专利名称：一种基于微片激光器回馈干涉仪的位移数据处理方法
技术领域：
本发明涉及一种位移数据处理方法，特别是关于一种用于非配合目标的非接触式精密位移测量的基于微片激光器回馈干涉仪的位移数据处理方法。
背景技术：
微片激光器具有极高的光回馈敏感度，把移频光回馈系统与相位外差测量技术结合，可以实现高分辨率的运动位移测量。外差信号处理系统是基于相位检测的外差干涉系统的最后环节，也是决定系统精度的重要环节。但是在实际的移频光回馈系统中，回馈光信号并非标准的正弦信号，从信号功率频谱上观察信号峰值周围存在有大量噪声，对于这样的低信噪比信号，现有技术通常是采用锁相放大器进行处理，但是其极窄的检测带宽限制了被测物体的最大运动速度，当被测物体较快运动所引起的信号多普勒频移超出检测带宽时，锁相放大器无法准确测量其相位变化因而也无法精确测量被测物体的位移变化量，而且锁相放大器不具备整数计数功能，给使用带来不便。在微片激光器回馈干涉仪中，待测物体的最大运动速度由下式决定νω= Δν· λ/2，其中，Vm为被测物体最大运动速度，Δν为外差信号处理系统的检测带宽，λ为激光波长。由上式可见，限制被测物体最大运动速度的因素是外差信号处理系统的检测带宽。目前微片激光器回馈干涉仪的量程已经可达lm， 但是从实验上看，现有的移频光回馈系统的测量速度不能超过5 μ m/s,显然这样的测量速度无法满足实际应用的要求，因此有必要进一步提高移频光回馈系统的测量速度。现有技术中由于相位计处理速度高，具有非常宽的检测带宽，允许的最大测速较大，所以一般用来作为精密相位测量的手段，并在双频激光干涉仪中得到了广泛的应用。但是微片激光器回馈干涉仪由于采用弱光回馈，其信号的幅值和信噪比都很低，相位计对被检测信号本身的质量要求较高且相位计本身不具有抑制噪声的功能，所以无法直接使用相位计进行高分辨率的相位测量。
发明内容
针对上述问题，本发明的目的是提供一种能够有效抑制信号噪声、相位测量分辨率高、具有较宽检测带宽且能够有效提高移频光回馈系统测量速度的基于微片激光器回馈干涉仪的位移数据处理方法。为实现上述目的，本发明采取以下技术方案一种基于微片激光器回馈干涉仪的位移数据处理方法，包括如下步骤1)设置一包括有微片激光器回馈干涉仪、混频器、滤波器、放大器、单端信号适配器、相位计和计算机的外差信号处理系统；幻将从所述微片激光器回馈干涉仪得到反映被测物体位移变化量的光信号依次输入到滤波器、放大器对信号进行滤波放大处理得到频率单一、大幅值的光信号；；3)将产生作为稳定的标准信号参与外差相位测量的电信号依次输入到滤波器、放大器对电信号进行滤波放大处理得到频率单一、 大幅值的电信号；4)将所述步骤幻和步骤幻产生的信号分别输入到所述单端信号适配器中，单端信号适配器将正弦信号转换为方波信号同时将方波信号输入到相位计中，利用相位计计算外腔相位变化量力)将相位计解调出的外腔相位变化量通过计算机计算得到被测物体的位移变化量，并将位移变化量的结果显示在计算机上。所述步骤2、中微片激光器为普通式微片激光器回馈干涉仪对被测物体进行位移测量时只有一路测量回馈光信号则相对应只有一路电信号参与外差测相，相对应滤波器设置有两个滤波通道，分别滤除测量回馈光信号、电信号的噪声并发送到放大器、单端信号适配器、相位计、计算机完成对被测物体位移变化量的测量和显示。所述步骤2~)中的微片激光器为准共路式微片激光器回馈干涉仪对被测物体进行位移测量时产生参考回馈光信号和测量回馈光信号，则相对应产生参考电信号和测量电信号两路标准信号参与外差相位测量，将参考回馈光信号、测量回馈光信号、参考电信号、测量电信号分别发送到滤波器的四个滤波通道中滤除噪声后依次发送到放大器、单端信号适配器、相位计、计算机完成对被测物体位移变化量的测量和显示。所述步骤5)中被测物体的位移变化量Δ L的计算公式如下
