专利名称：一种新型测间隙用塞尺的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种在机械加工及装配过程中，测量型面或装配配合接合面间隙的塞尺，属于机械加工或装配技术领域。
背景技术：
现有各类塞尺一般是由各种厚度的钢带加工完毕后组合而成的，使用时，将塞尺中的钢带反复组合，才能测量型面或装配配合接合面之间的间隙，测量效率低，而且上述组合塞尺一般不能测量太大的间隙，同时在使用过程中由于反复组合测量，薄的塞片容易起皱、损坏，降低测量精度，直至不能使用。
发明内容
本发明的目的是克服上述缺陷，提供一种操作方便快速的带刻度测间隙用塞尺。
本发明所述测间隙用塞尺由测量部和与其尾部相连的手柄部组成，所述测量部的上、下两面或上面为斜面，所述斜面上设有均布的刻度线，标有与刻度线所在位置截面高度对应的尺寸值。所述塞尺采用的材料为T10A，热处理硬度为HRC56— 64。所述手柄部为腰圆形结构。本发明塞尺能快速准确地测量型面或装配配合接合面之间的间隙，测量范围较广，制作简单、方便，使用寿命长，测量效率高。
图I是本发明所述测间隙用塞尺实施例结构主视 图2是图I的俯视 图中1_手柄部，2—测量部，3—刻度线。
具体实施例方式以下结合附图对本发明作详细说明
如附图I所示，本发明所述塞尺由测量部(2)和与其尾部相连的手柄部(I)组成，其中测量部(2)的上面为斜面，该斜面及底面为测量配合面，在斜面上设有刻度线，标有相应的尺寸值，该尺寸值即为刻度线所在截面的厚度值，也即测量的间隙尺寸值，尾部手柄部I为手持部位，设计成腰圆形。为了确保测量值的准确，该塞尺的斜面及底面要求有较高的粗糙度，同时斜面与底面在长度方向的高度值必须与标注值一致准确。另外也可将测量部(2)上面和底面同时制成斜面并设置刻度线，标注高度值。为了防止在使用过程中塞尺的变形，该塞尺采用的材料为T10A，同时热处理硬度为HRC56-64。本发明塞尺某根刻线处的数值即表示该处的高度值，在刻定每一高度值时应先测出其位置截面的实际高度，其高度值之允差在O. 05_范围内时，方可刻线。该塞尺采用一般的热处理、机械精密加工、磨削、刻线即可完成制作。
在实际制作过程中，可根据实际情况，确定塞尺手持部位的厚度和刻线的疏密程度，以适应不同的测量范围和精度。
本发明所述塞尺结构简单，制作容易，使用维护方便，应用范围广，是一种既经济又适用的间隙测量工具，适于在机械加工装配过程中使用。
权利要求
1.一种新型测间隙用塞尺，由测量部(2)和与其尾部相连的手柄部(I)组成，其特征在于所述测量部(2)的上、下两面或上面为斜面，所述斜面上设有均布的刻度线(3)，标有与刻度线所在位置截面高度对应的尺寸值。
2.如权利要求I所述新型测间隙用塞尺，其特征在于所述塞尺采用的材料为T10A，热处理硬度为HRC56— 64。
3.如权利要求I所述新型测间隙用塞尺，其特征在于所述手柄部(I)为腰圆形结构。
全文摘要
一种新型测间隙用塞尺，由测量部和与其尾部相连的手柄部组成，所述测量部的上、下两面或上面为斜面，所述斜面上设有均布的刻度线，标有与刻度线所在位置截面高度对应的尺寸值。本发明塞尺能快速准确地测量型面或装配配合接合面之间的间隙，测量范围广，测量效率高，制作简单方便，使用寿命长。
文档编号G01B5/14GK102818504SQ201210300080
公开日2012年12月12日 申请日期2012年8月22日 优先权日2012年8月22日
发明者刘头明, 高勇 申请人:贵州航天红光机械制造有限公司