具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，包括测试光源和测试夹具，测试光源固定于测试夹具上端，本发明将测试光源直接安装至测试夹具上，无需传统LED面光源的推拉动作，节省了作业时间，提高了作业员工作效率；本发明使用单个LED灯珠作为发光源并与均光板相结合，具有光源稳定，使用寿命长、光亮均匀等优点，极大的减少了因为光源问题导致的影像传感器芯片的测试良率损失；本发明通过电位器可以实现比传统LED面光源更加精确的光源亮度调节，使得更改光源亮度变得十分简单，方便使用人员来进行调节，可以满足不同产品对不同光源亮度值的需求。
【专利说明】具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具
【技术领域】
[0001]本发明属于单颗影像传感器芯片测试领域，具体涉及一种用于传感器芯片测试的测试光源和测试夹具的改进结构。
【背景技术】
[0002]在当今影像传感器芯片如日中天的情势下，在大大小小的影像传感器芯片制造企业，其所用的芯片测试光源必须满足两个基本条件:光亮均匀性和使用寿命长。
[0003]半导体行业是个充分竞争的行业，高性能低价格也就是高性价比的产品是企业在市场残酷竞争中制胜的杀手锏。降低成本是所有公司都在考虑的问题，如何用低成本带来高收益更是企业的追求。追求性价比体现在一切事物上，对于传感器芯片测试用LED光源和测试夹具的要求亦是如此。传统的测试光源是LED面光源(使用多个阵列式LED灯珠)，其设计存在散热大，耗能高及成本高等缺点；而且传统的LED面光源在测试过程中需将测试夹具人工推进LED面光源的LED发光板下，不仅操作繁琐、效率低，而且容易磨损；再者，传统的LED面光源的亮度调节不够精确。
【发明内容】
[0004]为了克服上述缺陷，本发明提供了一种具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，本发明的具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具集测试光源与测试夹具为一体，简化了测试操作，并提高了测试效率，且结构设计简单合理、易于实施。
[0005]本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0006]一种具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，包括测试光源和测试夹具，所述测试光源固定于所述测试夹具上端。
[0007]本发明为了解决其技术问题所采用的进一步技术方案是:
[0008]进一步地说,所述测试光源为LED光源。
[0009]更进一步地说，所述测试光源的结构如下:包括一个LED光源框架、至少一颗LED灯珠以及至少一块均光板，所述LED灯珠和所述均光板皆位于所述LED光源框架内，所述均光板位于所述LED灯珠下方，相邻均光板呈上下平行设置。
[0010]优选的是，所述LED灯珠设有一颗。
[0011]优选的是，一颗所述LED灯珠位于所述LED光源框架的内部顶部中心。
[0012]较佳地是，所述LED光源框架内设有若干均光板固定槽，所述均光板一一固定于对应的均光板固定槽内。
[0013]优选的是，所述LED光源框架为LED光源金属结构框架。
[0014]进一步地说，所述LED光源框架的底面周边与所述测试夹具的上端对应设有若干螺孔，设有若干与螺孔相匹配的螺丝，所述LED光源框架与所述夹具通过若干所述螺孔与螺丝相螺合连接。
[0015]进一步地说，所述LED灯珠电连接有电位器。[0016]较佳地是，所述LED灯珠电连接有电路板，所述电路板电连接所述电位器。
[0017]本发明的有益效果是:本发明将测试光源直接安装至测试夹具上，无需传统LED面光源的推拉动作，节省了作业时间，提高了作业员工作效率；本发明使用单个LED灯珠作为发光源并与均光板相结合，具有光源稳定，使用寿命长、光亮均匀等优点，极大的减少了因为光源问题导致的影像传感器芯片的测试良率损失；本发明通过电位器可以实现比传统LED面光源更加精确的光源亮度调节，使得更改光源亮度变得十分简单，方便使用人员来进行调节，可以满足不同产品对不同光源亮度值的需求。
【专利附图】
【附图说明】
[0018]图1为本发明结构示意图；
[0019]图2为本发明所述测试光源结构示意图。
【具体实施方式】
[0020]以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域普通技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的优点及功效。本发明也可由其他不同的方式予以实施，即在不悖离本发明所揭示的范畴下，能进行不同的修饰与改变。
[0021]实施例:一种具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，包括测试光源I和测试夹具2，所述测试光源I固定于所述测试夹具2上端。将测试光源直接安装至测试夹具上，无需传统LED面光源的推拉动作，节省了作业时间，提高了作业员工作效率。
