专利名称：连接检查板的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及封装的芯片级测试，尤其涉及一种连接检查板。
背景技术：
在封装的芯片级测试中使用DUT(device under test, DUT)板连接待测芯片样品 和测试设备。参见图1，DUT板100上设有多个插座(sockets) 110和多个金手指 (gOldfingers)120，每个插座110又包括多个管脚111，测试时，待测芯片样品的引脚插入 所述插座110的管脚111，实现所述待测芯片样品与所述DUT板100的连接，所述DUT板100 的金手指120插入测试设备，实现所述DUT板100与所述测试设备的连接。所述插座110的 管脚111的数量等于所述金手指120的数量，一个所述管脚111与一个所述金手指120电 连接。DUT板的长期使用或者待测芯片样品的封装质量问题都会造成待测芯片样品与 DUT板无法形成良好接触，当插座的管脚与金手指的电连接通道出现问题时也会造成待测 芯片样品与DUT板无法形成良好接触，如果在封装的芯片级测试初级阶段没有检测出待测 芯片样品与DUT板的不良接触问题，就会直接导致测试失败。现有技术中，检测待测芯片样品与DUT板是否接触良好使用万用电阻表测量DUT 板的金手指，依靠万用电阻表显示的电阻值判断接触是否有异常，这就是说，如果在封装的 芯片级测试过程中发现待测芯片样品与DUT板出现接触不良的问题，因为无法具体知道是 哪个待测芯片样品的哪个引脚与插座的管脚接触不良，为找出问题的根源，就需要使用万 用电阻表检测所有待测芯片样品的所有引脚，检测工作量大，效率低。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种连接检查板，用于检测待测芯片样品的引脚与 DUT板插座的管脚是否接触良好，该连接检查板能直接定位接触不良的待测芯片样品的引 脚，检测工作量小，效率高。为了达到上述的目的，本实用新型提供一种连接检查板，检测待测芯片样品的引 脚与DUT板插座的管脚是否接触良好，其特征在于，包括牛角接头和印刷电路板；所述牛角 接头固定设置在所述印刷电路板的一表面上；所述牛角接头设有多个接头，所述多个接头 与所述DUT板的金手指相匹配；所述印刷电路板设有多个指示灯、多个电阻和一电源；一个 所述接头串联一个所述指示灯，串联的所述接头和指示灯通过所述电阻选择连接所述电源 的正极或者负极。上述连接检查板，其中，所述牛角接头的接头平均分成多组，一组所述接头对应所 述DUT板的一个插座，按一定顺序，从每组取一个由所述接头和指示灯组成的串联支路并 联，并联后再串连一个所述电阻。上述连接检查板，其中，每组所述接头所包含的接头的个数等于所述DUT板一个插座所包含的管脚的个数。上述连接检查板，其中，所述电阻的数量等于每组所述接头所包含的接头的个数。上述连接检查板，其中，所述印刷电路板还设有多个电阻跳线端、多个电源正极跳 线端和多个电源负极跳线端；所述多个电源正极跳线端分别与所述电源的正极连接；所述 多个电源负极跳线端分别与所述电源的负极连接；一个所述电阻跳线端与一个所述电阻连接。上述连接检查板，其中，所述电源正极跳线端的数量等于所述电阻跳线端的数量。上述连接检查板，其中，所述电源负极跳线端的数量等于所述电阻跳线端的数量。本实用新型的连接检查板通过牛角接头与待测芯片样品及DUT板建立电连接，通 过跳线方式形成电回路，以指示灯显示待测芯片样品的引脚与DUT板插座的管脚是否接触 良好，能直接定位接触不良的待测芯片样品的引脚，检测工作量小，效率高；本实用新型的连接检查板按一定顺序，从每组取一个由所述接头和指示灯组成的 串联支路并联，在同时检测多个待测芯片样品时只要跳一次线，使用起来非常简单；本实用新型的连接检查板的牛角接头与DUT板的金手指匹配，适用于与DUT板匹 配的不同引脚数量的待测芯片样品，适用性广；本实用新型的连接检查板可同时检测多个待测芯片样品，不仅可以快速检测出接 触不良的待测芯片样品，还可以直接定位接触不良的引脚，功能齐全；本实用新型的连接检查板成本低。
