专利名称：测试机构及其制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试机构及其制作方法，特别是涉及一种适用于微米级电路线路的测试机构及其制作方法。
背景技术：
像IXD (液晶显示器)面板、图像传感器面板等，经阵列工艺制造出来的具有特定功能的器件组成的阵列或器件，需要同测试电路电性连接，才能测试其某些参数，或反映其某些性能。目前，在进行上述这些大面板绑定前测试时，由于需要分别连接的电路较多，如多
个FPC (柔性电路板)，电路的精确对位一般进行分别实现,效率低,而且机构成本高。如图I所示，假如一个测试面板I有10个FPC2(为了图示的简洁，仅示出三个FPC，每个FPC具有两个对位标识21，见图2)需要连接，常规机构则需要重复10次对位步骤，分别对20个对位标识进行对位(参看图2)，效率低。而如果通过增设对位机构数量来增加对位效率，则机构成本和机构复杂程度都会大幅增加。另外，如果引入一种更宽的FPC，以此减少对位次数。则，一，会提高机构成本及维护成本，二，由于FPC是柔性电路，其材质本身，决定大宽度FPC易形变，对位偏差大。
发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中测试机构实现多独立电路同时对位、连接中出现的对位不精确、成本高、机构复杂、效率低、不易维护和换型等问题，提供一种能实现多独立电路同时精确对位、连接，机构简易，制作简单，成本低，效率高，易维护，易换型的测试机构及其制作方法。本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的一种测试机构的制作方法，其特点在于，其包括以下步骤步骤S1、使至少一个连接电路与一测试面板对位连接，每个连接电路的一端均设有至少一个第一对位标识，该测试面板上设有与每个第一对位标识一一对应的第二对位标识，其中，在对位连接中使该第一对位标识和该第二对位标识的位置相对应，且每个连接电路裸露线路的一面与该测试面板裸露线路的一面相连；步骤S2、使每个连接电路均与一固定装置固定连接；步骤S3、将该测试面板从每个连接电路卸下以形成一包括固定装置以及被该固定装置固定连接的每个连接电路的机构；步骤S4、在步骤S3所得的机构中，使每个连接电路的另一端与一测试板相连以形成测试机构。优选地,步骤S1由步骤Sr替代步骤S1，、使至少一个连接电路与一测试面板对位，每个连接电路的一端均设有至少一个第一对位标识，该测试面板上设有与每个第一对位标识一一对应的第二对位标识，该测试面板上还设有一透明固定板，其中，在对位中使该第一对位标识和该第二对位标识的位置相吻合，且每个连接电路裸露线路的一面与该透明固定板相连；步骤S3由步骤S3,替代步骤S3，、将该测试面板以及该透明固定板从每个连接电路卸下以形成一包括该固定装置以及被该固定装置固定连接的每个连接电路的机构。 优选地，步骤S1中连接电路通过一第一粘合物和测试面板连接。 优选地，步骤S1.中该连接电路通过一第一粘合物和该透明固定板连接。优选地，步骤S2中通过一第二粘合物将该固定装置贴覆于每个连接电路上以使每个连接电路均与一固定装置固定连接。其中，该第一粘合物和/或该第二粘合物为ACF (异方性导电胶膜)。 优选地，该连接电路为FPC。本发明还提供一种测试机构的制作方法，其特点在于，其包括以下步骤步骤Sip、使至少一个连接电路与一测试面板对位连接，每个连接电路的一侧均设有至少一个第一对位标识，该测试面板上设有与每个第一对位标识一一对应的第二对位标识，其中，在对位连接中使该第一对位标识和该第二对位标识的位置相对应，且每个连接电路不裸露线路的一面与该测试面板裸露线路的一面相连；步骤S2p、切割该测试面板以得到一机构，该机构包括每个连接电路和与每个连接电路相连的该测试面板的一部分；步骤S3p、在步骤S2p所得的该机构中，使每个连接电路的另一端与一测试板相连以形成该测试机构。