一种下照式荧光分析仪器测试点定位装置的制作方法

文档序号:5844704阅读:341来源:国知局
专利名称:一种下照式荧光分析仪器测试点定位装置的制作方法
技术领域
本发明涉及一种下照式荧光分析仪器,具体的涉及一种下照式荧光分析仪器测试
点定位装置。
背景技术
随着经济的发展,我国对外贸易的步伐进一步加大,属于欧盟RoHS指令辐射范围 的企业不计其数,他们急需要一种有力武器,能协助他们应对RoHS指令。RoHS指令,全称 为《电气、电子设备中限制使用某些有害物质指令》,实际上是欧盟推出的一个"绿色贸易壁 垒",它是欧盟与2003年2月颁布的,旨在限制在电子电气设备中使用6种有害物质的法 令。其目标与其它国际法规相一致,旨在限制新设备使用某些有害物质,以保护人类健康和 环境。对于欧洲以外的电子产品制造商,只要其生产的设备最终出口到欧盟成员国,就必须 与2006年7月1日起遵守这项法规,全球各国也拟定了类似的法规。这部对于广大中国消 费者而言还比较陌生的欧盟RoHS环保指令,被称为是"牵动全球制造业神经的指令",它所 涉及的产品范围极其广泛,包括10大类近20万种,几乎涵盖了所有电子信息类产品,如大 小型家用电器、IT和通信设备、电器电子工具、玩具休闲及体育设备、医疗设备等。
目前市场上检测的方法有很多,主要有荧光分析法,电子能谱分析法和无机质谱 分析法三大类其中荧光分析法不但能准确检测产品或者原料中所含的五种元素的含量, 而且从欧盟海关的检测流程,检测的准确性,检测的速度,检测的直观性,仪器的价格等多 方面进行考虑,以荧光光谱仪最受青睐。 目前市场上推出的荧光光谱仪中有一类下照式荧光分析仪器,经实际操作发现很 难有效的对测试点准确定位,因此给技术人员操作时带来了一定难度。

发明内容
为了克服现有技术中的不足,本发明提供了一种下照式荧光分析仪器测试点定位 装置,它能精确方便的定位。 为解决上述技术问题,本发明一种下照式荧光分析仪器测试点定位装置包括一可 移动的两维测试平台,所述可移动的两维测试平台下方设有一 X荧光射线管,所述X荧光射 线管前端安有一准直器,所述可移动的两维测试平台下方还设有一高清晰可变焦摄像头, 所述可移动的两维测试平台下方还设有一光谱探测仪,所述可移动的两维测试平台上设有 一荧光十字框架。 当用户放入样品时,根据软件中的视频图像移动可移动的两维测试平台,精确定 位测试点,然后指令X荧光射线管发出射线,经过准直器聚集照射在测试点上,返射出光谱 被光谱探测仪接收。 由于本发明的荧光十字框架结构,使得在对测试点进行定位时有了一个固定的十 字架作为参考物,配合可移动的两维测试平台可以方便、精确的测试到样品的任一部位。


下面结合附图和实施方式对本发明作进一步详细的说明。
图1为本发明下照式荧光分析仪器测试点定位装置的结构示意图。
图2为本发明下照式荧光分析仪器测试点定位装置的荧光十字架的结构示意图。 图3为X荧光射线管在荧光十字架上投射的可见光斑示意图。 图4为摄像界面里的十字框与荧光十字架的位置关系图。 图中标号说明1.X荧光射线管,2.高清晰可变焦摄像头,3.光谱探测仪,4.准直 器,5.可移动的两维测试平台,6.荧光十字框架,7.可见光斑,8.摄像界面里的十字框。
具体实施例方式
参见图l,本发明的一具体实施列子一种照式荧光分析仪器测试点定位装置,包 括一可移动的两维测试平台5,可移动的两维测试平台5下方设有一高清晰可变焦摄像头 2, 一光谱探测仪3, 一荧光十字框架6, 一 X荧光射线管1,荧光射线管1前端安有一准直器 4。 本发明的调试方法如下 ①调试可移动的两维测试平台5复位于测量腔中心位置,放入荧光十字框架6 ;
②当X荧光射线管1接收指令发出X射线时,射线经过准直器4聚集后照射在荧 光十字框架上,形成可见光斑7,如图3所示,这就是此时光斑的位置,然后根据光斑的位置 调解X荧光射线管1的角度和位置,对准荧光十字框架6的中心,最后固定好X荧光射线管 1 ; ③高清晰可变焦摄像头2联接电脑,打开高清晰可变焦摄像头2视频调试软件,调 节高清晰可变焦摄像头2焦距使其能最清晰的观测到荧光十字框架6,调节摄像头X、 Y轴 位置,把摄像的界面的十字框与荧光十字框架6的十字中心相重合,然后固定高清晰可变 焦摄像头2,如图4所示。
权利要求
一种下照式荧光分析仪器测试点定位装置,包括一可移动的两维测试平台(5),所述可移动的两维测试平台(5)下方设有一X荧光射线管(1),所述X荧光射线管(1)前端安有一准直器(4),所述可移动的两维测试平台(5)下方还设有一高清晰可变焦摄像头(2),所述可移动的两维测试平台(5)下方还设有一光谱探测仪(3),其特征在于所述可移动的两维测试平台(5)上设有一荧光十字框架(6)。
2. 根据权利要求1所述的下照式荧光分析仪器测试点定位装置,其特征在于所述的 荧光十字框架(6)由特殊荧光纸制作,其中间画有标准的十字架。
全文摘要
本发明公开了一种下照式荧光分析仪器测试点定位装置,包括一可移动的两维测试平台,可移动的两维测试平台下方设有一高清晰可变焦摄像头,一光谱探测仪,一荧光十字框架,一X荧光射线管,X荧光射线管前端安有一准直器。本发明定位装置应用在下照式荧光分析仪器的测试定位中,可以方便、精确的定位。
文档编号G01N21/64GK101726479SQ200910264830
公开日2010年6月9日 申请日期2009年12月24日 优先权日2009年12月24日
发明者严成立, 刘召贵 申请人:江苏天瑞仪器股份有限公司
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