专利名称：荧光检测装置以及荧光检测方法
技术领域：
本发明涉及对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量的荧光检测装置以及荧光检测方法。
背景技术：
公知有如下的荧光检测装置向测量对象物上照射激光，并接收测量对象物所发出的荧光，由此获取测量对象物的信息。使用了荧光检测装置的流式细胞仪中，在鞘液中使由荧光试剂进行标签化的细胞、DNA、RNA、酶、蛋白等的测量对象物流动。通过向该测量对象物照射激光，附着在测量对象物的荧光色素就发出荧光。流式细胞仪通过测量该荧光，由此能够获取测量对象物的信
肩、O 另外，公知有如下的荧光检测装置将以规定频率进行强度调制的激光照射到测量对象物上，并接收测量对象物发出的荧光，由此获取荧光弛豫时间常数(专利文献I)。专利文献I :特开2007-101397号公报
发明内容
由于荧光检测装置所接收荧光的动态范围(dynamic range)较宽,所以当荧光微弱时，在荧光检测装置对信号进行放大之后进行信号处理。因此，在根据荧光检测装置接收到的荧光来求荧光寿命时，使用将接收到的荧光转换为电信号的光电倍增管、对电信号进行增幅的放大器。当用于荧光检测装置的光电倍增管或放大器的增益不是适合的值时，荧光检测装置求出的荧光寿命的测量精度就会降低。因此，希望将光电倍增管或放大器的增益调整到适当的值。但是，并不是所有用户都很容易判断光电倍增管或放大器的增益是否为适当的值。因此，当用户难以判断光电倍增管或放大器的增益是否为适当的值时，通过荧光检测装置求出的荧光寿命的测量精度就有可能降低。因此，本发明的目的在于提供一种荧光检测装置以及荧光检测方法，其能够判断装置的调整有没有降低荧光寿命的测量精度。本发明的荧光检测装置，对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量，其特征在于，包括激光光源，将进行强度调制的激光照射到所述测量对象物上；受光部，接收所述测量对象物受所述激光照射时发出的荧光；信号处理部，利用所述受光部接收到的所述荧光的信号来求荧光寿命；判断部，判断因所述受光部或所述信号处理部放大所述荧光的信号而导致的所述荧光寿命的偏差值是否比预定规定值大。另外，优选的是，所述受光部包括光电倍增管，所述信号处理部包括对所述受光部接收到的所述荧光的信号进行放大的放大器。另外，优选的是，包括增益调整部，根据所述判断部判断出的结果对所述光电倍增管或所述放大器的增益进行调整。
另外，优选的是，包括输出部，输出所述判断部判断出的结果。另外，优选的是，所述输出部输出所述荧光寿命的偏差值的大小。另外，优选的是，所述信号处理部根据调制所述激光的强度的调制信号和所述受光部接收到的所述荧光的信号的相位差来求所述荧光寿命。本发明的荧光检测方法对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量，其特征在于，包括以下工序将进行强度调制的激光照射到所述测量对象物的工序；受光工序，接收所述测量对象物受所述激光照射时的荧光；信号处理工序，利用所述受光工序中接收到的所述荧光的信号来求荧光寿命；判断工序，判断因所述受光工序或所述信号处理工序中放大所述荧光的信号而导致的所述荧光寿命的偏差值是否比规定值大。另外，优选的是，所述受光工序中，通过光电倍增管接收所述荧光，所述信号处理工序中，通过放大器对所述受光工序中接收到的所述荧光的信号进行放大。另外，优选的是，包括增益调整工序，根据所述判断工序中判断出的结果对所述光电倍增管或所述放大器的增益进行调整。另外，优选的是，包括输出工序，输出所述判断工序中判断出的结果。另外，优选的是，所述输出工序中，输出所述荧光寿命的偏差值的大小。另外，优选的是，所述信号处理工序中，根据调制所述激光的强度的调制信号和所述受光工序中接收到的所述荧光的信号的相位差来求所述荧光寿命。根据本发明的荧光检测装置以及荧光检测方法，能够判断装置的调整有没有降低荧光寿命的测量精度。
