专利名称：：一种基于测试向量相容的测试向量编码压缩方法
技术领域：
：本发明涉及集成电路测试技术，尤其涉及一种基于测试向量相容的测试向量编码压縮方法。
背景技术：
：随着芯片制造技术的进步以及新的设计方法的产生，特别是向soc设计方法的转变，大量的IP(IntdlectualProperty)核组合在一起形成片上系统(SOC，System-On-Chip)。导致芯片的复杂度直线上升，每个IP核的测试数据一般都十分庞大(为了达到很高的错误覆盖率)，测试时间变得冗长、测试数据量变得异常庞大，这就使得测试单个SOC所用的测试向量超出了测试设备性能允许的范围，测试成本急剧上升。测试成本已经成为芯片成本的主要组成部分，如何减少测试成本进而减少芯片成本成为研究人员日益关注的问题。BIST(Built-In-Self-Test)测试方法是能解决上述问题的方法之一，但具有芯片面积开销较大和难测故障等一些缺点，并且现有大量IP核并不具有BIST结构。通过测试数据的压縮/解压縮的方法可以解决测试设备性能不足的问题以及縮短测试时间。数据压縮主要包含两类基于线性反馈移位寄存器LFSR(LinearFeedbackShiftRegister)的重播种技术和基于编码的技术。LFSR在压縮存在大量无关位的测试集时有很大的优势，不适合确定位个数过多的情况。基于编码的技术通过对测试集定长或者变长的序列进行编码，可以有效减少测试数据量。在测试集中有大量的无关位"x"存在，可以将"x"设为"0"或"1";测试集中相邻的向量具有很好的相关性，它们之间只有很少的位数值是不同的。利用这个结果可以得到新的差分测试集，该集合具有更好的"0"的游程，编码效率更高；也可以合并相邻的向量，减少向量个数，对合并后的向量压縮，也能很大的提高压縮率。把压縮后的数据放入ATE(AutomaticTestEquipment)内存中，由芯片的解码模块进行解码，还原测试向量，减少了测试机与被测芯片的带宽和测试时间。
发明内容本发明的目的是针对当前只对单个向量进行编码而没有结合向量相容性的不足，提出一种基于向量相容的测试向量编码压縮方法。基于向量相容的测试向量编码压縮方法包括测试向量的压縮和编码后的解压缩两部分，测试向量的压縮包括如下步骤1)确定测试向量的编码；2)由被测电路得到第一测试向量集R,选取第一测试向量集R中任一个第一向量~，将第一向量0从第一测试向量集R中移出，放入测试向量组S中，测试向量组S内的向量个数m为1，设第二测试向量集H，第二测试向量集H与第一测试向量集R相同；3)从第二测试集H中找出与第一向量^相容性最大的第二向量6，并将第二向量^从第二测试集H中移出；4)若"2大于w并且第二测试集H不是空集，则返回步骤3)，若第二测试集H为空集，则到步骤7)完成分组，若W2小于w则到步骤5)，其中，"，为测试向量之间不相容位的最大个数，"M^的值可自定义，^为第一向量0与第二向量^不相容位的个数；5)将第二向量b移入测试向量组S中，向量个数m的值增加l，求出第一向量~与第二向量b相容后的第四向量"；6)对测试向量组S编码，计算第一测试向量组S的压縮率J和第二向量^的压縮率^c。^，判断第二向量^是否要从测试向量组S移出，若第二测试向量集H为空集，则到步骤7)，若第二测试向量集H不为空集，则到步骤3);7)完成对测试向量组S的分组，对测试向量组S编码，得到表示测试相量组S内向量个数m的编码Af、表示不相容位个数"的编码iV以及表示不相容位上值信息的编码Q，由第一向量^得到第六向量^，第六向量&的编码为T6—code,从第一测试向量集R中移出测试向量组S内的向量；8)若第一测试向量集R为空集，则分组结束，若第一测试向量集R不为空集，则回到步骤2)开始下一测试向量组；编码后的解压縮包括如下步骤9)将表示测试向量组S内向量个数m的编码M、不相容位个数"的编码W和不相容位上值的信息的g输入到被测电路保存，然后输入第六向量^的编码T6一code到被测电路；10)对第六向量&的编码T6—code进行解码，当遇到码字"00"时，将"00"之前的码字解码后的最后一位用步骤9)保存过的不相容位上的值替换，还原一个被压縮的向量，编码M的值减1;11)若编码M的值不为0，则回到步骤10)继续对第一向量^解码，若编码M的值为0，则对测试向量组S解码完成。