专利名称：一种x衍射用多尺寸固体块状样品分析台的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种仪器分析样品台，特别涉及一种X衍射用多尺寸 固体块状样品分析台。
技术背景布鲁克D8 Discovery型衍射仪在对钢铁块状样品进行衍射分析时，对于样品尺寸 大小有着严格限定，只有满足标准要求的样品才能直接采用该设备标准样品台进行固定。 对于小样品或者不规则形状的样品，常采用粘结剂粘贴在样品台上进行固定。更小规格的 厚样品则需定制专门的小样品台进行固定。固体样品一般需加工成标准尺寸，且在测量面 需表面平整、光滑。对于小尺寸样品，需加工成厚度一致的样品，且样品双面均需达到表面 平整、光滑。而对于粉末样品，常采用玻璃或者其他材料制作固定的尺寸的样品杯，中间位 置需有不透凹槽，将粉末填装在凹槽内；或者将粉末样品进行压块制成样片后再粘贴在样 品台上进行固定，制备的样品尺寸要求也同上面一致。上述所说的样品台无论标准样品台或者专门定制的小样品台均为单一的功能性， 在样品条件不满足标准要求的情况下就需要进行更换样品台或者改变样品处理方式等，操 作繁琐，效率低下，没有达到一种通用互换的模式。中国专利200720174416. 0公开了 了一种X射线衍射样品架，中下部为一固定构 件，其设计在放样品的平面上腐蚀个固定尺寸的凹槽，将待测样品置于凹槽内。样品通过橡 皮泥、双面胶或者胶水固定在凹槽内。此设计样品局限于凹槽的深度和形状大小，使样品适 应样品台。涉及的粉末样品分析，依旧延续载波片上腐蚀凹槽，粉末样品填装在内，通过固 定载波片来进行衍射分析，但载波片无法放置于X荧光仪上进行分析。该专利仅改善样品 台的构造，对不同厚度的样品以粘结材料加以固定，表面平整度难以控制。在实验室，因各类复杂的研究问题以及不同样品来源，在检测过程中常常会遇到 样品规格无法制备成标准样品台的要求，而常规采取用粘结剂、样品附着在其他物质表面 或者更换适合小样品尺寸的样品台进行固定测量，不仅工作效率低下，而且频繁拆卸样品 台，或者采用粘结剂粘贴样品在样品台的做法对样品台本身也有损伤，有时因无法保证样 品测量面与样品台处于同一平面而导致错误的测量结果。随着现代的检测技术的发展，多种检测设备协调工作，共同研究样品的特性已成 为常态，对于同一样品经一次制样后可满足不同设备的检测要求，即有利于试验效率的提 高又有利于样品制备成本的降低，如对于粉末样品，X荧光光谱仪的压片样品，可直接应用 于X衍射仪上进行物相分析，又如，测量硬度的试样可直接用于X衍射仪上进行衍射和应力 分析等，避免造成多次重复制备样品，特别是在面对样品量比较少的时候，无法实现多次制 样，该样品台就发挥了其有效的作用，这也正是本实用新型要研究的课题
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种可适用多规格样品的X衍射用多尺寸固体块状 样品分析台。主要解决采取用粘结剂、样品附着在其他物质表面或者更换适合小样品尺寸的样品台进行固定测量，不仅工作效率低下，且导致错误的测量结果的技术问题。本实用新型的技术方案一种X衍射用多尺寸固体块状样品分析台，其特征是由 基座、样品测试挡板框架、样品固定弹簧机构和不同开口直径的上盖片组成，样品测试挡板 框架固定在基座上形成内空的箱体结构，样品固定弹簧机构由弹簧和升降滑块组成，弹簧 安置在基座的中部，弹簧上端固定有安放样品的升降滑块，所述的上盖片固定在样品测试 挡板框架上。基座下表面设有与X衍射仪连接的定位销，样品测试挡板框架与基座成60-90°夹角。