专利名称：影像测量仪的同轴光对焦装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种对焦装置，尤其涉及一种影像测量仪的同轴光对焦装置。
背景技术：
影像量测是目前精密量测领域中最广泛使用的量测方法，该方法不仅精度高，而 且量测速度快。影像量测主要用于零件或者部件的尺寸误差和形位误差的测量，对保证产 品质量起着重要的作用。一般而言，在测量待测工件的轮廓或表面高度前，通常需要进行影像对焦，使得待 测工件的表面到镜头的距离等于焦距，能否准确的对焦，对保证测试的精度起着重要的作 用。影像自动对焦方法为在一定范围内移动电荷耦合装置(charge coupled deviCe，CCD) 的镜头，并不断获取待测工件表面的影像，然后根据获取的影像计算出CCD镜头的焦点位 置。然而，在对焦的过程中，由于光源发出的光中间亮，外围比较暗，光源发出的光不均勻， 使被测工件表面受光不均勻，降低对焦的准确性，况且，在光源发光的过程中会产生很多的 热量，热量会使光的波长发生改变，从而也影响对焦的准确性。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种影像测量仪的同轴光对焦装置，其可以使被测工 件表面受光均勻，提高了对焦的准确性。一种影像测量仪的同轴光对焦装置，包括光学装置、通过转接环与该光学装置相 连的同轴光装置及影像攫取装置，所述光学装置根据同轴光装置所发出的光线对所述待测 工件进行光学成像，所述影像攫取装置用于通过所述光学装置感应所述待测工件的图像并 将其转换为电信号以传输给电脑系统进行对焦分析。所述同轴光装置包括依次安装的散热 片及散射板，该散热片及时散发同轴光装置在发出光线时所产生的热量，该散射板将同轴 光装置所发出的光线进行均勻传播。上述影像测量仪的同轴光对焦装置在待测工件表面进行对焦时，可利用所述同轴 光装置内部安装的散射板，使同轴光装置发射的光线传播均勻，从而使被测工件表面受光 均勻，同时利用所述同轴光装置内部安装的散热片进行散热，确保光的波长在一定的范围 之内，提高了对焦的准确性。
图1是本发明影像测量仪较佳实施方式的立体图。图2是图1中同轴光对焦装置较佳实施方式的立体图。图3是图2中同轴光对焦装置较佳实施方式的分解立体图。图4是图2中同轴光对焦装置的剖面示意图。图5是图2中同轴光对焦装置的内部结构示意图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种影像测量仪的同轴光对焦装置，包括光学装置、同轴光装置及影像攫取装置，所 述光学装置根据同轴光装置所发出的光线对待测工件进行光学成像，所述影像攫取装置通 过所述光学装置感应该待测工件的图像并将该图像转换为电信号传输给电脑系统进行对 焦分析，其特征在于所述同轴光装置通过转接环与上述光学装置相连；及该同轴光装置包括依次安装的散热片及散射板，该散热片及时散发同轴光装置在发出 光线时所产生的热量，及该散射板将同轴光装置所发出的光线进行均勻传播。
2.如权利要求1所述的影像测量仪的同轴光对焦装置，其特征在于所述散热片是铝 散热片、铜散热片、铜铝结合散热片或者热管散热片。
3.如权利要求1所述的影像测量仪的同轴光对焦装置，其特征在于所述散射板是压 克力板。
4.如权利要求1所述的影像测量仪的同轴光对焦装置，其特征在于所述同轴光装置 还包括一同轴光源。
5.如权利要求4所述的影像测量仪的同轴光对焦装置，其特征在于所述光源为LED 光源。
6.如权利要求1所述的影像测量仪的同轴光对焦装置，其特征在于所述影像攫取装 置是CXD摄像头或CMOS摄像头。
7.如权利要求1-6其中任一项所述的影像测量仪的同轴光对焦装置，其特征在于所 述光学装置包括第一透镜与第二透镜，及位于该第一透镜与第二透镜之间且与该第二透镜 不平行的半透半反射镜。
8.如权利要求7所述的影像测量仪的同轴光对焦装置，其特征在于所述同轴光源发 射的光线依次通过所述散热片、散射板、半透半反射镜及第二透镜投射至所述待测工件的 表面，对该待测工件进行对焦。
全文摘要
一种影像测量仪的同轴光对焦装置，包括光学装置、通过转接环与该光学装置相连的同轴光装置及影像攫取装置，所述光学装置根据同轴光装置所发出的光线对所述待测工件进行光学成像，所述影像攫取装置用于通过所述光学装置感应所述待测工件的图像并将其转换为电信号以传输给电脑系统进行对焦分析。所述同轴光装置包括依次安装的散热片及散射板，该散热片及时散发同轴光装置在发出光线时所产生的热量，该散射板将同轴光装置所发出的光线进行均匀传播。上述影像测量仪的对焦装置可使待测工件的表面受光均匀。
文档编号G01B11/24GK102103247SQ20091031180
公开日2011年6月22日 申请日期2009年12月18日 优先权日2009年12月18日
发明者张旨光, 李东海, 洪毅容, 蒋理, 薛晓光 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司