专利名称：一种传感器老化测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种传感器老化测试仪。
背景技术：
质量流量控制器用于对气体的质量、流量进行精密控制和测量。流量传感器是构成质量流量控制器的重要部件，现有的流量传感器采用毛细管温差量热法测量气体的质量、流量。具体为将传感器加热电桥测得的流量信号送入放大器放大，放大后的流量检测电压与设定电压进行比较，再将差值信号放大后去控制调节阀门，闭环控制流过通道的流量使之与设定流量相等。 为了防止仪器在使用一段时间后由于老化出现漂移，因此需要在出厂前预先对出传感器进行老化，并要对老化结果进行测试。已往的方法是直接给流量控制器通电老化，老化时间需要7天，效率较低。
实用新型内容针对现有技术中存在的缺陷和不足，本实用新型的目的是提供一种传感器老化测试仪，能够快速对传感器进行老化处理，以提高效率。 为达到上述目的，本实用新型提出了一种传感器老化测试仪，包括两个或两个以上传感器老化测试工位，所述传感器老化测试工位之间相互串联；[0006] 所述每一传感器老化测试工位包括 传感器老化电路板，所述传感器老化电路板电连接被测传感器； 主板，所述主板与所述传感器老化电路板电连接以控制所述传感器老化电路板对
所述被测传感器进行老化； 15针接口板，所述15针接口板与所述主板电连接以提供外接接口。 其中，所述箱体上设有传感器托板，所述传感器托板设有一凹陷以容置所述被测
传感器。 其中，所述传感器老化测试仪还包括开关、发光二极管，所述15针接口板通过限
流电阻与所述开关、发光二极管串联，并串联AC/DC电源模块串联。 其中，所述传感器老化工位之间通过15针接口板及线缆相互串联。 其中，所述15针接口板的外接接口电连接一外接测试装置以对被测传感器性能
进行测试。 其中，所述传感器老化测试仪还包括箱体及设置于所述箱体内的铝块、底板、支架；所述底板固定于箱体内；所述铝块固定于所述底板上；所述支架固定于所述铝块上。[0015] 上述技术方案具有如下优点本实用新型提出的传感器老化测试仪，能够实现完全自动测试，提高了工作效率，节约了工作时间。且经过老化后的传感器，其工作稳定性有很大的提高。
图1是本实用新型提出的传感器老化测试仪结构示意图；[0017] 图2为图1中的侧视图；[0018] 图3为图1的后视图；[0019] 图4是电路接线模块图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式
作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。 本实用新型提出的传感器老化测试仪，其优选实施例如图1、图2、图3、图4所示，包括箱体1、面板2、电源线9、铝板18、底板17、传感器托板3、支架20、主板15、电源板14、15针接口板12、传感器老化电路板5组成。 如图1所示，在传感器老化测试仪上设有多个传感器老化测试工位，且这些传感器老化测试工位之间通过线19(线19为53号线)相互串联导通。这样可以保证使得传感器老化测试工位在同等条件线同时工作，能够模拟实际使用环境实现高效率的传感器老化。 如图4所示，每一传感器老化测试工位包括 传感器老化电路板5，传感器老化电路板5电连接被测传感器4 ;主板15，所述主板15与所述传感器老化电路板5通过扁平电缆线电连接，以控制所述传感器老化电路板5对所述被测传感器4进行老化；15针接口板12，所述15针接口板12与所述主板15通过插件端口电连接以提供外接接口。所述15针接口板12的外接接口电连接一外接测试装置以对被测传感器4性能进行测试。 如图4所示，15针接口板12还通过限流电阻串联有开关、发光二极管、AC/DC电源模块。 如图2和图4所示，传感器老化测试工位之间通过15针接口板12的I/O 口转接线相互串联。且15针接口板12通过RS232/485通讯线8与计算机的串口连接进行通讯。其中计算机作为外接测试装置，可以对被测传感器性能进行测试，对传感器的各个工作状态进行综合判别，选出性能优良的传感器。 如图4所示，15针接口板12引出的两根接线+V与-V之间接限流电阻R及发光二极管6进行开机指示。+V接线串联有钮子开关7、接线端子排16、 AC/DC电源模块13， AC/DC电源模块13通过电源线9接交流电。 如图4所示，15针接口板12通过插接端口分别连接主板15、电源板14。[0029] 如图3所示，底板17安装在箱体1内，铝块18安装在底板17上，支架20安装在铝块18上。在箱体1表面设有面板2，所述面板2上设有传感器托板3。传感器托板3表面具有凹陷以容置被测传感器4。 如图3所示，主板15、电源板14设置于支架20内，并固定在铝板18的安装孔上。
