专利名称：预兼容实验室辐射发射测试校准方法
技术领域：
本发明涉及定量描述不同电磁兼容实验室测试结果差异程度的评价參量，并基于标准实验室和预兼容实验室之间的比对试验提出了一种预兼容实验室辐射发射测试校准方法。
背景技术：
目前很多国家和组织都制定了相关的电子设备及产品的电磁兼容标准，标准规定只有符合相关指标要求的电子和电气产品才能进入市场。要判断某电子产品是否存在电磁兼容性问题，就需要依据相关标准对该产品进行具体的电磁兼容测试。通常，产品电磁兼容性的最终检测评定是在标准实验室里进行的，然而从某种程度上说，目前的标准实验室只是起到了最終测试裁定与评价的作用，而远没有满足产品研发中作为验证测试、故障诊断 测试、设计验证手段的需求。从行业发展来看，迫切需要找到ー个针对性强且成本低廉、方便可行的测试验证手段，以保证电子产品能在“设计ー研制一生产”的全周期中实现较好的电磁兼容验证与控制。因此，简便易行的基于小型电磁屏蔽室环境的预兼容实验室的建设以其针对性强、方便适用、成本低廉等优点而受到越来越多的关注，尤其对于电磁兼容性能要求很高的国防装备，有着更为广泛的需求背景。但是，目前的已有的实验室由于总体结构、测试环境、测试附件等方面条件与标准实验室相比而言还是存在着较大差异，因此如何尽可能提高预兼容实验室测试结果的准确性和可靠性便成为当务之急。
发明内容
本发明的目的是提供一种成本低廉、方便性好的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，对一般受试设备在预兼容实验室的测试结果进行校准，使其与标准实验室测试结
果一致。本发明的目的是这样实现的，预兼容实验室辐射发射测试校准装置，其特征是包括仪器室和測量室，仪器室有测控计算机和频谱分析仪，频谱分析仪与测量室内的接收天线组电连接，接收天线组接收受试设备的信号，受试设备通过线性阻抗稳定网络连接电源。接收天线组是双锥天线，30MHz 200MHz频段内，信号源与双锥天线连接作为发射天线进行辐射发射，频谱分析仪与另一个双锥天线作为接收天线。接收天线组是对数周期天线，200MHz 1000MHz频段内，信号源与对数周期天线电连接，对数周期天线作为发射天线进行辐射发射，频谱仪与另ー个对数周期天线作为接收天线。预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是至少包括如下步骤步骤201，开始；步骤202，记录在预兼容实验室测试的测试数据曲线；步骤203，记录在标准容实验室测试的测试数据曲线；
步骤204，对两组实验室测得相似指数、尖峰保有率和联系度的数据曲线进行定量评价；步骤205，对两组实验室测得的数据曲线进行一致性判断，若满足一致性判据，则进入步骤206，若不满足一致性判断，则进入步骤207 ；步骤206，转步骤209 ;
步骤207，对预兼容实验室测得的数据曲线进行校准，校准过程包括校准因子的获取过程和校准因子的施加过程；步骤208，转步骤205 ；步骤209结束。所述的步骤204中相似指数根据下式便可以计算出这两个序列的相似指数& ^ U) - ^ (/))2 E U) - 4 W ^=Γ —^^°所述的步骤204中尖峰保有率依据如下公式Ρ = -χ100%其中P表示尖峰保有率；α为预兼容实验室中的尖峰提取计数；β为标准实验室中的尖峰提取计数。所述的尖峰提取计数，是对获取的测试结果进行小波消噪处理，求出背景阈值。所述的背景阈值的求取，基于概率确定背景阈值法，其步骤为I)利用概率确定背景阈值，首先判断不同幅值的个数k，计算发生概率式中N为测试频点的总个数，Hi为第i个幅值的出现次数，比较得到前三个最大的Jii，即na、nb、11。，找出其对应的三个幅度值^ノ。，确定厂=/1 + ^ + 1^为背景阈值;2)对于高于背景阈值的测试点左右两侧进行单调性判断，如果该测试点的左侧为单调递增并且右侧为单调递减，则认定其为峰值点，否则不是峰值点。所述的步骤204中联系度依据如下公式
「 IO F P^=- + ^- + -其中N为测试曲线中原始频率离散数据点的总个数；Q为两曲线离散点中判定为同一性的个数；F为两曲线离散点中判定为差异性的个数；P为两曲线离散点中判定为对立性的个数；η为差异不确定性系数；ζ为对立系数；n=o. 5、ζ =-ι ；
Q=count (i, | E2 (も)-E1 (も)|彡3)，即当标准实验室与预兼容实验室幅值差值的绝对值在
范围内，定义为同一性；F=count (i, 3< | E2 (も)-E1 (も)|彡6)，即当标准实验室与预兼容实验室幅值差值的绝对值在(3，6]的范围内，定义为差异性；P=count (i, | E2 (も)-E1 (も)| >6)，即当标准实验室与预兼容实验室幅值差值的绝对值大于出，+ 00 ),定义为对立性。所述的步骤205 —致性判据具体公式为C-X1- Re'—e'— + A2 · P + A3 · /i馬—々其中X1+λ2+λ 3=1Re' ,力相似系数P为尖峰保有率μ￡ ^力联系度
