专利名称：基于fpga的印刷电路板快速抽取图像特征值检测方法
技术领域：
本发明是一种检测印刷电路板质量的方法。
技术背景目前，印刷电路板的设计越来越复杂，布线导体的线条越来越细，其连通特性越来越不 易检测，其线条中的开路和短路直接影响电路板的质量，传统检测方法靠人工检测，不仅检 测速度慢，而且不能实时处理，工作效率低下，迫切需要快速检测上述缺陷的方法。发明内容本发明的目的是提供一种基于FPGA的印刷电路板快速抽取图像特征值检测方法，艮口 Feature算法，要解决检测印刷电路板布线导体连通特性速度慢、不能实时处理、工作效率 低下的技术问题。为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的一种基于FPGA的印刷电路板快速抽取图像特征值检测方法，应用光学取像、成像装置和 图像数据分析处理系统，图像数据分析处理系统应用现场可编程门阵列采集卡，其特征在于 有如下步骤步骤l，向现场可编程门阵列采集卡内的存储器预先输入连通性特征査找表数据； 步骤2，将印刷电路板的检测区域置于光源下方，对模板区域和待测区域分别进行取像 和成像；步骤3，对印刷电路板的模板图像数据和待测图像数据进行骨架化处理，将线条图像和 焊盘图像转换为单像素图像；步骤4，对骨架化后的模板图像和待测图像进行连通性特征抽取，记录每个特征的坐标 和连通类型；上述的特征是坐标特征数据或者连通性特征数据。连通类型有0-连接特征， l-连接特征，3-连接特征，4-连接特征，blob焊盘-连接特征。步骤5，根据特征査找表，确定待测图像和模板图像的特征类型，并生成待测图像特征 列表和模板图像特征列表；步骤6，比较两个特征列表，找出差异特征，即确定为连通性缺陷，得到缺陷列表，生成缺陷报告。比较的方法先搜索坐标，后比较特征。 先搜索特征类型，后比较坐标。如果在搜索的窗口内找到相应的特征且特征类型一致，则表示找到特征；如果没有匹配 的特征，待检图像中的特征是多出的特征缺陷。 本发明具有以下有益效果本发明应用现场可编程门阵列(FPGA) ， FPGA是基于通过可编程互联连接的可配置逻辑 块(CLB)矩阵的可编程半导体采集卡。本发明通过对模板和待测图像数据抽取骨架，转换 为单像素图像，去除图像的冗余信息，减少了检测数据量，同时保证了图像的基本特征，提 高了检测效率，便于特征的抽取，根据抽取的特征，生成特征列表，实时比较模板和待测图 像的特征列表，快速高效确定印刷电路板开路和短路的缺陷。本发明是一种提取连通性特征和模板比较的新方法，利用本发明可检测印刷电路板中的 开路和短路，基于FPGA实现，快速高效，实时处理，大大提高了工作效率。
图1是本方法的特征类型示意图。 图2是原始布线导体线条的图像实施例。 图3是布线导体线条骨架化后的图像实施例。 图4是模板图像抽取连通特征列表实施例的示意图。 图5是待测图像抽取连通特征列表实施例的示意图。 图6是基于FPGA的新型Feature算法的流程图。图中1、 0-连接特征，2、1-连接特征，3、 3-连接特征，4、 blob焊盘-连接特征，5 、线条，6、焊盘。
具体实施方式
以下结合附图对本发明进一步详细说明。本发明的一种基于FPGA的印刷电路板快速抽取图像特征值检测方法，应用光学取像、成 像装置和图像数据分析处理系统，图像数据分析处理系统应用现场可编程门阵列采集卡，在 FPGA上抽取骨架，快速高效，可实现实时处理；在单像素的图像骨架中提取特征类型，记录每个特征的坐标和类型，去除图像的冗余信息，只保留图像的基本特征。比较两个特征列表，确定最后的缺陷。图6为本发明基于FPGA的新型Feature算法的流程图，该方法包括以下步骤 步骤l，向现场可编程门阵列采集卡内的存储器预先输入连通性特征査找表数据； 步骤2，将印刷电路板的检测区域置于光源下方，对模板区域和待测区域分别进行取像和成像；步骤3:参见图2、图3，对模板和待测图像数据分别抽取骨架；将线条图像5和小的焊盘 图像6转换为一个单像素的图像，减少数据量，同时保证图像的基本特征。步骤4:对骨架化后的模板单像素图像和待测区域单像素图像进行连通性特征抽取，记 录每个特征的坐标和连通类型，参见图l，连通类型包括标记1是0连接特征，表示无连接。标记2是1连接特征，表示线条有开路。标记3是3连接特征，表示线条有短路。标记4表示线条与焊盘短路，为blob焊盘-连接特征。根据特征査找表，确定待测图像和模板图像的特征类型，生成一个包括特征类型和坐标 的特征列表。步骤5:比较模板和待测图像的特征列表，坐标或者特征类型有差异的特征即确定为缺陷。得到缺陷列表，生成缺陷报告。有四类比较模式第一类先搜索坐标，后比较特征。 