成型放大器、脉冲幅度分析器、计算机数据处理及控制，以及输出设备。
输出设备包括显示器，打印机。
本实用新型的有益效果是与现有测硫仪相比，采用X光管作为激发光源，不产生化学污染和放射性污染；又由于X光管高压为8000伏，所发出的X射线能量最高为8keV，经铁板屏蔽无任何泄漏，故对使用人员没有辐射损害；另外，由于采用物理分析方法，所以人为误差小，操作者劳动强度低，测量时间短。因此，本实用新型的有益效果是无化学污染、无放射性污染、测量时间短、精度高、结构简单、安全可靠，使用方便。
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
图1为本实用新型工作原理图。
具体实施方式
在图1中，本X荧光测硫仪，由激发光源，样品架，探头，电路输出设备组成。激发光源由X光管1，准直器2组成，样品架由滑板4，校准样6，样品孔5组成，校准样6为组分与样品基本相同的稳定的硬质样品，样品15置于样品孔5上，测硫仪在不测量样品时，校准样6处于测量位置，测硫仪测量校准样6的钙铁数据，以校准环境等因素的影响，从而提高分析仪的精度。探头由正比计数管7，次级滤色片3，电荷灵敏前置放大器8组成；电路及输出设备由脉冲成型放大器9，脉冲幅度分析器10，计算机数据处理及控制11，显示器12，打印机13组成。
实施例1X光管高压为8000伏，能最有效地激发样品中硫的特怔X射线荧光；激发光源发射的X射线与样品15表面的夹角为60度，X光管1与样品15的距离为25毫米，准直器2的直径为6毫米，保证测硫仪获得最佳的分辩率。
正比计数管7的窗口与样品15表面的夹角为0度、距离为8毫米，这些同样是为了保证分析仪获得最佳的分辩率；次级滤色片3采用自制的含有硫的薄膜，以使荧光光谱中其它特怔X射线荧光光谱对硫的特怔X射线荧光光谱基本无干扰。
激发光源与探头外由3毫米的铁板14屏蔽，该铁板14不仅起到电屏蔽的作用，而且起到辐射屏蔽的作用，它使最高能量为8keV的X射线完全被屏蔽而无任何泄漏。
本实用新型的工作原理激发光源发射X射线至样品15上，在样品15表层激发出硫的特怔X射线荧光，该荧光经次级滤色片3过滤并由正比计数管7接受而转化为电信号，再经脉冲成型放大器9成形放大后由脉冲幅度分析器10区分出硫的特怔X射线荧光，再由计算机11进行计数，因为样品中硫或其氧化物的含量与测硫仪得到的硫的特怔X射线荧光计数成正比，所以经计算机11运算后能得出样品中硫或其氧化物的含量，最后由显示器12、打印机13将数据输出。
权利要求1.一种X荧光测硫仪，包括激发光源、样品架、探头、电路输出设备，其特征在于，所述样品架由设置在滑板(4)上的样品孔(5)、样品孔旁边置有的校准样(6)组成，所述激发光源包括X光管(1)、准直器(2)、光管高压(16)，其中X光管(1)上设置一准直器(2)，X光管(1)右边、样品孔(5)的上方设有探头，所述探头包括正比管高压(17)，正比计数管(7)，装在正比计数管(7)前的次级滤色片(3)，与正比计数管(7)连接的电荷灵敏前置放大器(8)，以及与放大器(8)连接的电路输出设备。
2.根据权利要求1所述的X荧光测硫仪，其特征在于，所述的激发光源与探头外置有铁板(14)。
3.根据权利要求1或2所述的X荧光测硫仪，其特征在于，所述次级滤色片(3)为含有硫的薄膜，所述的正比计数管(7)为薄铍窗正比计数管。
4.根据权利要求3所述的X荧光测硫仪，其特征在于，所述的X光管(1)高压为8000伏。
5.根据权利要求3所述的X荧光测硫仪，其特征在于，所述激发光源的X光管(1)与样品(15)之间为25毫米，准直器(2)的直径为6毫米。
6.根据权利要求1所述的X荧光测硫仪，其特征在于，所述的电路输出设备包括脉冲成型放大器(9)、脉冲幅度分析器(10)、计算机数据处理及控制(11)，以及输出设备。
7.根据权利要求6所述的X荧光测硫仪，其特征在于输出设备包括显示器(12)。
8.根据权利要求6所述的X荧光测硫仪，其特征在于输出设备包括打印机(13)。
专利摘要本实用新型涉及一种X荧光测硫仪。其特点是，样品架由设置在滑板上的样品孔、样品孔旁边置有的校准样组成，激发光源包括X光管、准直器、光管高压，其中X光管上设置一准直器，X光管右边、样品孔的上方设有探头，探头包括正比管高压，正比计数管，装在正比计数管前的次级滤色片，与正比计数管连接的电荷灵敏前置放大器，以及与放大器连接的电路输出设备。激发光源与探头外置有铁板。次级滤色片为含有硫的薄膜，正比计数管为薄铍窗正比计数管。采用X光管作为激发光源，不产生化学污染和放射性污染；经铁板屏蔽无任何泄漏，故对使用人员没有辐射损害；另外，由于采用物理分析方法，所以人为误差小，操作者劳动强度低，测量时间短，精度高、结构简单。
文档编号G01N23/223GK2874483SQ20062004017
公开日2007年2月28日 申请日期2006年3月14日 优先权日2006年3月14日
发明者徐晓东, 宋建军 申请人:上海爱斯特电子有限公司