专利名称：一种电极帽测量工具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量工具，尤其是一种用于测量电极帽直径和高 度的电极帽测量工具。
背景技术：
在焊装车间的焊接质量控制中，电极帽的直径和高度直接影响到焊接 参数。根据工艺要求对电极帽的直径及其电极帽的高度均有一定的要求。 在每天高强度的焊接中电极帽极易磨损，电极帽磨损后电极帽直径就会变 大，电极帽的高度就会变低，电极帽直径偏大就需要修整，而电极帽高度
不够就需要更换电极帽。例如M13A20型号的电极帽高度少于13毫米就需 更换，M16A23型号的电极帽高度少于16毫米需更换。目前操作者一般通过 肉眼辨别是否需要修整或更换电极帽，这种辨别完全依靠经验判断，其结 果通常因人而异，时常会出现偏差，从而影响了焊接产品的质量。而常用 的测量工具如游标卡尺等不但成本高，而且使用不便，影响生产效率。公 开日为2007年2月7日、公开号为CN2867301的专利文件公开了一种调整 用测量工具，其测量面与测量基准面相互平行且呈台阶状分布，且台阶的 厚度即为调整螺钉端部伸出的长度，因此使用此检测工具，可直接将螺钉 的调整量制造在检测工具上，调整时无需再测量；所述的测量基准面处的测量工具本体内镶嵌有磁铁，检测工具可方便测量，这种结构同样比较复 杂。因此，设计一种简单而实用的电极帽直径和高度测量工具成为操作工 人的迫切要求。
实用新型内容
.本实用新型为解决现有的测量工具测量电极帽时存在的使用不便，影 响生产效率的问题而提供一种结构简单，方便实用的电极帽测量工具。
本实用新型为达到上述技术目的所采用的具体技术方案为 一种电极 帽测量工具，包括工具本体，所述的工具本体为平板结构，平板结构的边 缘设有若干V形缺口， V形缺口的顶角为直角，V形缺口的两边为测量边，
测量边附近设有边长标记，本体上设有若干测量圆孔，测量圆孔附近设有
该测量圆孔的直径标记。利用工具本体上设置的直角V形缺口，并将V形
缺口的两边设置成固定长度的测量边，其长度值标注在测量边附近，就可 以方便地利用缺口两边的测量边来测量电极帽的高度值，另外，在工具本 体上设置若干直径已知的测量圆孔，使用时只需将电极帽的端部与这些测 量圆孔进行比对，即可方便、准确地判断出电极帽端部的直径数据，为修 整或更换电极帽提供依据。
作为优选，工具本体呈矩形，其角部设有v形缺口， v形缺口的两测量
边分别与本体的边缘垂直。矩形结构由于其相邻边相互垂直，在其角部设
置直角v形缺口，则V形缺口的两测量边分别与本体的边缘垂直，这样，
测量时本体的其中一边与电极帽的侧面垂直，有利于电极帽高度值的判定。
作为优选，工具本体呈矩形，其四角设有v形缺口， v形缺口的两测量边分别与本体的边缘垂直。在矩形本体的四个角上均设置V形缺口，则四 个v形缺口具有八条测量边，可以设置八个测试值，可以有效的提高读数
准确度。
作为优选，测量圆孔为5至9个，测量圆孔的直径大小不一，为5至 15毫米。领懂圆孔的大小可以根据所测电极帽的端部尺寸变化范围加以确 定，测量圆孔的数量则根据测量精度要求加以确定，数量越多，可以设置 的测量圆孔直径值也越多，测量精度越高。
作为优选，V形缺口的两测量边为不等边结构，其边长为10至20毫米。 不等边结构的V形缺口其两边可以设置两个测量值，有利于增加测量数据， 提高测试精度，10至20毫米的测量范围覆盖了大部分的电极帽测量数据， 对于种类单一、测量值较少的电极帽，为了方便测量，其的V形缺口的两 测量边也可以采用等边结构。
电极帽测量工具可以采用以下结构工具本体为矩形平板结构，矩形 平板的四角设有不等边的V形缺口，其边长分别为ll、 12毫米，13、 14毫 米，15、 16毫米及17、 18毫米，V形缺口的两边为测量边，测量边分别与 本体的边缘垂直，测量边附近设有相应的边长标记，本体上设有六个测量 圆孔，其直径分别为5毫米、6毫米、7毫米、8毫米、9毫米及10毫米， 测量圆孔附近设有该测量圆孔的直径标记。该结构满足了大部分电极帽测 量数据及对其测量准确度的要求，可以有效地通过对电极帽直径和高度的 量化判断实现对电极帽工作状态的控制，从而提高焊接产品的质量。
本实用新型的有益效果是它有效地解决了现有的测量工具测量电极 帽时存在的使用不便，影响生产效率的问题，本实用新型可以在任何情况下对电极帽直径和高度直接测量，测量方法简便，测量结果准确，消除了 人为因素的影响，提高了产品质量。
图1是本实用新型电极帽测量工具的一种结构示意图。
图2是本实用新型电极帽测量工具的另一种结构示意图。 图3是本实用新型电极帽测量工具测量状态的一种示意图。
具体实施方式
下面通过实施例，并结合附图对本实用新型技术方案的具体实施方式作进一步的说明。 实施例1
