专利名称：一种电子器件测试机构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及自动化机械加工领域，特指一种不仅速度快、准确度高，而且可以自动分辨好坏产品的全自动电子器件测试机构。
技术背景电子元件一般都必须经过测验，保证电子元件的质量，以便做后续的进一步加工或包装出货作业。传统的电子器件弹性测试方式如下，操作人员通过一些简单的工具对电子器件进行弹性测试，首先将电子器件固定好，用工具直接对需要测试的地方往下压，然后用肉眼看被下压的位置是否会完全复位。此种方式有很多不足速度慢、准确度低、生产效率低下； 用肉眼看被下压的位置是否完全复位，误差很大，而且人手每次作用的压力不一，使被压部分作用不到位或是压力过大，导致被测试后的产品的质量得不到保证。随着机械加工行业的发展，出现了一种电子器件弹性测试装置，该装置利用机械的重力对需要测试的地方往下压，然后放松，通过传送带传送到下一工位，该工位的工作人员用肉眼看被下压的位置是否会完全复位。由于机械产生的重力基本一致，使作用到被下压的位置得压力也基本一致，被测试后的产品的质量得到一定的保证。但是用肉眼看被下压的位置是否完全复位，误差很大，而且会导致生产速度慢、生产效率低，产品的质量还是良莠不齐
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题在于克服现有技术的不足，提供一种不仅速度快、准确度高，而且可以自动分辨好坏产品的全自动电子器件测试机构。为了解决上述技术问题，本实用新型采用了下述技术方案一种电子器件测试机构，包括一底座、安装于底座上的移动装置、测试装置和轨道，所述的测试装置包括安装于底座后端的压力装置和安装于底座中间位置的间隙探测装置；所述的移动装置由一拨插和气缸构成；所述的轨道包括左、右轨道和一测试轨道。进一步而言，上述技术方案中，所述的压力装置包括一纵向安装的气缸、枢接于气缸末端的测试片和位于气缸末端的限位块，其中，限位块开设有开口，气缸由一缸体和一轴体构成。进一步而言，上述技术方案中，所述的间隙探测装置包括一气缸和安装于气缸右端的插头，其中，插头包括一主体和沿主体右端部分延伸形成的舌片。进一步而言，上述技术方案中，所述的拨插包括一主体、位于主体右端的安装部、 于主体左端部分延伸形成的多数个凸块，其中，多数个凸块形成多数个卡槽。进一步而言，上述技术方案中，所述的测试片包括一主体、沿主体右端向下延伸形成一末端瘦尖的钩体，其中，主体部分开设有通孔。进一步而言，上述技术方案中，所述的测试片左端穿过限位块开设的开口与限位块枢接，测试片右端与气缸的轴体枢接。进一步而言，上述技术方案中，所述的左、右轨道和测试轨道相连通，并于其相接部分安装有传送带，传送带正下方安装有步进电机。进一步而言，上述技术方案中，所述的右轨道的侧边上安装有监测探头。本实用新型电子器件测试机构与现有技术相比较具有如下有益效果1、本实用新型中的压力装置利用气缸带动测试片产生垂直向下的压力，对需要测试的位置往下压，然后放松，通过传送带传送到下一工位，隙探测装置利用气缸带动插头， 插头末端的舌片插入测试的位置，插入则说明弹性好、质量好；插不入则说明弹性不好、产品质量差。2、本实用新型在测试轨道末端连接有与其相同左、右轨道，并于其相接部分安装有传送带，传送带正下方安装有一步进电机，此结构可以自动分辨好坏产品，当检测到没有不良产品的时候步进电机正转，将产品传送到右轨道；当检测到不良产品的时候步进电机反转，将产品传送到左轨道。3、本实用新型为自动化生产，生产效率高。
图1是本实用新型的立体图；图2是本实用新型的主视图；图3是本实用新型的俯视图。附图标记说明1底座2移动装置 21气缸22气缸23拨插231主体 232安装部 233凸块234卡槽3压力装置 31气缸32限位块321开口33测试片 331主体 332钩体4隙探测装置 41气缸42插头421主体422舌片 51左轨道 52右轨道 53测试轨道
具体实施方式
下面结合具体实施例和附图对本实用新型进一步说明。见图1-3，一种电子器件测试机构，包括一底座1、安装于底座1上的移动装置2、 测试装置和轨道，所述的测试装置包括安装于底座1后端的压力装置3和安装于底座1中间位置的间隙探测装置4 ；所述的移动装置2由一拨插23、气缸21和气缸22构成；所述的轨道包括左、右轨道51、52和一测试轨道53。具体而言，所述的压力装置3包括一纵向安装的气缸31、枢接于气缸31末端的测试片33和位于气缸31末端的限位块32 ；限位块32开设有开口 321，气缸31包括一缸体和一轴体。所述的测试片33包括一主体331，沿主体331右端向下延伸形成一末端瘦尖的钩体332，其中，主体331部分开设有通孔。所述的测试片33左端穿过限位块32开设的开口 321与限位块32枢接，测试片33右端与气缸31的轴体枢接。所述的间隙探测装置4包括一气缸41和安装于气缸41右端的插头42 ；插头42包括一主体421和沿主体421右端部分延伸形成的舌片422，该舌片422为一尖而薄的片体。所述的移动装置2包括一拨插23、气缸21和气缸22，其中，气缸21可使拨插23 于左右方向动作，气缸22可使拨插23于前后方向动作；所述的拨插23包括一主体231、 位于主体231右端的安装部232、于主体231左端部分延伸形成的多数个凸块233。多数个凸块233形成多数个卡槽234，该卡槽234的大小与被测试的产品相当。