图I是表示实施方式的流式细胞仪的一个例子的概略构成图；
图2是表示图I所示的第二受光部的一个例子的图；图3是表示图I所示的控制部的一个例子的图；图4是表示图I所示的信号处理部的一个例子的图；图5是表不突光信号相对于参照信号的相位差的图的一个例子；图6是表示当放大器的增益大时的、荧光信号相对于参照信号的相位差的图的一个例子；图7是表示光电倍增管的增益大时的、荧光信号相对于参照信号的相位差的图的一个例子；图8 (a) 图8 (C)是表不在变形例2中突光信号相对于参照信号的相位差的图的一个例子；图9是表示实施方式的流式细胞仪的一个例子的概略构成图。附图标记说明10流动池12 细胞14突光色素16 容器20激光光源
30第一受光部32第二受光部34光电倍增管40控制部42振荡器44功率分配器46，48 放大器50信号处理部52IQ 混频器54放大器56低通滤波器58A/D 转换器60运算部70判断部80输出部90增益调整部
具体实施例方式以下，根据实施方式说明适用于本发明的荧光检测装置以及荧光检测方法的流式细胞仪。<第I实施方式>(流式细胞仪的构成)首先，参照图I说明本实施方式的流式细胞仪的构成。图I是表示本实施方式的流式细胞仪的一个例子的概略构成图。流式细胞仪通过接收测量对象物受激光照射后所发出的荧光来能够获取测量对象物的信息。如图I所示，本实施方式的流式细胞仪包括流动池10、激光光源20、第一受光部30、第二受光部32、控制部40、信号处理部50、判断部70、输出部80、增益调整部90。另外，在流动池10的下游配置有用于回收测量对象物的容器16。下面详细说明各个构成。细胞12等的测量对象物被鞘液包围而在流动池10的内部流动。如后述，激光光源20向测量对象物照射激光，此时为了从所发出的荧光获取测量对象物的信息，在细胞12上事先附着有荧光色素14。荧光色素14可以使用例如CFP (蓝绿色荧光蛋白，CyanFluorescent Protein)、YFP (黄色突光蛋白，Yellow Fluorescent Protein)等。在流动池10的内部，被鞘液包围的测量对象物受到流体力学性聚焦，由此成为细细的液流而在流动池10的内部流动。 激光光源20将以规定频率进行强度调制的激光照射到测量对象物上。激光光源20可以使用例如半导体激光器。激光的输出例如为5 100mW。激光的波长例如为350nm 800nmo激光光源20所照射的激光的强度通过从后述的控制部40输出的调制信号进行调制。
第一受光部30以流动池10中激光照射的位置作为基准，配置在与激光光源20相反的一侧。第一受光部30接收激光照射到测量对象物时产生的前向散射光。第一受光部30包括例如光电二极管等光电转换器。第一受光部30将接收到的前向散射光转换为电信号。通过第一受光部30转换的电信号被输出到信号处理部50，用作通知测量对象物正通过流动池10中激光照射的位置的时间的触发信号。第二受光部32以流动池10中激光照射的位置作为基准，配置在与从激光光源20照射激光的方向和在流动池10内测量对象物流动的方向相互垂直的方向上。第二受光部32接收激光照射到测量对象物时发出的荧光。第二受光部32将接收到的荧光转换为电信号(突光信号)。在此，参照图2说明第二受光部32的构成。图2是表示第二受光部32的一个例 子的图。如图2所示，第二受光部32包括光电倍增管(PMT) 34。通过光电倍增管34转换的电信号被输出到信号处理部50，用作通过流动池10中激光照射的位置的测量对象物的信息。另外，光电倍增管34的增益通过增益调整部90来进行调整。接着，说明控制部40。