如图1所示，传感器托板3和传感器老化电路板5设置于箱体1的面板2上。 在箱体1的面板2上粘贴有工位地址标签11，以区分不同的工位。箱体1设有电
源线9连接外接电源。[0032] 在工作时，将扁平排线一端焊接在传感器电路板上，另一端焊接在待老化的传感器上，按工位地址标签的标示将传感器放置在传感器托板对应的工位上，通电对传感器进行老化测试。 本实用新型的技术性能特点 1.箱体采用304不锈钢，去毛剌，锐边倒钝。两侧面各开有85mmX 150mm的开口 ，以利于箱体内元器件的散热。 2.面板、底板、铝块、传感器托板为LY11铝材料，去毛剌，钝化成本色。 3.箱体正面配有发光二极管和钮子开关；面板上配置有传感器托板，传感器电路
板；底板上配有铝块，支架。 4.铝块侧面各有2个安装孔，一侧安装电源板，另一侧安装传感器主板。电源板与主板之间通过接插件对插。15针接口板通过接插件分别与电源板和主板对插，实现电路板之间稳固的连接关系。 5.不同工位15针接口板之间通过I/0口转接线实现相邻工位的串行连接，使得每台中的15个工位在同等条件线同时工作，能够模拟实际使用环境实现高效率的传感器老化。 6.将待筛选传感器的柔性电缆线焊接在图1所示老化测试装置的传感器电路板上，共计15个工位。 7.将图1中的RS232/485通讯线接在计算机的串口通信端，电源插头接通电源。 8.将每个工位的开关打开，待整机电路板组件与计算机通讯接通后，老化一定时
间，之后利用软件对传感器的各个工作状态进行综合判别，选出性能优良的传感器。 9.本质量流量控制器测试装置可以实现完全自动测试，提高了工作效率，节约了
工作时间。 10.经过本质量流量控制器测试装置老化后的传感器，其工作稳定性有很大的提高。 以上所述仅是本实用新型的实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。
权利要求一种传感器老化测试仪，其特征在于，包括两个或两个以上传感器老化测试工位，所述传感器老化测试工位之间相互串联；所述每一传感器老化测试工位包括传感器老化电路板，所述传感器老化电路板电连接被测传感器；主板，所述主板与所述传感器老化电路板电连接以控制所述传感器老化电路板对所述被测传感器进行老化；15针接口板，所述15针接口板与所述主板电连接以提供外接接口。
2. 根据权利要求1所述的传感器老化测试仪，其特征在于，所述箱体上设有传感器托板，所述传感器托板设有一凹陷以容置所述被测传感器。
3. 根据权利要求1所述的传感器老化测试仪，其特征在于，所述传感器老化测试仪还包括开关、发光二极管，所述15针接口板通过限流电阻与所述开关、发光二极管串联，并串联AC/DC电源模块串联。
4. 根据权利要求1所述的传感器老化测试仪，其特征在于，所述传感器老化工位之间通过15针接口板及线缆相互串联。
5. 根据权利要求1所述的传感器老化测试仪，其特征在于，所述15针接口板的外接接口电连接一外接测试装置以对被测传感器性能进行测试。
6. 根据权利要求1所述的传感器老化测试仪，其特征在于，所述传感器老化测试仪还包括箱体及设置于所述箱体内的铝块、底板、支架；所述底板固定于箱体内；所述铝块固定于所述底板上；所述支架固定于所述铝块上。
专利摘要本实用新型提出了一种传感器老化测试仪，包括两个或两个以上传感器老化测试工位，所述传感器老化测试工位之间相互串联；所述每一传感器老化测试工位包括传感器老化电路板，所述传感器老化电路板电连接被测传感器；主板，所述主板与所述传感器老化电路板电连接以控制所述传感器老化电路板对所述被测传感器进行老化；15针接口板，所述15针接口板与所述主板电连接以提供外接接口。本实用新型提出的传感器老化测试仪，能够实现完全自动测试，提高了工作效率，节约了工作时间。且经过老化后的传感器，其工作稳定性有很大的提高。
文档编号G01R31/00GK201540337SQ200920246288
公开日2010年8月4日 申请日期2009年10月19日 优先权日2009年10月19日
发明者吴薇, 杨雪飞 申请人:北京七星华创电子股份有限公司