所述步骤l)包括a)码字由前缀和后缀组成，将码字分组，设编码组为^t，其中A:为组号，码字的前缀和后缀的位数均为&b)码字前缀最后一位为"0"，其余位为"1"。码字后缀是由2^个01组合组成，顺序按大小排列；c)第一编码组A只有只有一个码字"01"用于游程"0"的编码，码字"00"用于标记不相容位的位置；d)对于长度为/的"0"的游程，落在哪一个编码组是有如下公式决定的'("4):log2-17^0/(/)，/柳=e)测试集中"0"的游程最长的值加1的编码的前缀作为测试向量组与测试向量组的分割码Sep_code。所述步骤3)包括f)选取第二测试向量集H中任一个第二向量^，设定~(/)和^(/)有四种可能的取值"0"、"1"、"x"、"c"，其中/为第一向量^和第二向量^内第/个元素的位置，值"c"所在的位为不相容位，函数7^("/)"2(/))为~(/)和^(/)的相容结果，当函数7M00V力'))值为"1"时，~(/)和^G)不相容，当函数7M^(zV必)值为"0"时，~(/)和^相容，「1(("(/)==1)&==O))II((。(/)==0)&=l))1帥'卜c)ll(,2(/)-c)0=x)&&(〃(0!=c》II(("(/)!=c)&&(&(/)==x)):0(("(!)=1)&&("(/)==l))II==O))&&("(/)==O))g)选取第二测试向量集H中任一个第三向量^，设定G(/)有四种可能的取值"0"、"1"、"X"、"C"，其中/为第三向量^内第y个元素的位置，函数7b啦(/V3(/》为o0')和^0')的相容结果，当函数7M^(/V力'))值为"r，时，^(_/)和^0.)不相容，当函数绵(/V力'))值为"o"时，/7(_/)和^(_/)相容，'1((W)=1)&=O))11=0)&&("(;)=1》0((W)=x)&&("G〕!=C))||((r</)!=C)&&(^/)=x))'.0=1)&=l))11=O))&&(〃C0=0》h)比较"2与"3，若"2大于"3，则"2取"3的值，第二向量^取第三向量^的值，其中W2为第一向量^与第二向量^不相容位的个数，为第一向量与第三向量不相容位的个数，Z为第一向量0的长度，若未遍历第二测试向量集H，则到步骤g)，若遍历第二测试集H，将第二向量从第二测试向量集H中移出，然后到步骤4)，w2=Z7b,/)，W))声i='>m/2<=m所述步骤5)包括i)将第二向量^移入测试向量组s中，m增加i，m》)、6a)和^a)分别为第一向量o、第二向量/2和第四向量"第A:个位置的元素，"a)的值由以下公式计算，1==1)&柳"A:)==1)||==x》1(,==x)&&,)==1》0==0)&==0)II==;c》"(A:)—0(,==;c)&&C=0)。jc(,==;c)&&(。(A:)==x)c==1)&&,)==O))II==0)&==1》所述步骤6)包括j)由第四向量"得到第五向量^，"/o和^a)分别为第四向量"和第五向量G第/2个位置的元素；loc)==o)ii=x)k)对第五向量^进行编码，在编码解码后包含第四向量"中"c"的位置的码字之前插入标记码"00"，得到"的编码T5jode，编码长度为/c。w1)测试向量组S中向量个数m和不相容位个数"/由M和W位二进制信息表示，测试向量组S中不相容位上的值由g位二进制表示，其中"/的值为第四向量"内值"c"出现的次数，也即第一向量0与第二向量^不相容位的个数；log(m+1)logQ=附xmm)计算测试向量组S的压縮率义和第二向量/2的压縮率乂c，，将第二向^中的值"x"变为"0"后进行编码，编码后的长度为/2，￡—/2n)若测试向量组S的压縮率A小于第二向量^的压縮率乂c。