专利名称：一种通用集成电路开短路测试机的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及集成电路测试系统，尤其是涉及一种通用集成电路开短路测试机
的结构。
背景技术：
集成电路测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格 书所规定的功能及性能指标。用来完成测试这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。 依照器件测试项目种类的不同以及待测器件的不同，集成电路测试技术可以分为很多种 类，封装测试是其中的一种，它是集成电路封装厂用于检验制造过程质量状况并对检验结 果进行分类处理的手段。 集成电路封装的作用就是将集成电路芯片上的内电极接引到集成电路的外引脚 上，通过外引脚与印制电路版的焊接，实现电信号在芯片与电路版之间的传输。通常，一粒 集成电路的脚数有数十个，即一粒集成电路从芯片到外引脚需要焊接数十条内引线，每一 条内引线必须焊接可靠，没有开路、短路现象，几十条内引线只要有一条开或短路，此粒集 成电路即废品。因此，对集成电路进行开短路测试是控制封装过程质量必不可少的手段。 传统的集成电路开短路测试系统由三部份组成，第一部份是工业控制电脑，包括 计算机和开短路测试软件。第二部分是辅助装置，包括测试控制卡、测试扩展盒和连接电 缆。第三部份是测试机架，包括送料架、输料轨道、测试夾和收料槽。在传统测试系统中，第 一部份和第二部份是通用的，第三部份是专用的。第三部份被设计成一个整体的测试机架， 其送料架、输料轨道和测试夾被固定安装在测试机架底座上。由于送料架、输料轨道是根 据不同的产品外形尺寸特制的，就是说，只要产品的外形尺寸不同，就要特制专用的测试机 架。有多少种不同外形尺寸的产品就要特制多少种测试机架。随着公司生产规模的扩大以 及产品品种的增加，测试机架的数量也越来越多。于是，测试机架制造成本高、占用场地大 的问题日显突出。
发明内容本实用新型的目的是提供一种采用通用型或兼容型测试机架的全自动集成电路 开短路测试机。 本实用新型的技术解决方案是将专用集成电路测试机架改造成可测试各种外型 尺寸的通用型测试机架，或可测试多种外型尺寸的兼容型测试机架，配套以通用的计算机、 测试软件和辅助装置，实现全自动集成电路测试。经改造后的集成电路开短路测试机投入 使用后，设备对场地的占用减少，设备利用率和测试效率提高，测试成本降低。 所述的测试机架，包括送料架、输料轨道、测试夾和收料槽。 所述的通用型测试机架，是将送料架和输料轨道设计成由零件组装而成的部件， 各零件设计成可调式，使用时可根据不同外形尺寸需要分别调整各零件的相对位置与距 离，使一台机架可通用于各种外形尺寸产品的测试。该型机适用于产品品种多、批量小、产
3品变换较频繁的生产线。 所述的兼容型测试机架，是将多种产品的外形尺寸，组合设计在同一个送料架和 输料轨道机构件中，机构件被安装在机架上。使用时，一台机架可兼容测试多种外形尺寸的 产品。该型机适用于几种产品批量大且产量较稳定的生产线。 所述的送料架，是将待测产品从料盒导入输料轨道的一个转换装置，送料架被设 置于测试机的最高位置。料道尺寸由产品外型尺寸决定。 所述的输料轨道，是将待测产品从送料架出口滑落到测试夾入口的装置，位于送 料架下方、测试夾上方。轨道尺寸由产品外型尺寸决定。 所述的测试夾，是将待测产品的引脚准确的定位在测试盒的指定位置，测试排针 接触引脚的同时连接电信号，以测量集成电路的电参数，并将电参数输送到计算机。 所述的收料槽，是将已测产品进行分类并归类收入指定料盒。
附图1为本实用新型实施例1的输料轨道主视图； 附图2为本实用新型实施例1的输料轨道俯视图； 附图3为本实用新型实施例2的输料轨道主视图； 附图4为本实用新型实施例2的输料轨道俯视图 1、 S0P150mil型输料轨道下轨；2、 DlP300mil型型输料轨道下轨；3、 S0P300mil 型输料轨道下轨；4、 DlP600mil型输料轨道下轨；5、上轨可调件；6、上轨限位可调模块；7、 上轨固件调节栓；8、上轨限位模块调节栓；9、输料轨道下轨固定件；10、输料轨道下轨限位 模块；11、输料轨道下轨可调件；12、输料轨道上轨可调件；13、输料轨道上轨限位模块；14、 输料轨道上轨限位模块调节栓；15、输料轨道下轨固件调节栓；16、输料轨道上轨固件调节 栓；17、输料下轨限位模块调节栓。
