一种x荧光分析全自动熔样机用试样座的制作方法

文档序号:5857712阅读:334来源:国知局
专利名称:一种x荧光分析全自动熔样机用试样座的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种X荧光分析全自动熔样机炉腔内支撑固定坩埚的部件,具体 涉及一种X荧光分析全自动熔样机用试样座。
背景技术
目前,现有的X荧光分析全自动熔样机具有试样座,试样座具有用以放置坩埚的 凹槽;在使用过程中其试样仅从上部端面受热,造成其受热结构的不合理,另外,多个试样 座由一根高温轴支承并起到带动试样座升降的作用,在升降过程造成对试样座的支承不平稳。
发明内容为解决上述技术问题,本实用新型提出了一种X荧光分析全自动熔样机用试样 座,使其能使试样受热均勻,提高熔融质量。本实用新型为完成上述发明任务采用以下技术方案;一种X荧光分析全自动熔样机用试样座,其在试样座的壁上具有多个用以透热的 透热孔并使透热孔与试样座放置坩埚的凹槽相连通。所述的试样座下端设置有用以支承试样座的支撑棒,支撑棒位于X荧光分析全自 动熔样机的滑动轴上的连接槽内。所述位于试样座壁上的多个透热孔沿试样座圆周分布。所述的支撑棒和试样座为一体成型结构。本实用新型提出的一种X荧光分析全自动熔样机用试样座,在试样座壁上具有的 用于透热的孔,可保证坩埚内的试样受热均勻,提高了熔融质量;试样座下端设置有支撑 棒,使试样座的支撑和升降更平稳。

图1本实用新型的结构示意图。图中1、支撑棒,2、试样座,3、透热孔,4、凹槽。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步描述如图1所示,一种X荧光分析全自动熔样机用试样座,在试样座2的壁上具有多个 用以透热的透热孔3并使透热孔与试样座放置坩埚的凹槽4相连通;多个透热孔3沿试样 座圆周均布;试样座下端设置有用以支承试样座的支撑棒1,支撑棒1和试样座2为一体成 型结构;支撑棒1位于X荧光分析全自动熔样机的滑动轴上的连接槽内。
权利要求一种X荧光分析全自动熔样机用试样座,其特征在于在试样座(2)的壁上具有多个用以透热的透热孔(3)并使透热孔与试样座放置坩埚的凹槽(4)相连通。
2.根据权利要求1所述的一种X荧光分析全自动熔样机用试样座,其特征在于所述 的试样座(2)下端设置有用以支承试样座的支撑棒(1)。
3.根据权利要求1所述的一种X荧光分析全自动熔样机用试样座,其特征在于所述 位于试样座(2)壁上的多个透热孔(3)沿试样座圆周分布。
4.根据权利要求2所述的一种X荧光分析全自动熔样机用试样座,其特征在于所述 的支撑棒(1)和试样座(2)为一体成型结构。
专利摘要本实用新型涉及一种X荧光分析全自动熔样机炉腔内支撑固定坩埚的部件,具体涉及一种X荧光分析全自动熔样机用试样座,其在试样座2的壁上具有多个用以透热的透热孔并使透热孔3与试样座放置坩埚的凹槽4相连通。本实用新型在试样座壁上具有的用于透热的孔可保证坩埚内的试样受热均匀,提高了熔融质量,同时试样座下端设置有支撑棒,使试样座的支撑和升降更平稳。
文档编号G01N23/223GK201607359SQ20092022371
公开日2010年10月13日 申请日期2009年9月24日 优先权日2009年9月24日
发明者丁强, 余鹏飞, 李寿平, 杨涛, 赵亮 申请人:洛阳特耐实验设备有限公司
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