专利名称：一种内存卡测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于内存卡检测装置领域，特别涉及一种不损坏待测内存卡金 手指即管脚的内存卡测试装置。
背景技术：
市面上常用的内存检测仪均包含一个内存卡夹槽，内存卡夹槽两端有凹口 啮合器，当内存卡连接内存检测仪时，凹口啮合器嵌入内存卡两端的凹口中。 这样的内存检测仪靠夹槽和凹口啮合器两种装置固定内存卡，内存卡的金手指， 又称内存卡管脚与夹槽内侧的内存检测扩展卡的金属弹片面接触。 一般来说， 内存金手指上镀有锡或金，这些物质镀层可以防止内存卡的氧化。这种检测装置的缺点在于，由于内存卡与金属片之间为面接触，所以生产 的内存卡在插入过程中存在面摩擦，这样的多次的面摩擦---方面容易损坏内存槽的金属弹片或称引脚，这种情况下内存槽一般被不断插拔100次左右时，内存槽就会产生功能信号衰减、接触不良、引脚损坏等故障。另一方面，会磨损 内存卡的金手指表面的镀层，使得内存卡的金手指容易暴露在外而被氧化。这 种情况下，内存卡金手指上也容易出现刮痕、划痕，使内存卡电连接时接触不 良，影响内存卡的性能。2006年5月31日公开的中国专利ZL2005100卯361.0提供了 -种内存模块测试槽及测试仪，采用的内存卡测试槽的方案是在测试槽的两端设置有杠杆 手柄，杠杆手柄推动凹口啮合器嵌合内存卡向下插入内存槽中进行检测。这种 内存检测装置主要是用杠杆手柄方便内存卡的插拔，但内存卡还是靠内存槽的 金属弹片的挤压和凹口啮合器的嵌合来固定，检测电路扩展卡的金属弹片仍然 与内存卡金手指进行面接触摩擦，所以不能避免金手指表面镀层磨损的问题。针对上述的不良效果，--些r商为了避免该情况的出现，采恥-种称为转
接保护测试措施。转接保护测试措施包括在主板上设置保护卡和保护座，内存 卡检测时与保护卡或保护座接触，当保护卡或者保护座损坏时可以及时更换保 护卡或保护座。但这种转接保护测试措施没有从根本上解决金手指和导电金属 片间的面摩擦问题，不仅内存卡金手指的面摩擦存在，同时与金手指接触的导 电元件的摩擦也不可避免，内存卡还存有刮痕和划痕的现象，并且这种情况下 每个保护卡或保护座也只能使用1000次左右，检测装置的使用寿命较短。发明内容本实用新型的目的在于提供一种不磨损待测内存卡金手指、检测方便、使 用寿命长的内存卡测试装置，该装置克服了现有内存卡检测装置对内存卡金手 指存在磨损的缺陷，在方便检测的同时，使内存卡金手指的磨损近乎为零。为实现上述发明目的，本实用新型采用的技术方案如下一种内存卡测试装置，包括内存检测扩展卡和内存卡插口，其特征在于， 所述内存检测扩展卡的金属触片分别引出弹性金属片形成内存卡插口，内存长 插口两侧的弹性金属片分别由绝缘材料固定粘结成一体，弹性金属片的外侧分 别设置D形轴，D形轴接触绝缘材料并间接驱动弹性金属片向内存卡插口内侧缩进，所述D形轴的一端设置相互啮合的齿轮。所述D形轴为平行设置的两变径轴，D形轴两端均设置相互啮合的齿轮。 所述的内存检测扩展卡的每个金属触片分别引出两弹性金属片形成内存长插口 ，弹性金属片与待测内存卡的金手指对应接触。 所述弹性金属片为弯曲的铍铜或磷铜金属弹片。所述绝缘材料为条形的工程塑料液晶聚合物，所述弹性金属片粘结固定在 绝缘材料的-4则，条形的绝缘材料沿所述D形轴平行方向设置并与D形轴接触。所述绝缘材料为条形的树脂聚合物，所述弹性金属片固定贯穿该条形绝缘 材料，条形的绝缘材料沿所述D形轴平行方向设置并与D形轴接触。所述内存卡插口外设置壳体，所述D形轴平行设置在壳体内，其两端架设 在壳体上，壳体外的D形轴设置相互啮合的齿轮，其中一D形轴的齿轮端固定 杠杆手柄。所述杠杆手柄和所述壳体上设置配合的限位装置。