琴，则将第二向量/2从测试向量组S中移出，m减l，若义大于夂，，则第二向量^留在测试向量组S中，第一向量O取第四向量"的值；o)若第二测试向量集H为空集，则到步骤7)，若第二测试向量集H不为空集，则到步骤3);所述步骤7)包括p)由第一向量々得到第六向量^，"句和^(d)分别为第一向量O和第六向量&第"个位置的元素；fl=1)&&(M>/)==C)("(t0=0)||("(^)==x)q)对第六向量&进行编码，在编码解码后包含第一向量tl中"c"的位置的码字之前插入标记码"00"，得到&的编码T6—code;r)测试向量组S中向量个数m和不相容个数w由M和7V位二进制信息表示，测试向量组S中不相容位上的值由g位二进制表示，其中w的值为第一向量0内值"c"出现的次数即不相容位的个数；(m+l)—2loglog("+l)g=附xws)在T6一code之前插入(M+iV+g)位的组头信息，并在T6一code的末尾插入组分割码Sep一code，完成对测试向量组S的编码。本发明根据相容性最大的关系把测试向量集分组，并将测试向量组内的向量合并为一个第一向量O，对第一向量G进行编码，不相容的位置用标记码标出，极大的减少了用地址信息标记所需的位数，在编码前插入组头信息，形成对测试向量组的编码。解码时，将测试向量组的编码移入被测电路保存，保存在被测电路中的编码可以重复利用，极大地降低了测试机与被测电路的带宽。图1本发明的测试向量压縮流程图2本发明的寻找与第一向量^相容性最大的第二向量/2流程图；图3本发明的计算测试向量组S和第二向量^的压縮率流程图；图4本发明的对完成分组的测试向量组S编码流程图；图5本发明的编码结构图；图6本发明的解压縮测试向量组流程图。具体实施例方式基于向量相容的测试向量编码压縮方法包括测试向量的压縮和编码后的解压縮两部分，如图1所示，测试向量的压縮包括如下步骤1)确定测试向量的编码；2)由被测电路得到第一测试向量集R，选取第一测试向量集R中任一个第一向量0，将第一向量~从第一测试向量集R中移出，放入测试向量组S中，测试向量组S内的向量个数m为1，设第二测试向量集H,第二测试向量集H与第一测试向量集R相同；3)从第二测试集H中找出与第一向量0相容性最大的第二向量^并将第二向量/2从第二测试集H中移出；4)若"2大于w并且第二测试集H不是空集，则返回步骤3)，若第二测试集H为空集，则到步骤7)完成分组，若&小于w，则到步骤5)，其中，"^为测试向量之间不相容位的最大个数，w的值可自定义，^为第一向量~与第二向量^不相容位的个数；5)将第二向量6移入测试向量组S中，向量个数m的值增加l，求出第一向量~与第二向量^相容后的第四向量"；6)对测试向量组S编码，计算第一测试向量组S的压縮率^和第二向量G的压縮率、。^,判断第二向量b是否要从测试向量组S移出，若第二测试向量集H为空集，则到步骤7)，若第二测试向量集H不为空集，则到步骤3);7)完成对测试向量组S的分组，对测试向量组S编码，得到表示测试相量组S内向量个数m的编码力/、表示不相容位个数w的编码以及表示不相容位上值信息的编码2，由第一向量^得到第六向量^，第六向量&的编码为T6一code,从第一测试向量集R中移出测试向量组S内的向量；8)若第一测试向量集R为空集，则分组结束，若第一测试向量集R不为空集，则回到步骤2)开始下一测试向量组；如图6所示，编码后的解压縮包括如下步骤9)将表示测试向量组S内向量个数m的编码A/、不相容位个数w的编码W和不相容位上值的信息的0输入到被测电路保存，然后输入第六向量^的编码T6一code到被测电路；10)对第六向量&的编码T6—code进行解码，当遇到码字"OO"时，将"00"之前的码字解码后的最后一位用步骤9)保存过的不相容位上的值替换，还原一个被压縮的向量，编码M的值减1;11)若编码M的值不为O，则回到步骤IO)继续对第一向量^解码，若编码M的值为O，则对测试向量组S解码完成。所述步骤l)包括a)码字由前缀和后缀组成，将码字分组，设编码组为^t，其中A为组号，码字的前缀和后缀的位数均为^b)码字前缀最后一位为"0"，其余位为"1"。码字后缀是由2&个01组合组成，顺序按大小排列；c)第一编码组A只有只有一个码字"01"用于游程"0"的编码，码字"00"用于标记不相容位的位置；d)对于长度为/的"0"的游程，落在哪一个编码组是有如下公式决定的，如表1所示；<formula>formulaseeoriginaldocumentpage13</formula>e)测试集中"0"的游程最长的值加1的编码的前缀作为测试向量组与测试向量组的分割码Sep_code。