权利要求
1.预兼容实验室辐射发射测试校准装置，其特征是包括仪器室(I)和測量室(2)，仪器室(I)有测控计算机(3)和频谱分析仪(4)，频谱分析仪(4)与測量室(2)内的接收天线组(5)电连接，接收天线组(5)接收受试设备(6)的信号，受试设备(6)通过线性阻抗稳定网络(7)连接电源。
2.根据权利要求I所述的预兼容实验室辐射发射测试校准装置，其特征是所述的接收天线组(5)是双锥天线,30MHz 200MHz频段内，信号源与双锥天线连接作为发射天线进行辐射发射，频谱分析仪(4)与另ー个双锥天线作为接收天线。
3.根据权利要求I所述的预兼容实验室辐射发射测试校准装置，其特征是接收天线组(5)是对数周期天线，200MHz 1000MHz频段内，信号源与对数周期天线电连接，对数周期天线作为发射天线进行辐射发射，频谱仪与另ー个对数周期天线作为接收天线。
4.预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是至少包括如下步骤 步骤201，开始； 步骤202，记录在预兼容实验室测试的测试数据曲线； 步骤203，记录在标准容实验室测试的测试数据曲线； 步骤204，对两组实验室测得相似指数、尖峰保有率和联系度的数据曲线进行定量评价； 步骤205，对两组实验室测得的数据曲线进行一致性判断，若满足一致性判据，则进入步骤206，若不满足一致性判断，则进入步骤207 ； 步骤206，转步骤209 ； 步骤207，对预兼容实验室测得的数据曲线进行校准，校准过程包括校准因子的获取过程和校准因子的施加过程； 步骤208，转步骤205 ； 步骤209结束。
5.根据权利要求4所述的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是所述的步骤204中相似指数根据下式便可以计算出这两个序列的相似指数
6.根据权利要求4所述的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是所述的步骤204中尖峰保有率依据如下公式P = -X 100% β 其中P表不尖峰保有率； α为预兼容实验室中的尖峰提取计数； β为标准实验室中的尖峰提取计数。
7.根据权利要求6所述的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是所述的尖峰提取计数，是对获取的测试结果进行小波消噪处理，求出背景阈值；所述的背景阈值的求取，基于概率确定背景阈值法，其步骤为 1)利用概率确定背景阈值，首先判断不同幅值的个数k，计算发生概率
8.根据权利要求4所述的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是所述的步骤204中联系度依据如下公式
9.根据权利要求4所述的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是所述的步骤205 —致性判据具体公式为
10.根据权利要求4所述的预兼容实验室辐射发射测试校准方法，其特征是所述的步骤207中校准因子的施加过程包括 从步骤601开始； 步骤602为将受试设备预兼容实验室测其辐射发射； 步骤603，提取由步骤409获得的校准因子δ ； 步骤604，根据公式ら=5.^^:获取受试设备校准因子δ Ε，其中ERP'服为受试设备的有效辐射功率，受试设备的有效辐射功率根据受试设备在预兼容实验室中测得的数据和其在不同频段的辐射特性预估而得； 步骤606，记录受试设备在预兼容实验室中接收的线性幅值为名； 步骤607，将获取的受试设备校准因子加至预兼容实验室中所测得的数值上； 步骤608，显示校准后的曲线； 步骤609，结束。
全文摘要
本发明涉及预兼容实验室辐射发射测试校准方法，至少包括如下步骤步骤201，开始；步骤202，记录在预兼容实验室测试的测试数据曲线；步骤203，记录在标准容实验室测试的测试数据曲线；步骤204，对两组实验室测得相似指数、尖峰保有率和联系度的数据曲线进行定量评价；步骤205，对两组实验室测得的数据曲线进行一致性判断，若满足一致性判据，则进入步骤206，若不满足一致性判断，则进入步骤207；步骤206，转步骤209；步骤207，对预兼容实验室测得的数据曲线进行校准，校准过程包括校准因子的获取过程和校准因子的施加过程；步骤208，转步骤205；步骤209结束。它成本低廉、方便性好，对一般受试设备在预兼容实验室的测试结果进行校准与标准实验室测试结果一致。
文档编号G01R29/08GK102707159SQ20121019081
公开日2012年10月3日 申请日期2012年6月11日 优先权日2012年6月11日
发明者田锦, 许社教, 赵航, 邱扬 申请人:西安电子科技大学