CΔΖ = -~Αφ
2腳其中，η为空气折射率，c为真空光速，ω为激光频率，Δ (^f为外腔相位变化量。所述滤波器采用八阶切比雪夫带通滤波器，所述滤波器的每一滤波通道分别外接一个控制电阻，通过改变每一控制电阻的阻值相对应改变滤波通道的中心频率、通带和带
觅ο本发明由于采取以上技术方案，其具有以下优点1、本发明由于采用四通道滤波器，利用两组具有不同中心频率和带宽的滤波通道分别对参考光信号、测量光信号、参考电信号和测量电信号进行滤波处理，因此可以有效地去除弛豫振荡频率、倍频和高次谐波等杂波，且将各滤波通道输出的信号分别经放大器放大，因此能有效地增大各信号的幅值， 因此有效抑制噪声且增大信号的幅值使其满足相位计对信号高信噪比、大幅值的苛刻要求。2、本发明所采用的滤波器，可以根据信号的多普勒频移设置滤波通道的带宽，在相同的带宽限制下，使滤除参考光信号滤波通道的带宽较小，相对应使得滤除测量光信号的滤波通道的带宽增大，使得移频光回馈系统测量速度得到很大地提高。3、本发明采用基于数字鉴相技术的相位计处理速度高，同步测量光的相位变化量△ 参考光的相位变化量 Δ ΦΓ,而且具有整数和小数一体化相位测量功能，不仅允许的最大测速较大，而且直接输出最终的相位值而不必进行转换，大大提高相位分辨率。本发明可以广泛应用于移频光回馈系统的信号处理中。
图1是本发明实施例1的结构示意图；图2是本发明实施例2的结构示意图。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明进行详细的描述。实施例1 本发明以现有技术中的准共路式微片激光器回馈干涉仪为实施例说明将采集到的被测物体位移变化量的数据进行处理的方法。
如图1所示，现有技术中的准共路式微片激光器回馈干涉仪1包括一微片激光器 11、一分光镜12、两声光移频器13、14、一会聚透镜15、一参考反射镜16、一光电探测器17 和若干挡光板(图中未示出)，其光学元件的具体设置和光路传播路径与现有技术相同在此不再赘述。本发明包括一外差信号处理系统2，外差信号处理系统2包括一混频器21，混频器21的两输入端分别连接一与声光移频器13相连接的正弦信号发生源22和一与声光移频器14相连接的正弦信号发生源23的输出端。混频器21的其中一输出端连接一倍频器M的输入端，另外一输出端连接一四通道滤波器25的其中一输入端。倍频器M的输出端连接滤波器25的另外一输入端，滤波器25的其它两输入端分别连接光电探测器17的两个输出端。滤波器25的四个输出端分别连接放大器沈的四个输入端，放大器沈的四个输出端分别连接四通道单端信号适配器27的四个输入端，单端信号适配器27的四个输出端分别连接一相位计观的四个输入端，相位计观的两输出端连接到一计算机四上。本发明基于上述外差信号处理系统2对利用准共式微片激光器回馈干涉仪1得到被测物体位移变化量数据的处理方法如下1)对参考回馈光信号和测量回馈光信号进行滤波放大处理得到频率单一、大幅值的参考光信号和测量光信号微片激光器11发出频率为ω的激光，由准共路式微片激光器回馈干涉仪1产生调制频率为Ω的参考回馈光信号和调制频率为2Ω的测量回馈光信号(参考回馈光信号和测量回馈光信号具体的产生过程为现有技术，在此不再赘述)，由于参考回馈光信号和测量回馈光信号中存在弛豫振荡频率等噪声，则将经光电探测器17输出的信号分为两路并分别发送到滤波器25的中心频率为Ω和中心频率为2Ω的两个滤波通道中，为了能够将参考回馈光信号和测量回馈光信号区分开，则滤波器25的两个滤波通道的通带不能重合。 