控制部40控制激光光源20照射的激光的调制频率。在此，参照图3说明控制部40的构成。图3是表示控制部40的一个例子的图。如图3所示，控制部40包括振荡器42、功率分配器44、放大器46、48。振荡器42输出规定频率的正弦波信号。从振荡器42输出的正弦波信号被用作调制从激光光源20输出的激光的强度的调制信号。正弦波信号的频率例如为f 50MHz。从振荡器42输出的规定频率的正弦波信号(调制信号)通过功率分配器44被分配到两个放大器46、48。在放大器46放大的调制信号被输出到激光光源20。另外,在放大器48放大的调制信号被输出到信号处理部50。如后述，在放大器48放大的调制信号输出到信号处理部50是用作对从第二受光部32输出的信号进行检波的参照信号。接着，说明信号处理部50。信号处理部50根据对激光的强度进行调制的调制信号和第二受光部32接收到的荧光的信号(荧光信号)的相位差来求荧光寿命。在此，参照图4说明信号处理部50的构成。图4是表示信号处理部50的一个例子的图。如图4所示，信号处理部50包括IQ混频器52、放大器54、低通滤波器56、A/D转换器58、运算部60。IQ混频器52接收放大器54进行放大的、从第二受光部32的光电倍增管34输出的荧光信号的输入。另外，IQ混频器52接收从控制部40的放大器48输出的参照信号的输入。IQ混频器52通过将突光信号和参照信号相乘,生成包括突光信号的COS成分和高频成分的信号。另外，IQ混频器52通过将荧光信号和使参照信号的相位90度位移的信号相乘，生成包括荧光信号的sin成分和高频成分的信号。根据该信号能够求出调制信号(参照信号)和荧光信号的相位差。另外，放大器54的增益是通过增益调整部90来进行调整的。通过IQ混频器52生成的信号的高频成分通过低通滤波器56除去。通过低通滤波器56除去了高频成分的信号通过A/D转换器58转换为数字信号(后述的cos 0、sin0 )。通过A/D转换器58转换为数字信号的信号被输出到运算部60。
运算部60求出调制信号(参照信号)和荧光信号的相位差。另外，运算部60利用所求出的相位差求出荧光寿命。关于运算部60所进行的详细的处理在后面所述。运算部60运算出的结果被输出到判断部70。返回到图1，说明判断部70。判断部70判断因第二受光部32或信号处理部50放大荧光信号而导致的荧光寿命的偏差值是否比规定值大。具体而言，判断部70判断因光电倍增管34或放大器54的增益不是适当的值而导 致的荧光寿命的偏差值是否比规定值大。这样，判断部70能够判断光电倍增管34或放大器54的增益是否为适当的值。另外，判断部70求出荧光寿命的偏差值的大小。关于判断部70所进行的详细的处理在后面所述。判断部70将判断出的结果、荧光寿命的偏差值的大小、荧光寿命等输出到输出部80和增益调整部90。输出部80输出判断部70判断出的结果、荧光寿命的偏差值的大小、荧光寿命等。输出部80例如是显示装置或打印机。增益调整部90根据判断部70判断的结果来调整光电倍增管34或放大器54的增益，该判断部70所做的判断为判断因第二受光部32或信号处理部50放大荧光信号而导致的荧光寿命的偏差值是否比规定值大。增益调整部90可以调整光电倍增管34和放大器54的任意一个的增益，也可以都进行调整。关于增益调整部90调整光电倍增管34或放大器54的增益的详细的方法在后面所述。以上是本实施方式的流式细胞仪的概略构成。(信号处理方法)接着，说明通过信号处理部50进行的信号处理的流程。首先，将用于对激光的强度进行调制的调制信号作为参照信号，从控制部40输出到信号处理部50。输入到信号处理部50的参照信号例如是规定频率的正弦波信号。另外，第二受光部32接收测量对象物受激光照射时发出的荧光。第二受光部32将接收到的荧光信号输出到信号处理部50。