专利名称：一种检验有接触要求的凸、凹球面的检具结构的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种具有接触要求的凸、凹球面检具的结构，具体地说此检具可以适 用于标准的、非标准的相互配合的内、外球面的检验；也可引荐用于具有配合性质的凹面和 凸面零件的检验。
背景技术：
在以往的检验方法中，内凸、凹球面或特殊型面的检验，一般是通过成型量具(如 R规)或者借助于测量仪器(如三座标、投影仪等)进行比较、量化测量，但是对于非标配 合的，且数量比较多的内、外球面的检验，传统的检验方法效率较低；且一般的检验方法都 是单个零件分别单独检验，有时，即使单个零件经检验是合格的，但是由于测量误差、测量 方法、加工误差等各方面因素的存在，零件在经配合、组装时，其相互配合的内、外球面并不 一定合格，会出现配合超差的情况，导致相互配合的零件均满足不了使用要求，甚至引起报 废。
发明内容
本发明的目的在于克服上述不足之处，从而提供一种简便、且实际可行的检验相 互配合的凸、凹球面的检具的组合结构，可以解决生产中无法测量、或由于测量误差引起配 合零件的报废等问题，可有效地提高被检验零件的互换性，从而较好地满足零件的配合要 求和使用性能。按照本发明提供的技术方案，一种检验有接触要求的凸、凹球面的检具结构，特征 是包括定位销、塞规、环规，所述塞规安装在环规内，通过定位销将环规和塞规进行定位， 所述环规和塞规同心度，也就是保证了凸、凹球面的同心度。所述的塞规的外球面上均勻涂 抹红丹油。本发明与已有技术相比具有以下优点本发明由于采用的是配对检验的方法来检验有配合关系的凸、凹球面，可以方便、 快速地对零件进行检验，并判断零件是否合格。可有效地提高被检验零件的互换性，从而较 好地满足零件的配合要求和使用性能。
图1为本发明结构示意图。
具体实施例方式下面本发明将结合附图中的实施作进一步描述如图1所示定位销1、环规2、塞规3。所述塞规3安装在环规2内，通过定位销1 将环规2和塞规3进行定位，所述环规和3塞规同心度。本发明为检验方便，提高检验效率，在检验有相互配合关系的凸、凹球面时，通过模拟零件在实际运用中的装配关系而设计出的一种检具。 本发明在实际测量时检验时，先将定位销1与环规2通过内孔定位，在塞规3的外 球面上均勻涂抹红丹油，然后按照示意图1的方式进行配对，将塞规3轻轻塞进环规2内并 与定位销1端部的止口配合，并轻轻旋转塞规3，取出塞规3后，观察环规2和塞规3之间 内、外球面的着色情况在符合要求的着色带范围内之内，即为合格。对比试验表明用此检具 检验零件，操作比较方便，可以比较真实地反映零件在实际运行中的情况，有效地提高检验 效率。
权利要求
一种检验有接触要求的凸、凹球面的检具结构，其特征是包括定位销(1)、环规(2)、塞规(3)，所述塞规(3)安装在环规(2)内，通过定位销(1)将环规(2)和塞规(3)进行定位，所述环规(2)和塞规(3)同心度。
2.根据权利要求1所述的一种检验有接触要求的凸、凹球面的检具结构，其特征在于 所述的塞规(3)的外球面上均勻涂抹红丹油。
全文摘要
本发明涉及一种具有接触要求的凸、凹球面检具的结构，其包括定位销、塞规、环规，所述塞规安装在环规内，通过定位销将环规和塞规进行定位，所述环规和塞规同心度，也就是保证了凸、凹球面的同心度。所述的塞规的外球面上均匀涂抹红丹油。本发明由于采用的是配对检验的方法来检验有配合关系的凸、凹球面，可以方便、快速地对零件进行检验，并判断零件是否合格。可有效地提高被检验零件的互换性，从而较好地满足零件的配合要求和使用性能。
文档编号G01B5/00GK101893418SQ20101023080
公开日2010年11月24日 申请日期2010年7月14日 优先权日2010年7月14日
发明者王建梅, 衡井武 申请人:无锡创明传动工程有限公司