表l本发明提出的编码表<table>tableseeoriginaldocumentpage14</column></row><table>如图2所示，所述步骤3)包括f)选取第二测试向量集H中任一个第二向量^，设定O(/)和^(/)有四种可能的取值"0"、"1"、"x"、"c"，其中z'为第一向量^和第二向量G内第Z个元素的位置，值"c"所在的位为不相容位，函数7^(《/),"z'))为0(/)和^(/)的相容结果，当函数7b啦(O,柳值为"1"时，~")和6不相容，当函数7bKO(0，^))值为"0"时，~("和G(/)相容，「1((W)==1)&&("(/)==O))II=0)&==l))1，0x)&&("(/)!=c))II((m;/)!-c)&&("(/)==x));0(("(/)==1)&&("(/)=l))II(("(/)==O))&&,==O))g)选取第二测试向量集H中任一个第三向量。，设定^0')有四种可能的取值"0"、"1"、"x"、"c"，其中为第三向量^内第7个元素的位置，函数7M,力V力'))为o(/)和。0')的相容结果，当函数『o啦(/)力(/))值为"i"时，~0')和^(/)不相容，当函数7^②(/v力'))值为"o"时，o0')和^0.)相容，<formula>formulaseeoriginaldocumentpage14</formula>h)比较"2与，若"2大于"3，则"2取"3的值，第二向量^取第三向量^的值，其中W2为第一向量0与第二向量。不相容位的个数，"3为第一向量与第三向量不相容位的个数，丄为第一向量O的长度，若未遍历第二测试向量集H，则到步骤g)，若遍历第二测试集H，将第二向量从第二测试向量集H中移出，然后到步骤4)，m=Z7br("(/)力(/))>1=mm>m<=m所述步骤5)包括i)将第二向量6移入测试向量组s中，m增加i，"A)、^a)和"a)分别为第一向量O、第二向量G和第四向量"第A:个位置的元素，"的值由以下公式计算，如表2所示的相容关系表，'1(。(A:)==1)&柳《A:)==1)II(h(&)==;c))1,)==;c)&&C==l))0("(A:)==0)&&((〃(&)0)II==jc》=<0==&&,)==0)。x("("==jc)&斷(A:)=x)c==1)&&"祸==O))II==0)&==l))表2相容关系表01Xc00c0c1c11cX01Xcccccc15"和第如图3所示，所述步骤6)包括j)由第四向量"得到第五向量^，"(/2)和^分别为第四向五向量^第/2个位置的元素；'—Jl("(/z)==1)&==c)'Lo("(/o==o)||(";k)对第五向量^进行编码，在编码解码后包含第四向量"中"c"的位置的码字之前插入标记码"00"，得到^的编码T5一code，编码长度为/c。w1)测试向量组S中向量个数m和不相容个数"7由M和7V位二进制信息表示，测试向量组S中不相容位上的值由g位二进制表示，其中"/的值为第四向量"内值"c"出现的次数，也即第一向量O与第二向量G不相容位的数；水log2logm)计算测试向量组S的压縮率^和第二向量^的压縮率义c。一将第二向^中的值"x"变为"0"后进行编码，编码后的长度为/2;1—M—iV—附承W—/coden)若测试向量组S的压縮率J小于第二向量G的压縮率^c。