进行内存卡测试时，该内存卡测试装置的内存检测扩展卡与内存检测主板 连接，内存卡插入内存卡插口，并被限定在一定位置，此时内存卡的金手指处 于悬空状态并未与弹性金属片接触，旋动杠杆手柄驱动D形轴转动，D形轴驱动 绝缘材料从而间接推动弹性金属片向内侧縮进，最后与内存卡的金手指面接触 而电导通，此时即可进行内存电路的测试。测试完毕后，反向旋动杠杆手柄驱动D形轴，弹性金属片在自身弹力的作用下向外侧张开复位至原始位置，内存卡在其金手指无外摩擦力的情况下拔出。由于测试过程中内存卡在插入后，其金手指才在内存卡插口内两侧弹性金 属片向内縮进时夹持固定，从而将现有技术中内存卡金手指与内存卡插口的面 摩擦改为内存卡金手指与内存卡插口的面接触，消除了内存卡金手指与内存卡 插口间存在的面摩擦，内存卡金手指与内存卡插口在内存卡插拔时的面摩擦几 乎为零。该作用机制改变了以前的内存检测方式，更好的保护了内存卡金手指 和相应的内存卡测试装置的电连接组件，不仅操作更为方便，测试装置的电连 接组件也不易损坏，使用寿命大大延长。该测试装置的壳体可采用锌合金的铸模结构，D形轴平行架设在壳体的两 端，壳体内的D形轴只与固定弹性金属片的绝缘材料接触，D形轴相向转动时驱 动绝缘材料进而间接推动各弹性金属片，使固定在一起的弹性金属片的受力 致。同时D形轴与弹性金属片之间不存在转动磨损，这延长弹性金属片的使用 寿命。该绝缘材料可以采用工程塑料液晶聚合物，绝缘性能优异，耐磨性能高， 弹性金属片最好采用铍铜或磷铜金属弹片，这种弹性金属片的柔韧性相、」'i好， 可复位弹性曲张高达10万次以上，能延长该内存卡测试装置的使用寿命。本实用新型的有益效果在于，该内存卡测试装置在测试时，待测内存卡金 手指与内存卡插口的弹性金属片间无面摩擦接触，对弹性金属片和内存卡金手指的磨损几乎为零，不仅保护了内存卡的金手指，还大大延长r测试装置的使用寿命，同时测试方便，检测性能佳。该内存卡测试装置可以用P各种插拔式 内存卡的测试，在更换内存检测扩展卡后还可以用于数码产品或电子产品存储
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作迸--步的阐述。 图1为实施例中内存卡测试装置的部分剖面结构示意图；图2为图1的A—A向剖面放大结构示意图； 图3为图1的B向放大结构示意图；图4为实施例中内存卡测试装置测试状态部分剖面结构示意图;图5为图4的C一C向剖面放大结构示意图； 图6为图4的D向放大结构示意图。
具体实施方式
如图，该内存卡测试装置主要由内存检测扩展卡1、壳体4、 D形轴2、弹 性金属片3组成，内存检测扩展卡1的每个金属触片分别引出两弹性金属片3 形成内存卡插口，弹性金属片3为弯曲的磷铜金属弹片，该弹性金属片3与待 测内存卡8的金手指9对应接触；内存卡插口两侧的磷铜金属弹片分别由条形 的工程塑料液晶聚合物7固定粘结成一体，两弹性金属片3的外侧分别设置平 行的两D形轴2， D形轴与条形的工程塑料液晶聚合物直接接触并在旋转时可间 接驱动弹性金属片3向内存卡插口内侧缩进，该D形轴为平行设置的两变径轴， D形轴平行设置在壳体4内，其两端架设在壳体上，壳体外的D形轴两端分别设 置相互啮合的齿轮5，其中一 D形轴的齿轮端固定杠杆手柄6。