专利名称：测量装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测量装置。
背景技术：
在一些测试领域中，如噪音声功率测试中，需要将多个麦克风设定在多个距离地面一定高度的位置点上来测试麦克风音量的大小。在噪音实验室中，通常是用一定长度的直尺来量测该距离地面一定的高度，并确定在该高度上的位置点，再将麦克风放置在该位置点上。一般的方法是先通过一个工具确定与地面垂直的方向，再将直尺沿该方向量测一定的高度。在该高度较高的时候，需要同时使用多把直尺，有时还需要两个人同时工作。这样，在设定该高度上的位置点时特别不方便。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种方便设定测量高度的测量装置。一种测量装置，包括有支架及滑动架，所述支架及滑动架设有用以测量高度的刻度线，所述滑动架滑动固定在所述支架中，所述测量装置还包括有固定结构及驱动结构，所述固定结构包括有固定件及设在所述固定件上的弹性件，所述驱动结构包括有把手及固定在所述把手上的齿轮，所述驱动结构转动固定在所述支架上，所述齿轮在相对所述支架转动的过程中驱使所述滑动架相对所述支架滑动，所述固定件固定在所述支架上，所述弹性件固定在所述支架与所述滑动架之间，防止所述滑动架相对所述支架滑动。一实施方式中，所述支架包括有底座、顶板、后板及两相对的第一侧板及第二侧板，所述顶板、所述后板、所述第一侧板及所述第二侧板形成供所述滑动架滑动的滑动空间。一实施方式中，所述滑动架包括有顶壁、后壁、与所述后壁相对的前壁、及两相对的第一侧壁及第二侧壁，所述第一侧壁朝向所述第一侧板，所述第二侧壁朝向所述第二侧板，所述后壁朝向所述后板，所述顶壁设有供所述滑动架插入所述滑动空间及供所述滑动架滑动的开口。一实施方式中，所述前壁设有开槽，所述开槽中设有卡齿，齿轮收容在第一侧板及所述第二侧板之间，所述齿轮设有轮齿，所述轮齿与所述卡齿咬合在一起。一实施方式中，所述后板及第二侧板设有第一刻度线，所述后壁及第二侧壁设有第二刻度线，所述第一刻度线的刻度值自所述底座向上逐渐增大，所述第二刻度线的刻度值自所述底座向上逐渐减小。一实施方式中，所述第一刻度线具有一最大刻度值，所述第二刻度线具有一最小刻度值，所述最大刻度值等于所述最小刻度值。一实施方式中，所述底座包括一用以与一测量面相抵靠的下表面，所述第二侧板、所述后板及所述底座的下表面相互垂直，所述下表面、所述第二侧板与所述后板的相交点为所述第一刻度线的原点，且所述顶板到所述测量面的距离等于所述第一刻度线的最大刻度值。一实施方式中，所述最大刻度值为100厘米。一实施方式中，当所述滑动架完全收容在所述支架中时，所述顶壁与所述顶板处于同一平面上。一实施方式中，所述固定结构固定在所述第一侧板上，所述第一侧壁设有滑槽，所述弹性件一端收容在所述滑槽中，另一端固定在所述固定件上。与现有技术相比，在上述测量装置中，只要通过转动驱动结构，齿轮就能驱使滑动架滑动，所述滑动架滑出支架，滑动架上的刻度增大了测量的量程。这样，即使需要设定的高度大于支架的刻度值，也能够很方便地进行操作。
图1是本发明测量装置的一较佳实施例的立体分解图。图2是图1的一立体组装图。图3是图2的另一视角图。图4是图2的俯视图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种测量装置，包括有支架及滑动架，其特征在于:所述支架及滑动架设有用以测量高度的刻度线，所述滑动架滑动固定在所述支架中，所述测量装置还包括有固定结构及驱动结构，所述固定结构包括有固定件及设在所述固定件上的弹性件，所述驱动结构包括有把手及固定在所述把手上的齿轮，所述驱动结构转动固定在所述支架上，所述齿轮在相对所述支架转动的过程中驱使所述滑动架相对所述支架滑动，所述固定件固定在所述支架上，所述弹性件固定在所述支架与所述滑动架之间，防止所述滑动架相对所述支架滑动。
2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于:所述支架包括有底座、顶板、后板及两相对的第一侧板及第二侧板，所述顶板、所述后板、所述第一侧板及所述第二侧板形成供所述滑动架滑动的滑动空间。
3.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于:所述滑动架包括有顶壁、后壁、与所述后壁相对的前壁、及两相对的第一侧壁及第二侧壁，所述第一侧壁朝向所述第一侧板，所述第二侧壁朝向所述第二侧板，所述后壁朝向所述后板，所述顶壁设有供所述滑动架插入所述滑动空间及供所述滑动架滑动的开口。
4.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于:所述前壁设有开槽，所述开槽中设有卡齿，齿轮收容在第一侧板及所述第二侧板之间，所述齿轮设有轮齿，所述轮齿与所述卡齿咬合在一起。
5.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于:所述后板及第二侧板设有第一刻度线，所述后壁及第二侧壁设有第二刻度线，所述第一刻度线的刻度值自所述底座向上逐渐增大，所述第二刻度线的刻度值自所述底座向上逐渐减小。
6.如权利要求5所述的测量装置，其特征在于:所述第一刻度线具有一最大刻度值，所述第二刻度线具有一最小刻度值，所述最大刻度值等于所述最小刻度值。
7.如权利要求6所述的测量装置，其特征在于:所述底座包括一用以与一测量面相抵靠的下表面，所述第二侧板、所述后板及所述底座的下表面相互垂直，所述下表面、所述第二侧板与所述后板的相交点为所述第一刻度线的原点，且所述顶板到所述测量面的距离等于所述第一刻度线的最大刻度值。
8.如权利要求6所述的测量装置，其特征在于:所述最大刻度值为100厘米。
9.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于:当所述滑动架完全收容在所述支架中时，所述顶壁与所述顶板处于同一平面上。
10.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于:所述固定结构固定在所述第一侧板上，所述第一侧壁设有滑槽，所述弹性件一端收容在所述滑槽中，另一端固定在所述固定件上。
全文摘要
一种测量装置，包括有支架及滑动架，所述支架及滑动架设有用以测量高度的刻度线，所述滑动架滑动固定在所述支架中，所述测量装置还包括有固定结构及驱动结构，所述固定结构包括有固定件及设在所述固定件上的弹性件，所述驱动结构包括有把手及固定在所述把手上的齿轮，所述驱动结构转动固定在所述支架上，所述齿轮在相对所述支架转动的过程中驱使所述滑动架相对所述支架滑动，所述固定件固定在所述支架上，所述弹性件固定在所述支架与所述滑动架之间，防止所述滑动架相对所述支架滑动。
文档编号G01C15/00GK103162672SQ201110420309
公开日2013年6月19日 申请日期2011年12月15日 优先权日2011年12月15日
发明者易文明, 胡从旭, 刘小利, 刘玉林 申请人:鸿富锦精密工业(武汉)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司