所述的左、右轨道51、52和测试轨道53相连通，并于其相接部分安装独立的有传送带，该传送带正下方安装有步进电机。左、右轨道51、52上都安装有传送带，其中，右轨道 52的侧边上安装有监测探头。安装使用时，将底座1固定安装于机台上，被测试的产品传送到测试轨道53上，此时，移动装置2中气缸22工作，使拨插23运动至测试轨道53后端；压力装置3中纵向安装的气缸31工作，使测试片33中的钩体332升至一定的高度；间隙探测装置4中的气缸41 不工作，使安装于气缸41右端的插头42停于测试轨道53的左侧面。底座1上的装置准备就绪后，移动装置2中气缸21工作，使拨插23向左运动，拨插23中的卡槽234卡住被测试产品，随后移动装置2中气缸22工作，使拨插23向前运动， 使被测试的产品传送至测试片33中钩体332正下方。压力装置3中的气缸31启动，气缸 31中的轴体向上收缩，枢接于轴体末端的测试片33向下运动，测试片33中的钩体332压向被测试产品的弹片，使被测试产品的弹片与基座接触，随后气缸31中的轴体向下伸展，使测试片33中的钩体332升至原来的高度。移动装置2中气缸22工作，使拨插23继续向前运动，使被测试产品传送至插头42 的右侧。间隙探测装置4的气缸41启动，使插头42向右运动，使插头42右端的舌片422 插入被测试产品中弹片与基座之间的间隙，其后插头42随着气缸41的运作而返回到原来的位置。移动装置2中气缸22工作，使拨插23继续向前运动，使被测试产品传送至安装于左、右轨道51、52和测试轨道53相接位置的传送带上。安装于左、右轨道51、52和测试轨道53相接位置的传送带下方的步进电机启动，间隙探测装置4中的舌片422可以插入被测试产品中弹片与基座之间的间隙，步进电机正转，将被测试产品传送至右轨道，然后右轨道上的传送带将被测试产品传送到下一工位；间隙探测装置4中的舌片422不可以插入被测试产品中弹片与基座之间的间隙，步进电机则反转，将被测试产品传送至左轨道。与此同时，移动装置2中气缸21工作，使拨插23向右运动，随后移动装置2中气缸 22工作，使拨插23向后运动至测试轨道53后端。移动装置2中气缸21工作，使拨插23向左运动，拨插23中的卡槽234卡住下一个被测试的产品，随后移动装置2中气缸22工作， 使拨插23向前运动，使被测试的产品传送至测试片33中钩体332正下方。此后，移动装置 2、间隙探测装置4、压力装置3和步进电机不断地重复上述步骤，在此不再一一赘述。当然，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并非来限制本实用新型实施范围，凡依本实用新型申请专利范围所述构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均应包括于本实用新型申请专利范围内。
权利要求1.一种电子器件测试机构，包括一底座(1)、安装于底座(1)上的移动装置O)、测试装置和轨道，其特征在于所述的测试装置包括安装于底座(1)后端的压力装置(3)和安装于底座(1)中间位置的间隙探测装置；所述的移动装置O)由一拨插03)和气缸01、 22)构成；所述的轨道包括左、右轨道(51、5幻和一测试轨道(53)。
2.根据权利要求1所述的电子器件测试机构，其特征在于所述的压力装置(3)包括 一纵向安装的气缸(31)、枢接于气缸(31)末端的测试片(33)和位于气缸(31)末端的限位块(32)，其中，限位块(32)开设有开口(321)，气缸(31)由一缸体和一轴体构成。
3.根据权利要求1所述的电子器件测试机构，其特征在于所述的间隙探测装置包括一气缸Gl)和安装于气缸Gl)右端的插头(42)，其中，插头0 包括一主体 (421)和沿主体021)右端部分延伸形成的舌片022)。
4.根据权利要求1所述的电子器件测试机构，其特征在于所述的拨插03)包括一主体031)、位于主体031)右端的安装部032)、于主体031)左端部分延伸形成的多数个凸块033)，其中，多数个凸块(23 形成多数个卡槽034)。
5.根据权利要求2所述的电子器件测试机构，其特征在于所述的测试片(33)包括一主体(331)、沿主体(331)右端向下延伸形成一末端瘦尖的钩体(332)，其中，主体(331)部分开设有通孔。
6.根据权利要求2所述的电子器件测试机构，其特征在于所述的测试片(33)左端穿过限位块(32)开设的开口(321)与限位块(32)枢接，测试片(33)右端与气缸(31)的轴体枢接。
7.根据权利要求1所述的电子器件测试机构，其特征在于所述的左、右轨道(51、52) 和测试轨道(53)相连通，并于其相接部分安装有传送带，传送带正下方安装有步进电机。
8.根据权利要求1所述的电子器件测试机构，其特征在于所述的右轨道(52)的侧边上安装有监测探头。
专利摘要本实用新型公开一种电子器件测试机构，该电子器件测试机构包括一底座、安装于底座上的移动装置、测试装置和轨道，所述的测试装置包括安装于底座后端的压力装置和安装于底座中间位置的间隙探测装置；所述的移动装置由一拨插和气缸构成；所述的轨道包括左、右轨道和一测试轨道。本实用新型电子器件测试机构不仅速度快、准确度高，而且可以自动分辨产品的合格与否，并将合格与不合格的产品传送到不同的轨道。
文档编号G01M5/00GK202221399SQ20112028701
公开日2012年5月16日 申请日期2011年8月9日 优先权日2011年8月9日
发明者张福祥 申请人:张福祥