专利名称：主轴双键对称度测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电机主轴对称度的测量仪。
背景技术：
现有电机主轴对称度测量仪只有测量单键槽的对称度仪，不能测量双键对称度。 发明内容本实用新型的目的在于提供一种结构简单，能测量主轴双键对称度的主轴双键对称度测量仪。本实用新型采用的技术方案是一种主轴双键对称度测量仪，其特征在于由测量架和微分筒组成，所述测量架上有2个测量臂。本实用新型测量架有2个测量臂，具有结构简单，能测量主轴双键对称度的优点。
图1是本实用新型的结构图。
具体实施方式
下面根据附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步说明从图1可知，本实用新型电机主轴双键对称度测量仪，由测量架1和微分筒2组成，测量架上有2个测量臂3。使用方法测量时将测量架放入主轴双键槽一侧中，拧微分筒的(与外径千分尺测量方法相同)测杆，通过测量臂测出一个数值；同样方法用另一测量臂测量出双键的另一侧的数值，两个测量值的相差即为双键对称度值。
权利要求1. 一种主轴双键对称度测量仪，其特征在于由测量架(1)和微分筒(2)组成，所述测量架上有2个测量臂(3)。
专利摘要本实用新型公开了一种主轴双键对称度测量仪，其特征在于由测量架(1)和微分筒(2)组成，所述测量架上有2个测量臂(3)。本实用新型测量架有2个测量臂，具有结构简单，能测量主轴双键对称度的优点。
文档编号G01B5/252GK201993080SQ201120029899
公开日2011年9月28日 申请日期2011年1月28日 优先权日2011年1月28日
发明者付道远, 喻良波, 张文兵, 汤岳阶 申请人:艾欧史密斯电气产品(岳阳)有限公司