对内存卡进行测试时，先插入内存卡，内存卡的金手指位于弹性金属片之 间，二者并未接触，旋转杠杆手柄转动90°， D形轴驱动形成内存卡插口的弹性金属片向内侧縮进，弹性金属片分别与内存卡的金手指夹持对应固定电连接， 然后进行相应的测试。测试完毕，旋转杠杆手柄至原位置或继续旋转90° ，弹性金属片在自身弹力 的作用下复原，使内存卡的金手指处于悬空状态，此时将内存卡拔出。山于内 存卡金手指和弹性金属片间无任何面摩擦，因此不会损坏内存卡金手指的表面 镀层，同时测试装置的弹性金属片不会磨损，测试装置的使用寿命也大大延L《
权利要求1.一种内存卡测试装置，包括内存检测扩展卡和内存卡插口，其特征在于，所述内存检测扩展卡的金属触片分别引出弹性金属片形成内存卡插口，内存卡插口两侧的弹性金属片分别由绝缘材料固定粘结成一体，弹性金属片的外侧分别设置D形轴，D形轴接触绝缘材料并间接驱动弹性金属片向内存卡插口内侧缩进，所述D形轴的一端设置相互啮合的齿轮。
2. 根据权利要求l所述的一种内存卡测试装置，其特征在于所述D形轴为 平行设置的两变径轴，D形轴两端均设置相互啮合的齿轮。
3. 根据权利要求l所述的一种内存卡测试装置，其特征在于所述的内存检 测扩展卡的每个金属触片分别引出两弹性金属片形成内存卡插口，弹性金属片 与待测内存卡的金手指对应接触。
4. 根据权利要求1所述的一种内存卡测试装置，其特征在于所述弹性金属 片为弯曲的铍铜或磷铜金属弹片。
5. 根据权利要求1所述的-一种内存卡测试装置，其特征在于所述绝缘材料 为条形的工程塑料液晶聚合物，所述弹性金属片粘结固定在绝缘材料的一侧， 条形的绝缘材料沿所述D形轴平行方向设置并与D形轴接触。
6. 根据权利要求l所述的一种内存卡测试装置，其特征在于所述绝缘材料 为条形的树脂聚合物，所述弹性金属片固定贯穿该条形绝缘材料，条形的绝缘 材料沿所述D形轴平行方向设置并与D形轴接触。
7. 根据权利要求l所述的一种内存卡测试装置，其特征在于所述内存卡插 口外设置壳体，所述D形轴平行设置在壳体内，其两端架设在壳体上，壳体外 的D形轴设置相互啮合的齿轮，其中一 D形轴的齿轮端固定杠杆手柄。
8. 根据权利要求7所述的-一种内存卡测试装置，其特征在于所述杠杆手枘 和所述壳体上设置配合的限位装置。
专利摘要一种内存卡测试装置，属于内存卡检测装置。包括内存检测扩展卡和内存卡插口，所述内存检测扩展卡的金属触片分别引出弹性金属片形成内存卡插口，内存卡插口两侧的弹性金属片分别由绝缘材料固定粘结成一体，弹性金属片的外侧分别设置D形轴，D形轴接触绝缘材料并间接驱动弹性金属片向内存卡插口内侧缩进，所述D形轴的一端设置相互啮合的齿轮。该内存卡测试装置在测试时待测内存卡金手指与内存卡插口的弹性金属片间无面摩擦接触，对弹性金属片和内存卡金手指的磨损几乎为零，不仅保护内存卡的金手指，还延长了测试装置的使用寿命，同时测试方便，检测性能佳。该内存卡测试装置可用于各种插拔式内存卡的测试，还可用于数码或电子产品存储器的测试。
文档编号G01R31/28GK201018047SQ200620175750
公开日2008年2月6日 申请日期2006年12月27日 优先权日2006年12月27日
发明者顾焕军 申请人:苏州工业园区剑恒电子有限公司