本实用新型的连接检查板由以下的实施例及附图给出。图1是现有技术中DUT板的结构示意图。图2是本实用新型连接检查板一较佳实施例的结构示意图。图3是本实用新型中印刷电路板的俯视图。图4是本实用新型连接检查板一较佳实施例的电路图。图5是本实用新型中测试结构的示意图。
具体实施方式
以下将结合图2 图5对本实用新型的连接检查板作进一步的详细描述。现以一具体实施例详细说明本实用新型的连接检查板参见图2，本实施例的连接检查板包括牛角接头210和印刷电路板220 ；所述牛角接头210固定设置在所述印刷电路板220的一表面上。所述牛角接头210与DUT板的金手指相匹配；本实施例中，所述DUT板如图1所示，该DUT板100上设有6个插座110，每个插座 110包括8个管脚111，相应地，该DUT板100上设有48个金手指120 ；所述牛角接头210设有多个接头211，所述接头211的数量等于所述DUT板100所 包含的金手指120的数量，本实施例中，所述牛角接头210有48个接头211 ；所述牛角接头210与所述DUT板的金手指相匹配是指所述牛角接头210的接头 211与所述DUT板的金手指相匹配；[0033]将所述牛角接头210的48个接头211平均分成6组，每组包含8个接头211，每 组接头对应于一个插座，即使用本实施例连接检查板时，同一组的8个接头将分别与同一 插座的8个管脚建立电连接，为了表述的清楚，将6个组分别命名为A组、B组、C组、D组、 E组和F组，对于A组的8个接头按顺序分别命名为A1、A2、A3、A4、A5、A6、A7和A8，对于B 组的8个接头按顺序分别命名为附、82、83、84、85、86、87和B8，其他各组接头的命名以此 类推。参见图3和图4，所述印刷电路板220上设有多个指示灯221、多个电阻222、多个 跳线端223和电源224 ；所述指示灯221的数量等于所述接头211的数量；所述跳线端223包括三种类型，分别是电源正极跳线端jump P、电源负极跳线端 jump N、以及电阻跳线端jump R，每种类型的跳线端均包括多个；继续参见图4，本实施例中，所述印刷电路板220上设有48个指示灯221，所述牛 角接头210的一个接头211串联一个指示灯221 ；与A组接头中第一个接头Al串联的指示灯的另一端、与B组接头中第一个接头Bl 串联的指示灯的另一端、与C组接头中第一个接头Cl串联的指示灯的另一端、与D组接头 中第一个接头Dl串联的指示灯的另一端、与E组接头中第一个接头El串联的指示灯的另 一端、与F组接头中第一个接头Fl串联的指示灯的另一端连接，即各组接头中第一个接头 与一个指示灯串联形成的支路是并联的，并联后再串联一个电阻，该电阻的另一端与一个 电阻跳线端jump R连接；与A组接头中第二个接头A2串联的指示灯的另一端、与B组接头中第二个接头B2 串联的指示灯的另一端、与C组接头中第二个接头C2串联的指示灯的另一端、与D组接头 中第二个接头D2串联的指示灯的另一端、与E组接头中第二个接头E2串联的指示灯的另 一端、与F组接头中第二个接头F2串联的指示灯的另一端连接，即各组中第二个接头与一 个指示灯串联形成的支路是并联的，并联后再串联一个电阻，该电阻的另一端与一个电阻 