接着，IQ混频器52通过将突光信号和参照信号相乘,生成包括突光信号的cos成分和高频成分的信号。之后，通过低通滤波器56除去高频成分。另外，IQ混频器52通过将突光信号和使参照信号的相位90度位移的信号相乘，生成包括荧光信号的sin成分和高频成分的信号。之后，通过低通滤波器56来除去高频成分。之后，运算部60分别计算出荧光信号的cos成分、sin成分的时间平均。被进行时间平均的荧光信号的COS成分、Sin成分绘图在图5所示的图中。通过对一个测量对象物进行上述的信号处理，由此形成一个绘图。运算部60对多个(例如N个)测量对象物，绘图被进行时间平均的荧光信号的cos成分、sin成分。另外,运算部60从被进行时间平均的突光信号的cos成分、sin成分的多个绘图求出荧光信号相对于参照信号的相位差。例如，从使图5所示的多个绘图以经过原点的直线近似的直线的斜率运算部60就能求出荧光信号相对于参考信号的相位差0。在此,如果将调制信号的角频率用w表示，测量对象物的突光寿命用T表示,贝Ij通过以下的式(1)，能够从相位差e求出荧光寿命T0
[数I]tan 0 = coT{I)运算部60利用求出的相位差9，根据上述式(I)求出荧光寿命。(判别方法)接着，判断部70进行如下判断运算部60求出的荧光寿命是否是在因第二受光部32或信号处理部50放大突光信号而导致突光寿命的偏差值比规定值大的状况下求出的。下面，对判断部70判断因第二受光部32或信号处理部50放大荧光信号而导致的荧光寿 命的偏差值是否比规定值大进行说明。当光电倍增管34或放大器54的增益是适当值时，通过运算部60求出的荧光信号的cos成分、sin成分如图5所示，沿着经过原点的直线LI被绘图。直线LI通过例如最小二乘法求出。但是，当放大器54的增益过大时,通过运算部60求出的突光信号的cos成分、sin成分例如如图6所示被绘图。在图6所示的例子中，在图中A所示的区域中，在从经过原点的直线偏离的位置上，被进行时间平均的荧光信号的cos成分、sin成分被绘图。这是由于放大器54的增益过大，荧光信号的cos成分超过了 A/D转换器58的输入范围的上限而产生的。在图6所示的例子中，当放大器54的增益不是适当的值时，将对多个绘图进行了近似的直线作为L2。在图6所示的例子中，在图中A所示的区域中，由于cos成分饱和，所以直线L2的斜率(tan 0 )也比与实际的荧光寿命对应的值大。因此，根据上述式(I)求出的荧光寿命T比实际的值大。这意味着荧光寿命的T的测量精度降低。另外，如图6所示，各绘图相对于放大器54的增益不是适当的值时的直线L2的离散值比各绘图相对于图5所示的放大器54的增益为适当值时的直线LI的离散值大。另外，当光电倍增管34的增益过大时，通过运算部60求出的荧光信号的cos成分、sin成分例如图7所示被绘图。在图7所示的例子中，在图中B所示的区域中，在从经过原点的直线偏离的位置上被时间平均的荧光信号的cos成分、sin成分被绘图。这是由于光电倍增管34的增益过大，在光电倍增管34中产生了饱和现象导致的。如图7所示的例子所示，当光电倍增管34的增益不是适当的值时，将对多个绘图进行了近似的直线作为L3。在图7所示的例子中，由于在图中B所示的区域中在光电倍增管34中产生饱和现象，所以直线L3的斜率(tan 0 )比与实际的荧光寿命对应的值大。因此，根据上述式(I)求出的荧光寿命T比实际的值大。这意味着荧光寿命T的测量精度降低。另外，如图7所示，各绘图相对于光电倍增管34的增益不是适当值时的直线L3的离散值比各绘图相对于图5所示的光电倍增管34的增益为适当值时的直线LI的离散值大。本实施方式的判断部70通过最小二乘法求出以经过原点的直线对多个绘图进行了近似时的离散值。然后，判断部70判断求出的离散值是否比规定值大。当离散值比规定值大时，判断部70将表示荧光寿命的偏差值比规定值大的信号作为判断结果，输出到输出部80和增益调整部90。另外，当离散值比规定值小时，判断部70将表示荧光寿命的偏差值比规定值小的信号作为判断结果，输出到输出部80和增益调整部90。