经过滤波器25的两个滤波通道则可以滤除与通道中心频率不一致的噪声，分别得到频率为Ω和2Ω的信号，将这两路频率单一的信号分别发送到放大器沈中对信号的幅值进行放大处理，则将放大后的频率仅为Ω的信号定义为参考光信号Sro，将频率仅为2 Ω的信号定义为测量光信号SM。2)产生作为稳定标准信号参与外差相位测量的电信号并对其进行滤波放大处理， 得到频率单一、大幅值的参考电信号和测量电信号正弦信号发生源22产生频率为Q1的射频电信号，正弦信号发生源23产生频率为Ω2的射频电信号，将两路射频电信号同时发送到混频器21得到二者的差频，即频率Ω =Q2-Q1，将频率为Ω的差频信号分成两路，将其中一路发送到倍频器M中，得到频率为 2Ω的电信号，由于得到的频率Ω和2Ω的电信号中包含有一定的倍频与高次谐波等杂波， 因此将频率Ω和2Ω的电信号分别发送到滤波器25相对应的中心频率为Ω和中心频率为2 Ω的另外两个滤波通道中，滤除杂波后将两路频率单一的信号分别发送到放大器沈中进行放大处理，将最终得到频率仅为Ω的电信号定义为参考电信号Ske，将频率仅为2 Ω的电信号定义为测量电信号^。3)分别计算参考光信号和测量光信号的外腔相位变化量将得到的参考光信号Sro、测量光信号、参考电信号^ffi和测量电信号^ffi四路信号分别发送到单端信号适配器27中将四路正弦信号分别转化为方波信号，然后将参考光信号Sro、参考电信号Ske、测量光信号Ssro和测量电信号这四路方波信号依次发送到相位计洲中。相位计观将参考光信号Sto与参考电信号Ske作为一组计算得到参考光信号的相位变化Δ Φρ同样，将测量光信号Ssro和测量电信号Sme为一组计算得到测量光信号的相位变化△ Φω，相位计观还可以针对相位差的结果进行整数计数，从而能够同步解调出参考光信号的相位变化量△ 和测量光信号的相位变化量△ Φω。4)位移测量结果计算和显示测量光信号的相位变化△ Φω反映了外腔光程的变化，参考光信号的相位变化量 Δ Φ,则反映了光路中的环境干扰，则二者之差Δ Φ,发送到计算机四，计算机四通过计算可以准确反映被测物体的实际位移变化量，并将计算结果显示在计算机四上，Δ Ctf的计算如下Δ φΓ = Δ φ^Δ φΓ在准共路式微片激光器回馈干涉仪1中，回馈光外腔相位炉与光程L的关系为
ηω ^t φ 二—IL c上述公式中，η为空气折射率，c为真空光速，ω为激光频率。在准共路式微片激光器干涉仪1中，参考回馈光与测量回馈呈准共路关系，因此它们的折射率η相差很小，可以认为相同。由于它们的频率之差与光频相比可以忽略，因此可以认为它们的频率ω也相同，因此对应相位变化量Δ 和位移变化量AL的关系成比例，则相对应的被测物体的位移变化量ΔL为如下Μ =
2腳上述实施例中，本发明的滤波器25针对两路光信号和两路电信号的频率，设置有相对应中心频率的两组不同滤波通道，滤波器25可以采用八阶切比雪夫带通滤波器，每一阶滤波器25分别外接四个控制电阻，通过改变这四个控制电阻的阻值相对应改变滤波通道的中心频率、通带和带宽。例如使用的滤波器25的滤波通道的带宽都相同，假设均设置为40kHz，在准共路式微片激光器回馈干涉仪1中，由于参考反射镜16静止不动则参考回馈光的多普勒频移很小，因此可以将滤波器25中滤除参考回馈光的通带范围设计的很窄，相对应滤波器25中滤除测量回馈光的通带就可以较宽。假设滤波器25的滤除参考回馈光的滤波通道的中心频率为40kHz、滤除测量回馈光的滤波通道的中心频率为80kHz，将滤除参考回馈光的带宽设置为2kHz、则滤波器滤除参考回馈光的滤波通道的通带可以是39kHz 41kHz，则滤除测量回馈光的滤波通道的通带就可以设置为41kHz 119kHz，滤除测量回馈光的滤波通道的通带由原来的40kHz扩大到78kHz，相对应所能测量的最大速度也增加将近一倍。