专利名称：对edfa性能测试中测试仪器和设备时分复用的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种对EDFA (掺铒光纤放大器)性能测试过程中测试仪器和设备 时分复用的装置，属于光纤放大器测试的技术领域。
背景技术：
21世纪，光缆网络已经遍布世界各地，光纤通信成为“信息高速公路”的重要支柱。 但是由于光纤本身具有传输损耗，使得光信号只能传输不太远的距离就会衰减到接收机无 法辨别的程度。而EDFA(掺铒光纤放大器)的问世引起了光通信技术的一场革命，由于其 本身具有高增益、高输出功率、低噪声、带宽较宽、与偏振无关等优点，在很多领域和场合， EDFA正逐步取代传统的光_电_光中继模式，省去了光电/电光转换的昂贵成本，便于设备 的运行维护，成为现代光纤通信系统中不可缺少的关键部件。在以光纤为传输媒体的邮电 通信、有线电视以及计算机网络的系统中，EDFA发挥着极为重要的作用。增益平坦和信噪比是EDFA的重要性能指标。由于不同种类的EDFA应用场合有区 别，因而不同类型的EDFA对应的指标要求也是不一样的。所以，在制造每一台EDFA时，都 应该按照不同的设计要求对这两项性能指标进行严格的测试。传统的测试方法是按照不同的测试要求，每个测试工位都需要用专用的测试仪器 和设备搭建出相应的一套测试平台，由测试人员对照测试流程进行手动或自动的测试。测 试过程中，由于每一个测试工位都要独占一套测试仪器和设备，这种情况下，测试仪器和设 备的利用率相对比较低，同时也加大了测试成本，在EDFA的大批量测试应用需求中是完全 不现实的。所以，获得一种能够对EDFA性能测试过程中测试仪器和设备分时利用的解决方 案是非常重要和迫切的。
实用新型内容实用新型目的本实用新型为了解决上述技术问题，提供一种对EDFA(掺铒光纤放大器)性能测 试过程中测试仪器和设备时分复用的装置，实现了在对EDFA性能进行测试的过程中，自动 协调多个测试工位分配同一套测试仪器和设备的测试时间。技术方案为实现上述实用新型目的，本实用新型提出了 一种对EDFA (掺铒光纤放大器)性 能测试过程中测试仪器和设备时分复用的装置，具体方案如下一种对EDFA性能测试中测试仪器和设备时分复用的装置，包括主控计算机与辅 助光路切换模块；所述主控计算机和辅助光路切换模块被设计成板卡形式，相互连接设置 在机框内；其中辅助光路切换模块包括光开关控制模块和光开关矩阵模块，其中光开关 控制模块用于和主控计算机进行通信，根据测试需求控制单个或多个光开关矩阵模块；光 开关矩阵模块用于实现测试光路按照测试要求进行自动切换的功能。进一步地，上述对EDFA性能测试中测试仪器和设备时分复用的装置的光开关矩阵模块中的光开关矩阵分为多通道1X 1模式和单通道1XN模式两类，其中N为正整数，2 < N < 8。有益效果本实用新型实现对EDFA性能测试过程中测试仪器和设备的时分复用。整个测试 过程中，多个测试工位通过时分复用装置的协调可以共同使用一套测试仪器和设备进行测 试，提高了测试仪器和设备的利用率。本实用新型能够让测试光路在多个测试工位之间按要求切换，大幅度节省了人工 手动操作所消耗的光路切换时间。这样的时分复用测试模式，使得对EDFA性能的测试操作 高效、便捷，同时也降低了测试成本，可以完全满足企业对EDFA大批量测试的应用需求。另 外本装置采用模块化的方法进行设计，便于对照不同的测试要求能够进行灵活的组合和改 造升级。
图1是时分复用装置的硬件框图。图2是光开关控制模块的硬件框图。图3是光开关矩阵模块的硬件框图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的技术方案进行详细说明时分复用装置的硬件框图如图1所示。整个装置采用机框结构，主控计算机和辅 助光路切换模块被设计成板卡形式，这样的设计方式有利于根据实际的测试要求对测试装 置所要实现的功能进行灵活配置。搭建测试平台时，主控计算机和所需要用到的辅助光路 切换模块被插入到机框内，从而实现对EDFA性能测试过程中测试仪器和设备的时分复用 功能。组成系统的功能模块包括主控计算机、光开关控制模块、单个或多个光开关矩阵 模块。①主控计算机主控计算机安装有操作系统和专用的光开关矩阵控制软件，通过RS232串口与光 开关控制模块相连接。测试过程中，通过主控计算机上的光开关矩阵控制软件向光开关控 制模块发出命令，光开关矩阵模块就会按照要求进行测试光路的切换。