另外，判断部70将荧光寿命的偏差值的大小(离散值)、荧光寿命等输出到输出部80和增益调整部90。如以上说明，本实施方式的荧光检测装置中，判断部70通过最小二乘法对以经过原点的直线对多个绘图进行了近似时的离散值，判断求出的离散值是否比规定值大，因此，能够判断光电倍增管34或放大器54的增益是否是适当的值。(增益调整方法)接着，说明增益调整部90对光电倍增管34或放大器54的增益进行调整的方法。增益调整部90根据从判断部70输出的判断结果来调整光电倍增管34或放大器54的增益。在本实施方式中，当将表示荧光寿命的偏差值比规定值大的信号作为判断结果输入到增益调整部90时，增益调整部90对增益进行调整，使得光电倍增管34和放大器54的增益都降低。 增益调整部90在调整光电倍增管34和放大器54的增益之后，通过上述信号处理方法，运算部60根据对多个(例如N个)测量对象物进行时间平均的荧光信号的cos成分、sin成分的标点，求出荧光信号相对于参照信号的相位差0。另外，运算部60使用求出的相位差0求出荧光寿命。另外，当表示荧光寿命的偏差值比规定值小的信号作为判断结果输入到增益调整部90时，增益调整部90将光电倍增管34和放大器54的增益保持为原先的值。光电倍增管34和放大器54的增益的调整量是根据从判断部70输出的荧光寿命的偏差值的大小来确定的。具体而言，荧光寿命的偏差值越大，增益的调整量就越大。如以上说明的，本实施方式的荧光检测装置中，增益调整部90是根据荧光寿命的偏差值的大小对光电倍增管34和放大器54的增益进行调整，所以能够将因第二受光部32或信号处理部50对荧光信号进行了放大而导致的荧光寿命的偏差值设为规定值以下。(变形例I)在第I实施方式中说明了以下判断方法，将由运算部60求出的荧光信号的cos成分、sin成分以经过原点的直线进行过近似时的偏差值，判断部70判断因第二受光部32或因信号处理部50对荧光信号进行了放大而导致的荧光寿命的偏差值是否比规定值大。在本变形例中，基于判断部70的判断方法与第I实施方式不同。本变形例的判断部70判断将通过运算部60求出的荧光信号的cos成分、sin成分以经过的原点的二次函数进行了近似时的二次系数的大小是否比规定值大。另外，判断部70将荧光寿命的偏差值的大小(二次系数)、荧光寿命等输出到输出部80和增益调整部90。当光电倍增管34或放大器54的增益为适当的值时，由运算部60求出的荧光信号的COS成分、Sin成分如图5所示，沿着经过原点的直线LI被绘图。因此，将通过运算部60求出的荧光信号的cos成分、sin成分以经过原点的二次函数进行了近似的二次系数的大小比规定值小。但是，如图6所示的例子所示，当放大器54的增益不是适当的值时、或者如图7所示的例子所示，当光电倍增管34的增益不是适当的值时，将由运算部60求出的荧光信号的cos成分、sin成分以经过原点的二次函数进行了近似时的二次系数的大小比规定值大。因此，如本变形例所示，判断部70判断将由运算部60求出的荧光信号的cos成分、sin成分以经过原点的二次函数进行了近似的二次系数的大小是否比规定值大，由此，判断部70能够判断出因第二受光部32或因信号处理部50对荧光信号进行放大而导致的突光寿命的偏差值是否比规定值大。(变形例2)本变形例的荧光检测装置的基于判断部70的判断方法与第I实施方式不同。本变形例的判断部70将由运算部60求出的荧光信号的cos成分的最大值和最小值之间分为5个区间。另外，判断部70将由运算部60求出的荧光信号的cos成分、sin成分在各区间以直线进行近似。