^，则将第二向量^从测试向量组S中移出，m减l，若义大于夂，，则第二向量^留在测试向量组S中，第一向量^取第四向量"的值；o)若第二测试向量集H为空集，则到步骤7)，若第二测试向量集H不为空集，则到步骤3);所述步骤7)包括p)由第一向量0得到第六向量&，~(力和&(")分别为第一向量G和第六向量^第d个位置的元素；「1(f6(d)=l)&&(^(^)==c)0("(i/)==0)||(>6W)==jc)q)对第六向量&进行编码，在编码解码后包含第一向量tl中"c"的位置的码字之前插入标记码"00"，得到&的编码T6—code;r)测试向量组S中向量个数m和不相容个数w由M和iV位二进制信息表示，测试向量组S中不相容位上的值由g位二进制表示，其中w的值为第一向量~内值"c"出现的次数即不相容位的个数；<formula>formulaseeoriginaldocumentpage17</formula>s)在T6—code之前插入(M+iV+g)位的组头信息，并在T6—code的末尾插入组分割码Sep_COde，完成对测试向量组S的编码，如图5所示。实施例设测试集R中有四个向量77、72、r3、r4。向量长度丄均为24位。选取77作为分组S的第一个向量，从R中移出，并使~=77。R中向量为72、73、7V。集合H-R。w,=3。组分割码Sep—code取1111077:1xxx1xxxx0xx1xxxxx1xxxxx72:xxxx0xx0x0xxx0xxxxlxxxxx73:Oxxxlxxxxlxxxxxxxxlxxxlxr4:1xxx01xxx1xxxxxxxxx0xx0x从H中找与^相容性最大的向量，得到向量^=72，"2=1。从H中移出^。小于"附似并且测试集H不是空集。m=2，合并0与^得到向量"。^移入测试向量组S。"中值"c"个数为"尸l，M=W=2，^=附*"尸2。":1xxxcxx0x0xx10xxxx1xxxxx把"c"设为"1"，把"x"设为"0"，得到向量6100010000000100000100000编码01101011001011000011000024bits插入标记码"00":0110100011001011000011000026bits组头信息编码M:10iV:01Q:106bits压縮率;t:^Z^丄483对^单独编码编码1110010111000014bits压縮率义，—24-14—5，2412由于义〈义c。邵，则6从S中移出，m的值减l。继续从H中寻找与^相容最大的向量，此时H中的向量为73和W。从H中找到与r相容性最大的向量f产D，"2=2，从H中移出^。"2小于"Mox并且测试集H不是空集，。移入测试向量组S中，合并0与G得到向量G。"中值"c"个数为"尸2，Af=iV=2，g=m*";=4。cxxxlxxxxcxxlxxxxxlxxxlx把"c"设为"1"，把"x"设为"0"，得到向量^。编码011010101110011100001010100028bits插入标记码"00":0100101010110010011100001010100032bits组头信息编码W:10iV:10g:10018bitS总的编码101010010100101010110010011100001010100038bits压縮率h!2^丄4824对^单独编码编码101110111100111010100022bits24—221压縮率A，2412由于义>义￡。^，则^保留在测试向量组s中。f尸G从H中找到与^相容性最大的向量f2=7V，从H中移出f2。"2=4，由于所以G不能移入组S。H为空集。完成测试向量组S的分组，组内向量为n，r丄并从r中移出"。编码组s内向量个数和不相容位个数，不相容位个数Q对测试向量组S编码，统计^内值"c"的个数"=2，Af=iV=2，不相容位上值信息M:1010g:1001将~内的值"c"和值"x"分别变为"1"和"0"得到向量&，对^编码得到T6—code。编码0110101011100111000010101000插入标记码T6—code:01001010101100100111000010101000在T6—code之前插入组头信息并在末尾插入组分割码。S:10101001011010101110011100001010100011110与完成组s相同，72与r4组成另一个分组g。100101011011101011001111000011110测试集R完成分组。权利要求1.