专利名称：直尺形一体化无极测量塞规的制作方法
技术领域：
本实用新型属于测量工具，尤其涉及一种直尺形一体化无极测量塞规。
背景技术：
常规用于检测连接部件之间间隙的测量工具一般是塞规。塞规大多采用单一尺寸对应单一厚度的金属片，再组成多个尺寸范围的塞规组，使用时根据估测来选择对应的塞规片。生产电视机的组装工序用于检测电视机壳体与显示屏之间的间隙也是采用塞规测量方式。检测时，操作工寻找对应的尺寸时规格繁多，查找困难；尺寸预计不准时，需再找对应规格测量。测量方式繁杂。
实用新型内容本实用新型是为了克服现有技术中的不足，提供一种直尺形一体化无极测量塞规，采用厚度渐变的标尺形式，实现了部件缝隙的无极化测量和简化了测量方式。本实用新型为实现上述目的，通过以下技术方案实现，一种直尺形一体化无极测量塞规，其特征是包括塞规本体，所述塞规本体呈直尺形，塞规本体的厚度沿其纵向厚度渐变。所述塞规的长度L与厚度T的关系为tgA = T/L。有益效果采用厚度渐变的标尺形式，实现了部件缝隙的无极化测量和简化了测量方式，能一次测量缝隙尺寸，直接由刻度上读出缝隙尺寸。
图1是本实用新型结构示意图；图2是本实用新型厚度的函数关系图。
具体实施方式
以下结合较佳实施例，对依据本实用新型提供的具体实施方式
详述如下详见附图，一种直尺形一体化无极测量塞规，包括塞规本体1，所述塞规本体呈直尺形，塞规本体的厚度沿其纵向厚度渐变。所述塞规的长度L与厚度T的关系为tgA = T/L。如塞规本体宽度40mm，长度100mm，厚度0-lmm。塞规本体表面根据厚度设置刻度。如图2所示，塞规的长度L与厚度T的关系为tgA = T/L，P点的厚度为t = l*tgA，其中A可以根据实际调整。 塞规本体可以变更其长度，宽度和厚度，制作不同规格的塞规。使用时，将塞规本体放在需要检测的部件缝隙处，如果塞规进入缝隙，说明缝隙大于此处标示的尺寸；反之，不能塞进去，则说明没有达到标示的尺寸；在塞规的临界处，则是缝隙的准确测量尺寸。以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型的结构作任何形式上的限制。凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型的技术方案的范围内。
权利要求1.一种直尺形一体化无极测量塞规，其特征是包括塞规本体，所述塞规本体呈直尺形，塞规本体的厚度沿其纵向厚度渐变。
2.根据权利要求1所述的直尺形一体化无极测量塞规，其特征是所述塞规的长度L 与厚度T的关系为tgA = T/L。
专利摘要本实用新型涉及一种直尺形一体化无极测量塞规，其特征是包括塞规本体，所述塞规本体呈直尺形，塞规本体的厚度沿其纵向厚度渐变。有益效果采用厚度渐变的标尺形式，实现了部件缝隙的无极化测量和简化了测量方式，能一次测量缝隙尺寸，直接由刻度上读出缝隙尺寸。
文档编号G01B5/14GK202304661SQ201120392758
公开日2012年7月4日 申请日期2011年10月14日 优先权日2011年10月14日
发明者张淑优 申请人:天津三星电子有限公司