另外，判断部70判断在各区间中进行了近似的直线的斜率的大小的差是否比规定值大。另外，当在各区间中进行了近似的直线的斜率的大小的差比规定值大时，判断部70确定直线的斜率发生了变化的区间。当光电倍增管34或放大器54的增益为适当的值时，由运算部60求出的荧光信号的COS成分、sin成分在各区间中进行了近似的直线如图8 (a)所示。如图8 (a)所示的 直线在理想状态下与图5所示的直线LI相同。因此，在将通过运算部60求出的荧光信号的cos成分、sin成分在各区间以直线进行了近似时，各区间的直线的斜率的大小的差比规
定值小。如图6所示的例子一样，当放大器54的增益不是适当的值时，通过运算部60求出的荧光信号的COS成分、Sin成分在各区间中进行了近似的直线如图8 (b)所示。在图8
(b)中，例如，在从靠近原点的区间到第4个区间的区间中，各区间的直线的斜率大小的差比规定值小。但是，第5个区间(离原点最远的区间)的直线的斜率与其他区间的直线的斜率有较大差异。因此，在各区间中进行了近似的直线的斜率的大小的差比规定值大。另外，如图7的例子所示，当光电倍增管34的增益不是适当的值时，通过运算部60求出的荧光信号的COS成分、Sin成分在各区间中进行了近似的直线如图8 (C)所示。在图8 (c)中，例如，从靠近原点的区间到第2个区间的直线的斜率与第4区间和第5区间的直线的斜率不同。因此，在各区间中进行了近似的直线的斜率的大小的差比规定值大。本变形例的判断部70特定直线斜率发生了变化的区间，因此，能够区别图6的例子中的放大器54的增益不是适当的值的情形和图7所示的例子中的光电倍增管34的增益不是适当的值的情形。因此，当光电倍增管34或放大器54的增益不是适当的值时，本变形例的判断部70将表示光电倍增管34和放大器54中哪个的增益不是适当的值的信号输出到输出部80和增益调整部90。本变形例的增益调整部90根据判断部70判断出的结果来调整增益，使得光电倍增管34和放大器54中的任意一个的增益降低。因此，如本变形例一样，将通过运算部60求出的荧光信号的cos成分、sin成分在多个区间的各区间中以直线进行近似，由此，判断部70能够判断出因第二受光部32或信号处理部50的任一个而导致的荧光寿命的偏差值是否比规定值大。另外，在本变形例中说明了分为5个区间的构成，但区间的数目并不限于5个。〈第2实施方式〉在上述的实施方式或变形例的流式细胞仪中，当光电倍增管34或放大器54的增益不是适当的值时，增益调整部90能够调整光电倍增管34或放大器54的增益。但是，当用户较熟练时，有时用户自己就会希望进行光电倍增管34或放大器54的增益的调整。在本实施方式的流式细胞仪中，是以用户自己调整光电倍增管34或放大器54的增益为前提，其目的在于防止用户看漏光电倍增管34或放大器54的增益不是适当的值。这里，参照图9说明第2实施方式的流式细胞仪的构成。图9是表示本实施方式的流式细胞仪的一个例子的概略构成图。本实施方式的流式细胞仪的基本构成与上述第I实施方式相同。因此，在以下的说明中，省略与第I实施方式相同的构成的说明，而是说明与第I实施方式的构成不同的部分。如图9所示，本实施方式的流式细胞仪包括流动池10、激光光源20、第一受光部30、第二受光部32、控制部40、信号处理部50、判断部70、输出部80。本实施方式的流式细胞仪除了不包括增益调整部这一点之外，其余都与第I实施方式相同。第二受光部32所包括的光电倍增管34的增益是通过用户来进行调整的。另外，放大器54的增益是通过用户来调整的。判断部70将判断出的结果、荧光寿命的偏差值大小、荧光寿命等输出到输出部·80。另外，输出部80输出判断部70判断出的结果、荧光寿命的偏差值的大小、荧光寿命等。在本实施方式中，由于将判断部70判断出的结果、荧光寿命的偏差值大小、荧光寿命等输出到输出部80，所以能够防止用户看漏光电倍增管34或放大器54的增益不是适当的值的情形。上面详细说明了本发明的荧光检测装置以及荧光检测方法，但是本发明不限于上述实施方式或变形例。另外，可以在不脱离本发明主要内容的范围内，进行各种改良或变更。