该技术方案适用于这样的情况连接电路及测试面板上相应电路的相对位置完全对称。本发明还提供一种测试机构的制作方法，其特点在于，其包括以下步骤步骤Sn、使至少一个连接电路与一测试面板对位连接，每个连接电路的一侧均设有至少一个第一对位标识，该测试面板上设有与每个第一对位标识一一对应的第二对位标识，其中，在对位连接中使该第一对位标识和该第二对位标识的位置相对应，且每个连接电路不裸露线路的一面与该测试面板不裸露线路的一面相连；步骤S2t、切割该测试面板以得到一机构，该机构包括每个连接电路和与每个连接电路相连的该测试面板的一部分；步骤S3t、在步骤S2t所得的该机构中，使每个连接电路的另一端与一测试板相连以形成该测试机构。该技术方案不需要考虑连接电路及测试面板上相应电路的排布问题，主要适用于测试面板基底透明的情况，如基于玻璃基底的LCD面板，基于玻璃基底的图像传感器面板。优选地，步骤Sip中或者步骤Sit中该连接电路通过一第一粘合物和该测试面板连接。优选地，该连接电路为FPC。本发明还提供一种测试机构的制作方法，其特点在于，其包括以下步骤步骤Sik、在一测试面板的不裸露线路或者裸露线路的一面上固定一透明固定板；步骤S2k、使至少一个连接电路通过该透明固定板与该测试面板对位并连接到该透明固定板上，每个连接电路的一端均设有至少一个第一对位标识，该测试面板上设有与每个第一对位标识一一对应的第二对位标识，其中，在对位连接中使该第一对位标识和该第二对位标识的位置相吻合，且每个连接电路不裸露线路或者裸露线路的一面与透明固定板相连；步骤S3k、去除该测试面板以得到一机构，该机构包括每个连接电路和与每个连接电路相连的该透明固定板；步骤S4k、在步骤S3k所得的该机构中，使每个连接电路的另一端与一测试板相连以形成该测试机构。本发明还提供一种测试机构，其特点在于，其采用如上所述的制作方法制作形成。优选地，该固定装置为固定板。固定装置也可为测试面板的一部分与固定板的结
八
口 ο优选地，该固定板为钢板。在符合本领域常识的基础上，上述各优选条件，可任意组合，即得本发明各较佳实例。本发明的积极进步效果在于I、本发明的测试机构能实现多条(数千或更多)微米级电路线路同时精确对位、连接，并且具有较高的测试效率。本发明不仅可解决大面板绑定前测试难题，也可实现多个小面板同时测试，不仅可以实现一维多独立电路同时对位，也可以实现二维多独立电路同时对位，并且具有较高效率。2、在涉及FPC的对位时，本发明的测试机构能够使得多片需要对位的FPC的相对位置处于固定的状态，且各FPC的相对位置与测试面板上相应电路的相对位置，完全对应，在实际测试时，仅需对位该测试机构最外侧的两个FPC上的对位标识，有利于测试步骤的简化。3、本发明的测试机构的制造成本低，而且便于维护和更换测试面板的型号。
图I为现有技术中测试面板和连接电路的连接示意图。图2为图I中A部的局部放大图。图3为本发明实施例I中步骤S1的测试面板和连接电路的连接示意图。图4为图3中B部的局部放大图。图5为图4中沿直线C-C的剖面图。图6为本发明实施例I中步骤S2的测试面板和连接电路的连接示意图。图7为图6中B部的局部放大图。图8为本发明实施例I的测试机构的示意图。图9为本发明实施例I的测试机构与一待测试面板相连的示意图。图10为本发明实施例2的测试机构与一待测试面板相连的示意图。图11为本发明实施例3的测试机构的示意图。图12为本发明实施例4中测试面板和连接电路的初始连接示意图。图13为图12中D部的局部放大图。
图14为本发明实施例4中测试机构的示意图。图15为本发明实施例5中测试面板和连接电路的初始连接示意图。图16为图15中沿直线E-E的剖面图。图17为本发明实施例5中测试机构的示意图。
具体实施例方式下面通过实施例的方式进一步说明本发明，但并不因此将本发明限制在所述的实施例范围之中。在下文的描述中，为了使本领域技术人员更容易理解，将结合具体的测试步骤进行描述。实施例I
