专利名称：微波元件测试装置及微波元件测试调整机构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种微波元件测试装置，特别是关于一种微波元件测试 装置及微波元件测试调整机构。
背景技术：
最终产品的测试是产品质量管理最重要且不可忽略的一环，在面对多样 化和以客制化为主的厂商，用于最终产品测试的测试装置就要能适应不同规 格产品来进行测试，所以在这样的状况下测试装置的可调整性便十分重要。
除了测试装置要能适应不同规格产品而调整外，产品本身生产时所产生 的误差在测量时也需要注意。例如，通讯产品之中以铸造方式来制造的导波 件，因采用铸造的方法来制造，故制成的导波件会有较大的生产误差。在测 量具有这种导波件的微波元件时，测量装置就要能够容许这类大的误差存 在，使其在测量时不至于影响到测量值的正确性。
图1显示一传统的微波元件测试装置示意图。微波元件11的测试是由
测试接头12与导波管13的组合来接收并引导微波元件11所产生的收/发微 波信号，被引导的信号再经由仪器测量并分析以判断微波元件11的性能是 否符合规格。为使测试接头12能适应微波元件11在铸造中产生的尺寸误差， 因此在导波管13的一端设置硅胶14。由于硅胶14的弹性与易变形的特性， 使测试接头12得以在一定范围之内作偏移，通过此偏移来容纳微波元件11 的尺寸误差。
可是，这样的传统测试装置在使用一段时间后，由于硅胶14的变形， 使得测试接头12无法在测试结束后偏移回到中心位置，很容易在下次测试 时被卡在元件接口 15处而造成无法测量的状况，如图1所示。
此外，以上述的偏移方式所能容纳的制造误差是有限的，如误差过大的 话测试接头12将无法密合元件接口 15而使微波外泄，影响到测试结果。
鉴于上述问题，本实用新型针对微波元件测试装置及微波元件测试调整机构提出 一种新的整合设计，以消除传统测试装置的问题。 发明内容
本实用新型的目的在于，提供一种能有效确保测量准确性的微波元件测 试调整机构和微波元件测试装置。
本实用新型提出一种微波元件测试调整机构，该调整机构包含一座体、 至少一个滑导件、至少一个连杆和至少一个弹压件。座体具有至少一个容置 部与至少一个开孔。连杆包含一第一端部与一第二端部，其中该连杆穿置于 该滑导件中，使该连杆得以保持相同方向的平滑运动。弹压件位于连杆的第 二端部侧，且压抵于该连杆，而该弹压件为一可回复的弹性体。该弹压件与 该第二端部容置于该容置部，且该滑导件嵌置于该开孔。
本实用新型提出一种微波元件测试装置，其包含一微波元件测试调整机 构、 一连接模块、 一导波管与一测试接头。连接模块与连杆的第一端部的底 部相锁固。导波管具有一上凸缘、 一下凸缘与一管道部，其中该管道部固夹 于该连接模块。测试接头具有一接头管部与一接头凸缘，其中接头凸缘与导 波管下凸缘锁固，且该接头管部固夹于连接模块。
本实用新型的有益效果在于
1. 本实用新型提出的微波元件测试装置及微波元件测试调整机构，可 使测试装置作上下与偏移调整以容纳微波元件的制造公差，并在测试后仍保 持在一定的中心位置，而且不会因为长时间使用后而发生偏移。
2. 本实用新型的调整机构中的弹压件的使用可使滑导件与连杆稳固， 并可提供一固定的压抵力，使测试时的电磁波不泄漏，确保测量时的准确性。
图1显示一传统的微波元件测试装置示意图2A为本实用新型一实施例的微波元件测试装置的示意图2B为图2A的微波元件测试装置的分解示意图3A为图2A沿3-3剖面线的剖面图3B显示弹压件使用非金属材料的实施例；
图4为嵌合部的机构示意图；及图5为图2A的导波管与测试接头部分的右侧视图。 其中，附图标记说明如下
11微波元件12测试接头
13导波管14硅胶