[0022]其中，所述测试光源I的结构如下:包括一个LED光源框架11、一颗LED灯珠12以及至少一块均光板13，所述LED光源框架11为LED光源金属结构框架(socket LED框架)，所述LED灯珠12和所述均光板13皆位于所述LED光源框架11内，所述LED灯珠12位于所述LED光源框架11的内部顶部中心，所述均光板13位于所述LED灯珠12下方，相邻均光板13呈上下平行设置，所述LED光源框架11内设有若干均光板固定槽，所述均光板一一固定于对应的均光板固定槽内，需要的均光板的层数、LED灯珠与均光板之间距离以及均光板之间的距离经过计算来决定socket LED框架型材上固定槽的位置。传统的LED面光源(使用多个阵列式LED灯珠)设计存在散热大，耗能高及成本高等缺点。本发明使用单个LED灯珠作为发光源，具有光源稳定，使用寿命长等众多优点。均光板为LED领域常用均光板，均光板具有滤光、均光作用，能够进一步的将LED灯珠光源发出来的光亮处理的更加均匀，满足了影像传感器芯片测试光源最重要的参数之一:光亮均匀性，此设计的光源的光亮均匀性能达到5%，极大的减少了因为光源问题导致的影像传感器芯片的测试良率损失。
[0023]其中，测试光源I和测试夹具2两者的连接固定方式如下:所述LED光源框架11的底面周边与所述测试夹具2的上端对应设有若干螺孔，设有若干与螺孔相匹配的螺丝，所述LED光源框架与所述夹具通过若干所述螺孔与螺丝相螺合连接。很好的保证了 SocketLED光源在长期使用后依然能与测试镜头保持水平，减少了因光源面不平导致的测试差异。
[0024]其中，所述LED灯珠12电连接有电路板，所述电路板电连接所述电位器。通过电位器可以实现比传统LED面光源更加精确的光源亮度调节，使得更改光源亮度变得十分简单，方便使用人员来进行调节。可以满足不同产品对不同光源亮度值的需求。
【权利要求】
1.一种具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，其特征在于:包括测试光源(I)和测试夹具(2)，所述测试光源(I)固定于所述测试夹具(2)上端。
2.如权利要求1所述的具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，其特征在于:所述测试光源(I)为LED光源。
3.如权利要求2所述的具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，其特征在于:所述测试光源(I)的结构如下:包括一个LED光源框架(11)、至少一颗LED灯珠(12)以及至少一块均光板(13)，所述LED灯珠(12)和所述均光板(13)皆位于所述LED光源框架(11)内，所述均光板(13)位于所述LED灯珠(12)下方，相邻均光板(13)呈上下平行设置。
4.如权利要求3所述的具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，其特征在于:所述LED灯珠(12)设有一颗。
5.如权利要求4所述的具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，其特征在于:所述LED灯珠(12)位于所述LED光源框架(11)的内部顶部中心。
6.如权利要求3所述的具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，其特征在于:所述LED光源框架(11)内设有若干均光板固定槽，所述均光板一一固定于对应的均光板固定槽内。
7.如权利要求3所述的具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，其特征在于:所述LED光源框架(11)为LED光源金属结构框架。
8.如权利要求3所述的具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，其特征在于:所述LED光源框架(11)的底面周边与所述测试夹具(2)的上端对应设有若干螺孔，设有若干与螺孔相匹配的螺丝，所述LED光源框架与所述夹具通过若干所述螺孔与螺丝相螺合连接。
9.如权利要求3所述的具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，其特征在于:所述LED灯珠(12 )电连接有电位器。
10.如权利要求9所述的具有测试光源的影像传感器芯片测试夹具，其特征在于:所述LED灯珠电连接有电路板，所述电路板电连接所述电位器。
【文档编号】G01R1/04GK103808981SQ201210451077
【公开日】2014年5月21日 申请日期:2012年11月13日 优先权日:2012年11月13日
【发明者】范明, 开丽军, 周建刚, 丁建宏 申请人:昆山西钛微电子科技有限公司