在如图1所示的实施例1中，工具本体1为矩形平板结构，矩形平板 的四角设有不等边的V形缺口，其边长分别为ll、 12毫米，13、 14毫米， 15、 16毫米及17、 18毫米，V形缺口的两边为测量边2，测量边分别与本 体1的边缘垂直，测量边2附近设有相应的边长标记3，其数值与边长对应， 分别为ll、 12、 13、 14、 15、 16、 17、 18，本体1上设有六个测量圆孔4， 其直径分别为5毫米、6毫米、7毫米、8毫米、9毫米及10毫米，测量圆 孔4附近设有该测量圆孔的直径标记5，其数值分别为5、 6、 7、 8、 9、 10。 工具本体1平板结构的两面均设有边长标记3与直径标记5。 实施例2
在如图2所示的实施例2中，工具本体1为矩形平板结构，矩形平板的两角分别设有等边的V形缺口，其边长分别为13毫米和16毫米，本体l 上设有五个测量圆孔4，其直径分别为5毫米、6毫米、7毫米、8毫米及9 毫米，测量圆孔4附近设有该测量圆孔的直径标记5，其数值分别为5、 6、 7、 8、 9，这种结构只有两个边长尺寸，主要用于M13A20型号及M16A23型 号的电极帽的测量，其余和实施例l相同。
本实用新型测量电极帽的方法如图3所示，使用时只要将电极帽6放 入尺寸相应的V形缺口，如果电极帽6的高度小于相应测量边的长度，则 需要更换电极帽。图中我们使用M16A23型号的电极帽，对于M16A23型号 的电极帽来说，其高度低于16毫米就需要更换，将电极帽放入边长为16 毫米的V形缺口，电极帽的前端部顶住V形缺口的一边，电极帽的侧面仅 靠V形缺口的另一边，从图中我们可以清楚看出，该电极帽的高度已经小 于16毫米，因此需要更换。对于电极帽的端部直径，我们只需将电极帽的 端部与工具上的测量圆孔进行比对，即可方便、准确地判断出电极帽端部 的直径数据，为修整或更换电极帽提供依据，对于M16A23型号的电极帽来 说，其端部直径大于9毫米就需要进行修整。
权利要求1.一种电极帽测量工具，包括工具本体，其特征是所述的工具本体(1)为平板结构，平板结构的边缘设有若干V形缺口，V形缺口的顶角为直角，V形缺口的两边为测量边(2)，测量边(2)附近设有边长标记(3)，本体(1)上设有若干测量圆孔(4)，测量圆孔(4)附近设有该测量圆孔的直径标记(5)。
2. 根据权利要求1所述的电极帽测量工具，其特征在于所述的工具 本体(1)呈矩形，其角部设有V形缺口， V形缺口的两测量边(2)分别 与本体(1)的边缘垂直。
3. 根据权利要求2所述的电极帽测量工具，其特征在于所述的工具 本体(1)四角设有V形缺口， V形缺口的两测量边(2)分别与本体(1) 的边缘垂直。
4. 根据权利要求3所述的电极帽测量工具，其特征在于所述的测量 圆孔(4)为5至9个。
5. 根据权利要求1或2或3或4所述的电极帽测量工具，其特征在 于测量圆孔(4)为5至9个，其直径大小不一，为5至15毫米。
6. 根据权利要求1或2或3或4所述的电极帽测量工具，其特征在 于V形缺口的两测量边(2)为等边结构，其边长为10至20毫米。
7. 根据权利要求1或2或3或4所述的电极帽测量工具，其特征在 于V形缺口的两测量边(2)为不等边结构，其边长为10至20毫米。
8. 根据权利要求1或2或3或4所述的电极帽测量工具，其特征在于工具本体(1)其平板结构的两面均设有边长标记(3)与直径标记(5)。
9.一种电极帽测量工具，包括工具本体，其特征是所述的工具本 体(1)为矩形平板结构，矩形平板的四角设有不等边的V形缺口，其边 长分别为ll、 12毫米，13、 14毫米，15、 16毫米及17、 18毫米，V形 缺口的两边为测量边(2)，测量边分别与本体(1)的边缘垂直，测量边 (2)附近设有相应的边长标记(3)，本体(1)上设有六个测量圆孔(4)， 其直径分别为5毫米、6毫米、7毫米、8毫米、9毫米及10毫米，测量 圆孔(4)附近设有该测量圆孔的直径标记(5)，工具本体(1)平板结 构的两面均设有边长标记(3)与直径标记(5)。
专利摘要本实用新型公开了一种电极帽测量工具，包括工具本体，所述的工具本体为平板结构，平板结构的边缘设有若干V形缺口，V形缺口的顶角为直角，V形缺口的两边为测量边，测量边附近设有边长标记，本体上设有若干测量圆孔，测量圆孔附近设有该测量圆孔的直径标记。它有效地解决了现有的测量工具测量电极帽时存在的使用不便，影响生产效率的问题，本实用新型可以在任何情况下对电极帽直径和高度直接测量，测量方法简便，测量结果准确，消除了人为因素的影响，提高了产品质量。
文档编号G01B5/02GK201348482SQ200820170540
公开日2009年11月18日 申请日期2008年12月19日 优先权日2008年12月19日
发明者安聪慧, 李书福, 健 杨, 强 马 申请人:浙江吉利汽车有限公司;浙江吉利控股集团有限公司