15元件接口
20测试装置21测试接头
22第一夹持件23连接板
24导波管25第二夹持件
26连杆27第一端部
28第二端部29环凸
30滑导件31固定板
32开孔33座体
34第一嵌合部35、35'弹压件
36第二嵌合部37嵌合座
40调整机构41容置部
42螺钉43螺孔
44螺钉
50连接模块51上凸缘
52凹部53螺钉
54下凸缘55管道部
56接头凸缘57接头管部
58、59、 60 螺钉
具体实施方式
图2A为本实用新型一实施例的微波元件测试装置的示意图。测试装置 20中测试接头21与导波管24分别由第一夹持件22与第二夹持件25所固夹， 而第一夹持件22与第二夹持件25以并列夹持的排列方式固定于连接板23 的两个相对边。多根连杆26的一端固定在第二夹持件25上，且另一端穿设 于嵌置在座体33上的滑导件30。座体33和嵌合座37相互嵌合并连结，使 座体33与其下所连结的组合体得以被提撑，该组合体包含如测试接头21与导波管24等。
图2B为图2A的微波元件测试装置的分解示意图。如图2B所示，连接 模块50包含第一夹持件22、第二夹持件25和连接板23。第一夹持件22与 第二夹持件25均由两个元件所构成，而所述第一夹持件22与第二夹持件25 分别固夹测试接头21与导波管24。调整机构40中的连杆26穿置于滑导件 30中，使该连杆26依靠该滑导件30而保持固定方向上的平滑运动。滑导件 30可包含如滑座、导套或轴承，而轴承可使用铁氟龙线性轴承、线性气浮式 轴承或线性滚珠轴承等。连杆26上介于弹压件35与滑导件30之间设有一 环凸29，该环凸29与该连杆26可为一体成型。座体33包含开孔32与容置 部41，而弹压件35设置在容置部41中。弹压件35为一可回复的弹性体， 其包含如实施例所示的弹簧，但也可包含非金属如橡胶、硅胶等。座体33 的上方具有第一嵌合部34，其与位于嵌合座37上的第二嵌合部36相对应。 当第一嵌合部34与第二嵌合部36相互嵌合后，座体33即可被提撑住且可 以沿一方向移动。
图3A为图2A沿3-3剖面线的剖面图。参照图2A、图2B和图3A所示， 测试装置20的垂直调整依赖于弹压件35，本实施例中的弹压件35使用弹簧。 弹压件35安置在座体33的容置部41内，并套设在容置于容置部41中的连 杆26的第二端部28上，且和连杆26上的环凸29相抵接。容置部41包含 一开孔32，而滑导件30嵌置在开孔32中，并以螺钉42将环套在滑导件30 上的固定板31锁固在座体33上，使得抵靠于滑导件30上的环凸29可对弹 压件35做稍许抵压，以稳固整个组合使其在移动中不致晃动。在测试铸造 的微波元件ll时，每个元件接口 15在高度上会有些误差，而此误差通常可 达0.1 0.2毫米，而弹压件35即可让测试接头21作微幅上下调整以容许这 些误差的存在。在测试当时，受压縮的弹压件35所产生的弹压力也可让测 试接头21得以紧压元件接口 15，使电磁波不外漏而影响测试结果。
铸造的微波元件11在水平方向上的误差通常可能会有0.05 0.1毫米，
而针对此类误差可使用imit^Mm^mw^^w^ftt30会使连杆
26得以偏移一微小的角度e来容纳元件接口 15的误差，或者可使用自动调 整轴心的滑导件30来达到这一目的。以本实施例而言，滑导件30使用轴承， 而轴承的间隙公差包含约在0.03 0.05毫米间，再配合从测试接头21顶部到