参考图3，本实施例以三个FPC22作为连接电路为例，步骤S1，首先将FPC22精确对位至该测试面板21上，具体步骤如下FPC22上和该测试面板21上均设有对位标识(图4所示的局部放大图中示出了FPC22上的对位标识221 )，在进行对位时，通过调整并监视所有的对位标识的相对位置，使该相对位置在要求范围内吻合，以便完成FPC22与该测试面板21的对位。具体来说，通过ACF,使FPC22裸露线路的一面与该测试面板21裸露线路的一面完成对位，并且对该FPC22或者该测试面板21施加压力，使两者有效贴合接触，以完成对位连接。参考图5，自上而下，结构分别为FPC22以及FPC22的裸露线路222、作为第一粘合物的ACF3、该测试面板21上的裸露线路211以及该测试面板的面板基底(例如玻璃)。上述粘合对位连接的步骤需要保证粘合后，对位没有出现偏差。参考图6和图7，步骤S2,将固定装置4固定至所有FPC22上，使得所有的FPC22的相对位置保持不变并固定，避免相对位移。在该步骤中，需要保证FPC不发生扭曲，将FPC从该测试面板21上取下来后，再次对位至与该测试面板21的款型相同的一待测试面板上时，所有的FPC在自然状态下还能精准对位至该待测试面板上；另外，还需保证固定足够牢固，即使后续将FPC连接于一测试板，该FPC与该测试板相连的一端发生形变，也不会影响到该FPC与待测试面板相连的一端(即靠近对位标识221的一端)。参考图8，步骤S3，将测试面板21从每个FPC22卸下以形成一包括固定装置4以及被该固定装置4固定连接的FPC的机构；步骤S4,在步骤S3所得的机构中，使每个FPC的另一端(远离对位标识221的一端)与一测试板5相连以形成测试机构。参考图9，在进行待测试面板的测试前，将图8所示的测试机构对位连接至该待测试面板21 (由于制作该测试机构时，形成各个FPC固定位置关系用到的测试面板和该待测试面板是同一款型的，因此这里仍然以附图标记21表示该待测试面板)，此时的对位无需逐个对位每个FPC，由于所有FPC均由固定装置4 (钢板)所固定，因此每个FPC的相对位置均保持与待测试面板上相应电路的相对位置完全对应的状态，此时，仅需将该测试机构的最外侧的FPC的最外侧的对位标识与该待测试面板21的最外侧的对位标识对位即可完成测试前的精准对位(参考图9中的位置关系，只要将最上面的FPC的最上方的对位标识和最下面的FPC的最下方的对位标识对准该待测试面板的相应的对位标识即可)。对位完成之后，为了保证测试中的稳定电连接，采用一压合物对对位完成的FPC施加压力，使得FPC和待测试面板之间达到良好的接触效果，满足测试需求。测试后只需松开压合物，即可将测试机构从待测试面板上取下。由此可见，本发明所述的测试机构在重复测试中有着积极的效果，即可以对同一款型的待测试面板实现多次测试，对位便利，省去了每次测试均需要逐个对位的繁琐程序，简化了测试流程。倘若要更换待测试面板款型，仅需按照上述步骤，采用一个与新的待测试面板款型相同的测试面板再次制作一个测试机构即可。实施例2实施例2的原理与实施例I相同，其涉及的主要步骤也相同，不同之处仅在于参考图10，本实施例中的测试机构中的固定装置4’覆盖了 FPC的对位标识，这样，在使用压合物的过程中，仅需采用该压合物对该固定物施加压力即可，这样的受力更为均 匀(此过程，可选取弹性压头或夹具，亦可在固定装置背面贴附一层缓冲物，如橡胶皮，以避免面板严重受力不均，导致破碎)。其余未提及之处均与实施例I相同。实施例3实施例3的主要原理与实施例I相同，不同之处在于FPC与测试面板的连接方式，参考图11以及实施例I的附图，实施例3中通过切割该测试面板并将切割下来的该测试面板的一部分214作为该固定装置(又或者，可以将连接电路及与其连接的测试面板的一部分固定到其他固定装置)，具体如下通过粘合物，使FPC22不裸露线路的一面与该测试面板裸露线路的一面完成对位，并且对该FPC22或者该测试面板施加压力，使两者有效贴合接触，以完成对位连接。