②光开关控制模块光开关控制模块的硬件框图如图2所示，控制电路通过RS232通信电路获得的操 作指令，对光开关矩阵进行相应的操作，并将执行结果返回到主控计算机中，实现了测试光 路按照测试要求进行自动切换的功能。③光开关矩阵模块光开关矩阵模块中的光开关矩阵分为多通道1X1模式和单通道IXN模式两类。 硬件框图如图3所示，逻辑电路根据光开关矩阵电路接口的高低电平组合出对光开关矩阵 进行切换的电信号，以此来对光开关矩阵进行相应的切换操作。整个系统装置中，由于采用了光开关矩阵模块，才能使多个测试工位的光路通道与测试光路相连接，并能够按照测试要求进行光路的切换；同时，通过自动切换光路通道来 代替传统的人工插拔测试跳线改变光路通道也是提高测试效率的一个重要因素。所以这个 模块是比较关键的功能模块。构成该模块最基本的核心器件是1X1和1X2的机械式商用光开关。通常的应用 中，1 X 1光开关用来扩展出多通道1 X 1模式的光开关矩阵模块，而1 X 2光开关用来扩展出 单通道1 XN模式的光开关矩阵模块。例如，将3个1 X 2光开关级联，就可以得到1 X 4光 开关(将2个1 X 2光开关分别接到剩余一个1 X 2光开关的两个输出端)。本实用新型的原理和步骤如下根据测试工位的数量规定一个测试工位的测试等待队列，等第一个测试工位完成 测试前准备工作后，光开关矩阵模块将测试光路切换至第一个测试工位，当第一个测试工 位开始使用测试仪器和设备时，其他测试工位的使用请求入队等候，此时这些测试工位可 以进行测试前准备工作或其他事项，当第一个测试工位完成对测试仪器和设备的使用后， 通过主控计算机向光开关控制模块发出命令，光开关矩阵模块自动将测试光路切换至第二 个测试工位，第二个测试工位立刻进入测试状态，此时第一个测试工位可以进行测试后数 据处理或其他事项，以此类推。通常，每一个测试操作的测试前准备工作和测试后数据处理 是不需要占用测试仪器和设备的，因此，选取合适的测试工位数量可以很大程度上提高测 试仪器和设备的利用率，降低测试成本。综上所述，采用了对EDFA性能测试过程中测试仪器和设备时分复用的装置，可以 有效利用测试仪器和设备在测试前准备工作与测试后数据处理时的闲置时间，将测试光路 在多个同类测试工位中轮流切换，让一套测试仪器和设备能被多个测试工位共同协调使 用，提高了测试仪器和设备的使用效率，并且大幅度节省了人工手动操作所消耗的光路切 换时间。本实用新型大大提高了 EDFA性能测试的效率、降低了测试成本，可以完全满足企 业对EDFA大批量测试的应用需求。虽然本实用新型已经详细的示出并描述了一个相关且特定的实施范例参考，但本 领域的技术人员应该能够理解，在不背离本实用新型的精神和范围内可以在形式上和细节 上作出各种改变。这些改变都将落入本实用新型的权利要求所要求保护的范围。
权利要求一种对EDFA性能测试中测试仪器和设备时分复用的装置，其特征在于包括主控计算机与辅助光路切换模块；所述主控计算机和辅助光路切换模块被设计成板卡形式，相互连接设置在机框内；其中辅助光路切换模块包括光开关控制模块和光开关矩阵模块，其中光开关控制模块用于和主控计算机进行通信，根据测试需求控制单个或多个光开关矩阵模块；光开关矩阵模块用于实现测试光路按照测试要求进行自动切换的功能。
2.根据权利要求1所述对EDFA性能测试中测试仪器和设备时分复用的装置，其特征在 于所述光开关矩阵模块中的光开关矩阵分为多通道1 X 1模式和单通道1 XN模式两类，其 中N为正整数，2 < N < 8。
专利摘要本实用新型提供了一种对EDFA性能测试中测试仪器和设备时分复用的装置。本实用新型的装置包括主控计算机与辅助光路切换模块；所述主控计算机和辅助光路切换模块被设计成板卡形式，相互连接设置在机框内；其中辅助光路切换模块包括光开关控制模块和光开关矩阵模块。本实用新型可以有效利用测试仪器和设备在测试前准备工作与测试后数据处理时的闲置时间，将测试光路在多个同类测试工位中轮流切换，让一套测试仪器和设备能被多个测试工位共同协调使用，提高了测试仪器和设备的使用效率，并且大幅度节省了人工手动操作所消耗的光路切换时间、降低了测试成本。
文档编号G01M11/02GK201740638SQ20102027212
公开日2011年2月9日 申请日期2010年7月27日 优先权日2010年7月27日
发明者华歆 申请人:东南大学