8滑导件30间约160毫米的高度，便足可涵盖水平误差范围。弹压件35'除 使用弹簧之外，也可使用包含非金属如橡胶、硅胶等，而图3B即显示使用 此类材料的实施例。在图3B的实施例中，弹压件35'抵接于第二端部28的 顶部位置，而当弹压件35后压縮时，所产生的弹压力施加于第二端部28的顶部位置。图4为嵌合部的机构示意图。参照图2A、图2B和图4所示，不同产品 的元件接口 15在位置上会有所不同，需要让测试接头21能做较大范围的调 整，所以在座体33上设计一个第一嵌合部34，配合着可固定的嵌合座37上 的第二嵌合部36，使得当第一嵌合部34与第二嵌合部36相嵌合后，座体 33与其下的所有元件得以被提撑在一固定位置上，且如图所示在一方向上移 动。本实施例中，第一嵌合部34与第二嵌合部36的嵌合方式为燕尾型方式， 但也可包含工字型、山型的配合。当测试接头21位置调整后，再以螺钉44 通过螺孔43固定嵌合座37。参照图2B与图5。测试接头21的接头凸缘56和导波管24的下凸缘54 锁固后，再以第二夹持件25夹固导波管24的管道部55，然后将导波管24 的上凸缘51以螺钉53锁固在第二夹持件25上的凹部52。测试接头21的固 定是以第一夹持件22将测试接头21的接头管部57以螺钉58夹固后，再将 第一夹持件22以螺钉60固定在已与第二夹持件25锁固的连接板23上。此 时，第一夹持件22与第二夹持件25以并列夹持的排列方式夹持住导波管24 与测试接头21的组合，且固定于连接板23的两个相对侧边。最后，再以螺 钉59将整个部分与连杆26的第一端部27的底部锁固起来即完成测试装置 20这部分的组接。本实用新型的技术内容及技术特点巳描述如上，然而熟悉本项技术的人 士仍可能基于本实用新型的启示及描述而做出各种不脱离本实用新型的构 思的替换及修饰。因此，本实用新型的保护范围应不限于实施例的描述，而 应包括各种不脱离本实用新型的替换及修饰，并被所附权利要求书要求保护 的范围所涵盖。
权利要求1.一种微波元件测试调整机构，其特征在于，该微波元件测试调整机构包含一座体，其具有至少一个容置部与至少一个开孔；至少一个滑导件；至少一个连杆，其包含一第一端部与一第二端部，其中该连杆穿置于该滑导件中，使该连杆得以保持相同方向的平滑运动；以及至少一个弹压件，其位于该连杆的第二端部侧，且压抵于该连杆，其中该弹压件为一可回复的弹性体；其中，该弹压件与该第二端部容置于该容置部，且该滑导件嵌置于该开孔。
2. 根据权利要求1所述的微波元件测试调整机构，其特征在于该连 杆上设置有一环凸，其位于该弹压件与该滑导件间且抵靠于该滑导件，并使该连杆 保持一固定位置。
3. 根据权利要求2所述的微波元件测试调整机构，其特征在于该连 杆与该环凸一体成型。
4. 根据权利要求2所述的微波元件测试调整机构，其特征在于该弹 压件为一弹簧，且该弹压件套设于该第二端部，且抵接于该环凸上。
5. 根据权利要求1所述的微波元件测试调整机构，其特征在于该弹 压件为橡胶件或硅胶件，且该弹压件抵接于该第二端部的顶部。
6. 根据权利要求1所述的微波元件测试调整机构，其特征在于该滑 导件为铁氟龙线性轴承、线性气浮式轴承、线性滚珠轴承或滑座。
7. 根据权利要求1所述的微波元件测试调整机构，其特征在于该滑导件为一线性轴承，其间隙公差约在0.03 0.05毫米之间。
8. 根据权利要求1所述的微波元件测试调整机构，其特征在于该滑导件包含可自动调整轴心的线性轴承。
9. 根据权利要求1所述的微波元件测试调整机构，其特征在于，该微波元件测试调整机构还包含一嵌合座，该嵌合座与该座体相互嵌合，使得该座体可被提撑，且可在一方向上移动。
10. 根据权利要求9所述的微波元件测试调整机构，其特征在于该座 体具有一第一嵌合部，并且该嵌合座具有一与该第一嵌合部相对应的一第二 嵌合部，该第一嵌合部与该第二嵌合部相互嵌合。
11. 根据权利要求10所述的微波元件测试调整机构，其特征在于该 第一嵌合部与该第二嵌合部的嵌合方式包含燕尾型、工字型和山型的配合。