权利要求
1.一种荧光检测装置，对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量，其特征在于，包括 激光光源，将进行强度调制的激光照射到所述测量对象物上； 受光部，接收所述测量对象物受所述激光照射时的荧光； 信号处理部，利用所述受光部接收到的所述荧光的信号来求荧光寿命； 判断部，其判断因所述受光部或所述信号处理部放大所述荧光的信号而导致的所述荧光寿命的偏差值是否比规定值大。
2.根据权利要求I所述的荧光检测装置，其特征在于， 所述受光部包括光电倍增管， 所述信号处理部包括对所述受光部接收到的所述荧光的信号进行放大的放大器。
3.根据权利要求2所述的荧光检测装置，其特征在于，包括 增益调整部，其根据所述判断部判断出的结果对所述光电倍增管或所述放大器的增益进行调整。
4.根据权利要求I至3任一项所述的荧光检测装置，其特征在于，包括 输出部，其输出所述判断部判断出的结果。
5.根据权利要求4所述的荧光检测装置，其特征在于， 所述输出部输出所述荧光寿命的偏差值的大小。
6.根据权利要求I至5任一项所述的荧光检测装置，其特征在于， 所述信号处理部根据调制所述激光的强度的调制信号和所述受光部接收到的所述荧光的信号的相位差来求所述荧光寿命。
7.一种荧光检测方法，其对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量，其特征在于，包括以下工序 将进行过强度调制的激光照射到所述测量对象物的工序； 受光工序，接收所述测量对象物受所述激光照射时的荧光； 信号处理工序，利用所述受光工序中接收到的所述荧光的信号来求荧光寿命； 判断工序，判断因所述受光工序或所述信号处理工序中放大所述荧光的信号而导致的所述荧光寿命的偏差值是否比规定值大。
8.根据权利要求7所述的荧光检测方法，其特征在于， 所述受光工序中，通过光电倍增管接收所述荧光， 所述信号处理工序中，通过放大器对所述受光工序中接收到的所述荧光的信号进行放大。
9.根据权利要求8所述的荧光检测方法，其特征在于，包括 增益调整工序，根据所述判断工序中判断出的结果对所述光电倍增管或所述放大器的增益进行调整。
10.根据权利要求7至9任一项所述的荧光检测方法，其特征在于，包括 输出工序，输出所述判断工序中判断出的结果。
11.根据权利要求10所述的荧光检测方法，其特征在于， 所述输出工序中，输出所述荧光寿命的偏差值的大小。
12.根据权利要求7至11任一项所述的荧光检测方法，其特征在于，所述信号处理工序中，根据调制所述激光的强度的调制信号和所述受光工序中接收到的所述荧光的 信号的相位差来求所述荧光寿命。
全文摘要
本发明提供一种荧光检测装置以及荧光检测方法，所述荧光检测装置能够判断因装置的调整引起的荧光寿命测量精度的降低，该荧光检测装置对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量，其特征在于，包括激光光源，将进行强度调制的激光照射到测量对象物上；受光部，接收所述测量对象物受激光照射时的荧光；信号处理部，利用受光部接收到的荧光的信号来求荧光寿命；判断部，判断因受光部或信号处理部放大荧光的信号而导致的所述荧光寿命的偏差值是否比规定值大。
文档编号G01N21/64GK102713577SQ20118000693
公开日2012年10月3日 申请日期2011年1月13日 优先权日2010年1月25日
发明者星岛一辉 申请人:三井造船株式会社