跳线端jump R连接；以此类推，与A组接头中第八个接头A8串联的指示灯的另一端、与B组接头中第 八个接头B8串联的指示灯的另一端、与C组接头中第八个接头C8串联的指示灯的另一端、 与D组接头中第八个接头D8串联的指示灯的另一端、与E组接头中第八个接头E8串联的 指示灯的另一端、与F组接头中第八个接头F8串联的指示灯的另一端连接，即各组第八个 接头与一个指示灯串联形成的支路是并联的，并联后再串联一个电阻，该电阻的另一端与 一个电阻跳线端jump R连接；所述电阻222用于保护电路，所述电阻222的数量等于每个插座110所包含的管 脚111的数量，所述电阻跳线端jump R的数量等于每个插座110所包含的管脚111的数量， 本实施中，所述电阻222有8个，所述电阻跳线端jump R有8个；所述多个电源正极跳线端jump P分别与所述电源2M的正极连接，所述电源正极 跳线端jump P的数量等于每个插座110所包含的管脚111的数量，即本实施例中，所述电 源正极跳线端jump P有8个；所述多个电源负极跳线端jump N分别与所述电源2 的负极连接，所述电源负极 跳线端jump N的数量等于每个插座110所包含的管脚111的数量，即本实施例中，所述电源负极跳线端jump N有8个；所述电阻跳线端jump R可选择与所述电源正极跳线端jump P或者电源负极跳线 端jump N连接。使用本实施例的连接检查板时，将待测芯片样品插入所述DUT板100的插座110， 所述DUT板100的金手指120插入本实施例连接检查板的牛角接头210，所述牛角接头210 的接头211与所述DUT板100的金手指120连接，而所述DUT板100的金手指120与所述 所述DUT板100的插座110连接，这样建立起待测芯片样品、DUT板和本实施例的连接检查 板三者之间的连接关系。现举例说明本实施例的连接检查板的工作原理参见图5，待测芯片样品采用四个接口端的测试结构300，所述测试结构300的四 个接口端分别为正极施压端F+、负极施压端F-、正极感应端S+和负极感应端S-，本实施例 中，使用本实施例的连接检查板同时检测两个测试结构300 ；将测试结构的四个接口端插入DUT板的一插座的四个管脚中，将该DUT板的金手 指插入本实施例连接检查板的牛角接头，建立测试结构接口端与接头之间的电连接，例如， 第一个测试结构的四个接口端F+、S+、S-和F-插入的四个插座的管脚分别对应连接牛角 接头A组接头中的四个接头A8、A7、A2和Al，第二个测试结构的四个接口端F+、S+、S-和 F-插入的四个插座的管脚分别对应连接牛角接头B组接头中的四个接头B8、B7、B2和Bi， 如图4所示；将与接头Al连接的电阻跳线端jump R与一个电源负极跳线端jump N连接，与A2 连接的电阻跳线端jump R与另一个电源负极跳线端jump N连接，与接头A7连接的电阻跳 线端jump R与一个电源正极跳线端jump P连接，与接头A8连接的电阻跳线端jump R与 另一个电源正极跳线端jump P连接，如图3所示，这样，对每个测试结构而言建立了 4个回 路，以第一个测试结构为例，第一个回路是电源的正极、与接头A8连接的指示灯、接头A8、 测试结构的正极施压端F+、测试结构的负极感应端S-、接头A2、与接头A2连接的指示灯以 及电源的负极；第二个回路是电源的正极、与接头A8连接的指示灯、接头A8、测试结构的正 极施压端F+、测试结构的负极施压端F-、接头Al、与接头Al连接的指示灯以及电源的负极； 第三个回路是电源的正极、与接头A7连接的指示灯、接头A7、测试结构的正极感应端S+、测 