专利名称：光谱仪检测高硅铝合金含量的试样制备方法
技术领域：
本发明涉及高硅铝合金含量的测量方法，特别是用光谱仪检测Si含量> 8%的高硅铝合金的试样制备方法。
背景技术：
对于Si含量彡0. 5% (如LY11、LY12等变形铝合金)铝合金，用光谱仪测量各元素时，无论对标样或试样的分析，测定结果均符合技术条件要求。但对于Si含量> 8%的高硅铝合金(如ZLlll等)时，往往分析不准确，测定值比实际值要低得多。
发明内容
本发明的目的是提供一种光谱仪测量高硅铝合金各元素含量的试样制备方法，利用本发明所述的试样制备方法，可以通过光谱仪准确测量Si含量> 8%的高硅铝合金各元
素含量。本发明所述的光谱仪测量高硅铝合金含量的试样制备方法是利用碱溶方法，采用分步增加NaOH溶液量，对试样进行溶解，同时加大HNO3的酸化用量，使试样得到充分的消解，满足高Si含量铝合金的分析要求。本发明所述的光谱仪测量高硅铝合金含量的试样制备方法是这样实现的(1)取0. 1克Si含量彡8%的高硅铝合金试样于烧杯中，加入IOml含有20%的 NaOH溶液，加热至不再有小气泡产生为止；(2)向烧杯中加入3ml含有30%的NaOH溶液继续反应，10分钟后又补加3ml含有 50%的NaO溶液继续加热至溶液呈粘糊状；(3)再向烧杯中倒入45ml (1+1)的HNO3进行酸化，加热溶解2 3分钟，冷至室温后定容250ml待用。由于采用碱溶方法制样，试样的Si含量高，按通常的碱溶方法很难将试样彻底消解，因此测定结果偏低，只有采用分步增加NaOH用量和HNO3的酸化用量，使得试样得到充分的消解才能满足分析要求，
具体实施例方式实施例1 =ZLlllA铸铝标样的制备ZLlllA铸铝标样的化学成分见表1表1. ZLlllA铸铝标样化学成分
权利要求
1.光谱仪测量高硅铝合金含量的试样制备方法，利用碱溶方法，采用分步增加NaOH溶液量，对试样进行溶解，其特征在于制备步骤为(1)取0.1克Si含量彡8%的高硅铝合金试样于烧杯中，加入IOml含有20%的NaOH 溶液，加热至不再有小气泡产生为止；(2)向烧杯中加入3ml含有30%的NaOH溶液继续反应，10分钟后又补加3ml含有50% 的NaO溶液继续加热至溶液呈粘糊状；(3)再向烧杯中倒入45ml(1+1)的HNO3进行酸化，加热溶解2 3分钟，冷至室温后定容 250ml ο
全文摘要
本发明所述的光谱仪测量高硅铝合金含量的试样制备方法是利用碱溶方法，(1)取0.1克Si含量≥8％的高硅铝合金试样于烧杯中，加入10ml含有20％的NaOH溶液，加热至不再有小气泡产生为止；(2)向烧杯中加入3ml含有30％的NaOH溶液继续反应，10分钟后又补加3ml含有50％的NaO溶液继续加热至溶液呈粘糊状；(3)再向烧杯中倒入45ml(1+1)的HNO3进行酸化，加热溶解2～3分钟，冷至室温后定容250ml待用。本发明采用分步增加NaOH溶液量，对试样进行溶解，同时加大HNO3的酸化用量，使试样得到充分的消解，满足高Si含量铝合金的分析要求。
文档编号G01N1/44GK102564838SQ201010608988
公开日2012年7月11日 申请日期2010年12月28日 优先权日2010年12月28日
发明者许裕 申请人:中国航空工业标准件制造有限责任公司