本实用新型的有益效果是本实用新型可以解决不同尺寸、厚度固体等非标准尺 寸样品在X衍射分析时样品台的统一，不必因尺寸问题更换样品台以及二次样品加工处 理，即可直接进行测量，适用于实验室目前可以接触的各类尺寸的样品，特别是解决了粉末 样品X荧光仪上和X衍射仪检测的二次制样问题，极大提高制样效率和有效利用检测样品， 提高了检测的工作效率。与对比文件200720174416.0相比具有通过改善样品架和样品台 的结构，利用弹簧机构，将待测量样品直接固定于样品台上，弹簧机构根据样品的厚薄进行 伸缩，以实现与样品台上盖片紧密贴合。对于小尺寸样品，根据其形状大小选用不同开口尺 寸的上盖片于样品台用铆钉铆合。可适合不同厚薄、不同形状大小的样品，使样品台适应样 品。以适应不同尺寸和厚度的样品测量要求，无需采用粘结材料对样品进行固定，能保证样 品表面的平整度。对粉末样品进行固定分析时着重考虑的是不同设备在经过一次制样后都 可以直接测量，如经过压块机压制的样品可直接在X荧光仪上检测，又可以固定在本专利 的样品台上进行衍射分析。
图1为本实用新型结构示意主视图图2为本实用新型结构示意俯视图图中1-定位销，2-基座，3-样品测试挡板框架，4-弹簧孔，5-弹簧，6-升降滑块， 7-上盖片，8-上盖片开口直径，9-螺丝。
具体实施方式
参照图1、2，通过定位销1将样品台基座2固定在仪器上，样品测试挡板框架与 基座成90°夹角(也可与基座呈60-90°夹角，小于90°时，上盖片开口直径可增大，可 用于检测较大样品)，样品固定弹簧5放置在测试挡板框架内并垂直于基座，一端嵌入基座 的弹簧孔4中，另一端顶起样品测试挡板框架的升降滑块6，制备好的样品置于升降滑块6 上，根据制备好的样品尺寸大小选择合适的上盖片开口直径8的上盖片7，通过螺丝9将 上盖片固定在样品测试挡板框架上，进行测量。可解决尺寸在50mmX50mm(或050mm) lOmmXIOmm(或OlOmm)之间，样品厚度为50mm以下的样品，该尺寸基本包含了实验室内 部可涉及到的所有检测试样，特别是实现了粉末样品在压块处理后同时适用于X荧光仪和 X衍射仪的检测，极大地提高了检测效率。本样品台加工简单，拆卸方便，无需外部能源，安 全性好，无燃烧，爆炸等不安全因素。
权利要求一种X衍射用多尺寸固体块状样品分析台，其特征是由基座、样品测试挡板框架、样品固定弹簧机构和不同开口直径的上盖片组成，样品测试挡板框架固定在基座上形成内空的箱体结构，样品固定弹簧机构由弹簧和升降滑块组成，弹簧安置在基座的中部，弹簧上端固定有安放样品的升降滑块，所述的上盖片固定在样品测试挡板框架上。
2.根据权利要求1所述的一种X衍射用多尺寸固体块状样品分析台，其特征是基座下 表面设有与X衍射仪连接的定位销。
3.根据权利要求1所述的一种X衍射用多尺寸固体块状样品分析台，其特征是样品测 试挡板框架与基座成60-90°夹角。
专利摘要本实用新型涉及一种仪器分析样品台，特别涉及一种X衍射用多尺寸固体块状样品分析台。主要解决采取用粘结剂、样品附着在其他物质表面或者更换适合小样品尺寸的样品台进行固定测量，不仅工作效率低下，且导致错误的测量结果的技术问题。本实用新型的技术方案一种X衍射用多尺寸固体块状样品分析台，其特征是由基座、样品测试挡板框架、样品固定弹簧机构和不同开口直径的上盖片组成，样品测试挡板框架固定在基座上形成内空的箱体结构，样品固定弹簧机构由弹簧和升降滑块组成，弹簧安置在基座的中部，弹簧上端固定有安放样品的升降滑块，所述的上盖片固定在样品测试挡板框架上。本实用新型主要用于对钢铁块状样品进行衍射分析。
文档编号G01N23/20GK201653939SQ20102014490
公开日2010年11月24日 申请日期2010年3月23日 优先权日2010年3月23日
发明者吴小红, 周桂海, 孙华云, 徐永宏, 胡宏卫 申请人:上海梅山钢铁股份有限公司