专利名称：一种适于浅层高精度的曲地表叠加成像方法
一种适于浅层高精度的曲地表叠加成像方法技术领域
本发明属于地震勘探资料处理方法领域，具体涉及一种适于浅层高精度的曲地表 叠加成像技术，针对地形起伏剧烈地区地震资料浅层高精度的叠加成像，特别是对浅层断 层准确刻画，也可用于煤田、固体矿产、道路桥梁湖坝建设等工程地质勘探领域。
背景技术：
水平叠加技术为一种业已成熟的叠加成像处理技术，但其理论基础是水平层状介 质，要求炮点、检波点在同一基准面上，当近地表结构横向变化，尤其是地表高程剧烈变化 时，处理之前需要进行大幅度的静校正处理，这使得①它基于地表一致性假设，在地表起 伏剧烈的山区就不能满足；②在地表起伏剧烈地区计算的静校正量较大，这种时移较大地 改变了、，但没有还原反射波相应的双曲线形态；③计算的反射波旅行时精度不高，对浅层 成像影响最明显；④CMP点偏离真正的反射点。这些问题使得地震资料成像，特别是浅层成 像质量和成像精度都不高，不能满足浅层高精度地震勘探，特别是工程施工的需要。发明内容
本发明的目的在于解决上述现有技术中存在的难题，提供一种适于浅层高精度的 曲地表叠加成像技术，提高地表起伏剧烈地区地震勘探成像的精度，特别是满足煤田、固体 矿产、道路桥梁湖坝建设等工程地质方面的需要。
本发明是通过以下技术方案实现的
一种适于浅层高精度的曲地表叠加成像方法，所述方法是结合目的层层位的解释 资料，确定真正的反射点位置，再采用曲地表反射波旅行时方程计算反射波旅行时，然后利 用旅行时进行叠加成像，最后得到曲地表反射点校正后的叠加成像结果。
所述方法包括以下步骤
(1)基于已有地震剖面解释目的层层位的深度和倾角；即用地震剖面数据解释目 的层层位的深度和倾角，如果基于时间域的地震剖面进行解释，应将解释结果时深转化到 深度域，如果是基于深度域的地震剖面进行解释，就可以直接应用解释结果.
(2)计算该道地震数据目的层反射波在成像空间内水平方向位置的偏移距离dx ；
(3)计算该道地震数据目的层在成像空间内水平方向的正确位置；
(4)计算给定道地震数据的旅行时t ；
(5)用步骤(4)计算的旅行时t进行叠加成像，水平方向的成像空间位置为步骤 (3)得出的正确位置。
(6)输出曲地表反射点校正后的叠加成像结果
其中，所述步骤(1)的地震剖面解释中，S、R分别为起伏地表上的炮点和检波点，C 为反射点，M代表S与R的中点，CMP为共中心点(共中心点CMP是指M点在反射界面上的 竖直投影点)；
所述步骤⑵中用到的计算公式为
权利要求
1.一种适于浅层高精度的曲地表叠加成像方法，其特征在于所述方法是结合目的层 层位的解释资料，确定真正的反射点位置，再采用曲地表反射波旅行时方程计算反射波旅 行时，然后利用旅行时进行叠加成像，最后得到曲地表反射点校正后的叠加成像结果。
2.根据权利要求1所述的适于浅层高精度的曲地表叠加成像方法，其特征在于所述 方法包括以下步骤(1)基于已有地震剖面解释目的层层位的深度和倾角；(2)计算该道地震数据目的层反射波在成像空间内水平方向位置的偏移距离dx；(3)计算该道地震数据目的层在成像空间内水平方向的正确位置；(4)计算给定道地震数据的旅行时t；(5)用步骤(4)计算的旅行时t进行叠加成像，水平方向的成像空间位置为步骤(3)得 出的正确位置；(6)输出曲地表反射点校正后的叠加成像结果。
3.根据权利要求2所述的适于浅层高精度的曲地表叠加成像方法，其特征在于所述 步骤⑴的地震剖面解释中，S、R分别为起伏地表上的炮点和检波点，C为反射点，M代表S 与R的中点，CMP为共中心点；所述步骤O)中用到的计算公式为
4.根据权利要求1至3任一所述的适于浅层高精度的曲地表叠加成像方法，其特征在 于所述方法在步骤(5)和步骤(6)之间增加了步骤(5. 5)所述步骤(5. 5)是判断曲地表反射点校正后的叠加成像结果，如果判断结果为是，则 转入步骤(6)，如果判断结果为否，则返回步骤(1)，重复步骤(1)至步骤(5. 5)。
全文摘要
本发明提供了一种适于浅层高精度的曲地表叠加成像技术，属于地震勘探资料处理方法领域。本发明结合目的层层位的解释资料，确定真正的反射点位置，再采用曲地表反射波旅行时方程计算反射波旅行时，然后利用旅行时进行叠加成像，最后得到曲地表反射点校正后的叠加成像结果。本发明避免了常规静校正对旅行时计算结果的影响及存在的反射点发散等问题，旅行时计算准确，并解决了地表高差引起反射点弥散的问题，浅层地震成像精度高，尤其是浅层断层的刻画更为清楚、准确和可靠，这为地表起伏剧烈地区地震资料的浅层高精度的地震成像提供了一种实用的技术手段，减少了浅层地震勘探风险和浅层工程施工的危险。
文档编号G01V1/36GK102033244SQ201010520310
公开日2011年4月27日 申请日期2010年10月22日 优先权日2010年10月22日
发明者叶勇, 方伍宝, 林伯香, 武永山, 段心标, 潘宏勋, 谌艳春 申请人:中国石油化工股份有限公司, 中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院