切割该测试面板并连接测试板5，形成如图11所示的测试机构，该测试机构中包括FPC，FPC的靠近对位标识的一端(即图11中FPC22的右侧)与测试面板的一部分214相连，另一端与测试板5相连，也就是说，图11中面向纸面方向向上的是FPC裸露线路的一面，同时将该测试面板的一部分214作为该固定装置。在测试中，将FPC裸露线路的一面对位连接至待测试面板，同样地，仅需对位最外侧两个对位标识即可(当然，也可以对位其他对位标识，只要能保证通过该其他对位标识对位之后，所有对位标识均能够精确对位)，为了保证良好的电接触，采用压合物对该测试面板214或待测试面板的一部分或全部施加压力。本实施例适用于这样的情况连接电路及测试面板上相应电路的相对位置完全对称。其余未提及部分的原理均与实施例I相同。实施例4实施例4的主要原理与实施例3相同，不同之处在于FPC与测试面板的连接方式，参考图12-图14，实施例4中通过切割该测试面板并将切割下来的该测试面板的一部分(以附图标记314表示)作为该固定装置(又或者，可以将连接电路及与其连接的测试面板的一部分固定到其他固定装置)，具体如下使FPC32不裸露线路的一面与该测试面板31不裸露线路的一面完成对位，并且对该FPC32或者该测试面板施加压力，使两者有效贴合接触，以完成对位连接。其中，为了图示的清楚，以附图标记311表示该测试面板31的裸露线路，附图标记323表示FPC32的裸露线路，附图标记3’表示本实施例中对位连接所用的粘合物。对位连接后，切割该测试面板形成图14所述的测试机构，将以附图标记314表示的测试面板的一部分作为固定装置，FPC32与测试板5相连。其余未提及的部分，原理与实施例3相同。在实施例3和实施例4中的测试面板基底(例如玻璃)在固定到其他固定装置上后，可将玻璃分段切开，以减小玻璃碎裂的风险。另，实施例1-4中的固定装置与测试板可以固定为相对固定状态，以减小二者的相对位移，特别是横向相对位移。
实施例5实施例5的原理与实施例4相同，不同之处在于参考图15-17，在测试面板41的不裸露线路的一面上固定一透明(硬性)固定板6，然后利用测试面板上的对位标识，将连接电路(如FPC42)对位并固定到透明固定板6上，以得到固定的与测试面板相应电路完全对应的FPC相对位置关系，及具有此位置关系的FPC和透明固定板组成的机构，将该机构中的连接电路(如FPC)连接到相应测试板5，即组成测试机构(见图17 )。参考图16，自上而下，结构分别为FPC42上的裸露线路423以及FPC42、粘合物的4’、该透明固定板6、测试面板41以及该测试面板41上的裸露线路411。本发明所述的测试机构，一经制成，可以重复使用。本发明所述的测试机构，根据实际需要，可以连接到计算机或其他设备，以显示测试结果，或做他用。本发明的测试机构能实现多条(数千或更多)微米级电路线路同时精确对位、连接，并且具有较高的测试效率。虽然以上描述了本发明的具体实施方式
，但是本领域的技术人员应当理解，这些仅是举例说明，本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。
权利要求
1.一种测试机构的制作方法，其特征在于，其包括以下步骤 步骤S1、使至少一个连接电路与一测试面板对位连接，每个连接电路的一端均设有至少一个第一对位标识，该测试面板上设有与每个第一对位标识一一对应的第二对位标识，其中，在对位连接中使该第一对位标识和该第二对位标识的位置相对应，且每个连接电路裸露线路的一面与该测试面板裸露线路的一面相连； 步骤S2、使每个连接电路均与一固定装置固定连接； 步骤S3、将该测试面板从每个连接电路卸下以形成一包括该固定装置以及被该固定装置固定连接的每个连接电路的机构； 步骤S4、在步骤S3所得的该机构中，使每个连接电路的另一端与一测试板相连以形成该测试机构。