12. —种微波元件测试装置，其特征在于，该微波元件测试装置包含 一微波元件测试调整机构，包含一座体，其具有至少一个容置部与至少一个开孔；至少一个连杆，其包含一第一端部与一第二端部，其中该连杆穿置 于该滑导件中，使该连杆得以保持单一方向的平滑运动；及至少一个弹压件，其位于该连杆的第二端部侧，且压抵于该连杆， 其中该弹压件为一可回复的弹性体；其中该弹压件与该第二端部容置于该容置部，且该滑导件嵌置于该 开孔；一连接模块，其与该连杆的该第一端部的底部相锁固；一导波管，其具有一上凸缘、 一下凸缘与一管道部，其中该管道部固夹于该连接模块；以及一测试接头，其具有一接头管部与一接头凸缘，其中该接头凸缘与该下凸缘锁固，且该接头管部固夹于该连接模块。
13. 根据权利要求12所述的微波元件测试装置，其特征在于该连杆 上设置有一环凸，其位于弹压件与滑导件间且抵靠于该滑导件，并使该连杆保持-一固定位置。
14. 根据权利要求13所述的微波元件测试装置，其特征在于该连杆与该环凸一体成型。
15. 根据权利要求13所述的微波元件测试装置，其特征在于该弹压 件为一弹簧，且该弹压件套设于该第二端部，且抵接于该环凸上。
16. 根据权利要求12所述的微波元件测试装置，其特征在于该弹压 件为橡胶件或硅胶件，且该弹压件抵接于该第二端部的顶部。
17. 根据权利要求12所述的微波元件测试装置，其特征在于该滑导 件为铁氟龙线性轴承、线性气浮式轴承、线性滚珠轴承或滑座。
18. 根据权利要求12所述的微波元件测试装置，其特征在于该滑导件为一线性轴承，其间隙公差约在0.03-0.05毫米间。
19. 根据权利要求12所述的微波元件测试装置，其特征在于该滑导件包含可自动调整轴心的线性轴承。
20. 根据权利要求12所述的微波元件测试装置，其特征在于，该微波 元件测试装置还包含一嵌合座，该嵌合座与该座体相互嵌合，使得该座体可 被提撑，且可在一方向上移动。
21. 根据权利要求20所述的微波元件测试装置，其特征在于该座体具有一第一嵌合部，并且该嵌合座具有一与该第一嵌合部相对应的一第二嵌 合部，该第一嵌合部与该第二嵌合部相互嵌合。
22. 根据权利要求21所述的微波元件测试装置，其特征在于该第一嵌合部与该第二嵌合部的嵌合方式包含燕尾型、工字型和山型的配合。
23. 根据权利要求12所述的微波元件测试装置，其特征在于该连接模块包含一连接板；一第一夹持件；以及一第二夹持件，其与该第一挟持件以并列夹持的排列方式固定于该连接 板的两个相对侧边，且该第二夹持件与该连杆的该第一端部的底部相锁固。
24. 根据权利要求23所述的微波元件测试装置，其特征在于该导波 管的该管道部固夹于该第二夹持件，且该上凸缘锁固在该第二夹持件上。
25. 根据权利要求23所述的微波元件测试装置，其特征在于该接头 管部固夹于该第一夹持件。
专利摘要本实用新型提出一种微波元件测试装置及微波元件测试调整机构，该机构包含一座体、至少一个滑导件、至少一个连杆和至少一个弹压件。座体具有至少一个容置部与至少一个开孔。连杆包含一第一端部与一第二端部，其中第一端部穿置于滑导件中，使该连杆得以保持相同方向的平滑运动。弹压件位于连杆的第二端部侧，并压抵于该连杆。弹压件与连杆的第二端部容置于座体的容置部，而滑导件嵌置于座体的开孔上。本实用新型提出的微波元件测试装置及微波元件测试调整机构，可使测试装置作上下与偏移调整以容纳微波元件的制造公差，并在测试后仍保持在一定的中心位置，而且不会因为长时间的使用而发生偏移。
文档编号G01B5/02GK201163173SQ20082000517
公开日2008年12月10日 申请日期2008年3月7日 优先权日2008年3月7日
发明者古世良, 梁竣杰 申请人:台扬科技股份有限公司