具体实施方式实施例1 :如图1所示，兼容型测试机架的输料轨道，设S0P150型输料轨道下轨1， 用于S0P150型集成电路测试，轨道宽度3. 88mm，高度1. 55mm。设DIP300型型输料轨道下 轨2，用于DIP300型集成电路测试，轨道宽度6. 35mm，高度3. 53mm。设S0P300型输料轨道 下轨3，用于S0P300型集成电路测试，轨道宽度7. 50mm，高度2. 35mm。设DIP600型输料轨 道下轨4，用于DIP600型集成电路测试，轨道宽度13.86mm，高度3.95mm。设上轨可调件5， 用于调节上轨限位可调模块6的位置宽度。 如图2所示，兼容型测试机架的输料轨道，设上轨固件调节栓7，用于调节上轨道 的宽度。设上轨限位模块调节栓8，用于调节上轨道的限位高度。 实施例2 :如图3所示，通用型测试机架的输料轨道，设输料轨道下轨固定件9，提 供下轨道底面。设输料轨道下轨限位模块10，用于调节下轨道的限位高度。设输料轨道下 轨固件ll，用于调节下轨道宽度。设输料轨道上轨固件12，上轨固件12安装在下轨固件11 上，上轨固件12与输料轨道上轨限位模块13同体，并可整体相对于下轨固件11的位置上 下可调。设输料轨道上轨限位模块调节栓14，用于调节上轨道的限位高度。设输料下轨限 位模块调节栓17，用于调节输料轨道下轨限位高度。[0022] 如图4所示，通用型测试机架的输料轨道，设输料轨道下轨固件调节栓15，用于调 节下轨道的宽度。设输料轨道上轨固件调节栓16，用于调节上轨道的宽度。
权利要求一种通用集成电路开短路测试机，包括计算机和开短路测试软件、辅助装置和测试机架。其特征在于测试机架设送料架、输料轨道、测试夾和收料槽。
2. 根据权利要求1所述的一种通用集成电路开短路测试机，其特征在于输料轨道设S0P150mil型输料轨道下轨(1)，轨道下轨(1)宽度3. 88mm，高度1. 55mm，设DlP300mil型 输料轨道下轨(2)，轨道下轨(2)宽度6. 35mm，高度3. 53mm，设S0P300mil型输料轨道下轨(3) ，轨道下轨(3)宽度7. 50mm，高度2. 35mm，设DlP600mil型输料轨道下轨(4)，轨道下轨(4) 宽度13.86mm，高度3.95mm，设上轨可调件(5)，用于调节上轨限位可调模块(6)的位置 宽度，设上轨固件调节栓(7)，用于调节上轨道的宽度，设上轨限位模块调节栓(8)，用于调 节上轨道的限位高度。
3. 根据权利要求1所述的一种通用集成电路开短路测试机，其特征在于输料轨道设 输料轨道下轨固定件(9)，用于提供下轨道底面，设输料轨道下轨限位模块(IO)，用于调节 下轨道的限位高度，设输料轨道下轨固件(ll)，用于调节下轨道宽度，设输料轨道上轨固 件(12)，上轨固件(12)安装在下轨固件(11)上，上轨固件(12)与输料轨道上轨限位模块 (13)同体，并可整体相对于下轨固件(11)的位置上下可调，设输料轨道上轨限位模块调节 栓(14)，用于调节上轨道的限位高度，设输料下轨限位模块调节栓(17)，用于调节输料轨 道下轨限位高度，设输料轨道下轨固件调节栓(15)，用于调节下轨道的宽度，设输料轨道上 轨固件调节栓(16)，用于调节上轨道的宽度。
专利摘要一种通用集成电路开短路测试机，将专用集成电路测试机架改造成可测试各种外型尺寸的通用型测试机架，或可测试多种外型尺寸的兼容型测试机架，配套以通用的计算机、测试软件和辅助装置，实现全自动集成电路测试。经改造后的集成电路开短路测试机投入使用后，设备占用的场地减少，设备利用率和测试效率提高，测试成本降低。
文档编号G01R1/04GK201522534SQ200920132400
公开日2010年7月7日 申请日期2009年6月9日 优先权日2009年6月9日
发明者林宽强, 陈贤明, 黄彩萍 申请人:深圳市矽格半导体科技有限公司