一种基于向量相容的测试向量编码压缩方法，其特征在于包括测试向量的压缩和编码后的解压缩两部分，测试向量的压缩包括如下步骤1)确定测试向量的编码；2)由被测电路得到第一测试向量集R，选取第一测试向量集R中任一个第一向量t1，将第一向量t1从第一测试向量集R中移出，放入测试向量组S中，测试向量组S内的向量个数m为1，设第二测试向量集H，第二测试向量集H与第一测试向量集R相同；3)从第二测试向量集H中找出与第一向量t1相容性最大的第二向量t2，并将第二向量t2从第二测试向量集H中移出；4)若n2大于nmax，并且第二测试集H不是空集，则返回步骤3)，若第二测试集H为空集，则到步骤7)完成分组，若n2小于nmax，则到步骤5)，其中，nmax为测试向量之间不相容位的最大个数，nmax的值可自定义，n2为第一向量t1与第二向量t2不相容位的个数；5)将第二向量t2移入测试向量组S中，向量个数m的值增加1，求出第一向量t1与第二向量t2相容后的第四向量t4；6)对测试向量组S编码，计算第一测试向量组S的压缩率λ和第二向量t2的压缩率λcomp，判断第二向量t2是否要从测试向量组S移出，若第二测试向量集H为空集，则到步骤7)，若第二测试向量集H不为空集，则到步骤3)；7)完成对测试向量组S的分组，对测试向量组S编码，得到表示测试向量组S内向量个数m的编码M、表示不相容位个数n的编码N以及表示不相容位上值信息的编码Q，由第一向量t1得到第六向量t6，第六向量t6的编码为T6_code，从第一测试向量集R中移出测试向量组S内的向量；8)若第一测试向量集R为空集，则分组结束，若第一测试向量集R不为空集，则回到步骤2)开始下一测试向量组；编码后的解压缩包括如下步骤9)将表示测试向量组S内向量个数m的编码M、不相容位个数n的编码N和不相容位上值的信息的Q输入到被测电路保存，然后输入第六向量t6的编码T6_code到被测电路；10)对第六向量t6的编码T6_code进行解码，当遇到码字“00”时，将“00”之前的码字解码后的最后一位用步骤9)保存过的不相容位上的值替换，还原一个被压缩的向量，编码M的值减1；11)若编码M的值不为0，则回到步骤10)继续对第一向量t1解码，若编码M的值为0，则对测试向量组S解码完成。2.如权利要求1所述的一种基于向量相容的测试向量编码压縮方法，其特征在于，所述步骤l)包括a)码字由前缀和后缀组成，将码字分组，设编码组为^t,其中A:为组号，码字的前缀和后缀的位数均为^b)码字前缀最后一位为"0"，其余位为"1"。码字后缀是由24个01组合组成，顺序按大小排列；c)第一编码组A只有只有一个码字"01"用于游程"0"的编码，码字"00"用于标记不相容位的位置；d)对于长度为/的"0"的游程，落在哪一个编码组是有如下公式决定的<formula>formulaseeoriginaldocumentpage3</formula>e)测试集中"0"的游程最长的值加1的编码的前缀作为测试向量组与测试向量组的分割码Sep一code。3.如权利要求1所述的一种基于向量相容的测试向量编码压縮方法，其特征在于，所述步骤3)包括f)选取第二测试向量集H中任一个第二向量6，设定0(0和^(0有四种可能的取值"0"、"1"、"x"、"c"，其中/为第一向量^和第二向量^内第/个元素的位置，值"c"所在的位为不相容位，函数7bK"0,"0)为0(/)和^的相容结果，当函数r—^(/),"/))值为"1"时，0(/)和^(/)不相容，当函数7M0(f),"z'))值为"0"时，(/)和^(/)相容，<formula>formulaseeoriginaldocumentpage3</formula>g)选取第二测试向量集H中任一个第三向量^，设定^0')有四种可能的取值"0"、"1"、"x"、"c"，其中y为第三向量G内第/个元素的位置，函数7b啦(/V3(/))为~("和G("的相容结果，当函数7b啦(/)力(/》值为"1"时，~0')和^0')不相容，当函数(/V3(/))值为"o"时，~(y)和^("相容，<formula>formulaseeoriginaldocumentpage0</formula>h)比较"2与^，若"2大于&，则"2取"3的值，第二向量G取第三向量G的值，其中"2为第一向量0与第二向量^不相容位的个数，"j为第一向量与第三向量不相容位的个数，丄为第一向量O的长度，若未遍历第二测试向量集H，则到步骤g)，若遍历第二测试集H，将第二向量6从第二测试向量集H中移出，然后到步骤4)，<formula>formulaseeoriginaldocumentpage0</formula>4.