2.如权利要求I所述的测试机构的制作方法，其特征在于，步骤S1由步骤S1，替代 步骤S1，、使至少一个连接电路与一测试面板对位，每个连接电路的一端均设有至少一个第一对位标识，该测试面板上设有与每个第一对位标识一一对应的第二对位标识，该测试面板上还设有一透明固定板，其中，在对位中使该第一对位标识和该第二对位标识的位置相吻合，且每个连接电路裸露线路的一面与该透明固定板相连； 步骤S3由步骤s3，替代 步骤S3，、将该测试面板以及该透明固定板从每个连接电路卸下以形成一包括该固定装置以及被该固定装置固定连接的每个连接电路的机构。
3.如权利要求I所述的测试机构的制作方法，其特征在于，步骤S1中该连接电路通过一第一粘合物和该测试面板连接；和/或，步骤S1.中该连接电路通过一第一粘合物和该透明固定板连接； 步骤S2中通过一第二粘合物将该固定装置贴覆于每个连接电路上以使每个连接电路均与一固定装置固定连接。
4.如权利要求1-3中任意一项所述的测试机构的制作方法，其特征在于，该连接电路为 FPC0
5.一种测试机构的制作方法，其特征在于，其包括以下步骤 步骤Sip、使至少一个连接电路与一测试面板对位连接，每个连接电路的一端均设有至少一个第一对位标识，该测试面板上设有与每个第一对位标识一一对应的第二对位标识，其中，在对位连接中使该第一对位标识和该第二对位标识的位置相对应，且每个连接电路不裸露线路的一面与该测试面板裸露线路的一面相连，或者，每个连接电路不裸露线路的一面与该测试面板不裸露线路的一面相连； 步骤S2p、切割该测试面板以得到一机构，该机构包括每个连接电路和与每个连接电路相连的该测试面板的一部分； 步骤S3p、在步骤S2p所得的该机构中，使每个连接电路的另一端与一测试板相连以形成该测试机构。
6.如权利要求5所述的测试机构的制作方法，其特征在于，步骤Sip中该连接电路通过一第一粘合物和该测试面板连接。
7.—种测试机构的制作方法，其特征在于，其包括以下步骤 步骤Sik、在一测试面板的不裸露线路或者裸露线路的一面上固定一透明固定板；步骤S2k、使至少一个连接电路通过该透明固定板与该测试面板对位并连接到该透明固定板上，每个连接电路的一端均设有至少一个第一对位标识，该测试面板上设有与每个第一对位标识一一对应的第二对位标识，其中，在对位连接中使该第一对位标识和该第二对位标识的位置相吻合，且每个连接电路不裸露线路或者裸露线路的一面与透明固定板相连； 步骤S3k、去除该测试面板以得到一机构，该机构包括每个连接电路和与每个连接电路相连的该透明固定板； 步骤S4k、在步骤S3k所得的该机构中，使每个连接电路的另一端与一测试板相连以形成该测试机构。
8.如权利要求5-7中任意一项所述的测试机构的制作方法，其特征在于，该连接电路为 FPC0
9.一种测试机构，其特征在于，其采用如权利要求1-8中任意一项所述的制作方法制作形成。
10.如权利要求9所述的测试机构，其特征在于，该固定装置为固定板，和/或，该固定板为钢板。
全文摘要
本发明公开了一种测试机构及其制作方法，该测试机构的制作方法包括以下步骤步骤S1、使至少一个连接电路与一测试面板对位连接；步骤S2、使每个连接电路均与一固定装置固定连接；步骤S3、将该测试面板从每个连接电路卸下以形成一包括该固定装置以及被该固定装置固定连接的每个连接电路的机构；步骤S4、在步骤S3所得的该机构中，使每个连接电路的另一端与一测试板相连以形成该测试机构。本发明的测试机构能实现数千条或更多微米级电路线路同时精确对位、连接，具有较高的测试效率。
文档编号G01R3/00GK102879618SQ20121037561
公开日2013年1月16日 申请日期2012年9月29日 优先权日2012年9月29日
发明者郑礼朋 申请人:郑礼朋