专利名称：多功能数显千分尺的制作方法
技术领域：
本发明创造是用于机械加工行业所使用的较大直径的 铰刀直径尺寸的测量，带有槽或弧面构件的槽或弧面壁厚的检测。
背景技术：
常规的数显千分尺，因测砧和移动测微螺杆的端头形 状固定，移动测微螺杆移动范围有限，对于有些特殊位置无法检测， 如较大直径的铰刀直径尺寸的测量，带有槽或弧面构件的槽或弧面壁 厚的检测等，例如在铰刀刃部较长时，较刀直径的最大点很可能不在 一条水平线上，普通的千分尺测量端面较小，有时无法测量到较刀的 直径最大值；如果针对每种检测情况都配备专用的数显千分尺，会加 大制造成本。
发明内容
本发明创造的目的是提供一种能对较大直径的铰刀直 径尺寸的测量和带有槽或弧面构件的槽或弧面壁厚的检测的多功能 数显千分尺；本发明创造的目的是通过下述的技术方案实现的多功 能数显千分尺，包括数显千分尺，其特征在于在数显千分尺的测砧和 /或移动测微螺杆上安装测量头，测量头一端制出与测砧和移动测微 螺杆配合的内孔，在内孔内装磁片。
测量头由锥体段和圆柱段连接组成，在圆柱段制出内孔，在内孔 内装磁片，在锥体段锥尖处制成球体。
测量头由两端圆柱段，中间为锥体段连接组成，与锥体段大直径 一端连接的圆柱段制出内孔，在内孔内装磁片，在与锥体段小直径一端连接的圆柱段端头制成球体。
测量头制成圆片，并在圆片一面的中部制出凸台，在凸台上制出 内孔，在内孔内装磁片。
本发明创造的优点测量头根据测量较大直径的铰刀直径尺寸和 测量带有槽或弧面构件的槽或弧面壁厚而设计，将测量头装在测砧和 /或移动测微螺杆上即可对大直径的铰刀、槽或弧面进行测量，测量 头按需求配套，扩大了数显千分尺的功能，配套测量头比配套专用的 数显千分尺成本低。
图1是多功能数显千分尺结构示意图2是权利要求4的测量头实例结构示意图3是图2的侧视示意图4是权利要求3的测量头实例结构示意图5是测量槽实例示意图6是测量弧面厚度实例示意图7是测量大直径铰刀实例示意图。
图中的1、多功能数显千分尺中的测砧2、测量头3、多功 能数显千分尺中的移动测微螺杆4、数显千分尺5、磁片
具体实施例方式多功能数显千分尺，包括数显千分尺，其特征在 于在数显千分尺的测砧和/或移动测微螺杆上安装测量头，测量头一 端制出与测砧和移动测微螺杆配合的内孔，在内孔内装磁片。
测量头由锥体段和圆柱段连接组成，在圆柱段制出内孔，在内孔内装磁片，在锥体段锥尖处制成球体。
测量头由两端圆柱段，中间为锥体段连接组成，与锥体段大直径 一端连接的圆柱段制出内孔，在内孔内装磁片，在与锥体段小直径一 端连接的圆柱段端头制成球体。
测量头制成圆片，并在圆片一面的中部制出凸台，在凸台上制出 内孔，在内孔内装磁片。
测量头一端制出与测砧和移动测微螺杆配合的内孔，便于装在测 砧和移动测微螺杆上，在内孔内装磁片与测砧和移动测微螺杆配合稳 定，测量头的球体为红宝石标准球，其它构成为非磁性材料制成，根 据不同位置的不同测量需求，选择适用的测量头套装在测砧和/或移 动测微螺杆上便可完成对较大直径的铰刀直径尺寸和去掉带有槽或 弧面构件的槽或弧面壁厚测量任务。
权利要求
1、多功能数显千分尺，包括数显千分尺，其特征在于在数显千分尺的测砧和/或移动测微螺杆上安装测量头，测量头一端制出与测砧和移动测微螺杆配合的内孔，在内孔内装磁片。
2、 根据权利要求1所述的多功能数显千分尺，其特征在于测量 头由锥体段和圆柱段连接组成，在圆柱段制出内孔，在锥体段锥尖处 制成球体。
3、 根据权利要求1所述的多功能数显千分尺，其特征在于测量 头由两端圆柱段，中间为锥体段连接组成，与锥体段大直径一端连接 的圆柱段制出内孔，在与锥体段小直径一端连接的圆柱段端头制成球 体。
4、 根据权利要求1所述的多功能数显千分尺，其特征在于测量 头制成圆片，并在圆片一面的中部制出凸台，在凸台上制出内孔。
全文摘要
多功能数显千分尺，是用于机械加工行业所使用的较大直径的铰刀直径尺寸的测量，带有槽或弧面构件的槽或弧面壁厚的检测；多功能数显千分尺，包括数显千分尺，其特征在于在数显千分尺的测砧和/或移动测微螺杆上安装测量头，测量头一端制出与测砧和移动测微螺杆配合的内孔，在内孔内装磁片；优点测量头根据测量较大直径的铰刀直径尺寸和测量带有槽或弧面构件的槽或弧面壁厚而设计，将测量头装在测砧和/或移动测微螺杆上即可对大直径的铰刀、槽或弧面进行测量，测量头按需求配套，扩大了数显千分尺的功能，配套测量头比配套专用的数显千分尺成本低。
文档编号G01B3/18GK101614512SQ20091001315
公开日2009年12月30日 申请日期2009年8月13日 优先权日2009年8月13日
发明者孙永峰, 文丽松, 燕 王, 王守坤 申请人:沈阳飞机工业(集团)有限公司