如权利要求1所述的一种基于向量相容的测试向量编码压縮方法，其特征在于，其特征在于，所述步骤5)包括i)将第二向量^移入测试向量组s中，附增加i，"Q、f2a)和/￥a)分别为第一向量o、第二向量^和第四向量"第A:个位置的元素，"a)的值由以下公式计算，<formula>formulaseeoriginaldocumentpage0</formula>5.如权利要求1所述的一种基于向量相容的测试向量编码压縮方法，其特征在于，其特征在于，所述步骤6)包括j)由第四向量"得到第五向量^，"(/2)和^(//)分别为第四向量"和第五向量G第/2个位置的元素；<formula>formulaseeoriginaldocumentpage0</formula>k)对第五向量^进行编码，在编码解码后包含第四向量"中"C"的位置的码字之前插入标记码"00"，得到第五向量^的编码T5一code，编码长度为0测试向量组S中向量个数m和不相容位个数由M和7V位二进制信息表示，测试向量组S中不相容位上的值由0位二进制表示，其中";的值为第四向量"内值"c"出现的次数，也即第一向量0与第二向量^不相容位的个数，<formula>formulaseeoriginaldocumentpage5</formula>m)计算测试向量组S的压縮率义和第二向量^的压縮率乂c。琴，^中的值"x"变为"0"后进行编码，编码后的长度为/2;<formula>formulaseeoriginaldocumentpage5</formula>n)若测试向量组S的压縮率J小于第二向量6的压縮率JJ将第」向量^从测试向量组S中移出，m减l，若义大于夂，，则第二向量6留在测试向量组S中，第一向量^取第四向量"的值；o)若第二测试向量集H为空集，则到步骤7)，若第二测试向量集H不为空集，则到步骤3)。6.如权利要求1所述的一种基于向量相容的测试向量编码压縮方法，其特征在于，其特征在于，所述步骤7)包括p)由第一向量/7得到第六向量^，《力和^(d)分别为第一向量O和第六向量&第d个位置的元素，<formula>formulaseeoriginaldocumentpage5</formula>q)对第六向量^进行编码，在编码解码后包含第一向量f/中"c"的位置的码字之前插入标记码"00"，得到^的编码T6一code;。测试向量组S中向量个数m和不相容位个数w由M和iV位二进制信息表示，测试向量组S中不相容位上的值由g位二进制表示，其中w的值为第一向量O内值"C"出现的次数即不相容位个数；(w+l)loglog("+l)s)在T6—code之前插入(M+7V+0)位的组头信息,尾插入组分割码Sep_COde，完成对测试向量组S的编码。并在T6code的末全文摘要本发明公开了一种基于向量相容的测试向量编码压缩方法。它包括测试向量的压缩和编码后的解压缩两部分，首先确定测试向量的编码，从测试向量集中取出向量t<sub>1</sub>，通过与t<sub>1</sub>相容性最大的向量合并，并确保整体压缩率的提升，完成对测试向量的分组并对测试向量组编码。解码时将编码移入到被测电路保存，重复对编码解码，直到还原被压缩之前的向量组。本发明根据相容性最大的关系把测试向量集分组，并将测试向量组内的向量合并编码，不相容的位置用标记码标出，极大的减少了用地址信息标记所需的位数，在编码两端分别插入组头信息和组分割码。解码时，将测试向量组的编码移入被测电路保存，可以重复利用，极大地降低了测试机与被测电路的带宽。文档编号G01R31/317GK101604001SQ200910100309公开日2009年12月16日申请日期2009年7月2日优先权日2009年7月2日发明者万民永,严晓浪,赟潘申请人:浙江大学