上述各实施例中，如果要提高测量速度，可以采用带宽更宽的滤波器25，但是滤波器25的参数需要与声光移频器的驱动频率匹配。例如所使用声光移频器驱动频率之差为 Ω，则参考光移频量为Ω，测量光移频量为2 Ω，因此滤波器25中滤除参考回馈光噪声的滤波通道的中心频率Ω，通带Ω/2 3Ω/2，带宽为Ω ；滤波器25中滤除测量回馈光噪声的滤波通道的中心频率为2 Ω，通带3 Ω /2 5 Ω /2，带宽为Ω。上述实施例中，相位计28采用差动鉴相，由正逻辑鉴相得到同向相脉冲计数值， 由负逻辑鉴相得到反向脉冲计数值，由同向脉冲计数值和反向脉冲计数值可以得到最终的相位变化。相位计观采用差动方法，避免了信号频率变动和脉冲频率漂移的影响。而且相位计观中的计数同步控制电路可以保证计数器开始和停止的时间间隔为信号周期的整数倍，不会引入额外的整数计数误差，实现整数的准确计数。实施例2 本发明以现有技术中的普通式微片激光器回馈干涉仪1为实施例说明将采集到的被测物体位移变化量的数据进行处理的方法。如图2所示，现有技术的普通式微片激光器回馈干涉仪与准共路微片激光器回馈干涉仪相比只是缺少一个参考反射镜16，即同样包括一微片激光器11、一分光镜12、两声光移频器13、14、一会聚透镜15、一光电探测器17和若干挡光板(图中未示出)，其具体的光学元件的设置和光路传播与现有技术相同在此不再赘述。由于普通式微片激光器回馈干涉仪1不存在参考反射镜16，则只有一路测量光回馈光信号不存在参考回馈光信号。本发明基于上述外差信号处理系统2对利用普通式微片激光器回馈干涉仪1得到被测物体位移变化量数据的处理方法如下1)对测量回馈光信号进行滤波放大处理得到频率单一测量光信号微片激光器11发出频率为ω的激光，由普通式微片激光器回馈干涉仪1得到频率为2Ω的测量回馈光，由于获得测量回馈光中存在弛豫振荡频率等噪声，为了消除噪声得到频率单一的测量回馈光，则将经光电探测器17输出的信号发送到中心频率为2 Ω的滤波器25 —个滤波通道中。经过滤波器25滤除与通道中心频率不一致的噪声，得到频率2 Ω 的信号，将其发送到放大器25中对信号的幅值进行放大，将放大后信号定义为测量光信号 Sm0O2)产生作为稳定的标准信号参与外差相位测量的电信号并对其进行滤波放大处理，得到测量电信号 正弦信号发生源22产生频率为Ω工的射频电信号，正弦信号发生源23产生频率为 Ω2的射频电信号，将两路射频电信号同时发送到混频器21得到二者的差频，即频率Ω = Ω 2-Q1，将其发送到倍频器M中，得到频率为2 Ω的电信号，由于得到的频率2 Ω的电信号中包含有一定的倍频与高次谐波等杂波，因此将其发送到中心频率为2 Ω的滤波器25的一个滤波通道中，将单一频率的信号发送到放大器沈中进行放大，将最终的频率仅为2 Ω的电信号定义为测量电信号^。3)计算测量光的外腔相位变化量将得到的测量光信号Ssro和测量电信号Sme两路信号分别发送到两通道单端信号适配器27中将两路正弦信号分别转化为方波信号，然后将测量光信号Ssro和测量电信号这两路方波信号依次发送到相位计观中。在相位计观中将测量光信号Ssro和测量电信号为一组计算得到测量光的相位变化Δ φω。4)位移测量结果计算和显示测量光的相位变化Δ φω反映了外腔光程的变化，则位移变化量Δ L为综上所述，本发明的位移数据处理方法不仅仅局限于准共路式微片器回馈干涉仪的位移数据处理，也可以基于普通的微片激光器回馈干涉仪，由于普通的微片激光器回馈干涉仪没有参考光信号所以不需要设置参考光信号和参考电信号这两路滤波通道，则相对应滤波器设置两路滤波通道即可以对噪声的抑制。 上述各实施例仅用于说明本发明，其中各部件的结构、连接方式和实施方法等都是可以有所变化的，凡是在本发明技术方案的基础上进行的等同变换和改进，均不应排除在本发明的保护范围之外。