第二类先搜索类型，后比较坐标。第三类在搜索的窗口内，如果找到相应的特征且特征类型一致，则表示找到特征；如 果没有匹配的特征，待检图像中的特征是多出的特征缺陷。第四类如果在模板的特征列表中有某些特征，而待检图像中没有，缺失的特征缺陷。 实施例参见图4，模板连通特征列表 xl， yl， xl' ， yl' ， blob连矛妾； x2， y2， x2'， y2'， 3连接； x3， y3， x3'， y3'， blob连接；x4， y4， x4， ， y4， ， 1连接。实施例参见图5，待检印刷电路板连通特征列表xl， yl， blob连接；x2， y2， 1连接；x3， y3， 1连接；x4， y4， 3连接；x5， y5， blob连接；x6， y6， 1连接。比较上述两特征列表，在待检印刷电路板连通特征列表中迅速找出第2、 3行坐标中的连 通特征类型有差异，即确定为连通性缺陷。本发明的一种基于FPGA的印刷电路板快速抽取图像特征值检测系统，包括光学取像、成 像装置和图像数据分析处理系统，其特征在于图像数据分析处理系统包括一个含有可配置 逻辑块、存储器、数字时钟管理模块、接口模块和互联布线的现场可编程门阵列采集卡，可 配置逻辑块包括骨架信息抽取处理器模块、连通性特征抽取处理器模块、査找表模块、比 较器模块和特征处理器模块。
权利要求
1. 一种基于FPGA的印刷电路板快速抽取图像特征值检测方法，应用光学取像、成像装置和图像数据分析处理系统，图像数据分析处理系统应用现场可编程门阵列采集卡，其特征在于有如下步骤步骤1，向现场可编程门阵列采集卡内的存储器预先输入连通性特征查找表数据；步骤2，将印刷电路板的检测区域置于光源下方，对模板区域和待测区域分别进行取像和成像；步骤3，对印刷电路板的模板图像数据和待测图像数据进行骨架化处理，将线条图像和焊盘图像转换为单像素图像；步骤4，对骨架化后的模板图像和待测图像进行连通性特征抽取，记录每个特征的坐标和连通类型；步骤5，根据特征查找表，确定待测图像和模板图像的特征类型，并生成待测图像特征列表和模板图像特征列表；步骤6，比较两个特征列表，找出差异特征，即确定为连通性缺陷，得到缺陷列表，生成缺陷报告。
2.根据权利要求1所述的基于FPGA的印刷电路板快速抽取图像特征值 检测方法，其特征在于上述步骤4中的特征是坐标特征数据或者连通性特征数据。
3.根据权利要求1所述的基于FPGA的印刷电路板快速抽取图像特征值 检测方法，其特征在于上述步骤4中的连通类型有0-连接特征，l-连接特征，3-连接特 征，4-连接特征，blob焊盘-连接特征。
4. 根据权利要求1所述的基于FPGA的印刷电路板快速抽取图像特征值 检测方法，其特征在于上述步骤6中比较的方法是先搜索坐标，后比较特征。
5.根据权利要求1所述的基于FPGA的印刷电路板快速抽取图像特征值 检测方法，其特征在于上述步骤6中比较的方法是先搜索特征类型，后比较坐标。
6.根据权利要求1所述的基于FPGA的印刷电路板快速抽取图像特征值 检测方法，其特征在于上述步骤6中比较的方法是如果在搜索的窗口内找到相应的特征 且特征类型一致，则表示找到特征；如果没有匹配的特征，待检图像中的特征是多出的特征 缺陷。
7.根据权利要求1所述的基于FPGA的印刷电路板快速抽取图像特征值 检测方法，其特征在于上述步骤6中比较的方法是如果在模板的特征列表中有某些特征，而待检图像中没有，缺失的特征缺陷。
8. 一种基于FPGA的印刷电路板快速抽取图像特征值检测系统，包括 光学取像、成像装置和图像数据分析处理系统，其特征在于图像数据分析处理系统包括一个含有可配置逻辑块、存储器、数字时钟管理模块、接口模块和互联布线的现场可编程门阵列采集卡，其中，存储器中存有连通性特征査找表数据和模板图像数据；可配置逻辑块包括 顺次连接的骨架信息抽取处理器模块、连通性特征抽取处理器模块、査找表模块、比较器 模块和特征处理器模块。
全文摘要
本发明公开了一种基于FPGA的印刷电路板快速抽取图像特征值检测方法，对模板和待测图像数据抽取骨架，转换为单像素图像，减少数据量，同时保证了图像的基本特征，提高效率，便于特征的抽取，根据抽取的特征，生成特征列表，比较模板和待测图像的特征列表，确定最后的缺陷。利用本发明可以检测印刷电路板中的开路和短路，快速高效，实时处理，大大提高工作效率。
文档编号G01R31/02GK101216522SQ200810300129
公开日2008年7月9日 申请日期2008年1月16日 优先权日2008年1月16日
发明者付纯鹤, 姚立新, 云 张, 连军莉, 邴守东, 魏祥英 申请人:中国电子科技集团公司第四十五研究所