试结构的负极感应端S-、接头A2、与接头A2连接的指示灯以及电源的负极；第四个回路是 电源的正极、与接头A7连接的指示灯、接头A7、测试结构的正极感应端S+、测试结构的负极 施压端F-、接头Al、与接头Al连接的指示灯以及电源的负极；虽然同时检测两个测试结构，但是只要跳一次线，因为接头Al与接头Bl是并联 的，接头A2与接头B2是并联的，接头A7与接头B7是并联的，接头A8与接头B8是并联的； 本实用新型的连接检查板同时检测多个待测芯片样品时，只要跳一次线，使用起来非常简 当测试结构的四个接口端中有接口端与插座的管脚接触不良时，就会使某个或者 某些回路断开，断开的回路中的指示灯不会亮，因此，可以通过指示灯是否亮来确定测试结 构的哪个接口端与插座的管脚接触不良，例如，如果第一个测试结构的正极施压端F+与插 座的管脚接触不良，则与接头A8连接的指示灯不亮，而其他指示灯均亮，即使用本实施例 的连接检查板可直接定位哪个测试结构的哪个接口端与插座的管脚接触不良，检测工作量
6小，效率高。本实用新型的连接检查板不仅可以快速检测出接触不良的待测芯片样品，还可以 直接定位接触不良的引脚，功能齐全；本实用新型的连接检查板适用性广，适用于不同引脚数量的待测芯片样品，只要 该待测芯片样品能适用于DUT板的插座；本实用新型的连接检查板成本低。
权利要求1.一种连接检查板，检测待测芯片样品的引脚与DUT板插座的管脚是否接触良好，其 特征在于，包括牛角接头和印刷电路板；所述牛角接头固定设置在所述印刷电路板的一表面上；所述牛角接头设有多个接头，所述多个接头与所述DUT板的金手指相匹配；所述印刷电路板设有多个指示灯、多个电阻和一电源；一个所述接头串联一个所述指示灯，串联的所述接头和指示灯通过所述电阻选择连接 所述电源的正极或者负极。
2.如权利要求1所述的连接检查板，其特征在于，所述牛角接头的接头平均分成多组， 一组所述接头对应所述DUT板的一个插座，按一定顺序，从每组取一个由所述接头和指示 灯组成的串联支路并联，并联后再串连一个所述电阻。
3.如权利要求2所述的连接检查板，其特征在于，每组所述接头所包含的接头的个数 等于所述DUT板一个插座所包含的管脚的个数。
4.如权利要求2或3所述的连接检查板，其特征在于，所述电阻的数量等于每组所述接 头所包含的接头的个数。
5.如权利要求2所述的连接检查板，其特征在于，所述印刷电路板还设有多个电阻跳 线端、多个电源正极跳线端和多个电源负极跳线端；所述多个电源正极跳线端分别与所述电源的正极连接；所述多个电源负极跳线端分别与所述电源的负极连接；一个所述电阻跳线端与一个所述电阻连接。
6.如权利要求4所述的连接检查板，其特征在于，所述电源正极跳线端的数量等于所 述电阻跳线端的数量。
7.如权利要求4所述的连接检查板，其特征在于，所述电源负极跳线端的数量等于所 述电阻跳线端的数量。
专利摘要本实用新型的连接检查板检测待测芯片样品的引脚与DUT板插座的管脚是否接触良好，包括牛角接头和印刷电路板；所述牛角接头固定设置在所述印刷电路板的一表面上；所述牛角接头设有多个接头，所述多个接头与所述DUT板的金手指相匹配；所述印刷电路板设有多个指示灯、多个电阻和一电源；一个所述接头串联一个所述指示灯，串联的所述接头和指示灯通过所述电阻选择连接所述电源的正极或者负极。本实用新型的连接检查板能直接定位接触不良的待测芯片样品的引脚，检测工作量小，效率高。
文档编号G01R31/02GK201859194SQ20102056510
公开日2011年6月8日 申请日期2010年10月16日 优先权日2010年10月16日
发明者冯军宏, 王晓韬, 许晓锋, 郑雅文, 马瑾怡 申请人:中芯国际集成电路制造(上海)有限公司