权利要求
1.一种基于微片激光器回馈干涉仪的位移数据处理方法，包括如下步骤1)设置一包括有微片激光器回馈干涉仪、混频器、滤波器、放大器、单端信号适配器、相位计和计算机的外差信号处理系统；2)将从所述微片激光器回馈干涉仪得到反映被测物体位移变化量的光信号依次输入到滤波器、放大器对信号进行滤波放大处理得到频率单一、大幅值的光信号；3)将产生作为稳定的标准信号参与外差相位测量的电信号依次输入到滤波器、放大器对电信号进行滤波放大处理得到频率单一、大幅值的电信号；4)将所述步骤幻和步骤幻产生的信号分别输入到所述单端信号适配器中，单端信号适配器将正弦信号转换为方波信号同时将方波信号输入到相位计中，利用相位计计算外腔相位变化量；5)将相位计解调出的外腔相位变化量通过计算机计算得到被测物体的位移变化量，并将位移变化量的结果显示在计算机上。
2.如权利要求1所述的一种基于微片激光器回馈干涉仪的位移数据处理方法，其特征在于所述步骤幻中微片激光器为普通式微片激光器回馈干涉仪对被测物体进行位移测量时只有一路测量回馈光信号则相对应只有一路电信号参与外差测相，相对应滤波器设置有两个滤波通道，分别滤除测量回馈光信号、电信号的噪声并发送到放大器、单端信号适配器、相位计、计算机完成对被测物体位移变化量的测量和显示。
3.如权利要求1所述的一种基于微片激光器回馈干涉仪的位移数据处理方法，其特征在于所述步骤幻中的微片激光器为准共路式微片激光器回馈干涉仪对被测物体进行位移测量时产生参考回馈光信号和测量回馈光信号，则相对应产生参考电信号和测量电信号两路标准信号参与外差相位测量，将参考回馈光信号、测量回馈光信号、参考电信号、测量电信号分别发送到滤波器的四个滤波通道中滤除噪声后依次发送到放大器、单端信号适配器、相位计、计算机完成对被测物体位移变化量的测量和显示。
4.如权利要求1或2或3所述的一种基于微片激光器回馈干涉仪的位移数据处理方法，其特征在于所述步骤5)中被测物体的位移变化量AL的计算公式如下AL = -^-ASf 2ηω f其中，η为空气折射率，c为真空光速，ω为激光频率，Δ 为外腔相位变化量。
5.如权利要求1或2或3所述的一种基于微片激光器回馈干涉仪的位移数据处理方法，其特征在于所述滤波器采用八阶切比雪夫带通滤波器，所述滤波器的每一滤波通道分别外接一个控制电阻，通过改变每一控制电阻的阻值相对应改变滤波通道的中心频率、通带和带宽。
6.如权利要求4所述的一种基于微片激光器回馈干涉仪的位移数据处理方法，其特征在于所述滤波器采用八阶切比雪夫带通滤波器，所述滤波器的每一滤波通道分别外接一个控制电阻，通过改变每一控制电阻的阻值相对应改变滤波通道的中心频率、通带和带宽。
全文摘要
本发明涉及一种基于微片激光器回馈干涉仪的位移数据处理方法，包括如下步骤包括有微片激光器回馈干涉仪、混频器、滤波器、放大器、单端信号适配器、相位计和计算机的外差信号处理系统；将从微片激光器回馈干涉仪得到的光信号输入到滤波器、放大器对信号进行滤波放大处理得到频率单一的光信号；将产生作为稳定的标准信号参与外差相位测量的电信号依次输入到滤波器、放大器对电信号进行滤波放大处理得到频率单一、大幅值的电信号；将产生的信号分别输入到所述单端信号适配器中，单端信号适配器将正弦信号转换为方波信号同时将方波信号输入到相位计中，利用相位计计算外腔相位变化量；将相位计解调出的外腔相位变化量通过计算机计算得到被测物体的位移变化量。本发明可以广泛应用于移频光回馈系统的信号处理中。
文档编号G01B11/02GK102506715SQ20111030947
公开日2012年6月20日 申请日期2011年10月13日 优先权日2011年10月13日
发明者任舟, 张书练, 张松, 谈宜东 申请人:清华大学